一種視野失真綜合測(cè)試尺的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及醫(yī)療影像設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用在數(shù)字X射線攝影系統(tǒng)中的視野失真綜合測(cè)試尺。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，數(shù)字X射線攝影系統(tǒng)中通常采用“視野失真綜合測(cè)試卡”來(lái)檢測(cè)系統(tǒng)的有效區(qū)域?！耙曇笆д婢C合測(cè)試卡”作為一種綜合性標(biāo)準(zhǔn)工具，可以很好的測(cè)量探測(cè)器的有效區(qū)域，還可以輔助調(diào)試光野和X射線野的對(duì)中，所以非常實(shí)用。但是現(xiàn)有的“視野失真綜合測(cè)試卡”存在一個(gè)缺點(diǎn)，就是測(cè)試卡需要覆蓋整個(gè)探測(cè)器板面，所以尺寸較大，不方便攜帶，若需要外出裝機(jī)和系統(tǒng)維護(hù)檢修，就更不方便攜帶。
[0003]因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種視野失真綜合測(cè)試尺，旨在解決現(xiàn)有的綜合測(cè)試卡其尺寸大、不方便攜帶的問(wèn)題。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
[0006]—種視野失真綜合測(cè)試尺，其中，包括第一測(cè)試尺以及第二測(cè)試尺，所述第二測(cè)試尺的長(zhǎng)度為第一測(cè)試尺的一半，所述第二測(cè)試尺的一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接在所述第一測(cè)試尺的中間位置。
[0007]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線用65 μπι厚的銅皮加工制成。
[0008]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的厚度為2_。
[0009]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，所述第一測(cè)試尺的刻度線從中間位置對(duì)稱設(shè)置。
[0010]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線上設(shè)置有從0到23cm之間的刻度。
[0011]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線上從16到21cm之間的最小刻度設(shè)置為0.2cm。
[0012]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線上從21到23cm之間的最小刻度設(shè)置為0.1cm。
[0013]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的主體材料為環(huán)氧樹(shù)脂。
[0014]所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其中，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺采用PCB板制板的方式制作。
[0015]有益效果:本發(fā)明中的綜合測(cè)試尺采用折疊式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，分為轉(zhuǎn)動(dòng)連接的第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺，從而減小了尺寸，也方便了攜帶，滿足了售后裝機(jī)人員、維護(hù)/維修人員在裝機(jī)現(xiàn)場(chǎng)完成一系列相關(guān)的測(cè)試和調(diào)試的需求。
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1為本發(fā)明一種視野失真綜合測(cè)試尺第一狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖2為本發(fā)明一種視野失真綜合測(cè)試尺第二狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖3為本發(fā)明一種視野失真綜合測(cè)試尺的分解結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]本發(fā)明提供一種視野失真綜合測(cè)試尺，為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及效果更加清楚、明確，以下對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0020]本發(fā)明為了現(xiàn)有的測(cè)試尺其尺寸較大，不方便攜帶的問(wèn)題，提供了一種簡(jiǎn)易的視野失真綜合測(cè)試尺。該測(cè)試尺采用折疊式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以滿足售后裝機(jī)人員、維護(hù)/維修人員在裝機(jī)現(xiàn)場(chǎng)完成一系列相關(guān)的測(cè)試和調(diào)試的需求。
[0021]請(qǐng)參閱圖1，圖1為本發(fā)明的視野失真綜合測(cè)試尺的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，其包括:第一測(cè)試尺100以及第二測(cè)試尺200，所述第二測(cè)試尺200的長(zhǎng)度為第一測(cè)試尺100的一半，所述第二測(cè)試尺200的一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接在所述第一測(cè)試尺100的中間位置。
[0022]本發(fā)明采用折疊式的結(jié)構(gòu)，在需要使用第二測(cè)試尺200時(shí)，將第二測(cè)試尺200轉(zhuǎn)出張開(kāi)，如圖2所示，即可使用，從而實(shí)現(xiàn)同時(shí)測(cè)量不同角度的長(zhǎng)度，實(shí)現(xiàn)X射線下的有效區(qū)域檢測(cè)。在攜帶或不需要使用時(shí)，可將第二測(cè)試尺200轉(zhuǎn)入到第一測(cè)試尺100上，即將第二測(cè)試尺200回收，方便攜帶和運(yùn)輸?shù)?，?shí)現(xiàn)測(cè)試尺的小型及便攜化。
[0023]所述第一測(cè)試尺100以及第二測(cè)試尺200均采用PCB板制板的方式制作測(cè)試尺，所以該本發(fā)明的測(cè)試尺極易復(fù)制加工并且成本較為低廉，實(shí)現(xiàn)其可復(fù)制和廣泛性應(yīng)用PCB加工工藝。所述第一測(cè)試尺100以及第二測(cè)試尺200的刻度線采用單面2oz (65 μπι厚)銅皮加工制成，以實(shí)現(xiàn)X射線下的有效區(qū)域檢測(cè)。所述第一測(cè)試尺100以及第二測(cè)試尺200的厚度為2mm。
[0024]本發(fā)明的第一測(cè)試尺100以及第二測(cè)試尺200均采用環(huán)氧樹(shù)脂作為測(cè)試尺的主體材料，其成本較低，有利于推廣使用，并且還有助于加工成型。
[0025]所述第一測(cè)試尺100的刻度線從中間位置對(duì)稱設(shè)置，即可以以中間位置為起點(diǎn)，兩邊均能進(jìn)行測(cè)量。而第二測(cè)試尺200的長(zhǎng)度為第一測(cè)試尺100的一半，所以相當(dāng)于有三個(gè)同樣長(zhǎng)度的測(cè)試工具，如圖3所示。第二測(cè)試尺200的刻度是從連接位置為起點(diǎn)，從0開(kāi)始。
[0026]所述第一測(cè)試尺100和第二測(cè)試尺200的刻度線上設(shè)置有從0到23cm之間的刻度。其中第一測(cè)試尺100和第二測(cè)試尺200的刻度線上從0到16cm之間的最小刻度為0.5cm。而從16到21cm之間的最小刻度設(shè)置為0.2cm。
[0027]所述第一測(cè)試尺100和第二測(cè)試尺200的刻度線上從21到23cm之間的最小刻度設(shè)置為0.1cm。即越離中心越遠(yuǎn)，其最小刻度也越小，這樣有利于提高實(shí)際測(cè)量過(guò)程中的精度。
[0028]綜上所述，本發(fā)明通過(guò)折疊式的測(cè)試尺結(jié)構(gòu)，可以有效實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)的“視野失真測(cè)試綜合卡”的測(cè)試功能，并且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低、體積小，便于攜帶。
[0029]應(yīng)當(dāng)理解的是，本發(fā)明的應(yīng)用不限于上述的舉例，對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)上述說(shuō)明加以改進(jìn)或變換，所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，包括第一測(cè)試尺以及第二測(cè)試尺，所述第二測(cè)試尺的長(zhǎng)度為第一測(cè)試尺的一半，所述第二測(cè)試尺的一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接在所述第一測(cè)試尺的中間位置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線用65 μ m厚的銅皮加工制成。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的厚度為2mm。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，所述第一測(cè)試尺的刻度線從中間位置對(duì)稱設(shè)置。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線上設(shè)置有從0到23cm之間的刻度。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線上從16到21cm之間的最小刻度設(shè)置為0.2cm。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的刻度線上從21到23cm之間的最小刻度設(shè)置為0.1cm。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺的主體材料為環(huán)氧樹(shù)脂。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視野失真綜合測(cè)試尺，其特征在于，所述第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺采用PCB板制板的方式制作。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)一種視野失真綜合測(cè)試尺，包括第一測(cè)試尺以及第二測(cè)試尺，所述第二測(cè)試尺的長(zhǎng)度為第一測(cè)試尺的一半，所述第二測(cè)試尺的一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接在所述第一測(cè)試尺的中間位置。本發(fā)明中的綜合測(cè)試尺采用折疊式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，分為轉(zhuǎn)動(dòng)連接的第一測(cè)試尺和第二測(cè)試尺，從而減小了尺寸，也方便了攜帶，滿足了售后裝機(jī)人員、維護(hù)/維修人員在裝機(jī)現(xiàn)場(chǎng)完成一系列相關(guān)的測(cè)試和調(diào)試的需求。
【IPC分類】A61B6/00
【公開(kāi)號(hào)】CN105249981
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510552945
【發(fā)明人】周濤
【申請(qǐng)人】深圳安科高技術(shù)股份有限公司
【公開(kāi)日】2016年1月20日
【申請(qǐng)日】2015年9月1日