本發(fā)明涉及激光器技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種激光整形系統(tǒng)與激光整形系統(tǒng)的檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

受激布里淵散射(SBS，Stimulated Brillouin scattering)技術(shù)在高功率激光器中有著廣闊的應(yīng)用前景。受激布里淵散射相位共軛鏡(SBS-PCM)技術(shù)不僅可以用于控制激光光束和修正任意波前畸變，還可以用于激光脈沖壓縮。在雙程或多程放大器中，利用SBS-PCM可以實(shí)時(shí)補(bǔ)償激光放大器和放大光路中的動(dòng)態(tài)和靜態(tài)波前畸變，從而改善高能高功率激光器的輸出光束質(zhì)量。同時(shí)，研究表明，SBS-PCM激光脈沖壓縮技術(shù)具有簡(jiǎn)單實(shí)用，壓縮率和能量轉(zhuǎn)化率高的特點(diǎn)。

SBS-PCM應(yīng)用于高能高功率激光系統(tǒng)時(shí)，需要觀察光束的各項(xiàng)參數(shù)發(fā)生了哪些變化。同時(shí)還需對(duì)SBS-PCM自身的特性進(jìn)行了解，例如，能量反射率是描述受激布里淵散射過(guò)程的一個(gè)重要參數(shù)，它的大小直接反映了SBS相位共軛鏡的效率，是SBS在應(yīng)用過(guò)程中首要考慮的一個(gè)因素。但是，傳統(tǒng)的SBS-PCM激光系統(tǒng)中，缺少參數(shù)變化的檢測(cè)功能。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明主要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種激光整形系統(tǒng)與激光整形系統(tǒng)的檢測(cè)裝置，能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM整形前后的參數(shù)變化。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施方式采用的一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種激光整形系統(tǒng)，包括：

前級(jí)激光器與后級(jí)激光器；

1/2波片，用于改變前級(jí)激光器出射的激光的偏振態(tài)；

偏振分光棱鏡，用于將1/2波片出射的激光的大部分引導(dǎo)至第一光路出射，剩余部分引導(dǎo)至第二光路出射；

1/4波片，用于改變第一光路出射的激光的偏振態(tài)；

受激布里淵散射相位共軛鏡SBS-PCM，用于對(duì)1/4波片出射的激光整形后反射回該1/4波片；

第一分光元件，反射回1/4波片的激光經(jīng)偏振分光棱鏡引導(dǎo)至該分光元件，該分光元件用于將該激光的大部分引導(dǎo)至后級(jí)激光器，剩余部分引導(dǎo)至第三光路出射；

第一檢測(cè)組件，用于檢測(cè)第二光路出射的激光的參數(shù)；

第二檢測(cè)組件，用于檢測(cè)第三光路出射的激光的參數(shù)。

其中，第一檢測(cè)組件包括第二分光元件、第一能量計(jì)，第二分光元件用于將第二光路出射的激光的部分光出射至第一能量計(jì)，剩余光引導(dǎo)至第四光路出射；第二檢測(cè)組件包括第三分光元件、第二能量計(jì)，第三分光元件用于將第三光路出射的激光的部分光出射至第二能量計(jì)，剩余光引導(dǎo)至第五光路出射。

其中，第一檢測(cè)組件還包括第四分光元件、第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器，第四分光元件用于將第四光路出射的激光的部分光出射至第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器，剩余光引導(dǎo)至第六光路出射；第二檢測(cè)組件還包括第五分光元件、第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器，第五分光元件用于將第五光路出射的激光的部分光出射至第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器，剩余光引導(dǎo)至第七光路出射。

其中，第一檢測(cè)組件還包括第六分光元件、第一時(shí)間波形分布測(cè)量器，第六分光元件用于將第六光路出射的激光的部分光出射至第一時(shí)間波形分布測(cè)量器，剩余光引導(dǎo)至第八光路出射；第二檢測(cè)組件還包括第七分光元件、第二時(shí)間波形分布測(cè)量器，第七分光元件用于將第七光路出射的激光的部分光出射至第二時(shí)間波形分布測(cè)量器，剩余光引導(dǎo)至第九光路出射。

其中，第一檢測(cè)組件還包括第八分光元件、第一波前相位分布測(cè)量器，第八分光元件用于將第八光路出射的激光的部分光出射至第一波前相位分布測(cè)量器，剩余光引導(dǎo)至第十光路出射；第二檢測(cè)組件還包括第九分光元件、第二波前相位分布測(cè)量器，第九分光元件用于將第九光路出射的激光的部分光出射至第二波前相位分布測(cè)量器，剩余光引導(dǎo)至第十一光路出射。

其中，第一檢測(cè)組件還包括第一近場(chǎng)分布測(cè)量器，用于接收第十光路出射的激光；第二檢測(cè)組件還包括第二近場(chǎng)分布測(cè)量器，用于接收第十一光路出射的激光。

其中，第一檢測(cè)組件包括第一能量計(jì)，且第二檢測(cè)組件包括第二能量計(jì)；或，第一檢測(cè)組件包括第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器，且第二檢測(cè)組件包括第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器；或，第一檢測(cè)組件包括第一近場(chǎng)分布測(cè)量器，且第二檢測(cè)組件包括第二近場(chǎng)分布測(cè)量器；或，第一檢測(cè)組件包括第一時(shí)間波形分布測(cè)量器，且第二檢測(cè)組件包括第二時(shí)間波形分布測(cè)量器；或，第一檢測(cè)組件包括第一波前相位分布測(cè)量器，且第二檢測(cè)組件包括第二波前相位分布測(cè)量器。

其中，系統(tǒng)還包括：調(diào)整器件，用于調(diào)整1/2波片，以改變?nèi)肷湓?/2波片的激光的偏振方向與該1/2波片的晶片光軸的夾角。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施方式采用的另一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種激光整形系統(tǒng)的檢測(cè)裝置，包括：

1/2波片，用于改變前級(jí)激光器出射的激光的偏振態(tài)；

偏振分光棱鏡，用于將1/2波片出射的激光的大部分引導(dǎo)至第一光路出射，剩余部分引導(dǎo)至第二光路出射；

1/4波片，用于改變第一光路出射的激光的偏振態(tài)，并將該激光出射至受激布里淵散射相位共軛鏡SBS-PCM；

第一分光元件，SBS-PCM反射回1/4波片的激光經(jīng)偏振分光棱鏡引導(dǎo)至該分光元件，該分光元件用于將該激光的大部分引導(dǎo)至后級(jí)激光器，剩余部分引導(dǎo)至第三光路出射；

第一檢測(cè)組件，用于檢測(cè)第二光路出射的激光的參數(shù)；

第二檢測(cè)組件，用于檢測(cè)第三光路出射的激光的參數(shù)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)施例包括如下有益效果：

本發(fā)明實(shí)施例中，通過(guò)1/2波片與偏振分光棱鏡的配合，將入射SBS-PCM之前的待整形激光分出少部分給第一檢測(cè)組件；并通過(guò)第一分光元件將SBS-PCM整形之后的激光分出少部分給第二檢測(cè)組件，使得系統(tǒng)能夠單發(fā)次(即一個(gè)脈沖)檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM整形前后的參數(shù)變化。例如，系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM整形前后的能量變化，從而能夠計(jì)算出SBS-PCM的反射率。并且，基本是在激光整形系統(tǒng)的原有光路中將光導(dǎo)出進(jìn)行測(cè)量，對(duì)系統(tǒng)自身光路影響較小。

附圖說(shuō)明

一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例通過(guò)與之對(duì)應(yīng)的附圖中的圖片進(jìn)行示例性說(shuō)明，這些示例性說(shuō)明并不構(gòu)成對(duì)實(shí)施例的限定，附圖中具有相同參考數(shù)字標(biāo)號(hào)的元件表示為類(lèi)似的元件，除非有特別申明，附圖中的圖不構(gòu)成比例限制。

圖1是本發(fā)明激光整形系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明激光整形系統(tǒng)的另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。

實(shí)施例一

本發(fā)明提供一種激光整形系統(tǒng)。請(qǐng)參閱圖1，圖1是本發(fā)明激光整形系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，激光整形系統(tǒng)100包括：前級(jí)激光器110、1/2波片120、偏振分光棱鏡130、1/4波片140、受激布里淵散射相位共軛鏡(SBS-PCM)150、透鏡151、第一分光元件160、后級(jí)激光器170、第一檢測(cè)組件180與第二檢測(cè)組件190。

前級(jí)激光器110用于出射待整形的激光，1/2波片120用于接收該激光，并改變?cè)摷す獾钠駪B(tài)。偏振分光棱鏡130用于將1/2波片出射的激光的大部分透射至第一光路出射，剩余部分反射至第二光路出射至第一檢測(cè)組件180。具體地，本實(shí)施例中，前級(jí)激光器110出射的待整形激光為P偏振光，1/2波片120改變?cè)摷す獾钠駪B(tài)，使得該激光的99％能量為P偏振光，被偏振分光棱鏡130透射至1/4波片140，1％為S偏振光，被偏振分光棱鏡130反射至第一檢測(cè)組件180。

由于第一檢測(cè)組件檢測(cè)所需的光束能量只需少量，所以應(yīng)讓激光少量地被偏振分光棱鏡130反射，因此應(yīng)調(diào)整1/2波片120使得入射偏振分光棱鏡130的激光的大部分能量為P偏振光。優(yōu)選地，入射偏振分光棱鏡的激光的偏振態(tài)與P偏振光的夾角大于等于-1度且小于等于1度。當(dāng)然，在不考慮能量損耗的情況下，入射偏振分光棱鏡的激光也可以是與P偏振光的夾角較大的線(xiàn)偏振光、也可以是圓偏振光或者自然光等。

1/4波片140用于接收第一光路出射的激光，并改變第一光路出射的激光的偏振態(tài)，具體地，入射1/4波片的激光的偏振方向與1/4波片的晶片光軸的夾角為45度角。1/4波片140出射的激光經(jīng)透鏡151聚焦后入射SBS-PCM150，SBS-PCM用于對(duì)該激光整形后反射回透鏡151至該1/4波片140。激光來(lái)回兩次經(jīng)過(guò)1/4波片140，偏振方向被改變90度，因此從1/4波片140回到偏振分光棱鏡130的激光被偏振分光棱鏡130引導(dǎo)至第一分光元件160。具體地，本實(shí)施例中，激光來(lái)回兩次經(jīng)過(guò)1/4波片140后，由P偏振光變?yōu)镾偏振光，該S偏振光被偏振分光棱鏡130反射至第一分光元件160。

第一分光元件160用于將來(lái)自偏振分光棱鏡130的激光的大部分引導(dǎo)至后級(jí)激光器170，剩余部分引導(dǎo)至第三光路出射至第二檢測(cè)組件190。具體地，本實(shí)施例中，第一分光元件160將來(lái)自偏振分光棱鏡130的S偏振光的98％透射至后級(jí)激光器170，2％反射至第二檢測(cè)組件190。第一分光元件160可以是各種類(lèi)型的分光濾光片，例如對(duì)激光具有一定透射率的波長(zhǎng)分光濾光片；第一分光元件也可以是中央貼有反射膜的透明玻璃。

第一檢測(cè)組件180用于檢測(cè)第二光路出射的激光的參數(shù)，第二檢測(cè)組件190用于檢測(cè)第三光路出射的激光的參數(shù)。激光的參數(shù)可以包括光的能量、遠(yuǎn)場(chǎng)分布、近場(chǎng)分布、時(shí)間波形分布與波前相位分布的至少一種。因此，第一檢測(cè)組件與第二檢測(cè)組件可以是用于檢測(cè)各種參數(shù)的器件。

例如，第一檢測(cè)組件包括用于檢測(cè)光能量的第一能量計(jì)，且第二檢測(cè)組件包括用于檢測(cè)光能量的第二能量計(jì)，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的光能量變化。或者，第一檢測(cè)組件包括第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器；第二檢測(cè)組件包括第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的遠(yuǎn)場(chǎng)分布變化?；蛘?，第一檢測(cè)組件包括第一近場(chǎng)分布測(cè)量器；第二檢測(cè)組件包括第二近場(chǎng)分布測(cè)量器，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的近場(chǎng)分布變化?；蛘?，第一檢測(cè)組件包括第一時(shí)間波形分布測(cè)量器；第二檢測(cè)組件包括第二時(shí)間波形分布測(cè)量器，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的時(shí)間波形分布變化?；蛘?，第一檢測(cè)組件包括第一波前相位分布測(cè)量器；第二檢測(cè)組件包括第二波前相位分布測(cè)量器，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的波前相位分布變化。

可見(jiàn)，本實(shí)施例中，通過(guò)1/2波片120與偏振分光棱鏡130的配合，將入射SBS-PCM150之前的待整形激光分出少部分給第一檢測(cè)組件；并通過(guò)第一分光元件將SBS-PCM150整形之后的激光分出少部分給第二檢測(cè)組件，使得系統(tǒng)能夠單發(fā)次(即一個(gè)脈沖)檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的各項(xiàng)參數(shù)變化。例如，系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM150整形前后的能量變化，從而能夠計(jì)算出SBS-PCM的反射率。并且，基本是在激光整形系統(tǒng)的原有光路中將光導(dǎo)出進(jìn)行測(cè)量，對(duì)系統(tǒng)自身光路影響較小。

當(dāng)然，在其它實(shí)施例中，也可以將1/4波片140、SBS-PCM150、透鏡151的位置與第一檢測(cè)組件180的位置互換，并且通過(guò)1/2波片120與偏振分光棱鏡130的配合，使得偏振分光棱鏡130將1/2波片出射的激光的大部分反射至第一光路出射至1/4波片，剩余部分透射至第二光路出射至第一檢測(cè)組件。

此外，在其它實(shí)施例中，系統(tǒng)還可以包括調(diào)整器件，用于調(diào)整1/2波片120，以改變?nèi)肷?/2波片的激光的偏振方向與1/2波片的晶片光軸的夾角，使得用戶(hù)可以控制分多少光能量至第一檢測(cè)組件。

實(shí)施例二

請(qǐng)參閱圖2，圖2是本發(fā)明激光整形系統(tǒng)的另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，激光整形系統(tǒng)200包括：前級(jí)激光器210、1/2波片220、偏振分光棱鏡230、1/4波片240、SBS-PCM250、透鏡251、第一分光元件260、后級(jí)激光器270、第一檢測(cè)組件與第二檢測(cè)組件。

本實(shí)施例與圖1所示實(shí)施例的區(qū)別之處包括：

(1)第一檢測(cè)組件包括第二分光元件281、第一能量計(jì)282，第二分光元件281用于將第二光路出射的激光(即來(lái)自偏振分光棱鏡230的激光)的部分光透射至第一能量計(jì)282，剩余光反射至第四光路出射；第二檢測(cè)組件包括第三分光元件291、第二能量計(jì)292，第三分光元件291用于將第三光路出射的激光(即來(lái)自第一分光元件260的激光)的部分光反射至第二能量計(jì)292，剩余光透射至第五光路出射。通過(guò)第一能量計(jì)282與第二能量計(jì)292的檢測(cè)，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM250整形前后的光能量變化。

舉例來(lái)說(shuō)，假設(shè)分光元件281的透射率為t1％，分光元件260的反射率記為r2％，分光元件291的反射率記為r3％，能量計(jì)282處測(cè)得的能量記為E1，能量計(jì)292處測(cè)得的能量記為E2，則SBS-PCM的反射率R＝(E2/r2％/r3％)/(E1/t1％/1％)。若分光元件260、231、291的透射率均為98％，反射率均為2％，且在E1處測(cè)得的能量為60.83mJ，在E2處測(cè)得的能量為2.12mJ，那么，SBS-PCM的反射率R＝(2.12/0.02/0.02)/(60.83/0.98/0.01)＝85.39％。

(2)第一檢測(cè)組件還包括透鏡2831、第四分光元件283、反射鏡2841、第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器284，透鏡2831用于將第四光路出射的激光匯聚至第四分光元件283，第四分光元件283用于將來(lái)自透鏡2831的激光的部分光經(jīng)反射鏡2841反射至第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器284，將來(lái)自透鏡2831的激光的剩余光透射至第六光路出射。第二檢測(cè)組件還包括透鏡2931、第五分光元件293、反射鏡2941、第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器294，透鏡2931用于將第五光路出射的激光匯聚至第五分光元件293，第五分光元件293用于將透鏡2931出射的激光的部分光經(jīng)反射鏡2941反射至第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器294，將透鏡2931出射的激光的剩余光透射至第七光路出射。

優(yōu)選地，L1+L2+L3＝f1。在第一檢測(cè)組件中，f1為透鏡2831的焦距，L1為透鏡2831與第四分光元件283之間的距離，L2為第四分光元件283與反射鏡2841之間的距離，L3為反射鏡2841與第一遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器284之間的距離。在第二檢測(cè)組件中，f1為透鏡2931的焦距，L1為透鏡2931與第五分光元件293之間的距離，L2為第五分光元件293與反射鏡2941之間的距離，L3為反射鏡2941與第二遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器294之間的距離。

遠(yuǎn)場(chǎng)分布測(cè)量器具體可以是圖像傳感器(CCD，Charge-coupled Device)，利用遠(yuǎn)場(chǎng)CCD284與遠(yuǎn)場(chǎng)CCD294采集遠(yuǎn)場(chǎng)光斑，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM250整形前后的遠(yuǎn)場(chǎng)分布變化。若進(jìn)入遠(yuǎn)場(chǎng)CCD前的能量過(guò)大，CCD前可以加衰減片以對(duì)能量進(jìn)行衰減。

(3)第一檢測(cè)組件還包括第六分光元件285、第一時(shí)間波形分布測(cè)量器286，第六分光元件285用于將第六光路出射的激光(即來(lái)自第四分光元件283的激光)的部分光反射至第一時(shí)間波形分布測(cè)量器286，剩余光透射至第八光路出射。第二檢測(cè)組件還包括第七分光元件295、第二時(shí)間波形分布測(cè)量器296，第七分光元件295用于將第七光路出射的激光(即來(lái)自第五分光元件293的激光)的部分光反射至第二時(shí)間波形分布測(cè)量器296，剩余光透射至第九光路出射。時(shí)間波形分布測(cè)量器具體可以是能夠采集脈沖波形的時(shí)間波形探頭。利用第一時(shí)間波形分布測(cè)量器286與第二時(shí)間波形分布測(cè)量器296的檢測(cè)，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM250整形前后的時(shí)間波形分布變化。

(4)第一檢測(cè)組件還包括透鏡2871、第八分光元件287、第一波前相位分布測(cè)量器288，透鏡2871用于將第八光路出射的激光(即來(lái)自第六分光元件285的激光)中繼至第八分光元件287，第八分光元件287用于將第八光路出射的激光的部分光反射至第一波前相位分布測(cè)量器288，將第八光路出射的激光的剩余光透射至第十光路出射。第二檢測(cè)組件還包括透鏡2971、第九分光元件297、第二波前相位分布測(cè)量器298，透鏡2971用于將第九光路出射的激光(即來(lái)自第七分光元件295的激光)中繼至第九分光元件297，第九分光元件297用于將第九光路出射的激光的部分光反射至第二波前相位分布測(cè)量器298，將第九光路出射的激光的剩余光透射至第十一光路出射。

優(yōu)選地，L4+L5＝f2。在第一檢測(cè)組件中，f2為透鏡2871的焦距，L4為透鏡2871與第八分光元件287之間的距離，L5為第八分光元件287與第一波前相位分布測(cè)量器288之間的距離。在第二檢測(cè)組件中，f2為透鏡2971的焦距，L4為透鏡2871與第九分光元件297之間的距離，L5為第九分光元件297與第二波前相位分布測(cè)量器298之間的距離。

波前相位分布測(cè)量器具體可以是波前傳感器。通過(guò)第一波前相位分布測(cè)量器288與第二波前相位分布測(cè)量器298的檢測(cè)，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM250整形前后的波前相位分布變化。

(5)第一檢測(cè)組件還包括第一近場(chǎng)分布測(cè)量器289，用于接收第十光路出射的激光(即來(lái)自第八分光元件287的激光)。第二檢測(cè)組件還包括第二近場(chǎng)分布測(cè)量器299，用于接收第十一光路出射的激光(即來(lái)自第九分光元件297的激光)。優(yōu)選地，L4+L5＝f2。在第一檢測(cè)組件中，f2為透鏡2871的焦距，L4為透鏡2871與第八分光元件287之間的距離，L5為第八分光元件287與第一近場(chǎng)分布測(cè)量器289之間的距離。在第二檢測(cè)組件中，f2為透鏡2971的焦距，L4為透鏡2871與第九分光元件297之間的距離，L5為第九分光元件297與第二近場(chǎng)分布測(cè)量器299之間的距離。

近場(chǎng)分布測(cè)量器具體可以是圖像傳感器(CCD，Charge-coupled Device)，利用近場(chǎng)CCD289與近場(chǎng)CCD299采集近場(chǎng)光斑，使得系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM250整形前后的近場(chǎng)分布變化。若進(jìn)入近場(chǎng)CCD前的能量過(guò)大，CCD前可以加衰減片以對(duì)能量進(jìn)行衰減。

透鏡2831(2931)和透鏡2871(2971)組成一個(gè)縮束鏡組，進(jìn)入透鏡2831(2931)之前的光束是平行光，從透鏡2871(2971)出來(lái)的光束也是平行光，只是光束的口徑較進(jìn)入透鏡2831(2931)的光束口徑要小很多，其大小和近場(chǎng)CCD的探測(cè)面口徑相匹配。

本實(shí)施例中，通過(guò)1/2波片220與偏振分光棱鏡230的配合，將入射SBS-PCM之前的待整形激光分出少部分給第一檢測(cè)組件；并通過(guò)第一分光元件將SBS-PCM整形之后的激光分出少部分給第二檢測(cè)組件，使得系統(tǒng)能夠單發(fā)次(即一個(gè)脈沖)檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM整形前后的能量、遠(yuǎn)場(chǎng)分布、時(shí)間波形分布、波前相位分布與近場(chǎng)分布這些參數(shù)變化情況。

具體地，上述分光元件均可以是對(duì)激光具有一定透射率的楔板，楔板的反射率和透射率可以根據(jù)各檢測(cè)裝置的靈敏度的具體情況而定。

實(shí)施例三

在本發(fā)明實(shí)施例中，還提供了一種激光整形系統(tǒng)的檢測(cè)裝置，包括：

1/2波片，用于改變前級(jí)激光器出射的激光的偏振態(tài)；

偏振分光棱鏡，用于將1/2波片出射的激光的大部分引導(dǎo)至第一光路出射，剩余部分引導(dǎo)至第二光路出射；

1/4波片，用于改變第一光路出射的激光的偏振態(tài)，并將該激光出射至受激布里淵散射相位共軛鏡SBS-PCM；

第一分光元件，SBS-PCM反射回1/4波片的激光經(jīng)偏振分光棱鏡引導(dǎo)至該分光元件，該分光元件用于將該激光的大部分引導(dǎo)至后級(jí)激光器，剩余部分引導(dǎo)至第三光路出射；

第一檢測(cè)組件，用于檢測(cè)第二光路出射的激光的參數(shù)；

第二檢測(cè)組件，用于檢測(cè)第三光路出射的激光的參數(shù)。

本實(shí)施例中的各元器件參見(jiàn)圖1與圖2實(shí)施例中的詳細(xì)說(shuō)明，此處不作贅述。

本實(shí)施例中，通過(guò)1/2波片與偏振分光棱鏡的配合，將入射SBS-PCM之前的待整形激光分出少部分給第一檢測(cè)組件；并通過(guò)第一分光元件將SBS-PCM整形之后的激光分出少部分給第二檢測(cè)組件，使得系統(tǒng)能夠單發(fā)次(即一個(gè)脈沖)檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM整形前后的各項(xiàng)參數(shù)變化。例如，系統(tǒng)能夠檢測(cè)激光經(jīng)SBS-PCM整形前后的能量變化，從而能夠計(jì)算出SBS-PCM的反射率。并且，基本是在激光整形系統(tǒng)的原有光路中將光導(dǎo)出進(jìn)行測(cè)量，對(duì)系統(tǒng)自身光路影響較小。

此外，在其它實(shí)施例中，系統(tǒng)還可以包括調(diào)整器件，用于調(diào)整1/2波片，以改變?nèi)肷?/2波片的激光的偏振方向與1/2波片的晶片光軸的夾角，使得用戶(hù)可以控制分多少光能量至第一檢測(cè)組件。

以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施方式，并非因此限制本發(fā)明的專(zhuān)利范圍，凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書(shū)及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專(zhuān)利保護(hù)范圍內(nèi)。