本實用新型涉及了一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

COG液晶顯示器，是指驅(qū)動芯片（IC）通過各向異性導(dǎo)電膠固定在玻璃上，并由該芯片驅(qū)動顯示器內(nèi)顯示電路的液晶顯示器。此種COG液晶顯示器，在沒有啤上IC之前，是沒有辦法顯示的。用傳統(tǒng)的半成品測試斷路時，從圖1可看出，COM線1’和SEG線2’相鄰處的間距太?。ㄒ话阈∮?.05mm），加上檢測時是手工裝架，導(dǎo)電條3’又是軟的，壓下時會擴(kuò)展，所以兩個導(dǎo)電條3’之間的距離d為0.15mm是極限，超出測試能力，故實際測試時會舍去幾根COM線和SEG線（位于如圖1中的虛框4’內(nèi)）不測試。但是如果這些被舍去不測試的線出現(xiàn)斷路，是沒有辦法測試出來的，只有等啤上IC，啤上FPC，做成成品后，才能挑選出來，但容易造成人力物力的浪費(fèi)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供了一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，成本低，且無需改變電測檢測裝置以及測試方法，即可實現(xiàn)全顯示和線路全檢測，解決現(xiàn)有檢測時COM線和SEG線靠得很近時全部線路無法進(jìn)行全部斷路測試的問題，采用本引腳結(jié)構(gòu)可半成品階段盡早地挑出不良品，避免不良品流入下工序并制成成品，減少損失和提高工作效率和質(zhì)量。

本實用新型所要解決的技術(shù)問題通過以下技術(shù)方案予以實現(xiàn)：

一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)，其包括連接薄膜電路掃描線的COM引線和連接薄膜電路數(shù)據(jù)線的SEG引線；所述COM引線包括與電測檢測裝置的第一導(dǎo)電條檢測時電連接的若干條第一COM線和未與所述第一導(dǎo)電條檢測時電連接的若干條第二COM線；所述SEG引線包括與檢測裝置的第二導(dǎo)電條檢測時電連接的若干條第一SEG線和未與所述第二導(dǎo)電條檢測時電連接的若干條第二SEG線；所述第二COM線和第二SEG線介于所述第一導(dǎo)電條和第二導(dǎo)電條之間；還包括若干條第一連接線和第二連接線，其分別連接在所述第二COM線和第二SEG線的末端，用于實現(xiàn)所述第二COM線與所述第一導(dǎo)電條檢測時的電連接和所述第二SEG線與所述第二導(dǎo)電條檢測時的電連接。

作為本實用新型提供的薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)的一種改進(jìn)，所述第一連接線和第二連接線為L型或類L型連接線。

作為本實用新型提供的薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)的一種改進(jìn)，所述薄膜電路、COM引線、SEG引線、第一連接線和第二連接線的材質(zhì)為ITO。

作為本實用新型提供的薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)的一種改進(jìn)，所述電測檢測裝置還包括夾具、測試架和檢測用電路板，所述第一導(dǎo)電條和第二導(dǎo)電條電連接所述電路板，所述第一導(dǎo)電條還壓接在所述第一COM線和第一連接線上，所述第二導(dǎo)電條還壓接在所述第一SEG線和第二連接線上；所述電路板通過夾具固定在所述測試架上。

本實用新型具有如下有益效果：

本薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，成本較低，且無需改變現(xiàn)有的電測檢測裝置以及測試方法，可實現(xiàn)全顯示和線路的全檢測，檢測方便快捷，解決現(xiàn)有檢測時COM線和SEG線靠得很近時全部線路無法進(jìn)行全部斷路測試的問題，采用本引腳結(jié)構(gòu)可在半成品階段盡早地挑出不良品，避免不良品流入下工序并制成成品，造成不必要的損失，也進(jìn)一步提高工作效率和質(zhì)量。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有引腳結(jié)構(gòu)與導(dǎo)電條的測試連接示意圖；

圖2為本實用新型引腳結(jié)構(gòu)的分解示意圖；

圖3為本實用新型引腳結(jié)構(gòu)與導(dǎo)電條的測試連接示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合實施例對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)的說明，實施例僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，不是對本實用新型的限定。

如圖2、3所示，其顯示了本實用新型提供的一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)，其包括連接薄膜電路掃描線的COM引線1和連接薄膜電路數(shù)據(jù)線的SEG引線2，用于連接薄膜電路和驅(qū)動芯片；其中，所述COM引線1包括與電測檢測裝置的第一導(dǎo)電條41檢測時電連接的若干條第一COM線11和未與所述第一導(dǎo)電條41檢測時電連接的若干條第二COM線12；所述SEG引線2包括與電測檢測裝置的第二導(dǎo)電條42檢測時電連接的若干條第一SEG線21和未與所述第二導(dǎo)電條42檢測時電連接的若干條第二SEG線22；所述第二COM線12和第二SEG線22介于所述第一導(dǎo)電條41和第二導(dǎo)電條42之間；還包括若干條第一連接線31和第二連接線32，其分別連接在所述第二COM線12和第二SEG線22的末端，用于實現(xiàn)所述第二COM線12與所述第一導(dǎo)電條41檢測時的電連接和所述第二SEG線22與所述第二導(dǎo)電條42檢測時的電連接。

需要說明的是，為了避免漏檢，可增設(shè)與靠近所述第二COM線12的第一COM線11連接的第一連接線41，同理，增設(shè)與靠近所述第二SEG線22的第一SEG線21連接的第二連接線42，以減少每次壓接導(dǎo)電條出現(xiàn)的對位不準(zhǔn)確的問題而造成漏檢。

所述電測檢測裝置包括第一導(dǎo)電條41、第二導(dǎo)電條42、夾具、測試架和檢測用電路板，所述第一導(dǎo)電條41和第二導(dǎo)電條42電連接所述電路板，所述第一導(dǎo)電條41還壓接在所述第一COM線11和第一連接線31上，所述第二導(dǎo)電條42還壓接在所述第一SEG線21和第二連接線32上；所述電路板通過夾具固定在所述測試架上。打開測試架的電源開關(guān)，即可測試薄膜電路的斷線缺陷，若未點(diǎn)亮即斷線了。

值得注意的是，所述電測檢測裝置以及檢測方法為本領(lǐng)域技術(shù)人員公知技術(shù)，在此不再詳述。

所述第一連接線31和第二連接線32優(yōu)選為L型或類L型連接線，便于將第二COM線12和第二SEG線22引入到所述第一導(dǎo)電條41和第二導(dǎo)電條42的測試極限范圍內(nèi)。

所述薄膜電路、COM引線1、SEG引線2、第一連接線31和第二連接線32的材質(zhì)為ITO，但不局限于此。

本薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，成本較低，且無需改變現(xiàn)有的電測檢測裝置以及測試方法，可實現(xiàn)全顯示和線路的全檢測，檢測方便快捷，從而在半成品階段盡早地挑出不良品，避免不良品流入下工序并制成成品，造成不必要的損失，也進(jìn)一步提高工作效率和質(zhì)量。

以上所述實施例僅表達(dá)了本實用新型的實施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制，但凡采用等同替換或等效變換的形式所獲得的技術(shù)方案，均應(yīng)落在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。