本實(shí)用新型涉及真空鍍膜技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種薄膜在線監(jiān)測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

目前，大面積玻璃鍍膜膜層質(zhì)量的監(jiān)測(cè)方式，都是采用離線監(jiān)測(cè)的方法，即玻璃完成鍍膜后，再通過(guò)專門的測(cè)試儀器對(duì)膜層質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)測(cè)；此類方法雖然能測(cè)試大面積玻璃鍍膜的膜層厚度，但是由于是離線測(cè)量，會(huì)造成反饋延時(shí)，工程人員不能及時(shí)得到相關(guān)鍍膜數(shù)據(jù)進(jìn)行相關(guān)的分析，鍍膜過(guò)程中無(wú)法掌控鍍膜的質(zhì)量，不能在鍍膜過(guò)程中及時(shí)的進(jìn)行工藝質(zhì)量調(diào)整，往往致使產(chǎn)品不良、材料浪費(fèi)，增加企業(yè)的運(yùn)營(yíng)成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型目的是提供一種薄膜在線監(jiān)測(cè)裝置。

本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：

一種薄膜在線監(jiān)測(cè)裝置，包括一膜層分析裝置以及分別與膜層分析裝置電性連接的至少一膜層測(cè)量?jī)x探頭、至少一紅外測(cè)溫探頭，該膜層測(cè)量?jī)x探頭用于檢測(cè)鍍膜時(shí)玻璃芯片的鍍膜參數(shù)模擬值，該紅外測(cè)溫探頭用于檢測(cè)鍍膜時(shí)玻璃芯片的表面溫度模擬值，膜層分析裝置用于根據(jù)所述鍍膜參數(shù)模擬值、表面溫度模擬值計(jì)算并且顯示鍍膜參數(shù)。

所述膜層分析裝置設(shè)置有顯示屏。

所述鍍膜參數(shù)模擬值包括膜層的厚度、透過(guò)率、折射率、反射率、消光系數(shù)中的一種或多種。

本實(shí)用新型的有益效果：

本實(shí)用新型在線監(jiān)測(cè)裝置相對(duì)于傳統(tǒng)離線監(jiān)測(cè)裝置監(jiān)測(cè)速度更快，且在線監(jiān)測(cè)是對(duì)每一片鍍膜玻璃的膜層厚度進(jìn)行監(jiān)測(cè)，技術(shù)人員可以根據(jù)每片玻璃的鍍膜裝置對(duì)工藝和設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，避免了由于監(jiān)測(cè)遺漏造成的損失，大大降低了企業(yè)運(yùn)營(yíng)成本。

附圖說(shuō)明

下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式做進(jìn)一步的說(shuō)明。

圖1為本實(shí)用新型薄膜在線監(jiān)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

如圖1所示，為本實(shí)用新型的一種薄膜在線監(jiān)測(cè)裝置，包括一膜層分析裝置5以及分別與膜層分析裝置電性連接的一膜層測(cè)量?jī)x探頭2、一紅外測(cè)溫探頭3，該膜層測(cè)量?jī)x探頭2用于檢測(cè)鍍膜時(shí)玻璃芯片1的鍍膜參數(shù)模擬值（包括膜層的厚度、透過(guò)率、折射率、反射率、消光系數(shù)中的一種或多種），該紅外測(cè)溫探頭3用于檢測(cè)鍍膜時(shí)玻璃芯片1的表面溫度模擬值，膜層分析裝置5用于根據(jù)所述鍍膜參數(shù)模擬值、表面溫度模擬值計(jì)算并且顯示鍍膜參數(shù)，膜層分析裝置5設(shè)置有顯示屏。

需要指出的是，本實(shí)施例中膜層測(cè)量?jī)x探頭2、紅外測(cè)溫探頭3的數(shù)目為一個(gè)，但不作為唯一限定，也可以是多個(gè)，取平均值或最優(yōu)值。

使用時(shí)，本實(shí)用新型薄膜在線監(jiān)測(cè)裝置安裝在鍍膜機(jī)4上，對(duì)玻璃芯片1在線監(jiān)測(cè)，其中所述玻璃芯片1在鍍膜時(shí)位于鍍膜機(jī)4內(nèi)的傳輸線上，是本裝置鍍膜的產(chǎn)品和驗(yàn)證產(chǎn)品；所述膜層測(cè)量?jī)x探頭2位于鍍膜機(jī)4的鍍膜腔室6頂部，此探頭根據(jù)需求可測(cè)量膜層的厚度、透過(guò)率、折射率、反射率、消光系數(shù)等；所述紅外測(cè)溫探頭3同樣位于鍍膜腔室6頂部，此探頭根據(jù)需求可測(cè)量玻璃芯片1的表面溫度；所述膜厚分析裝置5通過(guò)對(duì)膜層測(cè)量?jī)x探頭2、紅外測(cè)溫探頭3的測(cè)量值進(jìn)行分析計(jì)算得到膜層的厚度、透過(guò)率、折射率、反射率、消光系數(shù)等。由于膜厚分析裝置5自帶顯示功能，技術(shù)人員可通過(guò)膜厚分析裝置5顯示的參數(shù)對(duì)鍍膜狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和分析，并判斷產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題。

以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)先實(shí)施方式，本實(shí)用新型并不限定于上述實(shí)施方式，只要以基本相同手段實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的的技術(shù)方案都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。