本發(fā)明涉及雜交儀，具體涉及雜交儀溫度檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、雜交儀是一種基于核酸分子雜交原理的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，雜交儀應(yīng)用核酸分子的變性和復(fù)性的性質(zhì)，使來源不同的dna(或rna)片段，按堿基互補(bǔ)關(guān)系形成雜交雙鏈分子。雜交儀的核心部件之一是雜交反應(yīng)室，這是進(jìn)行雜交反應(yīng)的關(guān)鍵場(chǎng)所，反應(yīng)室由高質(zhì)量的材料制成，以確保其具有良好的密封性和耐腐蝕性，從而能夠在復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)條件下保持穩(wěn)定的性能。

2、為了確保雜交反應(yīng)在最佳的溫度條件下進(jìn)行，雜交儀反應(yīng)室配備加熱裝置，加熱裝置通常由加熱元件、溫度傳感器和控制系統(tǒng)組成。在雜交反應(yīng)中，溫度是影響反應(yīng)效率和準(zhǔn)確性的關(guān)鍵因素之一。如果溫度過高或過低，都可能導(dǎo)致雜交反應(yīng)的不完全或失敗。因此，加熱裝置必須能夠提供穩(wěn)定且可控的溫度環(huán)境，以確保雜交反應(yīng)在最佳的溫度條件下進(jìn)行。因此，了解雜交儀中加熱裝置的溫度情況是當(dāng)前亟待解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本發(fā)明提供了一種雜交儀溫度檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，以了解雜交儀中加熱裝置的溫度情況。

2、第一方面，本發(fā)明提供了一種雜交儀溫度檢測(cè)方法，所述方法包括：

3、獲取雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片的原始溫度數(shù)據(jù)；

4、基于所述原始溫度數(shù)據(jù)判斷加熱裝置是否穩(wěn)定，并對(duì)所述原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，所述加熱裝置設(shè)于所述雜交儀反應(yīng)室中，所述加熱裝置用于對(duì)所述待測(cè)芯片進(jìn)行加熱；

5、若所述加熱裝置穩(wěn)定，將預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為攝氏度溫度數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)確定目標(biāo)擬合系數(shù)，以基于所述目標(biāo)擬合系數(shù)確定目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)。

6、本實(shí)施例提供的雜交儀溫度檢測(cè)方法，包括獲取雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片的原始溫度數(shù)據(jù)；基于原始溫度數(shù)據(jù)判斷加熱裝置是否穩(wěn)定，并對(duì)原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，其中，加熱裝置設(shè)于雜交儀反應(yīng)室中，加熱裝置用于對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行加熱；若加熱裝置穩(wěn)定，將預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為攝氏度溫度數(shù)據(jù)，并根據(jù)攝氏度溫度數(shù)據(jù)確定目標(biāo)擬合系數(shù)，以基于目標(biāo)擬合系數(shù)確定目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)。本方法在采集到原始溫度數(shù)據(jù)后通過預(yù)處理操作，去除可能存在的異常值對(duì)結(jié)果造成影響，根據(jù)攝氏度溫度數(shù)據(jù)，采用合適的擬合方法確定目標(biāo)擬合系數(shù)，這些系數(shù)能夠精確描述溫度與電阻值之間的關(guān)系。通過精確的溫度數(shù)據(jù)采集、加熱裝置穩(wěn)定性判斷、數(shù)據(jù)預(yù)處理以及溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換與擬合分析，實(shí)現(xiàn)了對(duì)雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片溫度的精確測(cè)量和控制。提高了溫度數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性，為后續(xù)的實(shí)驗(yàn)分析、結(jié)果報(bào)告以及溫度控制策略的制定提供了有力支持。

7、在一種可選的實(shí)施方式中，所述雜交儀反應(yīng)室中設(shè)有多個(gè)溫度探頭，所述多個(gè)溫度探頭設(shè)于探頭固定板，所述探頭固定板與所述待測(cè)芯片的相對(duì)位置固定，所述獲取雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片的原始溫度數(shù)據(jù)，包括：

8、基于所述多個(gè)溫度探頭采集所述雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片表面的原始溫度數(shù)據(jù)，所述原始溫度數(shù)據(jù)為模擬數(shù)字溫度數(shù)據(jù)。

9、在一種可選的實(shí)施方式中，所述基于所述原始溫度數(shù)據(jù)判斷加熱裝置是否穩(wěn)定，包括：

10、基于所述原始溫度數(shù)據(jù)計(jì)算所述待測(cè)芯片中每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的方差；

11、基于所述方差判斷所述加熱裝置是否穩(wěn)定。

12、在一種可選的實(shí)施方式中，所述基于所述方差判斷所述加熱裝置是否穩(wěn)定，包括：

13、若所述方差小于預(yù)設(shè)方差閾值，則確定所述加熱裝置穩(wěn)定。

14、在一種可選的實(shí)施方式中，所述對(duì)所述原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，包括：

15、對(duì)所述原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行分組；

16、若所述方差大于所述預(yù)設(shè)方差閾值，則計(jì)算每組原始溫度數(shù)據(jù)的第一均值；

17、若所述方差小于或等于所述預(yù)設(shè)方差閾值，則去除每組原始溫度數(shù)據(jù)中的異常值，并計(jì)算去除所述異常值后每組的第二均值。

18、在一種可選的實(shí)施方式中，所述將預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為攝氏度溫度數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)確定目標(biāo)擬合系數(shù)，以基于所述目標(biāo)擬合系數(shù)確定目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)，包括：

19、基于預(yù)設(shè)擬合系數(shù)和預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)計(jì)算攝氏度溫度數(shù)據(jù)；

20、將所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)溫度范圍進(jìn)行比較，以確定所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)所處的溫度區(qū)間；

21、根據(jù)與所述溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的目標(biāo)擬合系數(shù)、所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)以及預(yù)設(shè)校正參數(shù)，計(jì)算得到目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)。

22、在一種可選的實(shí)施方式中，所述根據(jù)與所述溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的目標(biāo)擬合系數(shù)、所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)以及預(yù)設(shè)校正參數(shù)，計(jì)算得到目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)，包括：

23、基于所述目標(biāo)擬合系數(shù)對(duì)所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行優(yōu)化，得到第一目標(biāo)溫度；

24、基于所述預(yù)設(shè)校正參數(shù)對(duì)所述第一目標(biāo)溫度進(jìn)行校正，得到目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)。

25、第二方面，本發(fā)明提供了一種雜交儀溫度檢測(cè)裝置，所述裝置包括：

26、數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片的原始溫度數(shù)據(jù)；

27、預(yù)處理模塊，用于基于所述原始溫度數(shù)據(jù)判斷加熱裝置是否穩(wěn)定，并對(duì)所述原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，所述加熱裝置設(shè)于所述雜交儀反應(yīng)室中，所述加熱裝置用于對(duì)所述待測(cè)芯片進(jìn)行加熱；

28、數(shù)據(jù)輸出模塊，用于若所述加熱裝置穩(wěn)定，將預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為攝氏度溫度數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)確定目標(biāo)擬合系數(shù)，以基于所述目標(biāo)擬合系數(shù)確定目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)。

29、第三方面，本發(fā)明提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器和處理器，存儲(chǔ)器和處理器之間互相通信連接，存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，處理器通過執(zhí)行計(jì)算機(jī)指令，從而執(zhí)行上述第一方面或其對(duì)應(yīng)的任一實(shí)施方式的雜交儀溫度檢測(cè)方法。

30、第四方面，本發(fā)明提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述第一方面或其對(duì)應(yīng)的任一實(shí)施方式的雜交儀溫度檢測(cè)方法。

技術(shù)特征：

1.一種雜交儀溫度檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述雜交儀反應(yīng)室中設(shè)有多個(gè)溫度探頭，所述多個(gè)溫度探頭設(shè)于探頭固定板，所述探頭固定板與所述待測(cè)芯片的相對(duì)位置固定，所述獲取雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片的原始溫度數(shù)據(jù)，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述原始溫度數(shù)據(jù)判斷加熱裝置是否穩(wěn)定，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述方差判斷所述加熱裝置是否穩(wěn)定，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為攝氏度溫度數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)確定目標(biāo)擬合系數(shù)，以基于所述目標(biāo)擬合系數(shù)確定目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)與所述溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)的目標(biāo)擬合系數(shù)、所述攝氏度溫度數(shù)據(jù)以及預(yù)設(shè)校正參數(shù)，計(jì)算得到目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)，包括：

8.一種雜交儀溫度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括：

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，所述計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的雜交儀溫度檢測(cè)方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及雜交儀技術(shù)領(lǐng)域，公開了雜交儀溫度檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，包括獲取雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片的原始溫度數(shù)據(jù)；基于原始溫度數(shù)據(jù)判斷加熱裝置是否穩(wěn)定，并對(duì)原始溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理；若加熱裝置穩(wěn)定，將預(yù)處理后的原始溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為攝氏度溫度數(shù)據(jù)，并根據(jù)攝氏度溫度數(shù)據(jù)確定目標(biāo)擬合系數(shù)，以基于目標(biāo)擬合系數(shù)確定目標(biāo)攝氏度溫度數(shù)據(jù)。本方法在采集到原始溫度數(shù)據(jù)后通過預(yù)處理操作，去除可能存在的異常值對(duì)結(jié)果造成影響，實(shí)現(xiàn)對(duì)雜交儀反應(yīng)室中待測(cè)芯片溫度的精確測(cè)量和控制，提高了溫度數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性，為后續(xù)的實(shí)驗(yàn)分析、結(jié)果報(bào)告以及溫度控制策略的制定提供了有力支持。

技術(shù)研發(fā)人員：蔡樹衡,陳樹堅(jiān),陳錫釗,黃育名,李澤華,翁雨霖,何曉燕,謝瀟敏
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東凱普科技智造有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15