專利名稱：一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，具體說(shuō)，是涉及一種既能夠正確檢測(cè)過(guò)零點(diǎn)、又能夠自行診斷是否有異常的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
在一些交流調(diào)壓或交流控制系統(tǒng)中，需要知道交流電的過(guò)零點(diǎn)，以便以此為基準(zhǔn)，對(duì)交流電的通、斷進(jìn)行控制，以便得到想要的輸出，過(guò)零點(diǎn)的可靠性對(duì)控制的品質(zhì)有著直接的影響，如果過(guò)零檢測(cè)回路出現(xiàn)異常，就會(huì)直接影響到輸出，情況嚴(yán)重的會(huì)對(duì)設(shè)備或系統(tǒng)造成安全隱患，但目前沒(méi)有一種既能夠正確檢測(cè)到過(guò)零點(diǎn)，又能夠自行診斷是否有異常的過(guò)零檢測(cè)電路的相關(guān)技術(shù)報(bào)道，現(xiàn)有技術(shù)不能對(duì)過(guò)零檢測(cè)電路的安全進(jìn)行有效防護(hù)，引起后 續(xù)系統(tǒng)的不穩(wěn)定性。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種既能夠正確檢測(cè)過(guò)零點(diǎn)、又能夠自行診斷是否有異常的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)。為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案如下一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，包括電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PCl和內(nèi)設(shè)切斷電路單元的MCU (MCU是微程序控制器Microprogrammed Control Unit的英文縮寫(xiě))，所述電阻R7和電阻R8并聯(lián)且分別通過(guò)光耦PCl的I號(hào)和2號(hào)接入口接入光耦PCl中，電阻R9通過(guò)光耦PCl的4號(hào)接入口接入光耦PCl中，MCU的一端子通過(guò)光耦PCl的4號(hào)接入口接入光耦PCl中，光耦PCl的3號(hào)端口接地。作為一種優(yōu)選方案，光耦PCl輸出高、低電平的頻率是50HZ，占空比為50%。作為進(jìn)一步優(yōu)選方案，高電平輸出時(shí)間為10ms，低電平輸出時(shí)間也為10ms。作為一種優(yōu)選方案，當(dāng)過(guò)零檢測(cè)電路中的輸入電源在正半周期時(shí)，電流流經(jīng)電阻R7、光耦PCl和電阻R8，光耦PCl導(dǎo)通，此時(shí)光耦輸出低電平；當(dāng)電源過(guò)零時(shí)，此時(shí)電壓低至光耦的最小導(dǎo)通電壓，光耦PCl此時(shí)關(guān)斷，其輸出為高電平；當(dāng)輸入電壓在負(fù)半周期時(shí)，電流流經(jīng)電阻R8、電阻R7，不流經(jīng)光耦，PCI不導(dǎo)通，輸出為高電平。本發(fā)明的工作過(guò)程如下當(dāng)過(guò)零檢測(cè)電路開(kāi)始運(yùn)行后，MCU將實(shí)時(shí)采集光耦PCl的輸出狀態(tài)，并計(jì)算高低電平輸出時(shí)間和低電平輸出時(shí)間是否均為IOms ;若該狀態(tài)維持IOms后發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換，則對(duì)轉(zhuǎn)換后的狀態(tài)進(jìn)行計(jì)時(shí)，反之則說(shuō)明發(fā)生故障；MCU對(duì)剛發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換后的電路繼續(xù)進(jìn)行狀態(tài)是否維持IOms后發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換的判斷，如果是，則進(jìn)行正常處理，反之則說(shuō)明發(fā)生故障；對(duì)故障進(jìn)行故障處理后結(jié)束。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，不僅能夠正確檢測(cè)過(guò)零點(diǎn)，還能夠自行診斷是否有異常，可避免因過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)的異常導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)不穩(wěn)定或安全隱患，具有極強(qiáng)的實(shí)用價(jià)值，可廣泛推廣應(yīng)用。


圖I是本發(fā)明提供的一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖；圖2為本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的交流輸入波形；圖3為本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的光耦輸出的電平波形；圖4是本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的工作流程示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖及其實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)地說(shuō)明如圖I所示本發(fā)明提供的一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，包括電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PCl和內(nèi)設(shè)切斷電路單元的MCU，所述電阻R7和電阻R8并聯(lián)且分別通過(guò)光耦PCl的I號(hào)和2號(hào)接入口接入光耦PCl中，電阻R9通過(guò)光耦PCl的4號(hào)接入口接入光耦PCl中，MCU的一端子通過(guò)光耦PCl的4號(hào)接入口接入光耦PCl中，光耦PCl的3號(hào)端口接地。作為一種優(yōu)選方案，所述過(guò)零檢測(cè)電路為檢測(cè)交流電的過(guò)零點(diǎn)，并且將交流正余弦信號(hào)轉(zhuǎn)化為固定頻率及占空比高低電平信號(hào)的電路；當(dāng)過(guò)零檢測(cè)電路中的輸入電源在正半周期時(shí)，電流流經(jīng)電阻R7、光耦PCI和電阻R8，光耦PCI導(dǎo)通，此時(shí)光耦輸出低電平；當(dāng)電源過(guò)零時(shí)，此時(shí)電壓低至光耦的最小導(dǎo)通電壓，光耦PCl此時(shí)關(guān)斷，其輸出為高電平；當(dāng)輸入電壓在負(fù)半周期時(shí)，電流流經(jīng)電阻R8、電阻R7，不流經(jīng)光耦，PCl不導(dǎo)通，輸出為高電平。圖2所示為本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的交流輸入波形，圖3所示為本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的光耦輸出的電平波形，對(duì)比圖2和圖3可見(jiàn)交流輸入與光耦輸出的對(duì)應(yīng)關(guān)系光耦PCl輸出高、低電平的頻率是50HZ，占空比為50%;即高電平輸出時(shí)間為10ms，低電平輸出時(shí)間也為10ms。如圖4所示，本發(fā)明的工作過(guò)程如下當(dāng)過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)開(kāi)始運(yùn)行后，MCU將實(shí)時(shí)采集光耦PCl的輸出狀態(tài)，并計(jì)算高低電平輸出時(shí)間和低電平輸出時(shí)間是否均為IOms ;若該狀態(tài)維持IOms后發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換，則對(duì)轉(zhuǎn)換后的狀態(tài)進(jìn)行計(jì)時(shí)，反之則說(shuō)明發(fā)生故障；MCU對(duì)剛發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換后的電路繼續(xù)進(jìn)行狀態(tài)是否維持IOms后發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換的判斷，如果是，則進(jìn)行正常處理，反之則說(shuō)明發(fā)生故障；對(duì)故障進(jìn)行故障處理后結(jié)束。綜上所述可見(jiàn)本發(fā)明通過(guò)MCU采集光耦的輸出狀態(tài)，計(jì)算高低電平的頻率及高低電平的占空比，通過(guò)對(duì)這兩個(gè)參數(shù)進(jìn)行比較，便能夠自行診斷出過(guò)零檢測(cè)電路是否有異常，以便在該電路發(fā)生異常時(shí)，相關(guān)系統(tǒng)能做出有效的保護(hù)，防止進(jìn)一步發(fā)生危害。本發(fā)明所提供的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，不僅能夠正確檢測(cè)輸出電壓，還能夠自行診斷是否有異常，可避免因過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)的異常導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)不穩(wěn)定或安全隱患，具有極強(qiáng)的實(shí)用價(jià)值，可廣泛推廣應(yīng)用。最后有必要在此說(shuō)明的是上述內(nèi)容只用于對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能理解為對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明的上述內(nèi)容作出的一些非本質(zhì)的改進(jìn)和調(diào)整均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PCl和內(nèi)設(shè)切斷電路單元的MCU，所述電阻R7和電阻R8并聯(lián)且分別通過(guò)光耦PCl的I號(hào)和2號(hào)接入口接入光耦PCl中，電阻R9通過(guò)光耦PCl的4號(hào)接入口接入光耦PCl中，MCU的一端子通過(guò)光耦PCl的4號(hào)接入口接入光耦PCl中，光耦PCl的3號(hào)端口接地。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，其特征在于光耦PCl輸出高、低電平的頻率是50HZ，占空比為50%。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，其特征在于高電平輸出時(shí)間為10ms，低電平輸出時(shí)間也為10ms。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，其特征在于當(dāng)過(guò)零檢測(cè)電路中的輸入電源在正半周期時(shí)，電流流經(jīng)電阻R7、光耦PCl和電阻R8，光耦PCl導(dǎo)通，此時(shí)光耦輸出低電平；當(dāng)電源過(guò)零時(shí)，此時(shí)電壓低至光耦的最小導(dǎo)通電壓，光耦PCl此時(shí)關(guān)斷，其輸出為高電平；當(dāng)輸入電壓在負(fù)半周期時(shí)，電流流經(jīng)電阻R8、電阻R7，不流經(jīng)光耦，PCl不導(dǎo)通，輸出為高電平。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，其包括電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PC1和內(nèi)設(shè)切斷電路單元的MCU，所述電阻R7和電阻R8并聯(lián)且分別通過(guò)光耦PC1的1號(hào)和2號(hào)接入口接入光耦PC1中，電阻R9通過(guò)光耦PC1的4號(hào)接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通過(guò)光耦PC1的4號(hào)接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3號(hào)端口接地。本發(fā)明提供的過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)，不僅能夠正確檢測(cè)輸出電壓，還能夠自行診斷是否有異常，可避免因過(guò)零檢測(cè)電路的安全防護(hù)結(jié)構(gòu)異常導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)不穩(wěn)定或安全隱患，具有極強(qiáng)的實(shí)用價(jià)值，可廣泛推廣應(yīng)用。
文檔編號(hào)G01R31/28GK102879633SQ20121036225
公開(kāi)日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年9月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月25日
發(fā)明者秦吉芳, 洪浩, 王偉峰 申請(qǐng)人:上海微頻萊機(jī)電科技有限公司