專利名稱：晶體應(yīng)力檢測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種應(yīng)力檢測(cè)儀，尤其是晶體應(yīng)力檢測(cè)儀。
背景技術(shù)：
晶體等玻璃材料在生產(chǎn)后會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力，其原因包括在生產(chǎn)單晶過程中，單晶爐內(nèi)溫場(chǎng)，溫度梯度有缺陷造成的；在機(jī)械加工過程中，受到機(jī)械外力作用產(chǎn)生的加工應(yīng)力。所以在晶體片機(jī)械分割加工，退火后，要進(jìn)行應(yīng)力檢測(cè)。而傳統(tǒng)的行業(yè)中，通常使用的是大型的應(yīng)力檢測(cè)儀，其成本較高，因此設(shè)計(jì)一種較為簡易的應(yīng)力測(cè)試儀是解決這一問題的有效途徑。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，結(jié)構(gòu)簡易，使用簡便，節(jié)約成本。本實(shí)用新型是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。一種晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，包括檢測(cè)臺(tái)、檢測(cè)固定架、偏光片固定架、光源輸出端、沙磨玻璃片，上述檢測(cè)臺(tái)設(shè)有貫穿的縱向孔，上述縱向孔底部正下方設(shè)置光源輸出端，上述縱向孔的頂端設(shè)置上述沙磨玻璃片，上述縱向孔上方設(shè)有固定的檢測(cè)固定架，上述檢測(cè)固定架上端設(shè)置可移動(dòng)的偏光片固定架。進(jìn)一步地，上述檢測(cè)儀還包括工作壁，上述工作壁設(shè)有兩段，上段可旋轉(zhuǎn)，下段不可旋轉(zhuǎn)，上述工作壁固定于上述檢測(cè)臺(tái)頂面，上述檢測(cè)固定架通過連接桿固定在上述工作壁的下段，上述偏光片固定架通過連接桿固定在上述工作壁的上段。進(jìn)一步地，上述檢測(cè)儀還包括基架，上述基架設(shè)置在上述檢測(cè)臺(tái)底部，上述光源輸出端設(shè)置在上述基架內(nèi)。本實(shí)用新型的有益效果在于，儀器整體結(jié)構(gòu)較為簡易，便于制作，同時(shí)檢測(cè)效果較佳，使用方便，節(jié)約了生產(chǎn)成本。

圖1為本實(shí)用新型晶體應(yīng)力檢測(cè)儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面根據(jù)附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。圖1為本實(shí)用新型晶體應(yīng)力檢測(cè)儀的結(jié)構(gòu)不意圖，參照?qǐng)D1，本實(shí)用新型，晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，包括檢測(cè)臺(tái)1、檢測(cè)固定架2、偏光片固定架3、光源輸出端4、沙磨玻璃片5，上述檢測(cè)臺(tái)I設(shè)有貫穿的縱向孔10，上述縱向孔10底部正下方設(shè)置光源輸出端4，在本實(shí)施案例中，光源輸出端4設(shè)為單一方向輸出的白熾燈，上述縱向孔10的頂端設(shè)置上述沙磨玻璃片5，上述縱向孔10上方設(shè)有固定的檢測(cè)固定架2，上述檢測(cè)固定架2上端設(shè)置可移動(dòng)的偏光片固定架4。進(jìn)一步地，上述檢測(cè)儀還包括工作壁6，上述工作壁6設(shè)有兩段即上段61和下段63，上段61可旋轉(zhuǎn)，下段63不可旋轉(zhuǎn)，上述工作壁6固定于上述檢測(cè)臺(tái)頂面1，上述檢測(cè)固定架2通過連接桿20固定在上述工作壁6的下段63，上述偏光片固定架3通過連接桿30固定在上述工作壁6的上段61。即通過兩段式的工作壁6實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)固定架2的固定，以及偏光片固定架3的可移動(dòng)。進(jìn)一步地，上述檢測(cè)儀還包括基架7，上述基架7設(shè)置在上述檢測(cè)臺(tái)I底部，上述光源輸出端4設(shè)置在上述基架內(nèi)7。本實(shí)用新型，晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，本實(shí)用新型，在使用時(shí)先將待檢測(cè)的產(chǎn)品放置在檢測(cè)固定架2上，然后選擇合適的偏光片放置在偏光片固定架3，此時(shí)打開光源輸出端4，從上方進(jìn)行觀察，以檢測(cè)其應(yīng)力。儀器整體結(jié)構(gòu)較為簡易，便于制作，同時(shí)檢測(cè)效果較佳，使用方便，節(jié)約了生產(chǎn)成本。上述實(shí)施例只為說明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此領(lǐng)域技術(shù)的人士能夠了解本實(shí)用新型內(nèi)容并加以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，其特征在于，包括檢測(cè)臺(tái)、檢測(cè)固定架、偏光片固定架、光源輸出端、沙磨玻璃片，所述檢測(cè)臺(tái)設(shè)有貫穿的縱向孔，所述縱向孔底部正下方設(shè)置光源輸出端，所述縱向孔的頂端設(shè)置所述沙磨玻璃片，所述縱向孔上方設(shè)有固定的檢測(cè)固定架，所述檢測(cè)固定架上端設(shè)置可移動(dòng)的偏光片固定架。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)儀還包括工作壁，所述工作壁設(shè)有兩段，上段可旋轉(zhuǎn)，下段不可旋轉(zhuǎn)，所述工作壁固定于所述檢測(cè)臺(tái)頂面，所述檢測(cè)固定架通過連接桿固定在所述工作壁的下段，所述偏光片固定架通過連接桿固定在所述工作壁的上段。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)儀還包括基架，所述基架設(shè)置在所述檢測(cè)臺(tái)底部，所述光源輸出端設(shè)置在所述基架內(nèi)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種晶體應(yīng)力檢測(cè)儀，包括檢測(cè)臺(tái)、檢測(cè)固定架、偏光片固定架、光源輸出端、沙磨玻璃片，上述檢測(cè)臺(tái)設(shè)有貫穿的縱向孔，上述縱向孔底部正下方設(shè)置光源輸出端，上述縱向孔的頂端設(shè)置上述沙磨玻璃片，上述縱向孔上方設(shè)有固定的檢測(cè)固定架，上述檢測(cè)固定架上端設(shè)置可移動(dòng)的偏光片固定架。本實(shí)用新型的有益效果在于，儀器整體結(jié)構(gòu)較為簡易，便于制作，同時(shí)檢測(cè)效果較佳，使用方便，節(jié)約了生產(chǎn)成本。
文檔編號(hào)G01L1/24GK202836841SQ20122042270
公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2012年8月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月23日
發(fā)明者萬文, 萬黎明 申請(qǐng)人:巢湖市環(huán)宇光學(xué)技術(shù)有限公司