一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備，能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且易于工程實(shí)現(xiàn)。該方法包括：對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。本發(fā)明適用于電機(jī)控制領(lǐng)域。
【專利說明】一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電機(jī)控制領(lǐng)域，尤其涉及一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]步進(jìn)電機(jī)是將電脈沖信號轉(zhuǎn)變?yōu)榻俏灰苹蚓€位移的開環(huán)控制元步進(jìn)電機(jī)件。步進(jìn)電機(jī)是機(jī)電一體化的關(guān)鍵產(chǎn)品之一，步進(jìn)電機(jī)因其控制簡單，轉(zhuǎn)動(dòng)精度高并且成本低，而被廣泛應(yīng)用在各種自動(dòng)化控制系統(tǒng)中。而步進(jìn)電機(jī)在運(yùn)行過程中，很容易發(fā)生電機(jī)失步，而電機(jī)失步時(shí)，會(huì)直接影響數(shù)控系統(tǒng)的穩(wěn)定性和控制精度，使電機(jī)在高精度應(yīng)用場合的應(yīng)用受到限制。
[0003]為了防止電機(jī)失步帶來的影響，保證數(shù)控系統(tǒng)的穩(wěn)定性和控制精度，相關(guān)技術(shù)的領(lǐng)域人員提供了多種電機(jī)失步的檢測技術(shù)。其中，一種技術(shù)中利用在電機(jī)的傳動(dòng)裝置上添加傳感器的方式來反饋步進(jìn)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)的當(dāng)前位置，進(jìn)而判斷電機(jī)是否失步。該技術(shù)需要在傳動(dòng)裝置上安裝傳感器，工程實(shí)現(xiàn)復(fù)雜。另一種技術(shù)中通過檢測電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的反向電動(dòng)勢來確定電機(jī)是否失步。該技術(shù)只能應(yīng)用于步進(jìn)電機(jī)整步運(yùn)行的情況，對于步進(jìn)電機(jī)細(xì)分運(yùn)行的情況無法檢測。另一種技術(shù)中通過檢測電機(jī)線圈電流或者電壓的上升時(shí)間來判斷步進(jìn)電機(jī)是否失步。該技術(shù)中，上升沿的開始位置和終止位置的門限值難以確定，并且上升沿時(shí)間的實(shí)時(shí)性也難以確定，工程設(shè)計(jì)很難實(shí)現(xiàn)。因此，提供一種易于工程實(shí)現(xiàn)的檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步方法很有必要。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的實(shí)施例提供一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備,能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且易于工程實(shí)現(xiàn)。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
[0006]第一方面，本發(fā)明提供一種電機(jī)失步的檢測方法，所述方法包括:
[0007]對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；
[0008]確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；
[0009]若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；
[0010]統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；
[0011]若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0012]在第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)第一方面，在所述確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值之后，該方法還包括:
[0013]若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0014]在第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面或第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止具體包括:
[0015]若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值；
[0016]對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0017]在第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面或第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式或第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值具體包括:
[0018]對存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0019]在第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面或第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式至第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣具體包括:
[0020]以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。
[0021]在第一方面的第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括:
[0022]獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率；
[0023]根據(jù)所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0024]第二方面，本發(fā)明提供一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備包括:獲得單元、確定單元、存儲(chǔ)單元和統(tǒng)計(jì)單元；
[0025]所述獲得單元，用于對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；
[0026]所述確定單元，用于確定所述獲得單元獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；
[0027]所述存儲(chǔ)單元，用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)；
[0028]所述獲得單元，還用于在所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；
[0029]所述存儲(chǔ)單元，還用于存儲(chǔ)所述第二采樣數(shù)據(jù)；
[0030]所述統(tǒng)計(jì)單元，用于統(tǒng)計(jì)所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；
[0031]所述確定單元，還用于若所述統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)的所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0032]在第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)第二方面，所述獲得單元，還用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值；
[0033]所述獲得單元，還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0034]在第二方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第二方面或第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述獲得單元，具體用于:
[0035]若所述獲得單元獲得的所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值；
[0036]對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值；
[0037]所述獲得單元，具體還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0038]在第二方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第二方面或第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式或第二方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述統(tǒng)計(jì)單元，具體用于:
[0039]對存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0040]在第二方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第二方面或第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式至第二方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述獲得單元，具體用于:
[0041 ] 以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。
[0042]在第二方面的第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)第二方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述獲得單元，還用于獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率；
[0043]所述確定單元，還用于根據(jù)所述獲得單元獲得的所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0044]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備，對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。本方案中，通過對步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流變化的波動(dòng)趨勢，進(jìn)而，能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實(shí)現(xiàn)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0045]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0046]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種電機(jī)失步的檢測方法的流程示意圖；
[0047]圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種電機(jī)失步的檢測方法的流程示意圖；
[0048]圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種電機(jī)失步的檢測方法的流程示意圖；
[0049]圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種電機(jī)失步檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0050]圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種電機(jī)失步檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0051]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0052]本文中術(shù)語“和/或”，僅僅是一種描述關(guān)聯(lián)對象的關(guān)聯(lián)關(guān)系，表示可以存在三種關(guān)系，例如，A和/或B，可以表示:單獨(dú)存在A，同時(shí)存在A和B，單獨(dú)存在B這三種情況。另夕卜，本文中字符“/”，一般表示前后關(guān)聯(lián)對象是一種“或”的關(guān)系。
[0053]實(shí)施例一、
[0054]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步的檢測方法，如圖1所示，所述方法包括:
[0055]101、對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0056]具體的，電機(jī)失步檢測設(shè)備可以以固定頻率、按照一定規(guī)律變化的頻率等對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0057]102、確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值。
[0058]當(dāng)電機(jī)采用恒相流電機(jī)驅(qū)動(dòng)方式時(shí)，電機(jī)線圈在轉(zhuǎn)動(dòng)過程中會(huì)產(chǎn)生反向電動(dòng)勢。當(dāng)電機(jī)正常運(yùn)行時(shí)，電機(jī)線圈在原有的電壓的基礎(chǔ)上會(huì)疊加反向電動(dòng)勢，這樣，電機(jī)的電壓或電流會(huì)有較大的波動(dòng)；而當(dāng)電機(jī)失步時(shí)，電機(jī)線圈不轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而，不能產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢，這樣，電機(jī)的電壓或電流不會(huì)有較大的波動(dòng)。
[0059]所述第一門限值可以根據(jù)電機(jī)采用的恒相流驅(qū)動(dòng)器所設(shè)定的電流值來進(jìn)行設(shè)定。
[0060]具體的，所述第一門限值可以根據(jù)電機(jī)采用的恒相流驅(qū)動(dòng)器所設(shè)定的電流或電壓、電流或電壓的波動(dòng)范圍、輸出壓降以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-to-DigitalConverter, ADC)采樣誤差等進(jìn)行修正來獲得第一門限值。
[0061]103、若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0062]104、統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0063]具體的，可以對第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算。
[0064]所述電機(jī)故障的檢測裝置可以將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)與所述第一預(yù)設(shè)門限值進(jìn)行方差計(jì)算；或者，將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)，與所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)的平均值進(jìn)行方差計(jì)算。
[0065]105、若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0066]在理論情況下，電機(jī)失步時(shí)，計(jì)算出的方差應(yīng)該為O。但實(shí)際情況下，考慮電流波動(dòng)、ADC采樣誤差等系統(tǒng)噪聲后，該方差值會(huì)被放大，具體會(huì)被放大的范圍因不同的電機(jī)、不同的驅(qū)動(dòng)器會(huì)有所區(qū)別。所以第二預(yù)設(shè)門限值必須在所述電機(jī)失步檢測設(shè)備每次上電的時(shí)候進(jìn)行初始化矯正。
[0067]具體操作過程如下，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備上電時(shí)，讓電機(jī)處于失步狀態(tài)，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備會(huì)自動(dòng)對電流進(jìn)行采樣并求方差，多次計(jì)算求平均后自動(dòng)設(shè)定第二門限值，設(shè)定完畢后就可以使得電機(jī)正常工作了。
[0068]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步的檢測方法，對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。本方案中，通過對步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流變化的波動(dòng)趨勢，進(jìn)而，能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實(shí)現(xiàn)。
[0069]實(shí)施例二、
[0070]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步的檢測方法，如圖2所示，所述方法包括:
[0071 ] 201、對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0072]具體的，電機(jī)失步檢測設(shè)備可以以固定頻率、按照一定規(guī)律變化的頻率等對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0073]在以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣時(shí)，可以首先獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率；然后，根據(jù)所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率。其中，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0074]202、確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值。
[0075]當(dāng)電機(jī)采用恒相流電機(jī)驅(qū)動(dòng)方式時(shí)，電機(jī)線圈在轉(zhuǎn)動(dòng)過程中會(huì)產(chǎn)生反向電動(dòng)勢。當(dāng)電機(jī)正常運(yùn)行時(shí)，電機(jī)線圈在原有的電壓的基礎(chǔ)上會(huì)疊加反向電動(dòng)勢，這樣，電機(jī)的電壓或電流會(huì)有較大的波動(dòng)；而當(dāng)電機(jī)失步時(shí)，電機(jī)線圈不轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而，不能產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢，這樣，電機(jī)的電壓或電流不會(huì)有較大的波動(dòng)。
[0076]所述第一門限值可以根據(jù)電機(jī)采用的恒相流驅(qū)動(dòng)器所設(shè)定的電流值來進(jìn)行設(shè)定。
[0077]具體的，所述第一門限值可以根據(jù)電機(jī)采用的恒相流驅(qū)動(dòng)器所設(shè)定的電流或電壓、電流或電壓的波動(dòng)范圍、輸出壓降以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-to-DigitalConverter, ADC)采樣誤差等進(jìn)行修正來獲得第一門限值。
[0078]203、若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0079]204、若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0080]205、統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值。[0081 ] 具體的，可以對第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算。
[0082]所述電機(jī)故障的檢測裝置可以將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)與所述第一預(yù)設(shè)門限值進(jìn)行方差計(jì)算；或者，將所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)，與所述第一采樣數(shù)據(jù)和第二采樣數(shù)據(jù)的平均值進(jìn)行方差計(jì)算。
[0083]206、若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0084]在理論情況下，電機(jī)失步時(shí)，計(jì)算出的方差應(yīng)該為O。但實(shí)際情況下，考慮電流波動(dòng)、ADC采樣誤差等系統(tǒng)噪聲后，該方差值會(huì)被放大，具體會(huì)被放大的范圍因不同的電機(jī)、不同的驅(qū)動(dòng)器會(huì)有所區(qū)別。所以第二預(yù)設(shè)門限值必須在所述電機(jī)失步檢測設(shè)備每次上電的時(shí)候進(jìn)行初始化矯正。
[0085]具體操作過程如下，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備上電時(shí)，讓電機(jī)處于失步狀態(tài)，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備會(huì)自動(dòng)對電流進(jìn)行采樣并求方差，多次計(jì)算求平均后自動(dòng)設(shè)定第二門限值，設(shè)定完畢后就可以使得電機(jī)正常工作了。
[0086]可選的，為了使得電機(jī)故障的檢測更為準(zhǔn)確，如圖3所示，所述方法包括:
[0087]301、對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0088]具體的，電機(jī)失步檢測設(shè)備可以以固定頻率、按照一定規(guī)律變化的頻率等對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0089]在以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣時(shí)，可以首先獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率；然后，根據(jù)所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率。其中，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0090]302、確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值。
[0091]303、若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0092]304、對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0093]305、若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0094]306、統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0095]307、若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0096]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步的檢測方法，對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。本方案中，通過對步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流變化的波動(dòng)趨勢，進(jìn)而，能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實(shí)現(xiàn)。
[0097]實(shí)施例三、
[0098]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，如圖4所示，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備40包括:獲得單元41、確定單元42、存儲(chǔ)單元43和統(tǒng)計(jì)單元44。
[0099]所述獲得單元41，用于對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0100]所述確定單元42，用于確定所述獲得單元41獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值。
[0101]所述存儲(chǔ)單元43，用于若所述確定單元42確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)。
[0102]所述獲得單元41，還用于在所述存儲(chǔ)單元43存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0103]所述存儲(chǔ)單元43，還用于存儲(chǔ)所述第二采樣數(shù)據(jù)。
[0104]所述統(tǒng)計(jì)單元44，用于統(tǒng)計(jì)所述存儲(chǔ)單元43存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0105]所述確定單元42，還用于若所述統(tǒng)計(jì)單元44統(tǒng)計(jì)的所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0106]進(jìn)一步的，所述獲得單元41，還用于若所述確定單元42確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值。
[0107]所述獲得單元41，還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0108]進(jìn)一步的，所述獲得單元41，具體用于:
[0109]若所述獲得單元41獲得的所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值；
[0110]對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值。
[0111]所述獲得單元41，具體還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0112]進(jìn)一步的，所述統(tǒng)計(jì)單元44，具體用于:
[0113]對存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0114]進(jìn)一步的，所述獲得單元41，具體用于:
[0115]以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。
[0116]進(jìn)一步的，所述獲得單元41，還用于獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0117]所述確定單元42，還用于根據(jù)所述獲得單元41獲得的所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0118]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，所述獲得單元對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，所述獲得單元對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；所述統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則所述確定單元確定所述電機(jī)失步。本方案中，通過對步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流變化的波動(dòng)趨勢，進(jìn)而，能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實(shí)現(xiàn)。
[0119]實(shí)施例四、
[0120]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，如圖5所示，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備50包括:處理器51和存儲(chǔ)器52。
[0121]所述處理器51，用于對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)。
[0122]所述處理器51，用于確定獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值。
[0123]所述存儲(chǔ)器52，用于若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)。
[0124]所述處理器51，還用于在存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0125]所述存儲(chǔ)器52，還用于存儲(chǔ)所述第二采樣數(shù)據(jù)。
[0126]所述處理器51，用于統(tǒng)計(jì)所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0127]所述處理器51，還用于若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
[0128]進(jìn)一步的，所述處理器51，還用于若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值。
[0129]所述處理器51，還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0130]進(jìn)一步的，所述處理器51，具體用于:
[0131 ] 若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值；
[0132]對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值。
[0133]所述處理器51，具體還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
[0134]進(jìn)一步的，所述處理器51，具體用于:
[0135]對存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。
[0136]進(jìn)一步的，所述處理器51，具體用于:
[0137]以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。
[0138]進(jìn)一步的，所述處理器51，還用于獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0139]所述處理器51，還用于根據(jù)所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
[0140]本發(fā)明實(shí)施例提供一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，所述處理器對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；所述處理器確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，所述處理器對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；所述處理器統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則所述處理器確定所述電機(jī)失步。本方案中，通過對步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行多次采樣，可以獲得采樣數(shù)據(jù)，根據(jù)采樣數(shù)據(jù)可以確定步進(jìn)電機(jī)的電壓或電流變化的波動(dòng)趨勢，進(jìn)而，能夠檢測步進(jìn)電機(jī)整步或細(xì)分運(yùn)行時(shí)是否失步，并且該方法不需要安裝傳感器，易于工程實(shí)現(xiàn)。
[0141]所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，僅以上述各功能模塊的劃分進(jìn)行舉例說明，實(shí)際應(yīng)用中，可以根據(jù)需要而將上述功能分配由不同的功能模塊完成，即將裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)劃分成不同的功能模塊，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系統(tǒng)，裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實(shí)施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。
[0142]在本申請所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的系統(tǒng)，裝置和方法，可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，例如，所述模塊或單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式，例如多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機(jī)械或其它的形式。
[0143]所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。
[0144]另外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。
[0145]所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)或處理器(processor)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:U盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(ROM, Read-Only Memory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
[0146]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種電機(jī)失步的檢測方法，其特征在于，所述方法包括: 對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)； 確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值； 若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止； 統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值； 若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值之后，該方法還包括: 若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止具體包括: 若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值； 對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值具體包括: 對存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣具體包括: 以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，在所述對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括: 獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率； 根據(jù)所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
7.一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備包括:獲得單元、確定單元、存儲(chǔ)單元和統(tǒng)計(jì)單元； 所述獲得單元，用于對電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)； 所述確定單元，用于確定所述獲得單元獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值； 所述存儲(chǔ)單元，用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)； 所述獲得單元，還用于在所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止； 所述存儲(chǔ)單元，還用于存儲(chǔ)所述第二采樣數(shù)據(jù)； 所述統(tǒng)計(jì)單元，用于統(tǒng)計(jì)所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值； 所述確定單元，還用于若所述統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)的所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于， 所述獲得單元，還用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值； 所述獲得單元，還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于，所述獲得單元，具體用于: 若所述獲得單元獲得的所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值； 對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值； 所述獲得單元，具體還用于對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于，所述統(tǒng)計(jì)單元，具體用于: 對存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。
11.根據(jù)權(quán)利要求7-10任一項(xiàng)所述的電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于，所述獲得單元，具體用于: 以固定頻率對所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于， 所述獲得單元，還用于獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率； 所述確定單元，還用于根據(jù)所述獲得單元獲得的所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。
【文檔編號】G01R31/34GK104422883SQ201310367550
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月21日
【發(fā)明者】李東陽, 尹莉 申請人:華為技術(shù)有限公司