幾何公差測量儀的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種幾何公差測量儀，包括：兩個(gè)被測物支架、支撐架2、百分表1、導(dǎo)軌3、連接件6；所述兩個(gè)被測物支架放置在水平面7上，且兩者之間設(shè)有支撐架2；所述支撐架2上設(shè)有兩根相互平行的導(dǎo)軌3，且導(dǎo)軌3與水平面7平行；所述兩導(dǎo)軌3之間設(shè)有連接件6，連接件6能在導(dǎo)軌3上水平滑動；所述連接件6的兩端分別設(shè)有百分表1，且兩個(gè)百分表1的側(cè)頭相對設(shè)置。
【專利說明】
幾何公差測量儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測量儀器領(lǐng)域，特別涉及一種能測量不同幾何公差的幾何公差測量儀。

【背景技術(shù)】
[0002]在精加工軸類零件時(shí)，必須要知道零件的幾何公差?，F(xiàn)有軸類零件的測量方法主要有兩種，一種是軸類零件在機(jī)床上精加工后立即進(jìn)行測量，由于測量的軸類零件固定，并且機(jī)床導(dǎo)軌的直線度高，這種測量方法精度比較高，但由于加工變形的存在，當(dāng)軸類零件從機(jī)床上取下時(shí)，還需二次測量檢驗(yàn)。因此，這種方法只適用于生產(chǎn)的檢測。第二種方法是將軸類零件固定，用百分表來回拖動取得幾何公差的數(shù)值。由于此方法需要人為拖動，無導(dǎo)軌鎖定自由度，不能保證測量的位置在同一直線上，并且人為拖動會造成測量的水平高度無法控制。雖然這種方法測量比較簡單、省時(shí)，測量成本低，但測量時(shí)的每一環(huán)節(jié)都存在較大的測量誤差，測量得到的幾何公差的累積誤差也非常大。
[0003]幾何公差測量儀應(yīng)該滿足能測量不同的幾何公差。如測量包容同一橫截面實(shí)際輪廓且半徑差為最小的兩同心圓間的距離f的圓度，測量包容實(shí)際表面且半徑差為最小的兩同軸圓柱面間的半徑差f的圓柱度，還有同軸度、對稱度等。但上述兩種測量方法均存在不同的技術(shù)缺陷，無法滿足測量的需要。因此，亟待一種幾何公差測量儀。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實(shí)用新型的目的是:為了解決現(xiàn)有軸類零件的測量技術(shù)復(fù)雜、累積誤差大、幾何公差測量種類少等技術(shù)問題，提供一種幾何公差測量儀，采用導(dǎo)軌式上下雙百分表的測量方法，其結(jié)構(gòu)簡單、使用方便，測量的幾何公差種類多且測量精度高，可以廣泛使用于機(jī)械加工領(lǐng)域。
[0005]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:提供了一種幾何公差測量儀，包括:兩個(gè)被測物支架、支撐架2、百分表1、導(dǎo)軌3、連接件6 ;所述兩個(gè)被測物支架放置在水平面7上，且兩者之間設(shè)有支撐架2 ;所述支撐架2上設(shè)有兩根相互平行的導(dǎo)軌3，且導(dǎo)軌3與水平面7平行；所述兩導(dǎo)軌3之間設(shè)有連接件6，連接件6能在導(dǎo)軌3上水平滑動；所述連接件6的兩端分別設(shè)有百分表1，且兩個(gè)百分表I的側(cè)頭相對設(shè)置。
[0006]其中:所述支撐架2下端設(shè)有高度調(diào)節(jié)螺栓。
[0007]其中:所述被測物支架為V型架5。
[0008]其中:所述連接件6兩端設(shè)有定位孔，所述百分表I通過定位孔設(shè)置在連接件6上。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型的兩根導(dǎo)軌平行安裝在支撐架上，保證了測量時(shí)導(dǎo)軌與工件的平行度，兩個(gè)百分表安裝在連接件上，且百分表的側(cè)頭相對設(shè)置，連接件安裝在導(dǎo)軌上，只在測量工件的軸線上測量，提高了測量的精度，解決了現(xiàn)有公差測量儀只可用手拖動百分表來測量、測量的直線度差和累積誤差較大等問題。同時(shí)，本實(shí)用新型的體積小，使用簡單方便，測量的幾何公差種類多，具有一定的實(shí)用價(jià)值和應(yīng)用前景。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型幾何公差測量儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]圖2為本實(shí)用新型幾何公差測量儀的實(shí)現(xiàn)方式示意圖。
[0012]圖3為實(shí)施例1的同軸度誤差測量示意圖。
[0013]附圖標(biāo)識:1 一百分表，2-支撐架，3-導(dǎo)軌，4-工件，5-V型架，6-連接件，7-水平面。

【具體實(shí)施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0015]參照圖1，本實(shí)用新型一種幾何公差測量儀，包括:兩個(gè)被測物支架、支撐架2、百分表1、導(dǎo)軌3、連接件6 ;所述兩個(gè)被測物支架放置在水平面7上，且兩者之間設(shè)有支撐架
2;所述支撐架2上設(shè)有兩根相互平行的導(dǎo)軌3，且導(dǎo)軌3與水平面7平行；所述兩導(dǎo)軌3之間設(shè)有連接件6，連接件6能在導(dǎo)軌3上水平滑動；所述連接件6的兩端分別設(shè)有百分表1，且兩個(gè)百分表I的側(cè)頭相對設(shè)置。
[0016]所述支撐架2下端設(shè)有高度調(diào)節(jié)螺栓。
[0017]所述被測物支架為V型架5。
[0018]所述連接件6兩端設(shè)有定位孔，所述百分表I通過定位孔設(shè)置在連接件6上。
[0019]本實(shí)用新型的工作流程是:首先，把測量的工件4放到V型架5上，通過高度調(diào)節(jié)螺栓調(diào)整支撐架2的高度，將工件4置于兩個(gè)百分表之間的合適位置，使百分表I顯示讀數(shù)；然后，移動連接件6，使其在導(dǎo)軌3上平穩(wěn)滑動，這時(shí)兩個(gè)百分表I會顯示讀數(shù)變化?’最后，旋轉(zhuǎn)工件4，選擇若干素線進(jìn)行測量。也可以將兩個(gè)百分表I靜止在某一位置，旋轉(zhuǎn)被測工件4，兩個(gè)百分表I同樣會顯示讀數(shù)變化，再移動百分表1，選擇若干位置進(jìn)行測量。兩個(gè)百分表I的讀數(shù)變化反映了被測零件幾何公差。在實(shí)際使用中，應(yīng)根據(jù)測量的幾何公差的不同來選擇適合的測量方法。
[0020]所述支撐架2支撐導(dǎo)軌3，保證了兩導(dǎo)軌的平行度，連接件6上的兩個(gè)定位孔能保證兩個(gè)百分表I測頭的同軸度。通過兩導(dǎo)軌3與連接件6的連接，保證連接件6可帶動兩個(gè)百分表I在導(dǎo)軌3上運(yùn)動，限制了百分表沿X軸旋轉(zhuǎn)、沿y軸移動旋轉(zhuǎn)、沿z軸移動旋轉(zhuǎn)的五個(gè)自由度，只可使測頭同軸的兩個(gè)百分表I在兩導(dǎo)軌3上流暢滑動。
[0021]實(shí)施例1
[0022]對工件同軸度的測量
[0023]參照圖2-3，被測工件為某臺階軸，測量其中間段Φ(1對兩端Φ(11軸線組成的公共軸線的同軸度誤差。首先把臺階軸放到V型架5上，調(diào)整支撐架2的高度，使臺階軸置于兩個(gè)百分表I之間的合適位置，百分表I顯示讀數(shù)，然后沿鉛垂軸截面的上下兩條素線進(jìn)行測量，同時(shí)記錄兩指示點(diǎn)的讀數(shù)差的絕對值，取各測點(diǎn)讀數(shù)差絕對值的最大值為該軸截面軸線的同軸度誤差。轉(zhuǎn)動臺階軸，按上述方法測量若干個(gè)軸截面，取其中最大的誤差值作為該工件的同軸度誤差。
[0024]以上內(nèi)容是結(jié)合優(yōu)選技術(shù)方案對本實(shí)用新型所做的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定發(fā)明的具體實(shí)施僅限于這些說明。對本實(shí)用新型所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型的構(gòu)思的前提下，還可以做出簡單的推演及替換，都應(yīng)當(dāng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種幾何公差測量儀，其特征在于:包括:兩個(gè)被測物支架、支撐架(2)、百分表(I)、導(dǎo)軌(3)、連接件￠);所述兩個(gè)被測物支架放置在水平面(7)上，且兩者之間設(shè)有支撐架(2);所述支撐架(2)上設(shè)有兩根相互平行的導(dǎo)軌(3)，且導(dǎo)軌(3)與水平面(7)平行；所述兩導(dǎo)軌(3)之間設(shè)有連接件￠)，連接件(6)能在導(dǎo)軌(3)上水平滑動；所述連接件(6)的兩端分別設(shè)有百分表(I)，且兩個(gè)百分表(I)的側(cè)頭相對設(shè)置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量儀，其特征在于:所述支撐架(2)下端設(shè)有高度調(diào)節(jié)螺栓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量儀，其特征在于:所述被測物支架為V型架(5)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量儀，其特征在于:所述連接件(6)兩端設(shè)有定位孔，所述百分表(I)通過定位孔設(shè)置在連接件(6)上。
【文檔編號】G01B5/00GK204085369SQ201420538221
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月11日
【發(fā)明者】王帥 申請人:大連工業(yè)大學(xué)