用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及的是用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路。
【背景技術(shù)】
[0002]電腦新機(jī)種在試產(chǎn)出來(lái)后，需要驗(yàn)證聲卡功率的實(shí)際值是否符合設(shè)計(jì)值，但是Class D聲卡的輸出信號(hào)無(wú)法直接測(cè)試功率，需要依靠信號(hào)測(cè)試儀，一般需要通過(guò)委外完成測(cè)試。委外測(cè)試周期較長(zhǎng)，研發(fā)成本較高，因需頻繁驗(yàn)證，對(duì)于debug時(shí)效性較差，導(dǎo)致研發(fā)調(diào)試效率降低。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型提出的是用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其目的旨在克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷，實(shí)現(xiàn)通過(guò)方波轉(zhuǎn)換成正弦波后直接有效的測(cè)出聲卡的功率值。
[0004]本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案:用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其結(jié)構(gòu)包括電感11、1^、1^3、1^4，電容(:1工2、03工4，電阻1?1、1?2和測(cè)試點(diǎn)了？1、了?2，其中方波從1端、2端、3端和4端輸入；電感LI的一端與方波的I端連接，電感LI的另一端與電容Cl的一端連接；電容Cl的另一端與電容C2的一端連接，電容C2的另一端與電感L2的一端連接，電感L2的另一端與方波的2端連接；電阻Rl與電容Cl和C2并聯(lián)，即電阻Rl的一端與電感LI和電容Cl并接，電阻Rl的另一端與電容C2和電感L2并接;測(cè)試點(diǎn)TPl與電容Cl、電阻Rl和電感LI并接；電感L4的一端與方波的4端連接，電感L4的另一端與電容C4的一端連接;電容C4的另一端與電容C3的一端連接，電容C3的另一端與電感L3的一端連接，電感L3的另一端與方波的3端連接；電阻R2與電容C3和C4并聯(lián)，即電阻R2的一端與電感L4和電容C4并接，電阻R2的另一端與電容C3和電感L3并接;測(cè)試點(diǎn)TP2與電容C4、電阻R2和電感L4并接;正弦波從測(cè)試點(diǎn)TP1、TP2輸出。
[0005]優(yōu)選的，所述的方波的I端和電感LI之間為SPK_R+，測(cè)試點(diǎn)TPI與電阻RI之間為SPKR+;方波的2端和電感L2之間為SPK_R-，電阻Rl與電容C2和電感L2之間為SPKR-;方波的4端和電感L4之間為SPK_L+，測(cè)試點(diǎn)TP2與電阻R2之間為SPKL+;方波的3端和電感L3之間為SPK_L-，電阻R2與電容C3和電感L3之間為SPKL-。
[0006]優(yōu)選的，所述的電阻R1、R2為4ohm/2w的水泥電阻。
[0007]優(yōu)選的，所述的電容(:1工2、03工4的容量為1(^卩。
[0008]優(yōu)選的，所述的電感L1、L2、L3、L4的電感量為3.3μΗ，額定電流為5A。
[0009]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn):I)無(wú)需委外測(cè)試，降低了企業(yè)研發(fā)成本，減少了等待時(shí)間；2)減少了研發(fā)調(diào)試的時(shí)間，提高了 debug的效率;3)簡(jiǎn)化了驗(yàn)證方法，通過(guò)方波轉(zhuǎn)換成正弦波可直接進(jìn)行測(cè)試。
【附圖說(shuō)明】

[0010]圖1為用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路的電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0011 ]下面結(jié)合實(shí)施例和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0012]如圖1所示，用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其結(jié)構(gòu)包括電感L1、L2、L3、L4，電容Cl、C2、C3、C4，電阻Rl、R2和測(cè)試點(diǎn)TP1、TP2，其中方波從I端、2端、3端和4端輸入；電感LI的一端與方波的I端連接，電感LI的另一端與電容CI的一端連接;電容CI的另一端與電容C2的一端連接，電容C2的另一端與電感L2的一端連接，電感L2的另一端與方波的2端連接；電阻Rl與電容Cl和C2并聯(lián)，即電阻Rl的一端與電感LI和電容Cl并接，電阻Rl的另一端與電容C2和電感L2并接;測(cè)試點(diǎn)TPl與電容Cl、電阻Rl和電感LI并接;電感L4的一端與方波的4端連接，電感L4的另一端與電容C4的一端連接;電容C4的另一端與電容C3的一端連接，電容C3的另一端與電感L3的一端連接，電感L3的另一端與方波的3端連接；電阻R2與電容C3和C4并聯(lián)，即電阻R2的一端與電感L4和電容C4并接，電阻R2的另一端與電容C3和電感L3并接；測(cè)試點(diǎn)TP2與電容C4、電阻R2和電感L4并接;正弦波從測(cè)試點(diǎn)TPl、TP2輸出。
[0013]所述的方波的I端和電感LI之間為SPK_R+，測(cè)試點(diǎn)TPI與電阻RI之間為SPKR+;方波的2端和電感L2之間為SPK_R-，電阻Rl與電容C2和電感L2之間為SPKR-;方波的4端和電感L4之間為SPK_L+，測(cè)試點(diǎn)TP2與電阻R2之間為SPKL+ ；方波的3端和電感L3之間為SPK_L_，電阻R2與電容C3和電感L3之間為SPKL-。
[0014]所述的電阻R1、R2為4ohm/2w的水泥電阻。
[0015]所述的電容(:1工2、03工4的容量為1(^卩。
[0016]所述的電感1^1、1^丄3、1^的電感量為3.34!1，額定電流為5八。
[0017]以上所述的僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其特征包括電感11、1^丄3、1^4，電容(:1工2、C3、C4，電阻Rl、R2和測(cè)試點(diǎn)TPl、TP2，其中方波從I端、2端、3端和4端輸入；電感LI的一端與方波的I端連接，電感LI的另一端與電容CI的一端連接;電容CI的另一端與電容C2的一端連接，電容C2的另一端與電感L2的一端連接，電感L2的另一端與方波的2端連接；電阻Rl與電容Cl和C2并聯(lián)，即電阻Rl的一端與電感LI和電容Cl并接，電阻Rl的另一端與電容C2和電感L2并接;測(cè)試點(diǎn)TPl與電容Cl、電阻Rl和電感LI并接；電感L4的一端與方波的4端連接，電感L4的另一端與電容C4的一端連接；電容C4的另一端與電容C3的一端連接，電容C3的另一端與電感L3的一端連接，電感L3的另一端與方波的3端連接；電阻R2與電容C3和C4并聯(lián)，即電阻R2的一端與電感L4和電容C4并接，電阻R2的另一端與電容C3和電感L3并接;測(cè)試點(diǎn)TP2與電容C4、電阻R2和電感L4并接;正弦波從測(cè)試點(diǎn)TPl、TP2輸出。2.如權(quán)利要求1所述的用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其特征是所述的方波的I端和電感LI之間為SPK_R+，測(cè)試點(diǎn)TPl與電阻Rl之間為SPKR+;方波的2端和電感L2之間為SPK_R-，電阻Rl與電容C2和電感L2之間為SPKR-；方波的4端和電感L4之間為SPK_L+，測(cè)試點(diǎn)TP2與電阻R2之間為SPKL+;方波的3端和電感L3之間為SPK_L-，電阻R2與電容C3和電感L3之間為SPKL-。3.如權(quán)利要求1或2所述的用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其特征是所述的電阻R1、R2為4ohm/2w的水泥電阻。4.如權(quán)利要求1或2所述的用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其特征是所述的電容(:1工2、03工4的容量為1(^卩。5.如權(quán)利要求1或2所述的用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其特征是所述的電感1^1、1^、1^3、1^4的電感量為3.34!1，額定電流為5八。
【專利摘要】本實(shí)用新型是用于聲卡功率測(cè)試的方波轉(zhuǎn)正弦波電路，其結(jié)構(gòu)包括電感L1、L2、L3、L4，電容C1、C2、C3、C4，電阻R1、R2和測(cè)試點(diǎn)TP1、TP2，電感L1一端與方波的1端連接，另一端與電容C1的一端連接；電容C1的另一端與電容C2的一端連接，電容C2的另一端與電感L2的一端連接，另一端與方波的2端連接；電阻R1與電容C1和C2并聯(lián)；測(cè)試點(diǎn)TP1與電容C1、電阻R1和電感L1并接；正弦波從測(cè)試點(diǎn)TP1、TP2輸出。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)：1)無(wú)需委外測(cè)試，降低了企業(yè)研發(fā)成本，減少了等待時(shí)間；2)減少了研發(fā)調(diào)試的時(shí)間，提高了debug的效率；3)簡(jiǎn)化了驗(yàn)證方法，通過(guò)方波轉(zhuǎn)換成正弦波可直接進(jìn)行測(cè)試。
【IPC分類】G06F3/16, G01R21/00
【公開(kāi)號(hào)】CN205384316
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521115707
【發(fā)明人】黃雪飛
【申請(qǐng)人】同方國(guó)際信息技術(shù)（蘇州）有限公司
【公開(kāi)日】2016年7月13日
【申請(qǐng)日】2015年12月29日