本技術(shù)涉及電子，尤其是涉及一種可編程動態(tài)過流測試裝置。

背景技術(shù)：

1、過流保護即當電流超過預定最大值時，使保護裝置動作的一種保護方式。當流過被保護原件中的電流超過預先整定的某個數(shù)值時，保護裝置啟動，并用時限保證動作的選擇性，使斷路器跳閘或給出報警信號。但往往在產(chǎn)品設(shè)計時還有另外一個概念“過流保護時間”；在產(chǎn)品定義時一般會說明端口電流在超過額定電流時，多少時間內(nèi)或多少時間外進行過流保護關(guān)閉輸出。

2、規(guī)定時間內(nèi)保護：像車身燈光之類的，一般要求過流后立馬保護，以免造成線路短路，立馬響應。

3、如：大燈驅(qū)動規(guī)定過流后200ms必須進行保護。那么會存在以下問題：

4、問題1：怎么判斷過流保護是否在200ms內(nèi)？

5、問題2：怎么測試獲得過流最快保護時間？

6、規(guī)定時間外保護：過流保護除了立馬保護外還有種就是過流持續(xù)多少時間后才開始保護，例如電動窗之類，上升下降途中可能會遇到一定障礙物（灰塵、膠條冬天熱脹冷縮）會導致電流偶爾超過額定值，但需要嘗試升降窗，顧就定義端口在超過電流多少時間后才關(guān)閉輸出，延遲響應。

7、如：電動窗驅(qū)動規(guī)定在過流后200ms才進行保護關(guān)斷輸出。那么會存在以下問題：

8、問題1：怎么判斷過流保護是在200ms后？

9、問題2:?過流僅持續(xù)190ms產(chǎn)品是否會報過流dtc？

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的：為了克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，本實用新型提供了一種可編程動態(tài)過流測試裝置，可采樣通道電流，采樣率可編程，可快速采樣電流變化時間，并且可編程設(shè)置通道保護特性，規(guī)定時間關(guān)斷輸出，該裝置只需串聯(lián)在驅(qū)動通道上即可，無需增加以及更改其他外圍設(shè)備。

2、本實用新型的技術(shù)方案：一種可編程動態(tài)過流測試裝置，包括采樣電阻、通道開關(guān)、dtc接入開關(guān)、短電源開關(guān)、短地開關(guān)、運放電路、ad采樣電路以及a端口、b端口，所述的a端口接采樣電阻，所述采樣電阻以及b端口接通道開關(guān)，所述dtc接入開關(guān)接采樣電阻，短電源開關(guān)以及短地開關(guān)一端接dtc接入開關(guān)，短電源開關(guān)另一端接電源，短地開關(guān)另一端接地，采樣電阻兩端接運放電路，所述運放接ad采樣電路。

3、進一步設(shè)置，所述運放電路包括芯片、電阻r120、電容c116、c119、c125以及c137，所述電阻r120兩端分別接芯片的第一引腳以及第八引腳，電容c116一端接電源正極，另一端接地，芯片的第七引腳接電容c116，電容c119以及電容c125并聯(lián)，且一端接芯片的第六引腳，另一端接地，芯片的第五引腳接地，電容c137一端接電源負極，另一端接地，芯片的第四引腳接電容c137，芯片的第二引腳以及第三引腳經(jīng)濾波電路接采樣電阻兩端。

4、進一步設(shè)置，濾波電路包括電阻r2、電阻r3、電阻r4、電阻r32以及電容c85，所述電阻r2和電阻r3并聯(lián)，電阻r3接芯片的第二引腳，電阻r2接采樣電阻一端，電阻r4和電阻r32并聯(lián)，電阻r32接芯片的第三引腳，電阻r4接采樣電阻的另一端，電容c85的一端接電阻r2和電阻r3之間，另一端接電阻r4和電阻r32之間。

5、本實用新型的有益效果，具有智能化，可實現(xiàn)自動化測試，提高測試效率；靈活性，測試時只需串接進測量通道，無需更改過多裝置及路線；成本低廉。

技術(shù)特征：

1.一種可編程動態(tài)過流測試裝置，其特征在于，包括采樣電阻、通道開關(guān)、dtc接入開關(guān)、短電源開關(guān)、短地開關(guān)、運放電路、ad采樣電路以及a端口、b端口，所述的a端口接采樣電阻，所述采樣電阻以及b端口接通道開關(guān)，所述dtc接入開關(guān)接采樣電阻，短電源開關(guān)以及短地開關(guān)一端接dtc接入開關(guān)，短電源開關(guān)另一端接電源，短地開關(guān)另一端接地，采樣電阻兩端接運放電路，所述運放接ad采樣電路。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可編程動態(tài)過流測試裝置，其特征在于，所述運放電路包括芯片、電阻r120、電容c116、c119、c125以及c137，所述電阻r120兩端分別接芯片的第一引腳以及第八引腳，電容c116一端接電源正極，另一端接地，芯片的第七引腳接電容c116，電容c119以及電容c125并聯(lián)，且一端接芯片的第六引腳，另一端接地，芯片的第五引腳接地，電容c137一端接電源負極，另一端接地，芯片的第四引腳接電容c137，芯片的第二引腳以及第三引腳經(jīng)濾波電路接采樣電阻兩端。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可編程動態(tài)過流測試裝置，其特征在于，濾波電路包括電阻r2、電阻r3、電阻r4、電阻r32以及電容c85，所述電阻r2和電阻r3并聯(lián)，電阻r3接芯片的第二引腳，電阻r2接采樣電阻一端，電阻r4和電阻r32并聯(lián)，電阻r32接芯片的第三引腳，電阻r4接采樣電阻的另一端，電容c85的一端接電阻r2和電阻r3之間，另一端接電阻r4和電阻r32之間。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)涉及一種可編程動態(tài)過流測試裝置，其特征在于，包括采樣電阻、通道開關(guān)、DTC接入開關(guān)、短電源開關(guān)、短地開關(guān)、運放電路、AD采樣電路以及A端口、B端口，所述的A端口接采樣電阻，所述采樣電阻以及B端口接通道開關(guān)，所述DTC接入開關(guān)接采樣電阻，短電源開關(guān)以及短地開關(guān)一端接DTC接入開關(guān)，短電源開關(guān)另一端接電源，短地開關(guān)另一端接地，采樣電阻兩端接運放電路，所述運放接AD采樣電路。采用上述技術(shù)方案，本技術(shù)提供了一種可編程動態(tài)過流測試裝置，可采樣通道電流，采樣率可編程，可快速采樣電流變化時間，并且可編程設(shè)置通道保護特性，規(guī)定時間關(guān)斷輸出，該裝置只需串聯(lián)在驅(qū)動通道上即可，無需增加以及更改其他外圍設(shè)備。

技術(shù)研發(fā)人員：薛道北,楊光明,胡孫杰,潘凱達,吳培培,楊信誼
受保護的技術(shù)使用者：浙江長江汽車電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240531
技術(shù)公布日：2025/5/15