本技術涉及一種測試裝置，特別涉及一種用于高密連接器輔助測試裝置，屬于測試。

背景技術：

1、連接器測試時需要將pin針插入到對配端內(nèi)進行測試。特別是高密100pin針連接器，每次測試時需要雙手平衡的夾住連接器殼體，與對配端進行對插；插和拔的過程中，易發(fā)生連接器傾斜導致pin針發(fā)生變形扭曲，影響產(chǎn)品質量；同時連接器pin針插入對配端消耗的時間較長，導致測試效率低。

技術實現(xiàn)思路

1、針對現(xiàn)有技術的不足，本實用新型的目的在于提供一種能夠使得連接器pin針和對配端處于一條直線上，避免pin針發(fā)生變形扭曲，提高測試效率的用于高密連接器的輔助測試裝置。

2、為實現(xiàn)前述實用新型目的，本實用新型采用的技術方案包括：

3、一種用于高密連接器的輔助測試裝置，包括基臺、樣品座、固定座和傳動結構，

4、所述基臺的工作臺面上設置有一沿選定方向延伸的導向結構；

5、所述樣品座用于承載待測連接器，所述樣品座設置在所述基臺的工作臺面上，所述樣品座與所述導向結構活動配合，并能夠沿所述導向結構限定的軌跡活動；

6、所述固定座用于固定測試設備的對配端，所述固定座固定設置在所述基臺上，并且，所述固定座沿所述選定方向設置在所述樣品座的第一側；

7、所述傳動結構固定設置在所述基臺的工作臺面上，并位于所述樣品座的第二側，所述傳動結構與所述樣品座連接，并能夠將施加于自身的外力轉換為驅使所述樣品座沿所述導向結構活動的驅動力。

8、進一步的是：所述導向結構包括導軌以及與所述導軌活動配合的滑塊，所述導軌固定設置在所述基臺的工作臺面上，所述樣品座與所述滑塊固定連接。

9、進一步的是：所述基臺的工作臺面上設置有一導向槽，所述導軌設置在所述導向槽內(nèi)。

10、進一步的是：所述樣品座具有一承載臺面，所述承載臺面上固定設置有多個限位塊，多個所述限位塊圍合形成一與所述連接器外形匹配的固定空間。

11、進一步的是：所述限位塊面向所述固定空間的一側為傾斜的斜面。

12、進一步的是：多個限位塊包括第一限位塊、第二限位塊和第三限位塊，所述第一限位塊、所述第二限位塊位于所述承載臺面的同一側，所述第一限位塊、所述第二限位塊沿第一方向間隔設置，所述第三限位塊沿第二方向與所述第一限位塊、所述第二限位塊間隔且相對設置，所述第三限位塊于第二方向上的寬度與所述承載臺面的寬度相同，所述第一限位塊具有第一導向面，所述第二限位塊具有第二導向面，所述第三限位塊具有第三導向面，所述第一導向面和所述第二導向面相對設置且均沿趨向彼此的方向傾斜，所述第三導向面面向所述第一限位塊、所述第二限位塊，所述第三導向面整體與所述第一方向或第二方向呈角度設置，其中，所述第一方向和所述第二方向垂直交叉。

13、進一步的是：所述固定座具有一貫穿的定位孔，所述定位孔可供測試設備的對配端伸入或穿過，并且，所述定位孔朝向所述樣品座。

14、進一步的是：所述定位孔于所述第一方向上的寬度小于所述第一限位塊和所述第二限位塊之間的間距。

15、進一步的是：所述傳動結構包括底座、導向桿、連接桿、手柄，所述底座固定在所述基臺的工作臺面上，所述底座上設置有一導向孔，所述導向桿活動穿過所述導向孔，所述導向桿的一端與所述樣品座固定連接，另一端經(jīng)所述連接桿與所述手柄樞軸連接，所述手柄還與所述底座樞軸連接，當驅使所述手柄相對于所述底座轉動時，所述導向桿能夠被帶動沿所述導向孔做直線運動。

16、與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的優(yōu)點包括：

17、1)本實用新型實施例提供的一種用于高密連接器的輔助測試裝置，能夠將連接器的pin針平穩(wěn)的固定在固定的高度，使得連接器的pin針與對配端處于同一平面上，避免連接器傾斜造成的pin針扭曲變形從而影響產(chǎn)品質量；

18、2)本實用新型實施例提供的一種用于高密連接器的輔助測試裝置，樣品座在導向結構的引導下帶動連接器的pin針移動，使連接器的pin針與對配端處于同一平面使得pin針能夠準確地插入到對配端，提高了測試的效率；

19、3)本實用新型實施例提供的傳動結構能夠緩慢穩(wěn)定地推動連接器靠近或遠離對配端，使得連接器pin針緩慢地插入對配端或從對配端拔出，減少對pin針的損壞；

20、4)本實用新型實施例通過多個限位塊圍合成的與所述連接器外形匹配的固定空間固定連接器，此種固定方式操作簡單，同時節(jié)省固定連接器的時間，提高了測試效率。

技術特征：

1.一種用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述導向結構包括導軌以及與所述導軌活動配合的滑塊，所述導軌固定設置在所述基臺的工作臺面上，所述樣品座與所述滑塊固定連接。

3.根據(jù)權利要求2所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述基臺的工作臺面上設置有一導向槽，所述導軌設置在所述導向槽內(nèi)。

4.根據(jù)權利要求2所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述樣品座具有一承載臺面，所述承載臺面上固定設置有多個限位塊，多個所述限位塊圍合形成一與所述連接器外形匹配的固定空間。

5.根據(jù)權利要求4所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述限位塊面向所述固定空間的一側為傾斜的斜面。

6.根據(jù)權利要求4所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：多個限位塊包括第一限位塊、第二限位塊和第三限位塊，所述第一限位塊、所述第二限位塊位于所述承載臺面的同一側，所述第一限位塊、所述第二限位塊沿第一方向間隔設置，所述第三限位塊沿第二方向與所述第一限位塊、所述第二限位塊間隔且相對設置，所述第三限位塊于第二方向上的寬度與所述承載臺面的寬度相同，所述第一限位塊具有第一導向面，所述第二限位塊具有第二導向面，所述第三限位塊具有第三導向面，所述第一導向面和所述第二導向面相對設置且均沿趨向彼此的方向傾斜，所述第三導向面面向所述第一限位塊、所述第二限位塊，所述第三導向面整體與所述第一方向或第二方向呈角度設置，其中，所述第一方向和所述第二方向垂直交叉。

7.根據(jù)權利要求6所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述固定座具有一貫穿的定位孔，所述定位孔可供測試設備的對配端伸入或穿過，并且，所述定位孔朝向所述樣品座。

8.根據(jù)權利要求7所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述定位孔于所述第一方向上的寬度小于所述第一限位塊和所述第二限位塊之間的間距。

9.根據(jù)權利要求1所述的用于高密連接器的輔助測試裝置，其特征在于：所述傳動結構包括底座、導向桿、連接桿和手柄，所述底座固定在所述基臺的工作臺面上，所述底座上設置有一導向孔，所述導向桿活動穿過所述導向孔，所述導向桿的一端與所述樣品座固定連接，另一端經(jīng)所述連接桿與所述手柄樞軸連接，所述手柄還與所述底座樞軸連接，當驅使所述手柄相對于所述底座轉動時，所述導向桿能夠被帶動沿所述導向孔做直線運動。

技術總結
本技術公開了一種用于高密連接器輔助測試裝置，用于高密連接器輔助測試裝置包括基臺、樣品座、固定座和傳動結構，所述基臺的工作臺面上設置有一沿選定方向延伸的導向結構；所述樣品座用于承載待測連接器，所述樣品座設置在所述基臺的工作臺面上，所述樣品座與所述導向結構活動配合，并能夠沿所述導向結構限定的軌跡活動；所述固定座用于固定測試設備的對配端，所述固定座固定設置在所述基臺上，并且，所述固定座沿所述選定方向設置在所述樣品座的第一側；所述傳動結構固定設置在所述基臺的工作臺面上，并位于所述樣品座的第二側，所述傳動結構與所述樣品座連接，并能夠將施加于自身的外力轉換為驅使所述樣品座沿所述導向結構活動的驅動力。

技術研發(fā)人員：張靈,呂培松,盛春江
受保護的技術使用者：蘇州冠韻威電子技術有限公司
技術研發(fā)日：20240712
技術公布日：2025/5/15