本發(fā)明屬于雙極板缺陷檢測，尤其涉及一種堿性電解槽雙極板的表面缺陷檢測方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、雙極板作為堿性制氫電解槽的關(guān)鍵部件之一，起著傳導(dǎo)電子并且將電解槽分割成一個個獨立的小室的作用。雙極板的表面對于電解槽的正常穩(wěn)定起著至關(guān)重要的作用，當雙極板的表面存在缺陷時，會導(dǎo)致堿液流動不順暢和雙極板間接觸電阻增大，甚至雙極板漏鍍，從而導(dǎo)致雙極板腐蝕，進而導(dǎo)致電解槽能耗增加，甚至發(fā)生安全事故，因此雙極板質(zhì)量對堿性電解槽能否安全穩(wěn)定運行，起著至關(guān)重要的作用。

2、目前雙極板的表面缺陷檢測大多依靠檢驗人員目視檢查或者建立雙極板的三維檢測模型。但是依據(jù)堿性制氫電解槽的工作原理，通過雙極板分解成的電解小室數(shù)量較多，依靠檢驗人員目視檢查工作量較大且工作效率較低，且容易出現(xiàn)漏判和錯判，導(dǎo)致檢測準確率較低。而建立雙極板的三維檢測模型雖然能夠很好的彌補人工檢測上的準確率問題，但是要構(gòu)建三維檢測模型，需要對雙極板進行準確掃描，之后再進行建模分析，這種復(fù)雜的三維檢測方法在檢測準確性上比較高，但是其檢測效率低下，無法較好的適應(yīng)目前雙極板的大規(guī)模生產(chǎn)需求。因此，目前亟需一種堿性電解槽雙極板的表面缺陷檢測方法及裝置來解決現(xiàn)有技術(shù)的缺陷。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明旨在提供一種堿性電解槽雙極板的表面缺陷檢測方法及裝置，以解決上述技術(shù)問題，通過特征定位點構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系，以缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)實現(xiàn)對雙極板的表面缺陷狀態(tài)檢測，提高了雙極板的表面缺陷檢測效率。

2、為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實施例提供了一種堿性電解槽雙極板的表面缺陷檢測方法，包括：

3、采集雙極板的圖像數(shù)據(jù)，并對所述圖像數(shù)據(jù)進行圖像識別，獲取雙極板編碼信息和特征定位點；

4、基于所述特征定位點在所述圖像數(shù)據(jù)中構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系，并基于所述缺陷檢測二維坐標系識別所述雙極板的缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)；

5、根據(jù)所述雙極板編碼信息、缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)查詢預(yù)設(shè)缺陷數(shù)據(jù)庫，確定所述雙極板的表面缺陷狀態(tài)。

6、可以理解的是，相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過采集雙極板的圖像數(shù)據(jù)，并對圖像數(shù)據(jù)進行圖像識別，獲取雙極板編碼信息和特征定位點；之后基于特征定位點在圖像數(shù)據(jù)中構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系，并基于缺陷檢測二維坐標系識別雙極板的缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)，之后根據(jù)雙極板編碼信息、缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)查詢預(yù)設(shè)缺陷數(shù)據(jù)庫，確定雙極板的表面缺陷狀態(tài)。本發(fā)明通過特征定位點構(gòu)建了二維的缺陷檢測二維坐標系，從而能夠快速的將雙極板表面缺陷通過坐標定位成二維數(shù)據(jù)，避免了現(xiàn)有技術(shù)中構(gòu)建三維檢測模型所導(dǎo)致的檢測低下，提高了雙極板的表面缺陷檢測效率；通過識別雙極板的缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)，能夠準確的獲取雙極板表面缺陷的完整信息，覆蓋的雙極板缺陷范圍更大，提高了雙極板表面缺陷檢測的準確性和效率，適應(yīng)了目前雙極板的大規(guī)模生產(chǎn)需求。

7、作為優(yōu)選方案，所述基于所述特征定位點在所述圖像數(shù)據(jù)中構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系，并基于所述缺陷檢測二維坐標系識別所述雙極板的缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù),具體包括：

8、以所述特征定位點為原點，在所述圖像數(shù)據(jù)中構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系；

9、根據(jù)預(yù)設(shè)圖像識別算法識別所述圖像數(shù)據(jù)中的缺陷，并結(jié)合所述缺陷檢測二維坐標系得到所述缺陷的缺陷橫向值和缺陷縱向值；

10、根據(jù)所述缺陷橫向值和缺陷縱向值的大小關(guān)系，識別所述雙極板的缺陷類型；

11、根據(jù)所述缺陷類型，結(jié)合所述缺陷檢測二維坐標系識別所述雙極板的缺陷數(shù)據(jù)。

12、本優(yōu)選方案通過雙極板的特征定位點構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系，使得缺陷檢測二維坐標系更加符合雙極板的表面特征，簡化了雙極板的檢測流程，提高了雙極板表面缺陷檢測的準確性和效率；通過缺陷的缺陷橫向值和缺陷縱向值識別雙極板的缺陷類型，并以缺陷類型獲取缺陷數(shù)據(jù)，能夠準確的獲取雙極板表面缺陷的完整信息，覆蓋的雙極板缺陷范圍更大，提高了雙極板表面缺陷檢測的準確性和效率。

13、作為優(yōu)選方案，所述根據(jù)所述缺陷橫向值和缺陷縱向值的大小關(guān)系，識別所述雙極板的缺陷類型，具體包括：

14、當缺陷橫向值和缺陷縱向值相等時，識別所述雙極板的缺陷類型為直徑缺陷；

15、當缺陷橫向值大于缺陷縱向值的三倍或缺陷縱向值大于缺陷橫向值的三倍時，識別所述雙極板的缺陷類型為長度缺陷；

16、當缺陷橫向值小于缺陷縱向值的三倍或缺陷縱向值小于缺陷橫向值的三倍時，識別所述雙極板的缺陷類型為面積缺陷。

17、本優(yōu)選方案通過比較缺陷橫向值和缺陷縱向值的大小，能夠快速的確定雙極板的缺陷類型，進而提高了雙極板表面缺陷檢測的效率。

18、作為優(yōu)選方案，所述根據(jù)所述缺陷類型，結(jié)合所述缺陷檢測二維坐標系識別所述雙極板的缺陷數(shù)據(jù)，具體包括：

19、基于所述缺陷檢測二維坐標系獲取所述缺陷的像素點數(shù)量、像素點坐標、像素長度和像素寬度；

20、基于所述像素點坐標確定所述雙極板的缺陷長度；

21、基于所述像素長度和像素寬度確定所述雙極板的缺陷面積；

22、基于所述像素點數(shù)量和像素點坐標確定所述雙極板的缺陷直徑；

23、根據(jù)所述缺陷類型，從所述缺陷長度、缺陷直徑和缺陷面積中篩選所述雙極板的缺陷數(shù)據(jù)。

24、本優(yōu)選方案通過缺陷類型和像素點的相關(guān)數(shù)據(jù)確定雙極板的缺陷數(shù)據(jù)，能夠準確的獲取雙極板表面缺陷的完整信息，覆蓋的雙極板缺陷范圍更大，提高了雙極板表面缺陷檢測的準確性和效率。

25、作為優(yōu)選方案，所述根據(jù)所述雙極板編碼信息、缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)查詢預(yù)設(shè)缺陷數(shù)據(jù)庫，確定所述雙極板的表面缺陷狀態(tài)，具體包括：

26、根據(jù)所述雙極板編碼信息和缺陷類型查詢預(yù)設(shè)缺陷數(shù)據(jù)庫，得到標準雙極板圖像數(shù)據(jù)；

27、根據(jù)預(yù)設(shè)圖像特征比對算法計算所述缺陷數(shù)據(jù)和標準雙極板圖像數(shù)據(jù)之間的相似度；

28、基于所述相似度和預(yù)設(shè)相似度閾值確定所述雙極板的表面缺陷狀態(tài)。

29、本優(yōu)選方案通過雙極板編碼信息和缺陷類型能夠快速的獲取要對比的標準雙極板圖像數(shù)據(jù)，再通過計算相似度，能夠快速且準確的獲取雙極板的表面缺陷狀態(tài)，提高了雙極板表面缺陷檢測的準確性和效率。

30、作為優(yōu)選方案，在確定所述雙極板的表面缺陷狀態(tài)后，還包括：

31、根據(jù)預(yù)設(shè)深度學習算法對所述圖像數(shù)據(jù)進行特征分析，得到缺陷特征，并根據(jù)所述缺陷特征更新所述預(yù)設(shè)缺陷數(shù)據(jù)庫。

32、本優(yōu)選方案通過深度學習算法能夠準確的獲取雙極板的缺陷特征，從而實現(xiàn)了對缺陷數(shù)據(jù)庫的更新，確保了缺陷數(shù)據(jù)庫中數(shù)據(jù)的準確性，進而提高了雙極板表面缺陷檢測的準確性。

33、相應(yīng)的，本發(fā)明實施例提供了一種堿性電解槽雙極板的表面缺陷檢測裝置，包括：雙極板圖像數(shù)據(jù)處理模塊、缺陷數(shù)據(jù)獲取模塊和缺陷狀態(tài)檢測模塊；

34、其中，所述雙極板圖像數(shù)據(jù)處理模塊用于采集雙極板的圖像數(shù)據(jù)，并對所述圖像數(shù)據(jù)進行圖像識別，獲取雙極板編碼信息和特征定位點；

35、所述缺陷數(shù)據(jù)獲取模塊用于基于所述特征定位點在所述圖像數(shù)據(jù)中構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系，并基于所述缺陷檢測二維坐標系識別所述雙極板的缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)；

36、所述缺陷狀態(tài)檢測模塊用于根據(jù)所述雙極板編碼信息、缺陷類型和缺陷數(shù)據(jù)查詢預(yù)設(shè)缺陷數(shù)據(jù)庫，確定所述雙極板的表面缺陷狀態(tài)。

37、作為優(yōu)選方案，所述缺陷數(shù)據(jù)獲取模塊包括：缺陷數(shù)據(jù)獲取單元；

38、所述缺陷數(shù)據(jù)獲取單元用于以所述特征定位點為原點，在所述圖像數(shù)據(jù)中構(gòu)建缺陷檢測二維坐標系；

39、根據(jù)預(yù)設(shè)圖像識別算法識別所述圖像數(shù)據(jù)中的缺陷，并結(jié)合所述缺陷檢測二維坐標系得到所述缺陷的缺陷橫向值和缺陷縱向值；

40、根據(jù)所述缺陷橫向值和缺陷縱向值的大小關(guān)系，識別所述雙極板的缺陷類型；

41、根據(jù)所述缺陷類型，結(jié)合所述缺陷檢測二維坐標系識別所述雙極板的缺陷數(shù)據(jù)。

42、作為優(yōu)選方案，所述缺陷數(shù)據(jù)獲取單元包括：缺陷類型獲取子單元；

43、所述缺陷類型獲取子單元用于當缺陷橫向值和缺陷縱向值相等時，識別所述雙極板的缺陷類型為直徑缺陷；

44、當缺陷橫向值大于缺陷縱向值的三倍或缺陷縱向值大于缺陷橫向值的三倍時，識別所述雙極板的缺陷類型為長度缺陷；

45、當缺陷橫向值小于缺陷縱向值的三倍或缺陷縱向值小于缺陷橫向值的三倍時，識別所述雙極板的缺陷類型為面積缺陷。

46、作為優(yōu)選方案，所述缺陷數(shù)據(jù)獲取單元包括：缺陷數(shù)據(jù)獲取子單元；

47、所述缺陷數(shù)據(jù)獲取子單元用于基于所述缺陷檢測二維坐標系獲取所述缺陷的像素點數(shù)量、像素點坐標、像素長度和像素寬度；

48、基于所述像素點坐標確定所述雙極板的缺陷長度；

49、基于所述像素長度和像素寬度確定所述雙極板的缺陷面積；

50、基于所述像素點數(shù)量和像素點坐標確定所述雙極板的缺陷直徑；

51、根據(jù)所述缺陷類型，從所述缺陷長度、缺陷直徑和缺陷面積中篩選所述雙極板的缺陷數(shù)據(jù)。