1.一種計(jì)算機(jī)斷層成像偽影校正方法，其特征在于，包括：
接收待校正圖像；
對(duì)所述待校正圖像進(jìn)行偽影校正，以獲取第一校正后圖像；
獲取待校正圖像相對(duì)于第一校正后圖像的誤差圖像；
根據(jù)該誤差圖像獲取第一校正后圖像的信息熵，并根據(jù)該信息熵確定第一校正后圖像引入偽影的程度；
根據(jù)該第一校正后圖像引入偽影的程度調(diào)整所述誤差圖像的權(quán)重，
并從所述待校正圖像中去除調(diào)整權(quán)重后的誤差圖像，以獲取第二校正后圖像；
對(duì)待校正圖像進(jìn)行自適應(yīng)濾波處理，并對(duì)處理后的待校正圖像進(jìn)行頻率分割，分割出所述待校正圖像的高頻部分圖像，對(duì)所述第二校正后圖像進(jìn)行頻率分割，獲取所述第二校正后圖像的低頻部分圖像，并對(duì)所述高頻部分圖像及低頻部分圖像進(jìn)行融合，以獲得第三校正后圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偽影校正方法，其特征在于，所述根據(jù)該誤差圖像獲取第一校正后圖像的信息熵包括：
劃分所述誤差圖像與待校正圖像每個(gè)像素的鄰域矩陣；
調(diào)整所述誤差圖像像素鄰域矩陣的權(quán)重，并根據(jù)調(diào)整權(quán)重后的所述誤差圖像像素鄰域矩陣與所述待校正圖像像素鄰域矩陣之差獲取所述信息熵。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偽影校正方法，其特征在于，獲取使所述信息熵最小時(shí)相應(yīng)的所述誤差圖像鄰域矩陣的權(quán)重，將該權(quán)重作為所述誤差圖像的權(quán)重。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偽影校正方法，其特征在于，根據(jù)所述誤差圖像中金屬偽影去除的程度，確定所述鄰域矩陣的尺寸。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偽影校正方法，其特征在于，根據(jù)所述待校正圖像中的金屬圖像形態(tài)，確定所述鄰域矩陣的尺寸。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偽影校正方法，所述鄰域矩陣的尺寸為9-31單位像素。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偽影校正方法，其特征在于，還包括：根據(jù)設(shè)定的視場(chǎng)對(duì)所述待校正圖像、誤差圖像、第一校正后圖像、第二校正后圖像中的至少一種進(jìn)行壓縮。