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一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法與流程

文檔序號(hào):41950178發(fā)布日期:2025-05-16 14:09閱讀:3來(lái)源:國(guó)知局
一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法與流程

本發(fā)明屬于電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理,特別涉及一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法。


背景技術(shù):

1、多疊層主板往往具備多種功能,包括:高速數(shù)據(jù)傳輸以及多通道通信。在對(duì)多疊層主板進(jìn)行編寫測(cè)試程序時(shí),很難對(duì)多疊層主板的所有功能進(jìn)行測(cè)試,并且容易遺漏多疊層主板的一些特殊功能測(cè)試,導(dǎo)致多疊層主板中的潛在問(wèn)題無(wú)法被及時(shí)發(fā)現(xiàn)。

2、一般在對(duì)多疊層主板的一些特殊性能進(jìn)行測(cè)試時(shí),需要依靠特定的算法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。如果特定的算法本身存在缺陷或不夠準(zhǔn)確,可能會(huì)誤判多疊層主板的功能狀況,將正常的多疊層主板判斷為有問(wèn)題,可能會(huì)放過(guò)真正存在問(wèn)題的多疊層主板。因此,需要對(duì)多疊層主板所具有的功能進(jìn)行測(cè)試。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,用于解決如何能夠?qū)Χ喁B層主板所具有的功能進(jìn)行可靠性測(cè)試和分析的技術(shù)問(wèn)題,多疊層主板的總可靠性為各層主板可靠性的乘積,若各層主板可靠性相同或不相同則能夠計(jì)算多疊層主板的總可靠性,若各層主板可靠性中有一個(gè)不具有可靠性,則多疊層主板的總可靠性不具有。

2、為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明通過(guò)下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):

3、一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,包括如下步驟:

4、步驟一:構(gòu)建多疊層主板的功能參數(shù)模型,其中,多疊層主板的功能參數(shù)模型包括電性能參數(shù)和熱性能參數(shù);

5、步驟二:構(gòu)建多疊層主板的可靠性模型,可靠性模型基于多疊層主板的功能參數(shù)模型建立,可靠性模型考慮各層主板之間的導(dǎo)電性、各層主板之間的散熱效率;

6、步驟三:根據(jù)可靠性模型,確定多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn),關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)為對(duì)主板功能影響較大且在可靠性模型中易出現(xiàn)故障的位置;

7、步驟四:對(duì)多疊層主板的各層主板按照關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,記錄各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù);

8、步驟五:分析各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù),根據(jù)可靠性模型對(duì)各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析,判斷多疊層主板是否滿足可靠性要求,若不滿足則定位出現(xiàn)故障的位置。

9、可選的,在步驟一中,電性能參數(shù)包括信號(hào)傳輸延遲和串?dāng)_;

10、評(píng)估信號(hào)傳輸延遲是評(píng)估傳輸信號(hào)失真情況或傳輸信號(hào)時(shí)序延遲情況;

11、串?dāng)_為相鄰兩線路之間的傳輸信號(hào)相互干擾,串?dāng)_的定量分析通過(guò)電磁仿真來(lái)估算。

12、可選的,在步驟一中,熱性能參數(shù)主要是熱導(dǎo)率,多疊層主板的各層主板的熱導(dǎo)率決定了熱量在整個(gè)多疊層主板內(nèi)部的熱傳導(dǎo)速度,對(duì)于多疊層主板的等效熱導(dǎo)率需要各層主板的熱導(dǎo)率,對(duì)于一個(gè)多疊層主板包含層,多疊層主板的各層主板材料不相同,則等效熱導(dǎo)率的計(jì)算公式表示為:,其中,是多疊層主板的總厚度,和分別是第主板的熱導(dǎo)率和第主板的厚度。

13、可選的,在步驟二中,若各層主板的失效相互獨(dú)立,且任意一層主板的失效導(dǎo)致整個(gè)多疊層主板失效,一個(gè)多疊層主板包含層,則多疊層主板的總可靠性為各層主板可靠性的乘積,具體為:,若各層主板可靠性相同,則;

14、可選的,若一個(gè)多疊層主板包含層,每層主板的可靠性為,,則多疊層主板的總可靠性為,,若所有層主板的可靠性相同,則:。

15、可選的,在步驟三中,基于可靠性模型,多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試,是通過(guò)coffin-manson軟件測(cè)試各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)的熱疲勞壽命,熱疲勞壽命為,其中,和為材料常數(shù),為溫度變化范圍。

16、可選的,在步驟三中,采用相關(guān)性矩陣法確定多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn),具體為:構(gòu)建一個(gè)相關(guān)性矩陣,行表示故障位置,列表示關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn),矩陣元素表示第個(gè)故障位置與第個(gè)測(cè)試節(jié)點(diǎn)之間的相關(guān)性程度,相關(guān)性程度可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)或歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行量化,相關(guān)性程度取值范圍為-1~1,?1表示完全負(fù)相關(guān)性,0表示無(wú)相關(guān)性,1表示強(qiáng)相關(guān)性;

17、在確定關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)時(shí),可計(jì)算每個(gè)關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)與所有故障位置的相關(guān)性總和,其中,為故障位置的數(shù)量,值越大,測(cè)試節(jié)點(diǎn)與故障位置的相關(guān)性越高,越有可能是關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)。

18、可選的,在步驟四中,對(duì)多疊層主板的各層主板按照關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,其中,電性能參數(shù)采用通孔陣列導(dǎo)通性測(cè)試,散熱效率采用層間熱阻測(cè)試;

19、通孔陣列導(dǎo)通性測(cè)試為:;其中,為每層主板各自的開(kāi)路孔數(shù),為每層主板各自的短路孔數(shù),為每層主板各自的測(cè)試總孔數(shù);為各層主板各自的通孔總的導(dǎo)通性;

20、層間熱阻測(cè)試為:;其中,為各層主板各自的厚度;為各層主板各自的導(dǎo)熱系數(shù),為各層主板各自的散熱面積,為各層主板各自的界面熱阻,為每層主板的熱阻。

21、可選的,在步驟五中,對(duì)各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析的步驟如下:

22、步驟a:構(gòu)建測(cè)試數(shù)據(jù)矩陣;

23、步驟b:對(duì)多組數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比分析;

24、步驟c:生成決策矩陣;其中,根據(jù)分析結(jié)果制定優(yōu)先級(jí)改進(jìn)計(jì)劃:

25、步驟d:建立可靠性分析報(bào)告。

26、本發(fā)明的有益效果:

27、1.本發(fā)明的各層主板的失效相互獨(dú)立,且任意一層主板的失效導(dǎo)致整個(gè)多疊層主板失效,則多疊層主板的總可靠性為各層主板可靠性的乘積,若各層主板可靠性相同或不相同,則能夠計(jì)算多疊層主板的總可靠性,若各層主板可靠性中有一個(gè)不具有可靠性,則多疊層主板的總可靠性不具有。

28、2.本發(fā)明的熱導(dǎo)率是,多疊層主板的各層主板材料不相同,各層主板的熱導(dǎo)率不同,將多疊層主板的各層主板的熱導(dǎo)率進(jìn)行了計(jì)算,得到等效熱導(dǎo)率,等效熱導(dǎo)率使整個(gè)多疊層主板內(nèi)部的熱量在各層主板上均勻分布,決定了熱量在整個(gè)多疊層主板內(nèi)部的熱傳導(dǎo)速度,在各層主板相同溫度下,以及整個(gè)多疊層主板的總厚度下,通過(guò)等效不同材料的熱量使整個(gè)多疊層主板的各層主板熱導(dǎo)率相同,整個(gè)多疊層主板內(nèi)部的熱傳導(dǎo)速度相同。

29、3.采用相關(guān)性矩陣法確定多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn),即構(gòu)建一個(gè)相關(guān)性矩陣,相關(guān)性程度可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)或歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行量化,相關(guān)性程度取值范圍為-1~1,?1表示完全負(fù)相關(guān)性,0表示無(wú)相關(guān)性,1表示強(qiáng)相關(guān)性;在確定關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)時(shí),可計(jì)算每個(gè)關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)與所有故障位置的相關(guān)性總和,相關(guān)性總和,測(cè)試節(jié)點(diǎn)與故障位置的相關(guān)性越高,越有可能是關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)。



技術(shù)特征:

1.一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,包括如下步驟:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟一中,所述電性能參數(shù)包括信號(hào)傳輸延遲和串?dāng)_;

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟一中,所述熱性能參數(shù)主要是熱導(dǎo)率,所述多疊層主板的各層主板的熱導(dǎo)率決定了熱量在整個(gè)多疊層主板內(nèi)部的熱傳導(dǎo)速度,對(duì)于多疊層主板的等效熱導(dǎo)率需要各層主板的熱導(dǎo)率,對(duì)于一個(gè)多疊層主板包含層,多疊層主板的各層主板材料不相同,則等效熱導(dǎo)率的計(jì)算公式表示為:,其中,是多疊層主板的總厚度,和分別是第主板的熱導(dǎo)率和第主板的厚度。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟二中,一個(gè)所述多疊層主板包含層,若各層主板的失效相互獨(dú)立,且任意一層主板的失效導(dǎo)致整個(gè)多疊層主板失效,則多疊層主板的總可靠性為各層主板可靠性的乘積,具體為:,若各層主板可靠性相同,為可靠性的值,則。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,若一個(gè)所述多疊層主板包含層,每層主板的可靠性分別為,為可靠性的值,為第1層主板的可靠性,為第層主板的可靠性,為第層主板的可靠性,具體是,每層主板的可靠性為,為可靠性的值,,則多疊層主板的總可靠性為,,若所有層主板的可靠性相同,則:。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟三中,基于所述可靠性模型,所述多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試,是通過(guò)coffin-manson軟件測(cè)試各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)的熱疲勞壽命,所述熱疲勞壽命為,其中,和為材料常數(shù),為溫度變化范圍。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟三中,采用相關(guān)性矩陣法確定所述多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn),具體為:構(gòu)建一個(gè)相關(guān)性矩陣,行表示故障位置,列表示關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn),矩陣元素表示第個(gè)故障位置與第個(gè)測(cè)試節(jié)點(diǎn)之間的相關(guān)性程度,相關(guān)性程度可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)或歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行量化,相關(guān)性程度取值范圍為-1~1,?1表示完全負(fù)相關(guān)性,0表示無(wú)相關(guān)性,1表示強(qiáng)相關(guān)性;

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟四中,對(duì)所述多疊層主板的各層主板按照關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,其中,電性能參數(shù)采用通孔陣列導(dǎo)通性測(cè)試,散熱效率采用層間熱阻測(cè)試;

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,其特征在于,在所述步驟五中,對(duì)所述各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析的步驟如下:


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種基于可靠性分析的多疊層主板功能測(cè)試策略方法,屬于電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,包括如下步驟:步驟一:構(gòu)建多疊層主板的功能參數(shù)模型;步驟二:構(gòu)建多疊層主板的可靠性模型;步驟三:根據(jù)可靠性模型,確定多疊層主板的各層主板的關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn);步驟四:對(duì)多疊層主板的各層主板按照關(guān)鍵測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,記錄各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù);步驟五:分析各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù),根據(jù)可靠性模型對(duì)各層主板的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析,判斷多疊層主板是否滿足可靠性要求;本發(fā)明的有益效果:若各層主板可靠性相同或不相同,則能夠計(jì)算多疊層主板的總可靠性,若各層主板可靠性中有一個(gè)不具有可靠性,則多疊層主板的總可靠性不具有。

技術(shù)研發(fā)人員:程鵬,林茂賢,段潔,劉興益
受保護(hù)的技術(shù)使用者:四川酷賽科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/5/15
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