本申請(qǐng)屬于人工智能,涉及光學(xué)系統(tǒng)組裝,尤其涉及一種模型訓(xùn)練方法、調(diào)芯方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備。
背景技術(shù):
1、隨著科技進(jìn)步,光學(xué)鏡頭應(yīng)用廣泛,但其性能受加工和裝配誤差影響顯著。裝配誤差(如偏心、傾斜、間隔誤差)會(huì)導(dǎo)致像差和解像力下降,影響成像質(zhì)量。早期裝調(diào)依賴(lài)機(jī)械調(diào)節(jié)和經(jīng)驗(yàn)判斷,精度低、效率差;后期采用高精度傳感器(如激光器、波前傳感器)提升了精度,但成本高、裝置復(fù)雜,難以普及?,F(xiàn)有智能調(diào)芯方法通過(guò)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)訓(xùn)練機(jī)器學(xué)習(xí)模型預(yù)測(cè)調(diào)芯位置,但需大量數(shù)據(jù)采集,耗時(shí)耗力,尤其在多群鏡頭調(diào)芯時(shí)更為繁瑣低效。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種模型訓(xùn)練方法、調(diào)芯方法、裝置、介質(zhì)和電子設(shè)備,以解決傳統(tǒng)技術(shù)中存在的人工調(diào)芯時(shí)間長(zhǎng),調(diào)芯質(zhì)量差的技術(shù)問(wèn)題。
2、本申請(qǐng)實(shí)施例第一方面提供一種模型訓(xùn)練方法,應(yīng)用于電子設(shè)備,所述電子設(shè)備與光學(xué)系統(tǒng)通信連接,所述方法包括:獲取目標(biāo)物的第一圖像;基于所述第一圖像得到樣本圖像;基于所述樣本圖像得到訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集,其中所述訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集包括第二圖像,所述第二圖像為所述第一圖像經(jīng)過(guò)所述光學(xué)系統(tǒng)后得到的圖像;通過(guò)所述樣本數(shù)據(jù)集訓(xùn)練初始模型,直至初始模型滿(mǎn)足預(yù)設(shè)條件,得到目標(biāo)模型。
3、在本申請(qǐng)一些可能的實(shí)施方式中,所述基于所述第一圖像得到樣本圖像包括:根據(jù)所述光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置所述第一圖像的圖像信息;基于所述圖像信息和所述第一圖像的參數(shù)得到所述樣本圖像。
4、在本申請(qǐng)一些可能的實(shí)施方式中,所述基于所述樣本圖像得到訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集還包括:基于所述樣本圖像和所述光學(xué)系統(tǒng)得到所述第二圖像;基于所述光學(xué)系統(tǒng)的誤差和所述第二圖像得到訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集。
5、在本申請(qǐng)一些可能的實(shí)施方式中,所述光學(xué)系統(tǒng)中的誤差包括第一誤差和第二誤差,其中,第一誤差包括所述光學(xué)系統(tǒng)中的中繼鏡頭對(duì)應(yīng)的加工誤差和/或所述中繼鏡頭對(duì)應(yīng)的裝配誤差、所述待調(diào)芯鏡頭中的非調(diào)芯鏡組對(duì)應(yīng)的加工、裝配誤差以及所述調(diào)芯鏡組的加工誤差;第二誤差包括所述待調(diào)芯鏡頭中的調(diào)芯鏡組對(duì)應(yīng)的裝配誤差。
6、在本申請(qǐng)一些可能的實(shí)施方式中,所述方法還包括:根據(jù)所述誤差的類(lèi)型對(duì)訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)進(jìn)行分類(lèi)。
7、在本申請(qǐng)一些可能的實(shí)施方式中,所述第一圖像的圖像信息包括圖像尺寸、圖像高度和圖像大小。
8、本申請(qǐng)實(shí)施例第二方面提供一種調(diào)芯方法,所述方法包括:獲取目標(biāo)圖像;輸入所述目標(biāo)圖像至預(yù)先訓(xùn)練好的目標(biāo)模型,得到調(diào)芯鏡組對(duì)應(yīng)的失調(diào)量,其中,所述目標(biāo)模型為根據(jù)上述模型訓(xùn)練方法得到;根據(jù)所述失調(diào)量控制機(jī)械運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu)運(yùn)動(dòng)后,再次獲取目標(biāo)圖像;根據(jù)所述再次獲取的目標(biāo)圖像的質(zhì)量確定所述調(diào)芯鏡組對(duì)應(yīng)的待調(diào)芯鏡頭調(diào)芯是否完成。
9、本申請(qǐng)實(shí)施例第三方面提供一種模型訓(xùn)練裝置,所述模型訓(xùn)練裝置包括:獲取模塊,用于獲取目標(biāo)物的第一圖像;處理模塊,用于基于所述第一圖像得到樣本圖像;所述處理模塊,還用于基于所述樣本圖像得到訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集,其中所述訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集包括第二圖像,所述第二圖像為所述第一圖像經(jīng)過(guò)所述光學(xué)系統(tǒng)后得到的圖像;所述處理模塊,還用于通過(guò)所述樣本數(shù)據(jù)集訓(xùn)練初始模型,直至初始模型滿(mǎn)足預(yù)設(shè)條件,得到目標(biāo)模型。
10、本申請(qǐng)實(shí)施例第四方面提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有至少一個(gè)指令,所述至少一個(gè)指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上所述的調(diào)芯方法。
11、本申請(qǐng)實(shí)施例第五方面提供一種電子設(shè)備,包括:存儲(chǔ)器,及處理器,所述處理器執(zhí)行所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)可讀指令,實(shí)現(xiàn)所述的調(diào)芯方法。
12、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的調(diào)芯方法,獲取目標(biāo)物的第一圖像;基于所述第一圖像得到樣本圖像;基于所述樣本圖像得到訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集,其中所述訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集包括第二圖像,所述第二圖像為所述第一圖像經(jīng)過(guò)所述光學(xué)系統(tǒng)后得到的圖像;通過(guò)所述樣本數(shù)據(jù)集訓(xùn)練初始模型,直至初始模型滿(mǎn)足預(yù)設(shè)條件,得到目標(biāo)模型;再利用模板模型進(jìn)行調(diào)芯。
1.一種模型訓(xùn)練方法,應(yīng)用于電子設(shè)備,所述電子設(shè)備與光學(xué)系統(tǒng)通信連接,其特征在于,所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模型訓(xùn)練方法,其特征在于,所述基于所述第一圖像得到樣本圖像包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模型訓(xùn)練方法,其特征在于,所述基于所述樣本圖像得到訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)集還包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模型訓(xùn)練方法,其特征在于,所述光學(xué)系統(tǒng)中的誤差包括第一誤差和第二誤差,其中,第一誤差包括所述光學(xué)系統(tǒng)中的中繼鏡頭對(duì)應(yīng)的加工誤差和/或所述中繼鏡頭對(duì)應(yīng)的裝配誤差、所述待調(diào)芯鏡頭中的非調(diào)芯鏡組對(duì)應(yīng)的加工、裝配誤差以及所述調(diào)芯鏡組的加工誤差;第二誤差包括所述待調(diào)芯鏡頭中的調(diào)芯鏡組對(duì)應(yīng)的裝配誤差。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模型訓(xùn)練方法,其特征在于,所述方法還包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模型訓(xùn)練方法,其特征在于,所述第一圖像的圖像信息包括圖像尺寸、圖像高度和圖像大小。
7.一種調(diào)芯方法,其特征在于,所述方法包括:
8.一種模型訓(xùn)練裝置,其特征在于,所述模型訓(xùn)練裝置包括:
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有至少一個(gè)指令,所述至少一個(gè)指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的模型訓(xùn)練方法和權(quán)利要求7所述的調(diào)芯方法。
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括: