本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤測試,尤其涉及一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、nvme固態(tài)硬盤現(xiàn)在已經(jīng)成為了個人計(jì)算機(jī)的主要存儲設(shè)備。nvme(nvm?express,非易失性內(nèi)存主機(jī)控制器接口規(guī)范)是一種以pcie(peripheral?component?interconnectexpress,一種高速串行計(jì)算機(jī)擴(kuò)展總線標(biāo)準(zhǔn))接口作為物理傳輸通道的存儲設(shè)備通信協(xié)議。讀寫速度是判斷固態(tài)硬盤性能最重要的因素。
2、當(dāng)前主機(jī)測試固態(tài)硬盤性能的方法主要是主機(jī)端軟件直接對固態(tài)硬盤進(jìn)行讀寫。這種測試除了固態(tài)硬盤本身的性能會影響測試效果外,主機(jī)端的軟件設(shè)計(jì)、系統(tǒng)流暢性等也會對測試結(jié)果產(chǎn)生影響。
3、在出現(xiàn)存儲設(shè)備性能問題時,主機(jī)很難直接定位是硬盤性能原因還是主機(jī)端軟件原因。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì),旨在解決上述背景技術(shù)中的至少一個技術(shù)問題。
2、第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,所述方法應(yīng)用于固態(tài)硬盤,所述方法包括:
3、若接收到主機(jī)發(fā)送的測試命令,對所述固態(tài)硬盤的nand?flash進(jìn)行讀寫性能測試,以及在所述固態(tài)硬盤與所述主機(jī)之間進(jìn)行pcie通信測試;
4、若接收到主機(jī)發(fā)送的性能獲取命令,獲取所述讀寫性能測試的測試結(jié)果以及獲取所述pcie通信測試的測試結(jié)果;
5、將所述讀寫性能測試的測試結(jié)果以及所述pcie通信測試的測試結(jié)果發(fā)送給主機(jī)。
6、其進(jìn)一步的技術(shù)方案為,所述對所述固態(tài)硬盤的nand?flash進(jìn)行讀寫性能測試,包括:
7、對所述固態(tài)硬盤的nand?flash進(jìn)行全速讀寫。
8、其進(jìn)一步的技術(shù)方案為,所述在所述固態(tài)硬盤與所述主機(jī)之間進(jìn)行pcie通信測試,包括:
9、對所述主機(jī)的hmb進(jìn)行全速訪問。
10、其進(jìn)一步的技術(shù)方案為,所述獲取所述讀寫性能測試的測試結(jié)果,包括:
11、獲取所述讀寫性能測試的第一測試時長;
12、獲取所述讀寫性能測試過程中從所述nand?flash讀寫的第一數(shù)據(jù)總量;
13、基于所述第一數(shù)據(jù)總量與所述測試時長確定所述nand?flash的讀寫速率。
14、其進(jìn)一步的技術(shù)方案為,所述獲取讀寫性能測試的測試時長,包括:
15、獲取所述測試命令與所述性能獲取命令之間的時間間隔作為所述測試時長。
16、其進(jìn)一步的技術(shù)方案為,所述獲取所述pcie通信測試的測試結(jié)果,包括:
17、獲取所述pcie通信測試的第二測試時長;
18、獲取所述pcie通信測試過程中從所述hmb讀寫的第二數(shù)據(jù)總量;
19、基于所述第二數(shù)據(jù)總量與所述測試時長確定所述固態(tài)硬盤與所述主機(jī)之間的pcie通信速率。
20、第二方面,本發(fā)明實(shí)施例提供一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,所述方法應(yīng)用于主機(jī),所述方法包括:
21、向固態(tài)硬盤發(fā)送測試命令,其中,若接收到主機(jī)發(fā)送的測試命令,固態(tài)硬盤對所述固態(tài)硬盤的nand?flash進(jìn)行讀寫性能測試,以及在所述固態(tài)硬盤與所述主機(jī)之間進(jìn)行pcie通信測試;
22、向固態(tài)硬盤發(fā)送性能獲取命令,其中,若接收到主機(jī)發(fā)送的性能獲取命令,固態(tài)硬盤獲取所述讀寫性能測試的測試結(jié)果以及獲取所述pcie通信測試的測試結(jié)果;將所述讀寫性能測試的測試結(jié)果以及所述pcie通信測試的測試結(jié)果發(fā)送給主機(jī)。
23、第三方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢裝置,其包括用于執(zhí)行上述方法的單元。
24、第四方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,其包括存儲器及處理器,所述存儲器上存儲有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)上述方法。
25、第五方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),所述存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序當(dāng)被處理器執(zhí)行時可實(shí)現(xiàn)上述方法。
26、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。其中,所述方法包括:若接收到主機(jī)發(fā)送的測試命令,對所述固態(tài)硬盤的nand?flash進(jìn)行讀寫性能測試,以及在所述固態(tài)硬盤與所述主機(jī)之間進(jìn)行pcie通信測試;若接收到主機(jī)發(fā)送的性能獲取命令,獲取所述讀寫性能測試的測試結(jié)果以及獲取所述pcie通信測試的測試結(jié)果;將所述讀寫性能測試的測試結(jié)果以及所述pcie通信測試的測試結(jié)果發(fā)送給主機(jī)??梢?,主機(jī)只需要發(fā)送兩條命令,不需要主機(jī)端軟件進(jìn)行讀寫測試即可測出固態(tài)硬盤的讀寫性能,從而排除了主機(jī)端軟件原因,使得測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
1.一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于固態(tài)硬盤,所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述對所述固態(tài)硬盤的nand?flash進(jìn)行讀寫性能測試,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述在所述固態(tài)硬盤與所述主機(jī)之間進(jìn)行pcie通信測試,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述獲取所述讀寫性能測試的測試結(jié)果,包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述獲取讀寫性能測試的測試時長,包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述獲取所述pcie通信測試的測試結(jié)果,包括:
7.一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于主機(jī),所述方法包括:
8.一種固態(tài)硬盤讀寫性能自檢裝置,其特征在于,包括用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述方法的單元。
9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括存儲器及處理器,所述存儲器上存儲有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其特征在于,所述存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序當(dāng)被處理器執(zhí)行時可實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法。