本發(fā)明屬于射頻mems器件,具體涉及一種小型化mems腔體濾波器及其制備方法。
背景技術(shù):
1、濾波器通過在濾波器通帶頻率內(nèi)提供信號(hào)傳輸并在阻帶內(nèi)提供信號(hào)衰減的特性,用以控制微波系統(tǒng)中的頻率響應(yīng),廣泛應(yīng)用于各種民用和軍用的無線電系統(tǒng)中。腔體濾波器因其高矩形比、低損耗、高屏蔽、抗干擾的優(yōu)點(diǎn)備受關(guān)注。傳統(tǒng)小型化腔體濾波器主要分為兩種,一種為基于高精度加工的mems腔體濾波器,但是介質(zhì)硅的介電常數(shù)只有11.9,腔體尺寸偏大;一種為高介電常數(shù)的介質(zhì)腔體濾波器,但是加工精度低,加工后需要進(jìn)行調(diào)試,難以保證批量一致性。
2、傳統(tǒng)小型化腔體濾波器存在的主要問題是:如何在減小腔體濾波器體積的同時(shí)提高加工精度,保證產(chǎn)品性能和批量一致性。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明實(shí)施例提供一種小型化mems腔體濾波器及其制備方法,旨在解決傳統(tǒng)小型化腔體濾波器腔體尺寸大、加工精度低、性能不一致的問題。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:提供一種小型化mems腔體濾波器的制備方法,所述方法包括:
3、下層硅片的制備:
4、在所述下層硅片的下表面刻蝕一個(gè)或多個(gè)空氣腔;
5、在下層硅片的上下表面進(jìn)行金屬化處理;
6、上層硅片的制備:
7、在上層硅片的上下表面進(jìn)行金屬化處理;
8、高介電介質(zhì)塊的制備:
9、采用激光劃片或者機(jī)器劃片的方式制備所述高介電介質(zhì)塊;
10、對(duì)所述高介電介質(zhì)塊進(jìn)行打磨拋光;
11、將所述高介電介質(zhì)塊的下表面金屬化處理;
12、晶圓級(jí)鍵合:
13、將所述下層硅片與所述上層硅片進(jìn)行鍵合形成雙層硅片,經(jīng)劃片處理,得到小型化mems腔體濾波器芯片;
14、小型化mems腔體濾波器的裝配:
15、將所述高介電介質(zhì)塊放入所述小型化mems腔體濾波器芯片的空氣腔內(nèi),得到具有所述高介電介質(zhì)塊的小型化mems腔體濾波器芯片;
16、將具有所述高介電介質(zhì)塊的小型化mems腔體濾波器芯片與載體通過焊料焊接到一起,最終形成小型化mems腔體濾波器;所述載體為可伐載體或鉬銅載體。
17、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,所述下層硅片的制備,還包括:
18、在所述下層硅片上刻蝕多個(gè)下通孔并金屬化處理,用于形成濾波器的下諧振腔;
19、在所述下層硅片的上表面制備第一金屬化圖形,用于上下諧振腔之間耦合和信號(hào)傳輸;
20、在所述下層硅片的下表面制備第二金屬化圖形,作為接地。
21、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,所述空氣腔貫穿所述下層硅片,所述空氣腔的深度與所述下層硅片的厚度一致。
22、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,所述空氣腔的形狀為圓形、橢圓形或多邊形。
23、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,所述下通孔的形狀為圓錐形或多棱錐形。
24、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,采用光刻、濺射、電鍍、腐蝕,在所述下層硅片的上表面制備耦合孔、電路、諧振腔作為第一金屬化圖形。
25、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,所述上層硅片的制備,還包括:
26、在所述上層硅片上刻蝕多個(gè)上通孔,并金屬化處理,形成上諧振腔;
27、在所述上層硅片的下表面制備第三金屬化圖形,以在晶圓級(jí)鍵合時(shí)與所述第一金屬化圖形對(duì)準(zhǔn);
28、在所述上層硅片的上表面制備第四金屬化圖形,作為接地。
29、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,所述上通孔的形狀為圓錐形或多棱錐形。
30、結(jié)合第一方面,在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中,采用光刻、濺射、電鍍、腐蝕,在所述上層硅片的下表面制備耦合孔、電路、諧振腔作為第三金屬化圖形。
31、第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種小型化mems腔體濾波器,采用所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法制備,包括載體,所述載體上依次設(shè)置有下層硅片和上層硅片,所述下層硅片上設(shè)置有空氣腔,所述空氣腔內(nèi)設(shè)置有高介電介質(zhì)塊;所述載體為可伐載體或鉬銅載體。
32、本發(fā)明提供的小型化mems腔體濾波器及其制備方法,與現(xiàn)有技術(shù)相比,有益效果在于:
33、(1)利用兩層高阻硅作為小型化mems腔體濾波器的襯底材料,在下層硅片上設(shè)置空氣腔,在空氣腔中放置高介電介質(zhì)塊形成諧振腔,利于形成小型化mems腔體濾波器;另外,硅片采用高阻硅材料可以更方便的應(yīng)用于硅基微系統(tǒng)中,提高產(chǎn)品或者微系統(tǒng)的集成度。
34、(2)本發(fā)明提供的小型化mems腔體濾波器的腔體諧振器的諧振頻率會(huì)隨著高介電介質(zhì)塊介電常數(shù)的提高而降低,所以相同諧振頻率下,高介電介質(zhì)塊的介電常數(shù)越高,腔體尺寸越小,最終達(dá)到原有諧振腔1/2或1/4大小,實(shí)現(xiàn)濾波器的小型化。
35、(3)高介電介質(zhì)塊的介電常數(shù)可以根據(jù)設(shè)計(jì)進(jìn)行靈活調(diào)整,以達(dá)到在相同尺寸下實(shí)現(xiàn)不同諧振頻率的效果,為設(shè)計(jì)提供了很大的靈活性。
36、(4)芯片采用晶圓級(jí)封裝工藝,上接地面、金屬化通孔和下接地面形成一個(gè)全金屬屏蔽的腔體結(jié)構(gòu),增大了諧振腔的q值,減小了濾波器的損耗,實(shí)現(xiàn)了小損耗、高矩形比效果。
37、(5)采用mems工藝制備,工藝穩(wěn)定可靠,有利于降低產(chǎn)品成本和提高產(chǎn)品的可靠性和一致性。
38、因此,本發(fā)明提供的小型化mems腔體濾波器,利用mems工藝制造腔體濾波器,在mems腔體濾波器中使用高介電常數(shù)的高介電介質(zhì)塊填充到空氣腔中,能夠使mems腔體濾波器整體的尺寸大大降低,具有小型化特點(diǎn);并且由于采用mems工藝制備的腔體濾波器,具備小損耗、高矩形比、高可靠、高一致性、高精度、高集成度、全屏蔽、抗干擾的特點(diǎn)。
1.一種小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述方法包括:
2.如權(quán)利要求1所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述下層硅片(2)的制備,還包括:
3.如權(quán)利要求2所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述空氣腔(7)貫穿所述下層硅片(2),所述空氣腔(7)的深度與所述下層硅片(2)的厚度一致。
4.如權(quán)利要求2所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述空氣腔(7)的形狀為圓形、橢圓形或多邊形。
5.如權(quán)利要求2所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述下通孔(5)的形狀為圓錐形或多棱錐形。
6.如權(quán)利要求2所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,采用光刻、濺射、電鍍、腐蝕,在所述下層硅片(2)的上表面制備耦合孔、電路、諧振腔作為第一金屬化圖形。
7.如權(quán)利要求2所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述上層硅片(3)的制備,還包括:
8.如權(quán)利要求7所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,所述上通孔(6)的形狀為圓錐形或多棱錐形。
9.如權(quán)利要求7所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法,其特征在于,采用光刻、濺射、電鍍、腐蝕,在所述上層硅片(3)的下表面制備耦合孔、電路、諧振腔作為第三金屬化圖形。
10.一種小型化mems腔體濾波器,采用如權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的小型化mems腔體濾波器的制備方法制備,其特征在于,包括載體(1),所述載體(1)上依次設(shè)置有下層硅片(2)和上層硅片(3),所述下層硅片(2)上設(shè)置有空氣腔(7),所述空氣腔(7)內(nèi)設(shè)置有高介電介質(zhì)塊(4);所述載體(1)為可伐載體或鉬銅載體。