本實(shí)用新型涉及射頻測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

近幾年，隨著長期演進(jìn)(Long Term Evolution，簡稱為LTE)技術(shù)的不斷發(fā)展，LTE智能終端大規(guī)模引入市場，各式各樣的手機(jī)終端越來越吸引用戶的關(guān)注，全球LTE用戶數(shù)飛速增長。全球的移動(dòng)通信產(chǎn)業(yè)都在積極推動(dòng)LTE的變革與創(chuàng)新，各大運(yùn)營商、芯片廠商、手機(jī)廠商紛紛選擇LTE，并進(jìn)行大量研究以及后續(xù)的部署。在LTE技術(shù)迅速發(fā)展的今天，各式終端、新型芯片層出不窮，終端的測試技術(shù)是能夠保障LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵，能夠快速并且高效地檢測終端是否可以滿足運(yùn)營商網(wǎng)絡(luò)以及用戶需求，是LTE產(chǎn)業(yè)化的重點(diǎn)問題。

LTE終端的性能質(zhì)量，標(biāo)志著LTE技術(shù)的成熟與否，并且代表了整個(gè)移動(dòng)通信行業(yè)產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展高度。終端的射頻指標(biāo)，直接反映了終端的接入網(wǎng)絡(luò)性能以及信號(hào)質(zhì)量的好壞，是終端性能測試中的重點(diǎn)，也是移動(dòng)通信技術(shù)發(fā)展的核心。對(duì)終端射頻性能的測試，可以檢驗(yàn)產(chǎn)品是否滿足現(xiàn)有的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，也是能夠保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。

依據(jù)國家針對(duì)接入公用電信網(wǎng)的各種設(shè)備實(shí)行的進(jìn)網(wǎng)許可制度，需要對(duì)各類終端進(jìn)行進(jìn)網(wǎng)測試。LTE終端作為目前國內(nèi)外發(fā)展最迅速的一類終端，其各項(xiàng)指標(biāo)的進(jìn)網(wǎng)測試也是現(xiàn)在各大手機(jī)廠商關(guān)注的重點(diǎn)。

目前，市場上用于測試LTE終端射頻性能的測試系統(tǒng)，大都是各大測試儀表廠家用多塊單一儀表搭建起來的，或者是根據(jù)不同的測試要求來搭建不同的測試環(huán)境，并且需要測試人員對(duì)測試儀表進(jìn)行手動(dòng)操作及配置。前者增加了測試的成本，后者增加了測試時(shí)間以及測試的不穩(wěn)定性。

多塊儀表搭配使用，儀表間接線過多，鏈路驗(yàn)證及校準(zhǔn)十分繁瑣，射頻接口箱設(shè)計(jì)復(fù)雜，增加了儀表的設(shè)計(jì)和使用成本，儀表的增多也會(huì)導(dǎo)致后期系統(tǒng)維護(hù)成本的增加。針對(duì)上述問題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型提供了一種LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中LTE終端射頻測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)復(fù)雜，成本高以及測試不穩(wěn)定的問題。

根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供了一種LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)，包括：系統(tǒng)模擬器、信號(hào)源、頻譜分析儀、功率計(jì)、射頻接口箱以及工業(yè)控制計(jì)算機(jī)；所述系統(tǒng)模擬器，連接至所述射頻接口箱，用于輸出下行信號(hào)，通過所述射頻接口箱與被測LTE終端建立通信連接；所述信號(hào)源，連接至所述射頻接口箱，用于在測試過程中輸出干擾信號(hào)；所述頻譜分析儀，連接至所述射頻接口箱，用于對(duì)所述射頻接口箱內(nèi)傳輸?shù)男盘?hào)進(jìn)行頻域測試；所述功率計(jì)，連接至所述射頻接口箱，用于對(duì)所述射頻接口箱內(nèi)的射頻路徑進(jìn)行校準(zhǔn)；所述射頻接口箱，連接至所述被測LTE終端，用于對(duì)上行信號(hào)和下行信號(hào)進(jìn)行分離，并提供傳輸上行信號(hào)的射頻路徑和傳輸下行信號(hào)的射頻路徑；所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)，連接至所述系統(tǒng)模擬器、所述信號(hào)源、所述頻譜分析儀、所述功率計(jì)及所述射頻接口箱，用于在測試過程中輸出指令給所述系統(tǒng)模擬器、所述信號(hào)源、所述頻譜分析儀、所述功率計(jì)及所述射頻接口箱。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述射頻接口箱包括：定向耦合器、射頻開關(guān)以及連接端口；所述定向耦合器，用于對(duì)上行信號(hào)和下行信號(hào)進(jìn)行分離；所述射頻開關(guān)，用于切換射頻路徑；所述連接端口，用于實(shí)現(xiàn)與所述系統(tǒng)模擬器、所述信號(hào)源、所述頻譜分析儀以及所述被測LTE終端的端口的連接；所述定向耦合器、所述射頻開關(guān)及所述連接端口通過射頻連接電纜相連。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述連接端口包括：第一端口用于連接至所述系統(tǒng)模擬器的串行COM端口；第二端口用于連接至所述系統(tǒng)模擬器的異步AUX端口；第三端口和第四端口用于連接至所述信號(hào)源的輸出端口；第五端口用于連接至所述頻譜分析儀的輸入端；Rx端口用于連接至所述被測LTE終端的RX射頻口；TRx端口用于連接至所述被測LTE終端的TRX射頻口。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述射頻開關(guān)是單刀雙擲開關(guān)。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述射頻接口箱還包括：可控USB接口，用于對(duì)所述被測LTE終端進(jìn)行上下電處理。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述系統(tǒng)還包括：直流源，連接至所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)和所述被測LTE終端，用于在所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)的控制下輸出預(yù)設(shè)電壓給所述被測LTE終端。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)源包括：矢量信號(hào)源和微波信號(hào)源；所述干擾信號(hào)包括：矢量干擾信號(hào)和單頻干擾信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過通用接口總線GPIB連接至所述系統(tǒng)模擬器、所述信號(hào)源、所述頻譜分析儀及所述功率計(jì)；所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過網(wǎng)線端口連接至所述射頻接口箱。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述系統(tǒng)模擬器是基帶衰落模擬器。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述頻譜分析儀用于對(duì)所述射頻接口箱內(nèi)傳輸?shù)男盘?hào)進(jìn)行頻域雜散測試。

通過本實(shí)用新型的LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)，集成了系統(tǒng)模擬器、信號(hào)源、頻譜分析儀和功率計(jì)，使用射頻接口箱和工業(yè)控制計(jì)算機(jī)來進(jìn)行鏈路控制及連接，結(jié)構(gòu)簡單，成本低，無需測試人員手動(dòng)操作儀表，鏈路驗(yàn)證及校準(zhǔn)方便可靠，從而使測試穩(wěn)定，實(shí)現(xiàn)LTE終端射頻一致性測試。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限定。在附圖中：

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的射頻接口箱的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例的接收機(jī)雜散測試時(shí)的射頻接口箱的連接示意圖；

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例的接收機(jī)帶內(nèi)阻塞測試時(shí)的射頻接口箱的連接示意圖；

圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例的性能測試時(shí)的射頻接口箱的連接示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)，射頻一致性測試包括：發(fā)射機(jī)測試、接收機(jī)測試、性能測試和信道質(zhì)量指示(Channel Quality Indicator，簡稱為CQI)測試。

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，該系統(tǒng)包括如下儀器(或儀表)：系統(tǒng)模擬器10、信號(hào)源20、頻譜分析儀30、功率計(jì)40、射頻接口箱50以及工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60。

系統(tǒng)模擬器10，連接至射頻接口箱50，用于輸出下行信號(hào)，通過射頻接口箱50與被測LTE終端70建立通信連接，以進(jìn)行射頻性能測試。該系統(tǒng)模擬器10模擬基站，輸出基站信號(hào)(即下行信號(hào))，例如，TD-LTE(Time Division Long Term Evolution，分時(shí)長期演進(jìn))基站信號(hào)和FDD-LTE(Frequency Division Duplex Long Term Evolution，頻分雙工長期演進(jìn))基站信號(hào)?；鞠蚪K端傳輸?shù)男盘?hào)為下行信號(hào)，終端向基站傳輸?shù)男盘?hào)為上行信號(hào)。上述系統(tǒng)模擬器10可以是基帶衰落模擬器。

信號(hào)源20，連接至射頻接口箱50，用于在測試過程中輸出干擾信號(hào)。信號(hào)源20可以包括：矢量信號(hào)源和微波信號(hào)源。相應(yīng)的，信號(hào)源20輸出的干擾信號(hào)可以包括：矢量干擾信號(hào)和單頻干擾信號(hào)。

頻譜分析儀30，連接至射頻接口箱50，用于對(duì)射頻接口箱50內(nèi)傳輸?shù)男盘?hào)進(jìn)行頻域測試，例如，主要用于進(jìn)行頻域雜散測試。

功率計(jì)40，連接至射頻接口箱50，用于對(duì)射頻接口箱50內(nèi)的射頻路徑進(jìn)行校準(zhǔn)。具體的，功率計(jì)40用于測試前的鏈路校準(zhǔn)，判斷射頻路徑兩端的功率，確定路徑損耗，并對(duì)該路徑損耗進(jìn)行補(bǔ)償，以保證測試準(zhǔn)確度。

射頻接口箱50，連接至被測LTE終端70，用于對(duì)上行信號(hào)和下行信號(hào)進(jìn)行分離，并提供傳輸上行信號(hào)的射頻路徑和傳輸下行信號(hào)的射頻路徑(即實(shí)現(xiàn)射頻路徑的轉(zhuǎn)換)。

工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60，連接至系統(tǒng)模擬器10、信號(hào)源20、頻譜分析儀30、功率計(jì)40及射頻接口箱50，用于在測試過程中輸出指令給系統(tǒng)模擬器10、信號(hào)源20、頻譜 分析儀30、功率計(jì)40及射頻接口箱50。其中，該指令可以控制儀器進(jìn)行相應(yīng)的操作。

通過上述實(shí)施例，測試系統(tǒng)集成了系統(tǒng)模擬器10、信號(hào)源20、頻譜分析儀30和功率計(jì)40，使用射頻接口箱50和工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60來進(jìn)行鏈路控制及連接，結(jié)構(gòu)簡單，成本低，無需測試人員手動(dòng)操作儀表，鏈路驗(yàn)證及校準(zhǔn)方便可靠，從而使測試穩(wěn)定，實(shí)現(xiàn)LTE終端射頻一致性測試，完整地支持LTE射頻指標(biāo)進(jìn)網(wǎng)測試中要求的項(xiàng)目。

被測LTE終端70與該測試系統(tǒng)中的各個(gè)儀器通過射頻接口箱50連接及通信。上述測試系統(tǒng)的工作原理如下：系統(tǒng)模擬器10輸出的下行有用信號(hào)或經(jīng)過系統(tǒng)模擬器10內(nèi)部基帶衰落的下行有用信號(hào)，以及信號(hào)源20輸出的干擾信號(hào)進(jìn)入射頻接口箱50，經(jīng)過射頻接口箱50中所配置的射頻路徑后輸入到被測LTE終端70的天線端口。被測LTE終端70發(fā)射的上行信號(hào)同樣進(jìn)入射頻接口箱50，經(jīng)過上行鏈路，最終輸入到系統(tǒng)模擬器10的端口或輸入到頻譜分析儀30來測量其在頻域上的指標(biāo)。系統(tǒng)模擬器10、射頻接口箱50和被測LTE終端70，形成一個(gè)完整的通信回路，射頻接口箱50實(shí)現(xiàn)的是上行/下行信號(hào)的傳送路徑。工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60可以通過GPIB總線或其他控制電纜對(duì)該測試系統(tǒng)中的各個(gè)儀器進(jìn)行控制，完成射頻一致性測試。功率計(jì)40用于測試前的鏈路校準(zhǔn)。

在一個(gè)實(shí)施例中，射頻接口箱50可以包括：定向耦合器、射頻開關(guān)以及連接端口；定向耦合器、射頻開關(guān)及連接端口通過射頻連接電纜相連。其中，定向耦合器用于對(duì)上行信號(hào)和下行信號(hào)進(jìn)行分離；射頻開關(guān)用于切換射頻路徑；連接端口用于實(shí)現(xiàn)與系統(tǒng)模擬器10、信號(hào)源20、頻譜分析儀30以及被測LTE終端70的端口的連接。其中，定向耦合器可以使用寬頻定向耦合器，寬頻的范圍是1GHz至20GHz。

連接端口可以包括：第一端口、第二端口、第三端口、第四端口、第五端口、Rx端口和TRx端口。其中，第一端口用于連接至系統(tǒng)模擬器10的串行COM端口；第二端口用于連接至系統(tǒng)模擬器10的異步AUX端口；第三端口和第四端口用于連接至信號(hào)源20的輸出端口；第五端口用于連接至頻譜分析儀30的輸入端；Rx端口用于連接至被測LTE終端70的RX射頻口；TRx端口用于連接至被測LTE終端70的TRX射頻口。

射頻開關(guān)可以是單刀雙擲開關(guān)。

射頻接口箱50還可以包括：可控USB接口，是供電端口，用于對(duì)被測LTE終 端70進(jìn)行上下電處理。

射頻接口箱50是整個(gè)測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)射頻信號(hào)路徑轉(zhuǎn)換的重要組件，通過控制射頻開關(guān)和定向耦合器實(shí)現(xiàn)上/下行信號(hào)的分離，對(duì)被測終端進(jìn)行有效且針對(duì)性的測試。下面以圖2為例，對(duì)于射頻接口箱50進(jìn)行詳細(xì)說明。

在圖2中，射頻接口箱50包括四個(gè)定向耦合器C1、C2、C3和C4，用于將單路信號(hào)分成幾路，進(jìn)行功率分配(一般是等功率分配)，將上下行信號(hào)進(jìn)行分離。射頻開關(guān)K1是單刀雙擲開關(guān)。端口1用于連接到系統(tǒng)模擬器10的COM端口(串行端口)，端口2用于連接到系統(tǒng)模擬器10的AUX端口(異步端口)。Rx端口(接收端口)連接到被測LTE終端70的RX射頻口，TRx(收發(fā)端口)用于連接到被測LTE終端70的TRX射頻口。端口3和端口4用于連接到矢量信號(hào)源和微波信號(hào)源的輸出端口，在射頻測試時(shí)傳輸干擾信號(hào)。端口5用于連接到頻譜分析儀30的輸入端。圖2中，L1至L16為射頻連接電纜。

本實(shí)施例的射頻接口箱，采用寬頻無源器件(即定向耦合器)，減少了射頻接口箱內(nèi)的器件數(shù)量，減輕了射頻接口箱的設(shè)計(jì)復(fù)雜度，提高了射頻接口箱的重用性。且采用寬頻對(duì)頻段的擴(kuò)展無限制。測試時(shí)對(duì)應(yīng)的射頻路徑相對(duì)較少，對(duì)后期鏈路驗(yàn)證和鏈路校準(zhǔn)都提供了方便，節(jié)約測試時(shí)間。針對(duì)不同的測試項(xiàng)目，通過調(diào)節(jié)射頻接口箱50中的射頻開關(guān)，改變相應(yīng)的路徑使信號(hào)通過相應(yīng)的無源器件，實(shí)現(xiàn)射頻接口箱50中的射頻路徑切換，實(shí)現(xiàn)上/下行信號(hào)的分離，達(dá)到測試要求，完成一致性測試。

在一個(gè)實(shí)施例中，上述系統(tǒng)還可以包括：直流源，通過通用接口總線(General-Purpose Interface Bus，簡稱為GPIB)連接至工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60和被測LTE終端70，用于在工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60的控制下輸出預(yù)設(shè)電壓給被測LTE終端70，其中，該預(yù)設(shè)電壓可以控制被測LTE終端70的開關(guān)機(jī)。

上述該系統(tǒng)支持對(duì)LTE終端的射頻性能進(jìn)行測試，本實(shí)施例中，接入直流源可以輔助自動(dòng)化測試，具體的，可以使用終端自帶的AT指令(Attention)或可控直流源控制LTE終端來進(jìn)行自動(dòng)化測試。例如，當(dāng)前測試的手機(jī)的開機(jī)電壓為3.8V，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60控制直流源輸出3.8V的電壓，從而控制手機(jī)開機(jī)。

在一個(gè)實(shí)施例中，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60通過GPIB連接至系統(tǒng)模擬器10、信號(hào)源20、頻譜分析儀30及功率計(jì)40；工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60通過網(wǎng)線端口連接至射頻接口箱50。具體的，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)60中可以安裝有GPIB控制卡和終端自動(dòng)測試系統(tǒng) 軟件。該終端自動(dòng)測試系統(tǒng)軟件運(yùn)行時(shí)，會(huì)通過GPIB總線和其他控制電纜(如網(wǎng)線)對(duì)該測試系統(tǒng)中的儀器進(jìn)行控制。

為了對(duì)上述LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)進(jìn)行更為清楚的解釋，下面結(jié)合具體的實(shí)施例來進(jìn)行說明，然而值得注意的是該實(shí)施例僅是為了更好地說明本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型不當(dāng)?shù)南薅ā?/p>

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例的接收機(jī)雜散測試時(shí)的射頻接口箱的連接示意圖，如圖3所示，系統(tǒng)模擬器10的下行信號(hào)通過寬頻定向耦合器C3(直通臂)、寬頻定向耦合器C1(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的TRX端口；另外一路下行信號(hào)通過寬頻定向耦合器C4(直通臂)、寬頻定向耦合器C2(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的RX端口。終端的TRX端口通過寬頻定向耦合器C1(耦合臂)、寬頻定向耦合器C3(直通臂)，連接到系統(tǒng)模擬器10的輸入端口，形成完整的回路。被測LTE終端70的TRX端口通過寬頻定向耦合器C1(直通臂)、射頻開關(guān)K1(1)，連接到頻譜分析儀30的輸入端口；被測LTE終端70的RX端口通過寬頻定向耦合器C2(直通臂)、射頻開關(guān)K1(2)，連接到頻譜分析儀30的輸入端口。被測LTE終端70的接收機(jī)雜散測試分為TRX和RX兩個(gè)端口分別進(jìn)行測量，通過射頻開關(guān)K1來切換控制路徑的選擇。

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例的接收機(jī)帶內(nèi)阻塞測試時(shí)的射頻接口箱的連接示意圖，如圖4所示，系統(tǒng)模擬器10的下行信號(hào)通過寬頻定向耦合器C3(直通臂)、寬頻定向耦合器C1(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的TRX端口；另外一路下行信號(hào)通過寬頻定向耦合器C4(直通臂)、寬頻定向耦合器C2(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的RX端口。被測LTE終端70的TRX端口通過寬頻定向耦合器C1(耦合臂)、寬頻定向耦合器C3(直通臂)，連接到系統(tǒng)模擬器10的輸入端口，形成完整的回路。信號(hào)源20的干擾信號(hào)通過寬頻定向耦合器C3(耦合臂)、寬頻定向耦合器C1(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的TRX端口；另外一路干擾信號(hào)通過寬頻定向耦合器C4(耦合臂)、寬頻定向耦合器C2(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的RX端口，以加載干擾信號(hào)。通過上述鏈路可以實(shí)現(xiàn)終端的接收機(jī)帶內(nèi)阻塞測試。

圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例的性能測試時(shí)的射頻接口箱的連接示意圖，如圖5所示，系統(tǒng)模擬器10的下行信號(hào)通過寬頻定向耦合器C3(直通臂)、寬頻定向耦合器C1(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的TRX端口；另外一路下行信號(hào)通過寬頻定向耦合 器C4(直通臂)、寬頻定向耦合器C2(耦合臂)，連接到被測LTE終端70的RX端口。終端的TRX端口通過寬頻定向耦合器C1(耦合臂)、寬頻定向耦合器C3(直通臂)，連接到系統(tǒng)模擬器10的輸入端口，形成完整的回路。通過上述鏈路可以實(shí)現(xiàn)性能測試。

綜上所述，本實(shí)用新型的LTE終端射頻一致性測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)實(shí)際測試需求以及儀表資源情況靈活配置，測試能力隨儀表的增減而相應(yīng)的增減。并且該測試系統(tǒng)中采用寬頻無源器件，減少了射頻接口箱的器件數(shù)量，減輕了射頻接口箱的設(shè)計(jì)復(fù)雜度，提高了射頻接口箱的重用性，寬頻使得對(duì)頻段的擴(kuò)展無限制。測試時(shí)對(duì)應(yīng)的射頻路徑相對(duì)較少，對(duì)后期鏈路驗(yàn)證和鏈路校準(zhǔn)都提供了方便，節(jié)約測試時(shí)間。由于對(duì)系統(tǒng)測試能力的優(yōu)化和整合，該測試系統(tǒng)對(duì)比商用LTE終端測試系統(tǒng)，具有減少成本，增加效率等優(yōu)點(diǎn)，例如，整合了衰落模式在系統(tǒng)模擬器里，無需使用額外的衰落儀表，節(jié)約成本。

在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本實(shí)用新型的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說明書中，對(duì)上述術(shù)語的示意性表述不一定指的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。

以上所述的具體實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例而已，并不用于限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。