1.單光子探測器探測致盲攻擊的監(jiān)測裝置，包括單光子探測器；其特征在于還包括：溫度監(jiān)測模塊、電壓監(jiān)測模塊、電流監(jiān)測模塊和參數(shù)監(jiān)測模塊；
溫度監(jiān)測模塊用于監(jiān)測單光子探測器的光敏元件的工作溫度；
電壓監(jiān)測模塊用于監(jiān)測單光子探測器的光敏元件的工作電壓和甄別閾值電壓；
電流監(jiān)測模塊用于監(jiān)測流過單光子探測器的光敏元件的光電流；光電流可通過電流表進行監(jiān)測，也可以通過對串聯(lián)電阻進行電壓采樣進行監(jiān)測；
參數(shù)監(jiān)測模塊用于將實時指標數(shù)據(jù)與參考指標數(shù)據(jù)進行比較，以實現(xiàn)監(jiān)測；參數(shù)監(jiān)測模塊通過存儲標定的單光子探測器的探測效率、暗計數(shù)率和后脈沖率，形成參考指標數(shù)據(jù)；參數(shù)監(jiān)測模塊通過監(jiān)測工作時的單光子探測器的探測效率、暗計數(shù)率和后脈沖率，形成實時指標數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權利要求1所述的單光子探測器探測致盲攻擊的監(jiān)測裝置，其特征在于：溫度監(jiān)測模塊為溫度傳感器或者溫度計；所述溫度傳感器是熱電阻溫度傳感器或者熱電偶溫度傳感器。
3.根據(jù)權利要求1所述的單光子探測器探測致盲攻擊的監(jiān)測裝置，其特征在于：電壓監(jiān)測模塊為電壓采樣器、電壓表或者示波器。
4.根據(jù)權利要求3所述的單光子探測器探測致盲攻擊的監(jiān)測裝置，其特征在于：所述電壓監(jiān)測模塊還包括ADC芯片和CPU； ADC芯片用于對工作電壓和甄別閾值電壓采樣并進行模數(shù)轉換，然后輸出給CPU進行監(jiān)測。
5.根據(jù)權利要求1所述的單光子探測器探測致盲攻擊的監(jiān)測裝置，其特征在于：電流監(jiān)測模塊為電流采樣器、電流表或者示波器。
6.根據(jù)權利要求1所述的單光子探測器探測致盲攻擊的監(jiān)測裝置，其特征在于：單光子探測器是以InGaAs-APD或Si-APD為光敏元件的單光子探測器，或者是光電倍增管，或者是以超導納米線為吸收材料的超導單光子探測器。