技術編號：41952332
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及鈣鈦礦單晶，尤其涉及一種鉛基鈣鈦礦單晶及控制其生長的方法和應用。背景技術、x射線探測器作為一種重要的成像技術設備，在安防安檢、無損探傷、材料分析以及醫(yī)療成像等多個領域發(fā)揮著不可替代的作用。、根據工作機制劃分，x射線探測器分為間接探測和直接探測。間接x射線探測器利用閃爍體材料吸收x射線后發(fā)出可見光，再由光電倍增管把光信號轉換為電信號?；诠に嚒⒉牧弦约疤綔y原理的限制，間接x射線探測器的成像分辨率難以進一步提高，無法滿足未來高質量成像的發(fā)展方向。直接x射線探測器的工作原理是通過半導體材...
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