本發(fā)明涉及自動(dòng)化測試設(shè)備，更具體地說，是涉及一種電子元件多功能測試設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在電子元件制作完成后，需要對電子元件的各種電學(xué)性能、尺寸、孔位和外觀質(zhì)量進(jìn)行檢測，從而將不良品和良品分出。目前市面上的電子元件檢測設(shè)備一般只能對單個(gè)項(xiàng)目進(jìn)行檢測，不能在同一臺(tái)機(jī)器上對多種電學(xué)性能、尺寸、孔位和外觀質(zhì)量均進(jìn)行檢測，這樣將導(dǎo)致電子元件需要在多臺(tái)機(jī)器之間進(jìn)行轉(zhuǎn)運(yùn)，大大降低了檢測效率。此外，現(xiàn)有的電子元件檢測設(shè)備在批量檢測方面以及檢測后批量挑選方面還存在不足。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷，提供一種可完成電子元件的自動(dòng)上料、自動(dòng)排列運(yùn)輸、自動(dòng)搬運(yùn)、自動(dòng)電學(xué)性能檢測、自動(dòng)清潔、自動(dòng)位置校正、尺寸視覺檢測、上下表面缺陷視覺檢測、側(cè)面缺陷視覺檢測、內(nèi)孔缺陷視覺檢測、外孔缺陷視覺檢測、不良品自動(dòng)分選排料、電子元件的自動(dòng)下料等自動(dòng)化作業(yè)的電子元件多功能測試設(shè)備。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種電子元件多功能測試設(shè)備，包括用于將電子元件分排搬運(yùn)到排料輸送帶機(jī)構(gòu)上的上料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)，用于供電子元件分多排輸送的排料輸送帶機(jī)構(gòu)，用于將排料輸送帶機(jī)構(gòu)上的電子元件吸取移送到第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)的檢測工位上和將經(jīng)第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)檢測完的電子元件吸取移送到夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)上的吸料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)，用于對電子元件的底部部位進(jìn)行電學(xué)性能檢測的第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)，用于對電子元件的頂部部位進(jìn)行電學(xué)性能檢測的第二電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)，用于將吸料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)移送過來的電子元件依次夾取移送到第二電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)、電子元件清潔機(jī)構(gòu)和光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)，用于對電子元件的表面進(jìn)行酒精清潔的電子元件清潔機(jī)構(gòu)，用于對夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)移送過來的電子元件進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)輸?shù)墓鈱W(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)，用于對光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)上的電子元件進(jìn)行位置導(dǎo)向的電子元件位置導(dǎo)向機(jī)構(gòu)，用于對光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)上的電子元件的尺寸進(jìn)行檢測的尺寸視覺檢測機(jī)構(gòu)，用于對光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)上的電子元件的上下表面缺陷進(jìn)行檢測的上下表面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)，用于對光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)上的電子元件的側(cè)面缺陷進(jìn)行檢測的側(cè)面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)，用于對光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)上的電子元件的內(nèi)孔缺陷進(jìn)行檢測的內(nèi)孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)，用于對光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)上的電子元件的外孔缺陷進(jìn)行檢測的外孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)，用于對不同缺陷的不良品分類排出的不良品分選排料機(jī)構(gòu)，以及用于對判定為良品的電子元件進(jìn)行下料的良品下料機(jī)構(gòu)，所述上料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)位于排料輸送帶機(jī)構(gòu)的上方，所述排料輸送帶機(jī)構(gòu)、第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)、第二電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)、電子元件清潔機(jī)構(gòu)和光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)依次排列，所述吸料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)能夠在排料輸送帶機(jī)構(gòu)、第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)和夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)之間來回移動(dòng)，所述夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)位于第二電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)和電子元件清潔機(jī)構(gòu)的下方，所述電子元件位置導(dǎo)向機(jī)構(gòu)、尺寸視覺檢測機(jī)構(gòu)、上下表面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、側(cè)面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、內(nèi)孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、外孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、不良品分選排料機(jī)構(gòu)和良品下料機(jī)構(gòu)分別沿光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)方向圍繞著光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)進(jìn)行布置。

3、作為優(yōu)選的，所述上料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)包括上料搬運(yùn)支架、xyz軸上料移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組和上料搬運(yùn)夾，所述xyz軸上料移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組安裝在上料搬運(yùn)支架上，所述上料搬運(yùn)夾安裝在xyz軸上料移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組的z軸上，所述xyz軸上料移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組能夠帶動(dòng)上料搬運(yùn)夾沿x軸、y軸和/或z軸方向移動(dòng)。

4、作為優(yōu)選的，所述排料輸送帶機(jī)構(gòu)包括y軸輸送移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組、排料輸送帶、間隔擋塊和端部限位擋塊，所述排料輸送帶安裝在y軸輸送移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組上，所述y軸輸送移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組能夠帶動(dòng)排料輸送帶沿y軸方向移動(dòng)，所述間隔擋塊設(shè)有若干塊并分別沿x軸方向間隔排列在排料輸送帶的上方，相鄰兩塊間隔擋塊之間分別形成限位送料通道，所述端部限位擋塊沿y軸方向設(shè)置在排料輸送帶的出料側(cè)并位于所有間隔擋塊的端部。

5、作為優(yōu)選的，所述吸料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)包括吸料搬運(yùn)支架、xz軸吸料搬運(yùn)移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組、吸料搬運(yùn)安裝板和若干個(gè)吸料搬運(yùn)吸盤，所述xz軸吸料搬運(yùn)移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組安裝在吸料搬運(yùn)支架上，所述吸料搬運(yùn)安裝板安裝在xz軸吸料搬運(yùn)移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組的z軸，所述吸料搬運(yùn)吸盤沿x軸方向縱向排列安裝在吸料搬運(yùn)安裝板上。

6、作為優(yōu)選的，所述夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)包括定位搬運(yùn)臺(tái)、xz軸夾料搬運(yùn)移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組、夾料搬運(yùn)安裝板和若干個(gè)夾料搬運(yùn)夾，所述定位搬運(yùn)臺(tái)的頂部設(shè)有若干個(gè)沿x軸方向排列的真空吸料孔，所述xz軸夾料搬運(yùn)移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組安裝在定位搬運(yùn)臺(tái)的正面，所述夾料搬運(yùn)安裝板安裝在xz軸夾料搬運(yùn)移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組的z軸，所述夾料搬運(yùn)夾沿x軸方向水平排列安裝在夾料搬運(yùn)安裝板上。

7、作為優(yōu)選的，所述第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)包括第一檢測支架、檢測平臺(tái)、檢測座、檢測探針、檢測壓塊和壓塊升降驅(qū)動(dòng)氣缸，所述檢測平臺(tái)水平安裝在第一檢測支架上，所述檢測座設(shè)有至少一個(gè)且安裝在檢測平臺(tái)上，所述檢測探針縱向安裝在每個(gè)檢測座上，所述檢測壓塊分別位于每個(gè)檢測座的兩側(cè)，所述壓塊升降驅(qū)動(dòng)氣缸設(shè)有至少一個(gè)并分別與每個(gè)檢測座兩側(cè)的檢測壓塊相連接。

8、作為優(yōu)選的，所述第二電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)包括第二檢測支架、探測頭升降驅(qū)動(dòng)模組、探測頭安裝座和探測頭，所述探測頭升降驅(qū)動(dòng)模組安裝在第二檢測支架上，所述探測頭通過探測頭安裝座與探測頭升降驅(qū)動(dòng)模組傳動(dòng)連接。

9、作為優(yōu)選的，所述電子元件清潔機(jī)構(gòu)包括yz軸清潔移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組、清潔頭安裝板、清潔頭和酒精存放容器，所述清潔頭通過清潔頭安裝板安裝在yz軸清潔移動(dòng)驅(qū)動(dòng)模組的z軸上，所述酒精存放容器位于清潔頭的下方。

10、作為優(yōu)選的，所述光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)包括轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)器和透明的光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)器與光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤傳動(dòng)連接并帶動(dòng)其進(jìn)行間隙性轉(zhuǎn)動(dòng)。

11、作為優(yōu)選的，所述電子元件位置導(dǎo)向機(jī)構(gòu)包括位置導(dǎo)向調(diào)節(jié)架、位置導(dǎo)向升降調(diào)節(jié)座和位置導(dǎo)向塊，所述位置導(dǎo)向升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在位置導(dǎo)向調(diào)節(jié)架上，所述位置導(dǎo)向塊安裝在位置導(dǎo)向升降調(diào)節(jié)座上。

12、作為優(yōu)選的，所述尺寸視覺檢測機(jī)構(gòu)包括尺寸檢測調(diào)節(jié)架、尺寸檢測升降調(diào)節(jié)座和尺寸檢測相機(jī)，所述尺寸檢測升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在尺寸檢測調(diào)節(jié)架上，所述尺寸檢測相機(jī)安裝在尺寸檢測升降調(diào)節(jié)座上。

13、作為優(yōu)選的，所述上下表面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)包括上表面檢測調(diào)節(jié)架、上表面檢測升降調(diào)節(jié)座、上表面檢測相機(jī)、下表面檢測調(diào)節(jié)架、下表面檢測升降調(diào)節(jié)座和下表面檢測相機(jī)，所述上表面檢測升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在上表面檢測調(diào)節(jié)架上，所述上表面檢測相機(jī)安裝在上表面檢測升降調(diào)節(jié)座上，所述下表面檢測升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在下表面檢測調(diào)節(jié)架上，所述下表面檢測相機(jī)安裝在下表面檢測升降調(diào)節(jié)座上，所述上表面檢測相機(jī)位于光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的轉(zhuǎn)盤部位上方，所述下表面檢測相機(jī)位于光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的轉(zhuǎn)盤部位下方。

14、作為優(yōu)選的，所述側(cè)面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)包括側(cè)面檢測調(diào)節(jié)架、側(cè)面檢測升降調(diào)節(jié)座和側(cè)面檢測相機(jī)，所述側(cè)面檢測升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在側(cè)面檢測調(diào)節(jié)架上，所述側(cè)面檢測相機(jī)安裝在側(cè)面檢測升降調(diào)節(jié)座上。

15、作為優(yōu)選的，所述內(nèi)孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)包括內(nèi)孔檢測調(diào)節(jié)架、內(nèi)孔檢測升降調(diào)節(jié)座和內(nèi)孔檢測相機(jī)，所述內(nèi)孔檢測升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在內(nèi)孔檢測調(diào)節(jié)架上，所述內(nèi)孔檢測相機(jī)安裝在內(nèi)孔檢測升降調(diào)節(jié)座上。

16、作為優(yōu)選的，所述外孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)包括外孔檢測調(diào)節(jié)架、外孔檢測升降調(diào)節(jié)座和外孔檢測相機(jī)，所述外孔檢測升降調(diào)節(jié)座可升降地安裝在外孔檢測調(diào)節(jié)架上，所述外孔檢測相機(jī)安裝在外孔檢測升降調(diào)節(jié)座上。

17、作為優(yōu)選的，所述不良品分選排料機(jī)構(gòu)包括不良品分選排料支架、吹氣安裝架、若干個(gè)吹氣裝置和若干個(gè)不良品收集容器，所述吹氣裝置分別通過各自對應(yīng)的吹氣安裝架安裝在不良品分選排料支架上，所述吹氣裝置位于光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的轉(zhuǎn)盤部位上方，每個(gè)不良品收集容器均位于不良品分選排料支架的下方并布置在光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的外圍，每個(gè)不良品收集容器的入口均對準(zhǔn)吹氣裝置的吹氣口。

18、作為優(yōu)選的，所述良品下料機(jī)構(gòu)包括良品下料安裝架、良品下料導(dǎo)引塊和良品收集容器，所述良品下料導(dǎo)引塊安裝在良品下料安裝架，所述良品下料導(dǎo)引塊位于光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的轉(zhuǎn)盤部位上方，所述良品下料導(dǎo)引塊朝向良品收集容器的內(nèi)側(cè)面設(shè)有導(dǎo)引弧，所述良品下料導(dǎo)引塊的出料端延伸至良品收集容器的入口，所述良品收集容器位于光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)的外圍。

19、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果在于：

20、本發(fā)明的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，設(shè)有上料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)、排料輸送帶機(jī)構(gòu)、吸料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)、第一電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)、第二電學(xué)性能檢測機(jī)構(gòu)、夾料搬運(yùn)機(jī)構(gòu)、電子元件清潔機(jī)構(gòu)、光學(xué)玻璃轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)、電子元件位置導(dǎo)向機(jī)構(gòu)、尺寸視覺檢測機(jī)構(gòu)、上下表面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、側(cè)面缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、內(nèi)孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、外孔缺陷視覺檢測機(jī)構(gòu)、不良品分選排料機(jī)構(gòu)和良品下料機(jī)構(gòu)，可完成電子元件的自動(dòng)上料、自動(dòng)排列運(yùn)輸、自動(dòng)搬運(yùn)、自動(dòng)電學(xué)性能檢測、自動(dòng)清潔、自動(dòng)位置校正、尺寸視覺檢測、上下表面缺陷視覺檢測、側(cè)面缺陷視覺檢測、內(nèi)孔缺陷視覺檢測、外孔缺陷視覺檢測、不良品的自動(dòng)分選排料、電子元件的自動(dòng)下料等一系列自動(dòng)化作業(yè)，自動(dòng)化程度高，運(yùn)行穩(wěn)定可靠，使用方便，可實(shí)現(xiàn)電子元件的批量化檢測，大大提高了檢測效率，并且設(shè)備的占地空間小，降低了設(shè)備的使用成本。