本發(fā)明涉及微機電系統(tǒng)領(lǐng)域,具體涉及一種微機電系統(tǒng)器件及其制造方法。
背景技術(shù):
微機電系統(tǒng)技術(shù)是近年來高速發(fā)展的一項高新技術(shù)。與由傳統(tǒng)技術(shù)制作的對應(yīng)器件相比,微機電系統(tǒng)技術(shù)制作的器件在體積、功耗、重量及價格方面都有十分明顯的優(yōu)勢,而且其采用先進半導(dǎo)體制造工藝,可以實現(xiàn)微機電系統(tǒng)器件的批量制造,目前在市場上,微機電系統(tǒng)器件的主要應(yīng)用實例包括壓力器件、加速度計及硅麥克風(fēng)等。
微機電系統(tǒng)器件一般通過電容、電阻等來感知器件所受壓力、加速度與角速度等的大小,而電容、電阻的改變主要由器件內(nèi)部的彈簧等效系統(tǒng)來產(chǎn)生,因此此類微機電系統(tǒng)器件均具有敏感的可動結(jié)構(gòu),通常通過將器件與一個類似帽子的蓋子密封在一起來形成對器件內(nèi)部可動結(jié)構(gòu)的保護。
在電子元件制造發(fā)展過程中,晶片級封裝(wlp)是一種技術(shù)趨勢,微機電系統(tǒng)器件的封裝步驟在切片之前完成。利用傳統(tǒng)的工藝制成的微機電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的真空密封性差,微機電系統(tǒng)器件的封裝體積較大。另外,在傳統(tǒng)的封裝形式中,ic集成電路芯片和微機電系統(tǒng)傳感器芯片通過打線的方式封裝在一起,后續(xù)做成lga封裝,占用空間比較大。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
有鑒于此,本發(fā)明實施例致力于提供一種微機電系統(tǒng)器件及其制造方法,減小微機電系統(tǒng)器件最終封裝體積。
本發(fā)明實施例提供了一種微機電系統(tǒng)器件,包括:第一芯片和第二芯片,第一芯片和第二芯片之間設(shè)置有密封腔體,第一芯片為微機電系統(tǒng)傳感器芯片,第二芯片為ic集成電路芯片,第一芯片和第二芯片通過鍵合的方式連接。
在一個實施例中,第一芯片包括第一基底和順序設(shè)置在第一基底上的氧化層、引線層、犧牲層、微機電系統(tǒng)器件層、外部電氣連接層和止擋層。
在一個實施例中,第二芯片包括靠近第一芯片的第一表面和遠(yuǎn)離第一芯片的第二表面,第二芯片包括第二芯片、設(shè)置在第二芯片上的導(dǎo)電通孔、順序設(shè)置在第二芯片的第一表面上的第一金屬層和第二金屬層以及順序設(shè)置在第二芯片的第二表面上的第二氧化層、第三金屬層、鈍化層和金屬球,第一芯片的外部電氣連接層和第二芯片的第二金屬層連接,第一芯片和第二芯片通過連接鍵合在一起。
在一個實施例中,第一芯片的微機電系統(tǒng)器件層為活動層,包括活動部分和固定部分。
在一個實施例中,第一芯片的外部電氣連接層包括第一電氣連接層和第二電氣連接層,第二芯片的第二金屬層包括第三電氣連接層和第四電氣連接層,第一電氣連接層和第三電氣連對接,形成第一芯片和第二芯片之間的密封腔體,第二電氣連接層和第四連接層對接,完成第一芯片和第二芯片的電氣連接。
在一個實施例中,第一芯片的止擋層設(shè)置在第一芯片的電氣連接層的外圍。
本發(fā)明實施例還提供了一種微機電系統(tǒng)器件的制造方法,該制造方法包括以下步驟:
形成第一芯片,第一芯片為微機電系統(tǒng)傳感器芯片;
形成第二芯片,第二芯片為ic集成電路芯片;
鍵合第一芯片和第二芯片,在第一芯片和第二芯片之間設(shè)置密封腔體。
在一個實施例中,形成第一芯片包括提供第一基底并在第一基底上順序設(shè)置氧化層、引線層、犧牲層、微機電系統(tǒng)器件層、外部電氣連接層和止擋層。
在一個實施例中,第二芯片包括靠近第一芯片的第一表面和遠(yuǎn)離第一芯片的第二表面,形成第二芯片包括設(shè)置在第二芯片中形成導(dǎo)電通孔;在第二芯片中形成導(dǎo)電通孔;在第二芯片的第一表面上順序形成第一金屬層和第二金屬層。
在一個實施例中,微機電系統(tǒng)器件的制造方法還包括:
減薄鍵合后的第二芯片的第二表面;
對減薄后的第二芯片的第二表面進行氧化,通過淀積氧化硅形成第二氧化層;
去除第二氧化層上的部分氧化硅,露出導(dǎo)電通孔,然后淀積第三金屬層,使得第三金屬層和導(dǎo)電通孔相連接;
調(diào)整布線,然后淀積一層鈍化層;
光刻鈍化層以暴露第三金屬層中需要與外界對接的部分,在與外界對接的部分上植金屬球。
在一個實施例中,第二氧化層覆蓋導(dǎo)電通孔。
本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件兼具了第一芯片傳感器芯片和第二芯片信號處理芯片的功能,但第一芯片和第二芯片通過鍵合的方式連接,與傳統(tǒng)的通過打線等方式連接的微機電系統(tǒng)器件相比,明顯地縮小了微機電系統(tǒng)器件的最終封裝體積。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件的鍵合前的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本發(fā)明實施例的制作微機電系統(tǒng)器件的流程圖。
圖4a為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片預(yù)埋導(dǎo)電通孔后的示意圖。
圖4b為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片完成金屬層電路結(jié)構(gòu)后的示意圖。
圖4c為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片形成用來鍵合的金屬層結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖5為本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件第一芯片和第二芯片鍵合后的示意圖。
圖6為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片減薄后的示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
圖1為本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件的鍵合前的結(jié)構(gòu)示意圖,圖2為本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖1和圖2所示,本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件包括第一芯片101和第二芯片201,第一芯片101和第二芯片201之間設(shè)置有空腔。
第一芯片101為微機電系統(tǒng)傳感器芯片,其目的是感應(yīng)外界的加速度、角速度的變化量。第二芯片201為微機電系統(tǒng)集成電路芯片,其主要目的是將感應(yīng)到的第一芯片101的變化轉(zhuǎn)化為電路可以識別的信號,如電容、電阻的變化等。本發(fā)明實施例中第一芯片101將加速度、角速度的變化轉(zhuǎn)換成電容的變化,第二芯片201對感受到的第一芯片101的電容的變化進行信號處理,將其轉(zhuǎn)換為電信號輸出。
如圖1所示,第一芯片101包括第一基底102和順序設(shè)置在第一基底102上的氧化層103、引線層104、犧牲層105、微機電系統(tǒng)器件層106、外部電氣連接層107和止擋層109。
第一芯片101中的微機電系統(tǒng)器件層106為活動結(jié)構(gòu),微機電系統(tǒng)器件層106是第一芯片101的核心部分,包括活動部分106b和固定部分106a。微機電系統(tǒng)器件層106可以通過光刻及刻蝕來得到窄槽108,從而得到微機電系統(tǒng)器件,如加速度計、陀螺儀等。外部電氣連接層107包括第一連接層107a、107b和第二連接層107c、107d,外部電氣連接層107的作用是與第二芯片201實現(xiàn)電氣連接,其中第一連接層107a、107b為第一芯片101與第二芯片201實現(xiàn)密封鍵合的封裝環(huán),第二連接層107c、107d為第一芯片101與第二芯片201實現(xiàn)電氣連接的電氣對接點,外部電氣連接層107可以為鍺、金等金屬。
第一芯片101可以通過外延多晶硅的方法再腐蝕掉犧牲層來實現(xiàn)微機電系統(tǒng)器件層106的活動區(qū)域,也可以通過硅玻璃鍵合再進行深槽反應(yīng)離子刻蝕(drie)來實現(xiàn)微機電系統(tǒng)器件層106的活動區(qū)域。微機電系統(tǒng)器件層106是可以活動的,在加速度與角速度的作用下,其會產(chǎn)生微小的位移變化。位移變化一般有兩種形成方式,第一種為由活動部分106b與固定部分106a之間的間距發(fā)生變化,第二種為活動部分106b與引線層104之間的間隙變化產(chǎn)生。止擋層109為氧化硅,其主要目的是在第一芯片101與第二芯片201進行鍵合的過程中進行限位,從而有效防止合金外溢到微機電系統(tǒng)器件層106。
第二芯片201為ic集成電路芯片,其目的是將微機電系統(tǒng)器件層106感受到的位移變化轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘枴?/p>
第二芯片201的主要目的為實現(xiàn)與第一芯片101的電氣連接、與外部電路的電氣對接,同時通過金屬合金形成密閉腔體從而保護第一芯片101中的微機電系統(tǒng)器件層106。這就需要第二芯片201的正反兩面都存在電氣對接點,在本發(fā)明實施例中,通過生成一系列的導(dǎo)電通孔來實現(xiàn)此要求,第二芯片201靠近第一芯片101的表面為第一表面212,遠(yuǎn)離第一芯片101的表面為第二表面211。第一表面212上順序設(shè)置有第一金屬層203、第二金屬層204,其中用于第二金屬層204和第一芯片101的外部電氣連接層107連接,從而完成第一芯片101和第二芯片201的鍵合;第二表面211上順序設(shè)置有第二氧化層302、第三金屬層303、鈍化層304和金屬球305,其中金屬球305用于和外部元件進行電氣連接。
圖3為本發(fā)明實施例的制作微機電系統(tǒng)器件的流程圖,圖4a為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片預(yù)埋導(dǎo)電通孔后的示意圖,圖4b為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片完成金屬層電路結(jié)構(gòu)后的示意圖,圖4c為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片形成用來鍵合的金屬層結(jié)構(gòu)的示意圖,圖5為本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件第一芯片和第二芯片鍵合后的示意圖,圖6為本發(fā)明實施例微機電系統(tǒng)器件的第二芯片減薄后的示意圖。
微機電系統(tǒng)器件的制造方法如圖3所示,主要制備步驟如下:
s1:形成第一芯片101,第一芯片101為微機電系統(tǒng)傳感器芯片,第一芯片101包括第一基底102和順序設(shè)置在第一基底102上的氧化層103、引線層104、犧牲層105、微機電系統(tǒng)器件層106、外部電氣連接層107和止擋層109,外部電氣連接層107包括第一連接層107a、107b和第二連接層107c、107d,外部電氣連接層107的作用是與第二芯片201實現(xiàn)電氣連接,其中第一連接層107a、107b為第一芯片101與第二芯片201實現(xiàn)密封鍵合的封裝環(huán),第二連接層107c、107d為第一芯片101與第二芯片201實現(xiàn)電氣連接的電氣對接點。
s2:形成一第二芯片201,包括第一表面212和第二表面211,如圖4a所示,對第二芯片201的第一表面212預(yù)埋導(dǎo)電通孔202,以方便后續(xù)將電信號引出去。
s3:預(yù)埋完導(dǎo)電通孔202后,如圖4b所示,繼續(xù)對第二芯片201的第一表面202按照集成電路的常規(guī)工藝完成第一金屬層203。
s4:完成集成電路的布置后,如圖4c所示,需要增加一層與第一芯片101進行金屬鍵合的第二金屬層204,第二金屬層204包括第三連接層204a、204b和第四連接層204c、204d,用于第二金屬層204和外部電氣連接層107對接,以完成第一芯片101和第二芯片201的鍵合。
s5:經(jīng)過以上步驟后,下一步為對第一芯片101與第二芯片201進行鍵合,其中第一連接層107a、107b和第三連接層204a、204b進行對接,其主要目的是給微機電系統(tǒng)器件層106形成一個密閉的腔體,避免微機電系統(tǒng)活動層受到外界的干擾。第二連接層107c、107d和第四連接層204c、204d進行對接,其主要目的是將微機電系統(tǒng)信號與ic集成電路相連接,將微機電系統(tǒng)器件層106產(chǎn)生的微小電容變化通過第四連接層204c、204d傳遞到集成電路中去,經(jīng)過集成電路,輸出可以被外界識別并處理的電信號,完成鍵合后的第一芯片101與第二芯片201如圖5所示。
s6:完成第一芯片101和第二芯片201的鍵合后,需要對對鍵合后的芯片進行減薄,主要對第二芯片201進行減薄,可以通過cmp減薄的方式來實現(xiàn),其目的為露出導(dǎo)電通孔202,減薄厚的第一芯片101和第二芯片201如圖6所示。
s7:在減薄后的芯片的第二表面211進行氧化,通過淀積氧化硅來實現(xiàn)第二氧化層302,其主要起掩膜作用。其制備方法為采用各種淀積工藝,如:低壓化學(xué)氣相淀積(lpcvd)、等離子體化學(xué)氣相淀積(pecvd)或者熱氧化等工藝方法,在此過程中,第二氧化層302將導(dǎo)電通孔202覆蓋。
s8:通過光刻、干法刻蝕或者濕法腐蝕等工藝去除第二氧化層302上的部分氧化硅,露出導(dǎo)電通孔202,然后淀積第三金屬層303,使得第三金屬層303和電通孔202相連接。
s9:采用光刻、金屬腐蝕等工藝得到金屬走線,可以根據(jù)不同的設(shè)計需要、外部連接芯片的不同結(jié)構(gòu)形式來調(diào)整布線形式。其目的為合理排布電氣連接點,實現(xiàn)與外界電路等的優(yōu)化連接。當(dāng)形成走線后,淀積一層鈍化層304作為保護,其可采用氧化硅或者氮化硅材料。其制備方法為采用各種淀積工藝,如:低壓化學(xué)氣相淀積(lpcvd)、等離子體化學(xué)氣相淀積(pecvd)或者熱氧化等工藝方法。其目的為將走線層與外界隔開,起屏蔽的作用。
s10:光刻鈍化層304,使得第三金屬層303中需要與外界對接的部分暴露出來,在與外界對接的部分上植金屬球305,至此,微機電系統(tǒng)器件制造結(jié)束,得到如圖2所示的微機電系統(tǒng)器件。
本發(fā)明實施例通過將微機電系統(tǒng)傳感器芯片第一芯片101和集成電路芯片第二芯片201鍵合,然后對鍵合后的芯片進行一系列的處理,最終得到具有感應(yīng)外界的加速度、角速度的變化量的功能,并可以將上述變化量進行信號處理的微機電系統(tǒng)器件,本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件通過金屬球和外部元件進行電氣連接,本發(fā)明的微機電系統(tǒng)器件和外部元件的連接部不局限于本發(fā)明實施例的金屬球,也可以是金屬引腳等其他連接部。
本發(fā)明實施例的微機電系統(tǒng)器件兼具了第一芯片101傳感器芯片和第二芯片201信號處理芯片的功能,但第一芯片101和第二芯片201通過鍵合的方式連接,與傳統(tǒng)的通過打線等方式連接的微機電系統(tǒng)器件相比,明顯地縮小了微機電系統(tǒng)器件的最終封裝體積。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。