專利名稱：綜合測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子元器件測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種用于電感、高頻變壓器、電容和電阻測(cè)試的通用的綜合測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
在目前通用測(cè)試儀器中，由于元件和整機(jī)的質(zhì)量控制和新技術(shù)(無線通訊和開關(guān)電源等)的應(yīng)用，需要新的測(cè)試儀器來快速獲取元件參數(shù)。對(duì)于元件和整機(jī)的質(zhì)量保證體系而言，目前的測(cè)試儀雖然能夠給出基本的參數(shù)，但是沒有一種綜合測(cè)試儀器能夠同時(shí)提供四大重要功能:自動(dòng)測(cè)量一個(gè)指定頻段內(nèi)被測(cè)元件的頻率特性，自動(dòng)給出相應(yīng)的變化曲線；對(duì)于磁性元件，自動(dòng)測(cè)量有不同直流電流偏流時(shí)，電感實(shí)際特性的變化，并自動(dòng)給出特性曲線；高頻變壓器的匝比；對(duì)于電解電容，自動(dòng)測(cè)量實(shí)際的耐壓值。在無線通訊和開關(guān)電源等新技術(shù)領(lǐng)域，由于元件性能與工作頻率變化不呈線性；或者由于直流偏流影響，電感參數(shù)大幅度變化，需要用一種儀器來模擬并給出實(shí)際變化曲線，解決兀件實(shí)際參數(shù)在電路中大幅度變化造成電路不穩(wěn)定問題。另外，開關(guān)電源中的聞?lì)l變壓器的匝比測(cè)量和電解電容的實(shí)際耐壓測(cè)量也是很重要的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種綜合測(cè)試儀，能夠快速測(cè)量電子元件的頻率特性、有直流偏流時(shí)感性元件實(shí)際參數(shù)、高頻變壓器的匝比和電解電容的實(shí)際的耐壓值。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的綜合測(cè)試儀，包括:數(shù)控頻率發(fā)生器，根據(jù)設(shè)定的頻率范圍和頻率步進(jìn)，測(cè)試被測(cè)元件在指定頻段內(nèi)的參數(shù)變化曲線；數(shù)控直流電流發(fā)生器，根據(jù)設(shè)定的直流電流范圍和直流電流步進(jìn)，測(cè)試被測(cè)感性元件在指定直流電流變化范圍內(nèi)的參數(shù)變化曲線；數(shù)控直流電壓發(fā)生器，根據(jù)設(shè)定的直流電壓范圍和直流電壓步進(jìn)，測(cè)試被測(cè)電解電容器在指定直流電壓范圍內(nèi)的漏電變化曲線；綜合測(cè)試電路，與所述數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控直流電流發(fā)生器和數(shù)控直流電壓發(fā)生器相連接，獲得被測(cè)模擬信號(hào)；信號(hào)采集處理電路，與所述綜合測(cè)試電路相連接，根據(jù)獲得的被測(cè)模擬信號(hào)，獲取數(shù)據(jù)信號(hào)；信息綜合顯示及保存電路，與所述信號(hào)采集處理電路相連接，用于顯示測(cè)量信息并暫時(shí)保存測(cè)試結(jié)果；嵌入式控制器，按照測(cè)試前預(yù)先設(shè)定的參數(shù)，調(diào)整所述數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控電流發(fā)生器和數(shù)控電壓發(fā)生器的輸出，控制所述綜合測(cè)試電路獲得被測(cè)模擬信號(hào)，控制所述信號(hào)采集處理電路獲取數(shù)據(jù)信號(hào)，控制所述信息綜合顯示及保存電路顯示測(cè)量信息并暫時(shí)保存測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明是一種可以快速測(cè)量電感、高頻變壓器、電容、電阻的綜合測(cè)試儀，特別是能夠在一個(gè)指定頻段內(nèi)自動(dòng)測(cè)量被測(cè)元件的頻率特性，自動(dòng)給出相應(yīng)的變化曲線。對(duì)于磁性元件，能夠給出有不同直流電流偏流時(shí)，電感實(shí)際特性的變化，并自動(dòng)給出特性曲線。這就可以快速、明了的解決兩個(gè)難題:元件的頻率特性和電路中有直流偏流時(shí)電感的實(shí)際參數(shù)。本發(fā)明的綜合測(cè)試儀，能夠快速測(cè)量電子元件的頻率特性、有直流偏流時(shí)感性元件實(shí)際參數(shù)、高頻變壓器的匝比和電解電容的實(shí)際的耐壓值；特別是前三種測(cè)量，在無線通訊和開關(guān)電源等新技術(shù)領(lǐng)域，能夠有助于解決元件實(shí)際參數(shù)在電路中大幅度變化造成電路不穩(wěn)定的問題。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于電子元件制造中的參數(shù)測(cè)量、元件參數(shù)模擬仿真、元件參數(shù)改進(jìn)和元件檢驗(yàn)，也可以用于各種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)中的元件參數(shù)測(cè)量和元件檢驗(yàn)等
坐寸o本發(fā)明的綜合測(cè)試儀可廣泛適用于電子元件、電路的生產(chǎn)、科研和測(cè)試領(lǐng)域，可以作為質(zhì)量控制、自動(dòng)測(cè)試和元件參數(shù)模擬的重要工具。


下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明:附圖是所述綜合測(cè)試儀一實(shí)施例原理框圖。
具體實(shí)施例方式參見附圖所示，在本發(fā)明的一實(shí)施例中，所述綜合測(cè)試儀包括嵌入式控制器、數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控直流電流發(fā)生器、數(shù)控直流電壓發(fā)生器、綜合測(cè)試電路、信號(hào)采集處理電路、信息綜合顯示及保存電路、輸入/輸出接口、人機(jī)接口和電源。所述數(shù)控頻率發(fā)生器可以由使用者設(shè)定頻率范圍和頻率步進(jìn)，精確測(cè)試被測(cè)元件在指定頻段的參數(shù)變化曲線。這個(gè)功能同時(shí)可以用于測(cè)量高頻變壓器的匝比。所述頻率步進(jìn)是指從某個(gè)頻率開始，依照某個(gè)指定的最小頻率間隔，逐步增加。例如初始頻率為1kHz，頻率間隔為10Hz，則每次頻率增加10Hz，第一個(gè)頻率為1kHz，第二個(gè)頻率增加為1.01kHz，第三個(gè)頻率增加為1.02kHz，依次類推。所述數(shù)控直流電流發(fā)生器可以由使用者設(shè)定直流電流范圍和直流電流步進(jìn)，精確測(cè)試被測(cè)感性元件在指定直流電流變化范圍的參數(shù)變化曲線。所述直流電流步進(jìn)是指從某個(gè)直流電流開始，依照某個(gè)指定的最小直流電流間隔，逐步增加。例如初始直流電流為1A，直流電流間隔為0.01A，則每次直流電流增加0.01A，第一個(gè)直流電流為1A，第二個(gè)直流電流增加為1.01A，第三個(gè)直流電流增加為1.02A，依次類推。所述數(shù)控直流電壓發(fā)生器可以由使用者設(shè)定直流電壓范圍和直流電壓步進(jìn)，精確測(cè)試被測(cè)電解電容器在指定直流電壓范圍的漏電變化曲線。所述直流電壓步進(jìn)是指從某個(gè)直流電壓開始，依照某個(gè)指定的最小直流電壓間隔，逐步增力口。例如初始直流電壓為IV，直流電壓間隔為0.01V，則每次直流電壓增加0.01V，第一個(gè)直流電壓為IV，第二個(gè)直流電壓增加為1.01V，第三個(gè)直流電壓增加為1.02V，依次類推。
所述嵌入式控制器可以對(duì)除電源以外的，數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控直流電流發(fā)生器、數(shù)控直流電壓發(fā)生器、綜合測(cè)試電路、信號(hào)采集處理電路、信息綜合顯示及保存電路、輸入/輸出接口、人機(jī)接口進(jìn)行控制，按照測(cè)試前預(yù)先設(shè)定的參數(shù)，調(diào)整所述數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控電流發(fā)生器、數(shù)控電壓發(fā)生器的輸出，通過綜合測(cè)試電路獲得被測(cè)模擬信號(hào)，然后經(jīng)過信號(hào)采集處理電路獲取數(shù)據(jù)信號(hào)，再通過信息綜合顯示及保存電路顯示信息并暫時(shí)保存測(cè)試結(jié)果。所述嵌入式控制器可以通過輸入/輸出接口將測(cè)試數(shù)據(jù)送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步處理；還可以通過輸入/輸出接口或者人機(jī)接口，修改預(yù)先設(shè)定參數(shù)。以上通過具體實(shí)施方式
和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，但這些并非構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在不脫離本發(fā)明原理的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員還可做出許多變形和改進(jìn)，這些也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種綜合測(cè)試儀，其特征在于，包括: 數(shù)控頻率發(fā)生器，根據(jù)設(shè)定的頻率范圍和頻率步進(jìn)，測(cè)試被測(cè)元件在指定頻段內(nèi)的參數(shù)變化曲線； 數(shù)控直流電流發(fā)生器，根據(jù)設(shè)定的直流電流范圍和直流電流步進(jìn)，測(cè)試被測(cè)感性元件在指定直流電流變化范圍內(nèi)的參數(shù)變化曲線； 數(shù)控直流電壓發(fā)生器，根據(jù)設(shè)定的直流電壓范圍和直流電壓步進(jìn)，測(cè)試被測(cè)電解電容器在指定直流電壓范圍內(nèi)的漏電變化曲線； 綜合測(cè)試電路，與所述數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控直流電流發(fā)生器和數(shù)控直流電壓發(fā)生器相連接，獲得被測(cè)模擬信號(hào)； 信號(hào)采集處理電路，與所述綜合測(cè)試電路相連接，根據(jù)獲得的被測(cè)模擬信號(hào)，獲取數(shù)據(jù)信號(hào); 信息綜合顯示及保存電路，與所述信號(hào)采集處理電路相連接，用于顯示測(cè)量信息并暫時(shí)保存測(cè)試結(jié)果； 嵌入式控制器，按照測(cè)試前預(yù)先設(shè)定的參數(shù)，調(diào)整所述數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控電流發(fā)生器和數(shù)控電壓發(fā)生器的輸出，控制所述綜合測(cè)試電路獲得被測(cè)模擬信號(hào)，控制所述信號(hào)采集處理電路獲取數(shù)據(jù)信號(hào)，控制所述信息綜合顯示及保存電路顯示測(cè)量信息并暫時(shí)保存測(cè)試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的綜合測(cè)試儀，其特征在于:所述嵌入式控制器通過輸入/輸出接口將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送給計(jì)算機(jī)作進(jìn)一步處理。
3.如權(quán)利要求1所述的綜合測(cè)試儀，其特征在于:所述嵌入式控制器通過輸入/輸出接口或者人機(jī)接口，修改預(yù)先設(shè)定參數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種綜合測(cè)試儀，包括嵌入式控制器、數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控直流電流發(fā)生器、數(shù)控直流電壓發(fā)生器、綜合測(cè)試電路、信號(hào)采集處理電路、信息綜合顯示及保存電路。所述嵌入式控制器按照測(cè)試前預(yù)先設(shè)定的參數(shù)，調(diào)整所述數(shù)控頻率發(fā)生器、數(shù)控電流發(fā)生器、數(shù)控電壓發(fā)生器的輸出，通過綜合測(cè)試電路獲得被測(cè)模擬信號(hào)，然后經(jīng)過信號(hào)采集處理電路獲取數(shù)據(jù)信號(hào)，再通過信息綜合顯示及保存電路顯示信息并暫時(shí)保存測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明能夠快速測(cè)量電子元件的頻率特性、有直流偏流時(shí)感性元件實(shí)際參數(shù)、高頻變壓器的匝比和電解電容的實(shí)際的耐壓值。
文檔編號(hào)G01R31/00GK103197163SQ20121000496
公開日2013年7月10日 申請(qǐng)日期2012年1月9日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月9日
發(fā)明者葉志鋒, 楊核 申請(qǐng)人:葉志鋒, 南通聯(lián)鑫科技發(fā)展有限公司