專利名稱：一種測試頭的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于檢測射頻同軸連接器性能的測試頭。
背景技術：
通訊設備中使用的射頻同軸連接器，在產品出廠和使用時需要對其實際技術性能參數進行檢測，檢測時，射頻同軸連接器需要與檢測設備進行連接。如果直接將射頻同軸連接器連在檢測設備上，屏蔽性較差，檢測過程易受干擾產生較大誤差，因而需要使用專用的檢測連接器進行連接?，F有的檢測用連接器大多結構復雜，連接環(huán)節(jié)多，體積較大，成本高，同時由于在一定程度上改變了射頻同軸連接器的實際工作條件，使得測試結果并不能真實完全地反映被測連接器的實際技術參數。

發(fā)明內容
1、所要解決的技術問題:
現有檢測連接器結構復雜，連接環(huán)節(jié)多，體積較多，成本高等技術問題。2、技術方案:
本發(fā)明一種測試頭包括一個外殼4，外殼4內腔中設置兩個絕緣子(2，3)，兩個絕緣子中間有同心的通孔，通孔中有一根雙頭的插針1，插針一頭與被測試射頻同軸連接器連接，另一頭與檢測設備連接；外殼4外壁套有一個螺套5,外殼4外壁設有一環(huán)形凹槽,與之對應螺套5內壁設有一環(huán)形凹槽，在此內外凹槽間設置一個卡環(huán)6。3、有益效果:
本發(fā)明結構簡單、連接環(huán)節(jié)少、使用方便，同時由于其對檢測過程影響較小，在對射頻同軸連接器技術性能進行檢測時得到的測試結果與其實際工作技術參數最接近，誤差最小。


圖1本發(fā)明的結構示意圖。
具體實施例方式一種測試頭包括一個外殼4，外殼4內腔中設置兩個絕緣子(2，3)，兩個絕緣子中間有同心的通孔，通孔中有一根雙頭的插針1，插針一頭與被測試射頻同軸連接器連接，另一頭與檢測設備連接；外殼4外壁套有一個螺套5,外殼4外壁設有一環(huán)形凹槽,與之對應螺套5內壁設有一環(huán)形凹槽，在此內外凹槽間設置一個卡環(huán)6。如圖1所示:一種測試頭,包括:插針1、絕緣子2、絕緣子3、外殼4、螺套5、卡環(huán)6根據插針I(yè)兩端外徑的大小，依次將其壓入絕緣子2，絕緣子3，插針I(yè)較細的一端居中位置設有滾花或倒刺，防止插針I(yè)的軸向和縱向運動；將前面裝好的部件從右端壓入外殼4，外殼4內壁設有倒刺，防止絕緣子3和外殼4之間松動；將卡環(huán)6套在外殼4的外壁的環(huán)形凹槽內，并壓入螺套5，卡環(huán)6在外殼4和螺套5之間的凹槽內，螺套5可以繞著外殼4轉動而不會脫落。雖然本發(fā)明已以較佳實施例公開如上，但它們并不是用來限定本發(fā)明的，任何熟習此技藝者，在不脫離本發(fā)明之精神和范圍內，自當可作各種變化或潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍應當以本申請的權利要求保護范圍所界定的為準。
權利要求
1.一種測試頭，其特征在于:包括一個外殼(4),外殼(4)內腔中設置兩個絕緣子(2，3)，兩個絕緣子中間有同心的通孔，通孔中有一根雙頭的插針(1)，插針(I) 一頭與被測試射頻同軸連接器連接，另一頭與檢測設備連接；外殼(4)外壁套有一個螺套(5)，外殼(4)外壁設有一環(huán)形凹槽，與之對應螺套(5)內壁設有一環(huán)形凹槽，在此內外凹槽間設置一個卡環(huán)(6)。
2.如權利要求1所述的測試頭，其特征在于:插針(I)較細的一端居中位置設有滾花或倒刺。
3.如權利要求1所述的測試頭，其特征在于:外殼(4)內壁設有倒刺。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于檢測射頻同軸連接器性能的測試頭?，F有檢測連接器結構復雜，連接環(huán)節(jié)多，體積較多，成本高等技術問題。本發(fā)明一種測試頭，其特征在于包括一個外殼(4)，外殼(4)內腔中設置兩個絕緣子(2,3)，兩個絕緣子中間有同心的通孔，通孔中有一根雙頭的插針(1)，插針(1)一頭與被測試射頻同軸連接器連接，另一頭與檢測設備連接；外殼(4)外壁套有一個螺套(5)，外殼(4)外壁設有一環(huán)形凹槽，與之對應螺套(5)內壁設有一環(huán)形凹槽，在此內外凹槽間設置一個卡環(huán)(6)。本發(fā)明結構簡單、連接環(huán)節(jié)少、使用方便，同時由于其對檢測過程影響較小，在對射頻同軸連接器技術性能進行檢測時得到的測試結果與其實際工作技術參數最接近，誤差最小。
文檔編號G01R31/00GK103197165SQ20121000526
公開日2013年7月10日 申請日期2012年1月10日 優(yōu)先權日2012年1月10日
發(fā)明者戴志堅, 馮良平, 宗秋萍 申請人:鎮(zhèn)江華堅電子有限公司