專(zhuān)利名稱(chēng)：一種可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及光纖通信領(lǐng)域中的回波損耗測(cè)試裝置，特別涉及一種可控的包含光纖自動(dòng)打折模塊的回波損耗測(cè)試輔助裝置。
背景技術(shù)：
[0002]光在光器件或模組中傳輸時(shí)，會(huì)有部分光被反射回光路中。光器件或模組中的這種光反射(也稱(chēng)為回波)主要由菲涅耳反射(因?yàn)檎凵渎首兓a(chǎn)生)、向后瑞利散射(因?yàn)殡s質(zhì)微粒而產(chǎn)生)以及光傳播的方向性等因素產(chǎn)生的。回波損耗(Return Loss)計(jì)算方法如公式(I)所示[0003]RL = -IOlg(PyPi)(I)[0004]其中RL表示回波損耗，單位為dB ；P0表示反射光功率A表示入射光功率。[0005]其中，在現(xiàn)有的傳輸系統(tǒng)中，光被反射回發(fā)光器件或模組的光路中，在發(fā)射光路中帶入噪音、線寬、頻率方面的干擾，最終造成發(fā)射光的不穩(wěn)定，進(jìn)而產(chǎn)生系統(tǒng)誤碼?；夭〒p耗較大時(shí)，會(huì)嚴(yán)重影響傳輸系統(tǒng)的傳輸性能。為此，光器件或模組的制程中，必須監(jiān)測(cè)回波損耗參數(shù)。[0006]當(dāng)前對(duì)光纖的回波損耗參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的方法主要有以下三種。如圖IA所示，待測(cè)產(chǎn)品P的一端光纖與測(cè)試系統(tǒng)100的光纖進(jìn)行熔接，另一端進(jìn)行手工繞圈打折10?；蛘呷鐖DIB所示，待測(cè)產(chǎn)品P的一端光纖與測(cè)試系統(tǒng)100的光纖進(jìn)行熔接，另一端插入到折射率匹配液中20。或者如圖IC所示，待測(cè)產(chǎn)品P的一端光纖與測(cè)試系統(tǒng)100的光纖進(jìn)行熔接， 另一端接回?fù)p短路器中30。以上現(xiàn)有的三種方案的不足之處是手工化程度高，不同的人測(cè)試結(jié)果差異性大，大批量生產(chǎn)過(guò)程對(duì)工人的責(zé)任心要求也相對(duì)較高。發(fā)明內(nèi)容[0007]為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置。本實(shí)用新型提供一種可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置，包含一光纖壓塊、一光纖打折運(yùn)動(dòng)柱、一內(nèi)部光纖復(fù)位柱、一光纖復(fù)位擋塊；其特征在于該光纖壓塊分別設(shè)置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；且，該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱設(shè)置為上下錯(cuò)開(kāi)排列，由植入該輔助裝置的程序控制運(yùn)動(dòng)；該內(nèi)部光纖復(fù)位柱同時(shí)配合該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱的運(yùn)動(dòng)方向進(jìn)行移動(dòng)，從而輔助該光纖在該輔助裝置的內(nèi)部進(jìn)行移動(dòng)。[0008]其中，優(yōu)選實(shí)施方式為該光纖復(fù)位擋塊、該內(nèi)部光纖復(fù)位柱與該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱是聯(lián)動(dòng)的。[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是第一，將傳統(tǒng)的回波損失測(cè)試中的手動(dòng)打折光纖的工序升級(jí)為程序控制的打折模式；第二，此輔助測(cè)試裝置提高回?fù)p測(cè)試重復(fù)性，因此，相對(duì)傳統(tǒng)測(cè)試方法來(lái)說(shuō)更簡(jiǎn)潔、更規(guī)范；第三，此輔助測(cè)試裝置與產(chǎn)品的測(cè)試軟件整合，優(yōu)化產(chǎn)品的測(cè)試系統(tǒng)，提高產(chǎn)品的測(cè)試效率；最后，此回?fù)p測(cè)試輔助裝置，由于其內(nèi)部植入了程序，它可以與產(chǎn)品的已有測(cè)試軟件進(jìn)行整合，這樣可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)IL、RL等參數(shù)的同步測(cè)試，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)測(cè)試的全面自動(dòng)化。


[0010]圖Ia-圖Ic是現(xiàn)有的回波損耗參數(shù)的測(cè)試裝置的示意圖。[0011]圖2是本實(shí)用新型的可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置的示意圖。[0012]圖3是光纖打折啟動(dòng)后光纖42的打折狀態(tài)的示意圖。[0013]圖4是本實(shí)用新型的測(cè)試輔助裝置應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)中的示意圖。
具體實(shí)施方式
[0014]
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型做更進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。[0015]如圖2所示為本實(shí)用新型的可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置。本實(shí)用新型的可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置40包括以下結(jié)構(gòu)光纖壓塊43、光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44、內(nèi)部光纖復(fù)位柱45、光纖復(fù)位擋塊47。[0016]其中，光纖壓塊43設(shè)置在光纖42的接入口(Input)和輸出口(Output)處，用以防止處于該輔助裝置40外面的待測(cè)產(chǎn)品P的光纖滑動(dòng)。光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44設(shè)置為上下錯(cuò)開(kāi)排列，由控制電路中植入的程序控制其按圖示的箭頭向A或B方向上下相對(duì)運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)繞在裝置40內(nèi)部的光纖42的自動(dòng)打折彎曲；其中，上述的光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44可設(shè)置為一排固定、一排活動(dòng)或兩排同時(shí)活動(dòng)的錯(cuò)開(kāi)陣列形式。內(nèi)部光纖復(fù)位柱45在光纖42進(jìn)行打折彎曲時(shí)，配合光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44的上下運(yùn)動(dòng)而沿著圖2所示的箭頭C、D的方向左右運(yùn)動(dòng)， 完成光纖42在輔助裝置40內(nèi)部的移動(dòng)。因此，光纖復(fù)位擋塊47、內(nèi)部光纖復(fù)位柱45與光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44的運(yùn)動(dòng)是聯(lián)動(dòng)的，其主要作用是光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44復(fù)位時(shí)對(duì)光纖42進(jìn)行從彎曲狀態(tài)復(fù)位成自然拉直狀態(tài)的動(dòng)作。[0017]請(qǐng)同時(shí)參考圖3。圖3為光纖打折啟動(dòng)后光纖42的打折狀態(tài)，其中，光纖42沿著光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44的運(yùn)動(dòng)軌跡進(jìn)行自動(dòng)打折。其中，輔助裝置40內(nèi)的光纖42打折程度是由光纖打折運(yùn)動(dòng)柱44的直徑和控制電路所控制的光纖打折運(yùn)功柱44的移動(dòng)距離所決定。[0018]本實(shí)用新型的測(cè)試輔助裝置40應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)中如圖4所示。本實(shí)用新型的測(cè)試系統(tǒng)300由現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)100及功率測(cè)試儀表200組成。其中，待測(cè)產(chǎn)品P的一端光纖熔接在現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)100光纖之后，另兩端光纖分別與輔助裝置40的兩個(gè)輸入端(Input)光纖熔接，現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)100中含有功率測(cè)試儀表，測(cè)試待測(cè)產(chǎn)品P的入射光功率Pi及反射光功率P。。上述兩個(gè)輔助裝置40中的輸出端(Output)光纖分別接入上述測(cè)試系統(tǒng)300的功率測(cè)試儀表200上，從而測(cè)出待測(cè)產(chǎn)品P的反射光功率P。。其中，插入損耗IL (Insertion Loss)的計(jì)算如公式(2)所示[0019]IL = -IOlg(P1AV)(2)[0020]其中IL表示插入損耗，單位為dB J1表示入射光功率P/經(jīng)過(guò)待測(cè)器件P衰減后的出射光功率；Pi’表示入射光功率，即功率儀表200所測(cè)的功率值，近似等于測(cè)試系統(tǒng)100 的功率儀表上所測(cè)的數(shù)值。[0021]因此，通過(guò)公式(I)、(2)可以將待測(cè)產(chǎn)品P的IL、RL等參數(shù)一次性監(jiān)控和測(cè)試出來(lái)。[0022]本實(shí)用新型的輔助測(cè)試具有以下優(yōu)點(diǎn)第一，將傳統(tǒng)的回波損失測(cè)試中的手動(dòng)打折光纖的工序升級(jí)為程序控制的打折模式；第二，此輔助測(cè)試裝置提高回?fù)p測(cè)試重復(fù)性，因此，相對(duì)傳統(tǒng)測(cè)試方法來(lái)說(shuō)更簡(jiǎn)潔、更規(guī)范；第三，此輔助測(cè)試裝置與產(chǎn)品的測(cè)試軟件整合， 優(yōu)化產(chǎn)品的測(cè)試系統(tǒng)，提高產(chǎn)品的測(cè)試效率；最后，此回?fù)p測(cè)試輔助裝置，由于其內(nèi)部植入了程序，它可以與產(chǎn)品的現(xiàn)有測(cè)試軟件進(jìn)行整合，這樣可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)IL、RL等參數(shù)的同步測(cè)試，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)測(cè)試的全面自動(dòng)化。[0023]以上所述，僅為本實(shí)用新型最佳實(shí)施例而已，并非用于限制本實(shí)用新型的范圍，凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)專(zhuān)利范圍所作的等效變化或修飾，皆為本實(shí)用新型所涵蓋。
權(quán)利要求1.一種可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置，包含一光纖壓塊、一光纖打折運(yùn)動(dòng)柱、一內(nèi)部光纖復(fù)位柱、一光纖復(fù)位擋塊；其特征在于該光纖壓塊分別設(shè)置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；且，該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱設(shè)置為上下錯(cuò)開(kāi)排列，由植入該輔助裝置的程序控制運(yùn)動(dòng)；該內(nèi)部光纖復(fù)位柱同時(shí)配合該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱的運(yùn)動(dòng)方向進(jìn)行移動(dòng)，從而輔助該光纖在該輔助裝置的內(nèi)部進(jìn)行移動(dòng)。
2.如權(quán)利要求I所述的可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置，其特征在于該光纖復(fù)位擋塊、該光纖復(fù)位柱是與該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱是聯(lián)動(dòng)的。
3.如權(quán)利要求I所述的可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置，其特征在于該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱的運(yùn)動(dòng)方式是兩排同時(shí)運(yùn)動(dòng)。
4.如權(quán)利要求I所述的可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置，其特征在于該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱的運(yùn)動(dòng)方式是一排固定、一排運(yùn)動(dòng)的形式。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種可控的回波損耗測(cè)試輔助裝置，包含光纖壓塊、光纖打折運(yùn)動(dòng)柱、內(nèi)部光纖復(fù)位柱、光纖復(fù)位擋塊；其中，光纖壓塊分別設(shè)置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；光纖打折運(yùn)動(dòng)柱設(shè)置為上下錯(cuò)開(kāi)排列，內(nèi)部光纖復(fù)位柱同時(shí)配合該光纖打折運(yùn)動(dòng)柱的運(yùn)動(dòng)方向進(jìn)行移動(dòng)，本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有產(chǎn)品對(duì)手工操作依賴(lài)程度高，測(cè)試結(jié)果差異性大的問(wèn)題。
文檔編號(hào)G01M11/02GK202814683SQ201220482829
公開(kāi)日2013年3月20日 申請(qǐng)日期2012年9月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月20日
發(fā)明者周強(qiáng), 葉長(zhǎng)茂 申請(qǐng)人:昂納信息技術(shù)(深圳)有限公司