本申請案主張2014年5月15日申請的第61/993,481號美國臨時申請案的權(quán)利，所述案的全部內(nèi)容以引用的方式并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及溫度監(jiān)測，特定地說涉及集成式溫度傳感器。多種不同集成式溫度傳感器可用。例如，存在使用供應(yīng)電壓操作且根據(jù)給定關(guān)系產(chǎn)生具有對應(yīng)于溫度的電壓電平的輸出信號的模擬傳感器。用戶僅需將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號且根據(jù)給定關(guān)系處理所轉(zhuǎn)換值。數(shù)字溫度傳感器還可用以已包含相應(yīng)轉(zhuǎn)換算法且通過串行通信接口(例如，I2C接口、SMBus接口或SPI接口)使實(shí)際溫度值可用。許多應(yīng)用需要此類傳感器以控制此類傳感器集成到其中的系統(tǒng)。例如，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)通常包含放置于敏感位置處的多個此類傳感器及各種溫度控制構(gòu)件(例如風(fēng)扇或調(diào)節(jié)功率消耗、時鐘速度等等的系統(tǒng)控制構(gòu)件)以主動調(diào)節(jié)系統(tǒng)內(nèi)的溫度。特定地說，移動計(jì)算機(jī)(例如膝上型計(jì)算機(jī))通常需要各種組件的溫度的調(diào)節(jié)及控制。此類系統(tǒng)內(nèi)的溫度通常動態(tài)地改變且需要快速系統(tǒng)響應(yīng)以避免歸因于過熱的系統(tǒng)故障。然而，常規(guī)溫度傳感器均不能夠提供關(guān)于溫度的任何類型動態(tài)參數(shù)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：因此，存在對于改良溫度傳感器的需求。根據(jù)實(shí)施例，一種溫度傳感器裝置包括數(shù)字接口，所述溫度傳感器裝置具有存儲可通過所述數(shù)字接口讀取的當(dāng)前溫度值的第一存儲器；及存儲可通過所述數(shù)字接口讀取的溫度改變速率值的第二存儲器。根據(jù)另一實(shí)施例，所述第二存儲器可存儲使用界定測量間隔的多個循序溫度測量樣本在所述溫度傳感器內(nèi)執(zhí)行的計(jì)算的結(jié)果。根據(jù)另一實(shí)施例，樣本數(shù)目是可編程的。根據(jù)另一實(shí)施例，所述第二存儲器還可存儲斜率方向是否改變。根據(jù)另一實(shí)施例，所述第二存儲器可存儲斜率方向在所述測量間隔內(nèi)改變的次數(shù)。根據(jù)另一實(shí)施例，所述溫度傳感器可還包括通過所述溫度改變速率值控制的外部警示輸出連接。根據(jù)另一實(shí)施例，所述第一存儲器可存儲平均溫度值。根據(jù)另一實(shí)施例，用于計(jì)算所述平均溫度值的數(shù)個溫度值是可編程的。根據(jù)另一實(shí)施例，所述溫度改變速率值可由此計(jì)算：其中：T(tmax)＝間隔結(jié)束時的溫度T(t0)＝間隔開始時的溫度根據(jù)另一實(shí)施例，所述第二存儲器可為可通過所述數(shù)字接口存取的寄存器。根據(jù)另一實(shí)施例，所述第二存儲器可由多個寄存器提供。根據(jù)另一實(shí)施例，一種電子裝置可包括：溫度傳感器，所述溫度傳感器經(jīng)配置以確定可通過數(shù)字接口存取的所測量溫度的改變速率；冷卻風(fēng)扇；及處理器，所述處理器與所述溫度傳感器的所述數(shù)字接口耦合且可經(jīng)操作以基于通過所述數(shù)字接口從所述溫度傳感器檢索的溫度測量值及所述溫度改變速率來控制所述冷卻風(fēng)扇。根據(jù)又一實(shí)施例，一種用于通過包括數(shù)字接口的溫度傳感器裝置提供溫度數(shù)據(jù)的方法可包括以下步驟：將可通過所述數(shù)字接口讀取的當(dāng)前溫度值存儲于第一存儲器中；且將可通過所述數(shù)字接口讀取的溫度改變速率值存儲于第二存儲器中。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述第二存儲器可存儲使用界定測量間隔的多個循序溫度測量樣本在所述溫度傳感器內(nèi)執(zhí)行的計(jì)算。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，樣本數(shù)目是可編程的。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述第二存儲器還可存儲斜率方向是否改變。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述第二存儲器可存儲斜率方向在所述測量間隔內(nèi)改變的次數(shù)。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述方法可還包括以下步驟：取決于所述溫度改變速率值通過外部警示輸出連接輸出信號。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述第一存儲器可為存儲器塊且還可存儲平均溫度值。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，用于計(jì)算所述平均溫度值的數(shù)個溫度值是可編程的。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述溫度改變速率值可由此計(jì)算：其中：T(tmax)＝間隔結(jié)束時的溫度T(t0)＝間隔開始時的溫度。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述第二存儲器可為可通過所述數(shù)字接口存取的寄存器。根據(jù)所述方法的另一實(shí)施例，所述第二存儲器可由形成寄存器塊的多個寄存器提供。根據(jù)又一實(shí)施例，一種用于控制包括經(jīng)配置以確定可通過數(shù)字接口存取的所測量溫度的改變速率的溫度傳感器、冷卻風(fēng)扇及與所述溫度傳感器的所述數(shù)字接口耦合的處理器的系統(tǒng)中的溫度的方法可包括以下步驟：確定所測量溫度的改變速率；基于溫度測量值及所述溫度的所述改變速率來控制所述冷卻風(fēng)扇。附圖說明圖1示出具有隨后樣本間隔的時序圖；圖2示出根據(jù)各種實(shí)施例的溫度傳感器的方框圖；圖3示出溫度傳感器的特定實(shí)施例的更詳細(xì)方框圖；圖4示出溫度傳感器的另一特定實(shí)施例的方框圖；圖5A及5B示出可在各種實(shí)施例中實(shí)施的特殊功能寄存器的表；圖6A及6B示出根據(jù)各種實(shí)施例的實(shí)施溫度傳感器的系統(tǒng)的方框圖；圖7示出用于傳感器元件的各種可能實(shí)施例；及圖8示出各種可能外殼及相關(guān)聯(lián)接腳布局。具體實(shí)施方式在電子裝置中，溫度的迅速改變對于正常運(yùn)行且因此對于電子裝置的可靠性可十分不利。例如，在膝上型及桌上型環(huán)境中，CPU核心溫度的迅速改變對于處理器的長期可靠性可十分不利。為了最小化熱損害效應(yīng)，整個行業(yè)已圍繞從處理器引出熱的同時允許處理器時鐘盡可能快地運(yùn)行而建立。當(dāng)嘗試?yán)鋮s處理器或可為我們展現(xiàn)每秒許多度的溫度偏移的其它任何事物時，知曉就每秒度數(shù)而言的加熱/冷卻速率是應(yīng)知曉的一項(xiàng)有價值信息。其將有助于確定風(fēng)扇是按60％還是按100％運(yùn)行，此對于終端用戶是顯著差異。隨著我們移動遠(yuǎn)離具有冷卻風(fēng)扇的裝置，確定溫度改變有多快的能力正如裝置的當(dāng)前溫度同樣重要。在無主動冷卻的情況下，系統(tǒng)需依靠功率及時鐘管理來控制溫度。在不必使用系統(tǒng)資源的情況下知曉此速率變得十分有價值，這是由于計(jì)算等同于正受控制的特定事物——熱。根據(jù)各種實(shí)施例，可提供方法以實(shí)時確定溫度曲線的斜率。根據(jù)各種實(shí)施例，已經(jīng)收集的溫度數(shù)據(jù)可用于確定溫度曲線的斜率的量值。其可經(jīng)實(shí)施為純數(shù)字過程，此是由于其依靠使用用于模擬區(qū)段的各種可能實(shí)施例執(zhí)行實(shí)際溫度測量的裝置?？商峁┒鄠€溫度傳感器且其數(shù)據(jù)可分開使用或用于平均化溫度?？赏ㄟ^溫度數(shù)據(jù)中的一或多者控制各種冷卻裝置(例如風(fēng)扇)。圖1示出溫度曲線的示范性進(jìn)程?？梢?，知曉上升速率對于知曉多快驅(qū)動風(fēng)扇以降低裝置內(nèi)的溫度將十分重要。在用戶設(shè)置用于溫度轉(zhuǎn)換的樣本/第二速率時，計(jì)算參數(shù)是樣本數(shù)目而非時間。然而，樣本還可經(jīng)控制以每次提供。通過知曉樣本數(shù)目及每秒樣本數(shù)目，可直接計(jì)算差分方程式中的分母。其中：T(tmax)＝間隔結(jié)束時的溫度T(t0)＝間隔開始時的溫度(方程式1)如果溫度改變樣本周期的中期中的斜率，那么計(jì)算可變得惡化，此是由于計(jì)算假定單斜率。如果此發(fā)生，那么此解決方案記錄斜率改變之處的最大(或最小)溫度，且設(shè)置指示斜率已改變的標(biāo)志。如果斜率應(yīng)再次改變，那么位指示是否已發(fā)生奇數(shù)個或偶數(shù)個反向。此允許用戶確定在間隔結(jié)束處的溫度改變方向是否已經(jīng)改變。偶數(shù)指示方向相同；奇數(shù)說明溫度反向。為了使用圖1中的圖表圖解說明此，在區(qū)域A中，溫度接近熱限制，且在周期3中途進(jìn)入“警示”限制溫度。但斜率十分低。所得改變速率將相對小，從而指示僅需當(dāng)前熱控制回路中的細(xì)微改變以降低溫度。樣本間隔4清晰地示出迅速降低，從而允許熱控制回路迅速降低風(fēng)扇速度，增大時鐘速度，無論控制是否可用。溫度在樣本間隔8中再次接近警示限制。此時，存在較大斜率，且反映于計(jì)算中。此指示控制溫度需要更大風(fēng)扇速度或更小時鐘速度，使得不達(dá)到損害溫度。控制回路接收溫度在樣本間隔9的結(jié)束處(其中斜率已改變)處于控制下且改變速率是小得多的值的信息。斜率改變指示溫度正在下降。同樣地，需要十分緊密控制的冷溫度的系統(tǒng)將受益于此相同裝置。知曉溫度改變的“速度”的能力在此處更關(guān)鍵，此是由于典型單元在溫度超出限制時需要超過幾秒來調(diào)整溫度。圖2示出集成式溫度傳感器100的可能實(shí)施例的方框圖。實(shí)際傳感器可為集成式傳感器110，例如，二極管溫度傳感器。替代地，裝置100可提供兩個外部接腳以連接到外部傳感器二極管。根據(jù)一些實(shí)施例，可實(shí)施用于外部傳感器二極管的內(nèi)部及一或多個外部二極管連接。此裝置可包含內(nèi)部多路復(fù)用器以在內(nèi)部與外部二極管傳感器之間切換?？墒褂闷渌鼈鞲衅髟冶景l(fā)明不限于二極管傳感器元件。內(nèi)部傳感器110或傳感器連接115與模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)120耦合。如果必要，可在傳感器元件110與ADC120之間提供模擬預(yù)處理。ADC120可與內(nèi)部控制器130(例如狀態(tài)機(jī)或可編程邏輯裝置)耦合?？刂破?30與各種存儲寄存器140、150及控制寄存器160連接。此外，可提供數(shù)字接口(例如，串行接口170，例如I2C接口、SMBus接口或SPI接口)且與控制器130耦合?？刂破?30經(jīng)配置以控制轉(zhuǎn)換過程，特定地說，ADC120的轉(zhuǎn)換速率、轉(zhuǎn)換周期且還控制串行接口的參數(shù)等等。另外，控制器可包含單一算術(shù)邏輯單元以執(zhí)行例如平均化的基本計(jì)算?？刂破鹘?jīng)配置以在根據(jù)控制寄存器150中的預(yù)設(shè)定周期寄存器的間隔中開始ADC120且執(zhí)行循序溫度測量。控制器130讀取轉(zhuǎn)換結(jié)果且可執(zhí)行后處理及到溫度值的轉(zhuǎn)換。此經(jīng)后處理的值可接著存儲于寄存器140中。寄存器140可經(jīng)實(shí)施為保存最后轉(zhuǎn)換值的單一寄存器或其可經(jīng)實(shí)施為保存多個循序測量值的環(huán)形緩沖器。其它緩沖器結(jié)構(gòu)可根據(jù)各種實(shí)施例而應(yīng)用。根據(jù)各種實(shí)施例，控制器130經(jīng)配置以還執(zhí)行改變計(jì)算的速率，如上文所解釋。為此，控制器130可經(jīng)配置以分別使用兩個隨后測量且通過兩個測量之間的時間周期劃分兩個測量之間的溫差。然而，用于計(jì)算斜率的溫度樣本的數(shù)目是可編程的且因此根據(jù)一些實(shí)施例可大于2個。因此，在溫度測量的序列中，當(dāng)前溫度斜率始終可用且可存儲于相關(guān)聯(lián)寄存器150中。再者，可實(shí)施與溫度值環(huán)形緩沖器同步的環(huán)形緩沖器。如上文所提及，其它緩沖器結(jié)構(gòu)可應(yīng)用?？刂破?30還可提供所測量溫度與一或多個閾值的比較。因此，控制寄存器160可包含一或多個閾值寄存器以(例如)存儲上及下溫度限制值?？刂萍拇嫫鬟€可經(jīng)配置以包含校準(zhǔn)寄存器及用于數(shù)字濾波器的參數(shù)。圖3及圖4示出根據(jù)一些實(shí)施例的集成式溫度傳感器裝置300及400的其它更詳細(xì)方框圖。類似元件具有類似參考標(biāo)號?？商峁┩ㄟ^電壓/電流調(diào)節(jié)器310供應(yīng)的各種外部傳感器及內(nèi)部傳感器330。多路復(fù)用器320用于在各種傳感器之間切換。多路復(fù)用器320的輸出與ADC360耦合，ADC360的輸出與各種寄存器(例如，包括用于外部傳感器的寄存器的寄存器塊365及包括用于內(nèi)部溫度傳感器330的寄存器的寄存器塊367)耦合。此外，第一數(shù)字多路復(fù)用器370在一方面連接到寄存器塊365及367且在另一方面連接到限制比較器375。限制比較器374進(jìn)一步與第二數(shù)字多路復(fù)用器380連接，第二數(shù)字多路復(fù)用器380可在各種寄存器382、384、386及388之間選擇以分別用于存儲下限、上限、警戒值及滯后值。配置寄存器395可存儲用于ADC及用于中斷遮蔽單元340的參數(shù)，中斷遮蔽單元340可經(jīng)配置以輸出警示及“熱”中斷。提供轉(zhuǎn)換寄存器390以用于存儲測量間隔長度。此外，狀態(tài)寄存器385可包括將通過ADC320及比較器375控制的狀態(tài)位。串行接口397連接到所有寄存器及地址解碼單元350。串行接口可經(jīng)配置以操作為I2C接口，其中地址單元350可用于(例如)通過一或多個外部接腳提供額外地址設(shè)置信息。圖4示出類似方框圖，其中接口經(jīng)配置以操作為SMBus接口450。此處，不提供地址解碼，此可減少外部接腳的數(shù)目。圖54還示出如將在下文中更詳細(xì)解釋的用于產(chǎn)生外部警示信號及中斷的中斷遮蔽單元420。任一實(shí)施方案可提供關(guān)閉接腳及相關(guān)聯(lián)寄存器及邏輯440，如僅在圖4中示出。如果預(yù)定義信號應(yīng)用于此接腳，那么裝置可進(jìn)入休眠模式以節(jié)省能量。圖3及4中示出的兩個實(shí)施例并不具體示出例如簡單狀態(tài)機(jī)或可編程邏輯裝置的控制器單元或任何其它合適控制機(jī)構(gòu)。圖5A及5B示出可與上文提及的實(shí)施例中的任一者一起使用的寄存器塊的示范性方框圖。圖5A及B中示出的寄存器塊包括多個不同寄存器，其根據(jù)一些實(shí)施例可不必要且因此未經(jīng)實(shí)施。將使用根據(jù)圖3及4的裝置的特定實(shí)施例說明此類寄存器的細(xì)節(jié)。如上文所提及，在最小程度上，根據(jù)各種實(shí)施例的裝置可包括用于存儲實(shí)際所測量溫度的溫度寄存器及存儲動態(tài)溫度改變值的改變速率寄存器。因此，可通過串行接口將絕對溫度值及溫度改變值dT/dt提供到系統(tǒng)控制單元。下文描述如(例如)在圖3及4中示出的裝置的各種實(shí)施例的某些特征。如上文所提及，此類僅是實(shí)例且其它實(shí)施例可不使用所有選項(xiàng)且其它特征組合是可能的，如所屬領(lǐng)域技術(shù)人員將明白。因此，雖然下文描述具有某些特征的實(shí)施例，但此類并不必要且可不在其它實(shí)施例中要求。如圖3及4中示出的集成式裝置監(jiān)測一個內(nèi)部二極管及多達(dá)四個外部連接的溫度二極管。其它組合是可能的且本發(fā)明不限于以下實(shí)施例中的任一者。與如圖6A及B中示出的主機(jī)裝置協(xié)作執(zhí)行熱系統(tǒng)管理。此包含主機(jī)讀取如圖3及4中示出的集成式裝置的外部及內(nèi)部溫度二極管兩者的溫度數(shù)據(jù)且使用所述數(shù)據(jù)來控制一或多個風(fēng)扇的速度。如圖3及4中示出的集成式裝置具有兩個監(jiān)測層次。第一層次在所測量溫度超過用戶可編程限制時將可遮蔽ALERT信號提供到主機(jī)。此允許如圖3及4中示出的集成式裝置用作獨(dú)立熱監(jiān)視器以給主機(jī)警告溫度熱點(diǎn)而不需通過主機(jī)直接控制。第二監(jiān)測層次在所測量溫度滿足或超過第二可編程限制時對THERM接腳提供不可遮蔽中斷。對于如圖3及4中示出的集成式裝置，外部二極管信道2及3僅與通用二極管(例如2N3904)兼容。對于如圖3及4中示出的集成式裝置，外部二極管2信道與連接到晶體管的襯底及二極管兩者兼容。圖6A示出如圖3中示出的集成式裝置的系統(tǒng)層次方框圖的實(shí)例。圖6B示出如圖4中示出的集成式裝置的系統(tǒng)層次方框圖。如圖3及4中示出的集成式裝置具有三個功率狀態(tài)?；顒?運(yùn)行)-在此狀態(tài)中，ADC按經(jīng)編程轉(zhuǎn)換速率對所有溫度信道轉(zhuǎn)換。在每一轉(zhuǎn)換結(jié)束處更新溫度數(shù)據(jù)且檢查限制。在活動狀態(tài)中，寫入到單發(fā)寄存器將無用。休眠(停止)-此是最低功率狀態(tài)。在此狀態(tài)中，電路的大部分經(jīng)斷電以減少供應(yīng)電流。不更新溫度數(shù)據(jù)且不檢查限制。通過廣播的正確I2C從屬地址喚醒裝置。數(shù)據(jù)將并不立即可用而將返回NACK直到裝置活動且使數(shù)據(jù)可用為止。裝置通過寄存器命令進(jìn)入休眠模式。備用(單發(fā))-在裝置處于備用中時，主機(jī)可按需初始化轉(zhuǎn)換循環(huán)(見寄存器3到16)。在轉(zhuǎn)換循環(huán)完成之后，裝置將返回到備用狀態(tài)。休眠與備用之間的差異在于返回從裝置接收有效數(shù)據(jù)所花費(fèi)的時間?？舍槍谙到y(tǒng)要求的不同轉(zhuǎn)換速率來配置如圖3及4中示出的集成式裝置。默認(rèn)轉(zhuǎn)換速率可為(例如)每秒4次轉(zhuǎn)換?？筛鶕?jù)轉(zhuǎn)換表選擇其它可用轉(zhuǎn)換速率。輪詢算法(roundrobin)必須遵循用于所有信道的ADC時序要求。數(shù)據(jù)一旦可用于特定信道即可經(jīng)轉(zhuǎn)換及存儲。根據(jù)一些實(shí)施例，當(dāng)ADC已完成對所有活動輸入信道的轉(zhuǎn)換時，裝置將使溫度塊、ADC及參考斷電直到下一組轉(zhuǎn)換開始為止。可根據(jù)各種實(shí)施例選擇用于轉(zhuǎn)換的信道順序。通過到EMC4塊DI_SEL[3:0}的數(shù)字輸入信號控制ADC分辨率。此控制用于ADC轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換寬度。ADC分辨率取決于活動的信道數(shù)目、轉(zhuǎn)換速率及動態(tài)平均化。ADC數(shù)據(jù)輸出首先針對任何給出分辨率傳遞最低有效位。當(dāng)通過數(shù)字塊獲取ADC數(shù)據(jù)時，ADC數(shù)據(jù)在加載到任何數(shù)據(jù)寄存器中(包含原始ADC)之前基于分辨率而偏移。在啟動時，或在通電之后，參考將需某個時間來安定。當(dāng)ADC完成時，其斷言ADC_AQ位為高，此時ADC數(shù)據(jù)有效。數(shù)據(jù)將保持可用直到START信號變低為止，此時數(shù)據(jù)被清除。如圖3及4中示出的集成式裝置可含有在測量外部溫度二極管時執(zhí)行跳頻的任選能力。此功能通過DI_FREQ_EN位啟用且通過振蕩器塊控制。跳頻邏輯具有支持兩個頻率輸入(16MHz或20MHz)的選項(xiàng)。此由DI_SEL_20M位選擇(“0”＝16MHz，“1”＝20MHz)。隨著分辨率改變，所獲取的溫度樣本(以及所使用的不同頻率)的數(shù)目同樣改變。對于大于10位的分辨率，使用32個頻率。對于9位分辨率及8位分辨率，不同頻率的數(shù)目及其值經(jīng)調(diào)整，使得平均頻率等于100kHz。表1示出取決于用于16MHz時鐘的ADC分辨率的有效轉(zhuǎn)換速率。表1分辨率(位)溫度樣本的#取樣頻率的#ADC轉(zhuǎn)換時間(mS)8882.56916165.1210323210.2411643220.48121283240.96(推薦)132563281.921451232163.8415102432327.68在表2中針對16MHz時鐘且在表3中針對20MHz時鐘示出除法器及頻率值的范圍。低頻劃分比率設(shè)置跳頻的下端而高頻除法器示出跳頻的上端。表2分辨率低頻劃分比率高頻高頻劃分比率低頻停用8297.6kHz8297.6kHz876105.3kHz8495.3kHz972111.1kHz8890.9kHz1068117.6kHz10080kHz1168117.6kHz10080kHz1268117.6kHz10080kHz1368117.6kHz10080kHz1468117.6kHz10080kHz1568117.6kHz10080kHz表3分辨率低頻劃分比率高頻高頻劃分比率低頻停用10297.6kHz10297.6kHz896104.2kHz10495.1kHz992118.7kHz10892.6kHz1084119.0kHz11686.2kHz1184119.0kHz11686.2kHz1284119.0kHz11686.2kHz1384119.0kHz11686.2kHz1484119.0kHz11686.2kHz1584119.0kHz11686.2kHz從不選擇將與100kHz頻率對應(yīng)的劃分比率100，另外，劃分比率跨整個劃分比率范圍按1增大。頻率值將按每步約1kHz改變，不過此并不是固定分辨率。為了維持平均頻率，相依于分辨率的劃分對通過四個設(shè)置朝向低頻范圍偏斜。數(shù)字平均化在溫度數(shù)據(jù)被箝制之后且在錯誤隊(duì)列之前應(yīng)用于外部二極管1信道(在僅啟用硬件熱關(guān)閉電路時)。此平均化將使用先前4或8個測量的運(yùn)行平均值不斷更新溫度。對于緊接充電之后的第一測量，平均化堆疊將填充有第一所測量溫度且接著在隨后測量上按FIFO順序進(jìn)行。每一溫度信道可具有調(diào)整溫度值的硬布線偏移。將金屬的此偏移設(shè)置于示意性頂層處。動態(tài)平均化導(dǎo)致如圖3及4中示出的集成式裝置基于選定轉(zhuǎn)換速率來測量外部二極管信道達(dá)擴(kuò)展時間?？舍槍^低轉(zhuǎn)換速率下的增大的功率節(jié)省停用此功能性。當(dāng)啟用動態(tài)平均化時，裝置將自動調(diào)整用于外部二極管信道的取樣及測量時間。此允許裝置平均化長于正常11位操作的2x或16x(標(biāo)稱地每一信道21ms)，同時仍維持選定轉(zhuǎn)換速率。動態(tài)平均化的益處是歸因于較長整合時間以及溫度測量的較少隨機(jī)變化的改良噪聲抑制。當(dāng)經(jīng)啟用時，動態(tài)平均化在單發(fā)命令發(fā)出時應(yīng)用。裝置將根據(jù)選定轉(zhuǎn)換速率在單發(fā)操作期間執(zhí)行所需平均化。當(dāng)經(jīng)啟用時，動態(tài)平均化將基于選定轉(zhuǎn)換速率影響平均供應(yīng)電流。如圖3及4中示出的集成式裝置可產(chǎn)生多達(dá)15個變量，如通過一次可編程(OTP)組中的OTP個性位所界定。此類位在先前已經(jīng)界定為外部二極管2啟用(EXT2_EN)、外部二極管2反平行二極管(APD)啟用(EXT2_APD_EN)、THERM/ALERT解碼選擇(ADDR_SEL_CH)及固定地址位0(ADDR0)。此類位使用僅一半可用經(jīng)解碼狀態(tài)界定總共8部分。除此類OTP位改變以外，選擇固定或經(jīng)解碼地址(ADDR_SEL_EN)的位已經(jīng)廢棄，且現(xiàn)將用于選擇85C或125C的THERM限制溫度且是TH_LIM。根據(jù)一些實(shí)施例，改變功能的速率近似使用差分方程式的溫度的導(dǎo)數(shù)。方程式1中示出的方程式是計(jì)算的基礎(chǔ)。周期寬度經(jīng)存儲于兩個連續(xù)寄存器中。此表示如樣本數(shù)目中界定的“樣本周期”。圖5A及B示出根據(jù)一些實(shí)施例的可用于溫度傳感器裝置中的寄存器塊的示范性實(shí)施方案。R(x)_SMPLH：改變速率樣本HIGHBYTEREGISTER(地址43h、49h)及R(x)_SMPLL：改變速率樣本LOWBYTEREGISTER(地址44h、4Ah)保存此類值。應(yīng)用于結(jié)果的增益經(jīng)存儲于ROC_gain：改變速率增益REGISTER(地址3dh)中。寄存器定義中示出有效增益。例如，寄存器ROC_GAIN可經(jīng)組織如下：位7R2EVN-指示斜率反向的數(shù)目是偶數(shù)還是奇數(shù)1＝在取樣周期期間的偶數(shù)個斜率反向0＝在取樣周期期間的奇數(shù)個斜率反向位6R1EVN-指示斜率反向的數(shù)目是偶數(shù)還是奇數(shù)1＝在取樣周期期間的偶數(shù)個斜率反向0＝在取樣周期期間的奇數(shù)個斜率反向位5:3RC1_GAIN：此表示應(yīng)用于差分方程式的二進(jìn)制增益0h＝11h＝22h＝43h＝84h＝165h＝326h＝647h＝128位2:0RC2_GAIN：此表示應(yīng)用于差分方程式的二進(jìn)制增益0h＝11h＝22h＝43h＝84h＝165h＝326h＝647h＝128由于此隨著時間經(jīng)取樣，所以存在用于每一信道的位指示已發(fā)生斜率改變。此類位(每一信道一個)將確認(rèn)兩個連續(xù)樣本差異的結(jié)果何時超過如通過在ROC_config：改變速率配置REGISTER(地址3Eh)中界定的滯后值界定的閾值限制。此將不重設(shè)ROC計(jì)算。ROC_config寄存器可經(jīng)組織如下：位7EN_ROC：啟用改變速率計(jì)算1＝啟用改變速率0＝停用改變速率位6SLCG2：在用于外部信道2的改變速率計(jì)算期間報告斜率改變1＝斜率改變方向0＝單調(diào)斜率位5SLCG1：在用于外部信道1的改變速率計(jì)算期間報告斜率改變1＝斜率改變方向0＝單調(diào)斜率位4MASK2：遮蔽事件以免設(shè)置來自信道2的ALERT接腳1＝事件經(jīng)遮蔽。0＝事件將確認(rèn)ALERT接腳位3MASK1：遮蔽事件以免設(shè)置來自信道1的ALERT接腳1＝事件經(jīng)遮蔽。0＝事件將確認(rèn)ALERT接腳位2:0RCHY：用于改變速率斜率反向的滯后設(shè)置。大于此設(shè)置的偏差將導(dǎo)致位經(jīng)設(shè)置。111＝4.000℃110＝3.000℃101＝2.000℃100＝1.000℃011＝0.500℃010＝0.250℃001＝0.125℃000＝0.000℃限制寄存器(R(X)_LIMH：改變速率ALERT限制HighBYTEREGISTER(地址41h、47h)及R(X)_LIML：改變速率ALERT限制LOWBYTEREGISTER(地址42h、48h)及結(jié)果寄存器R(X)_RESh：改變速率RESULTSHIGHBYTEREGISTER(地址3fh、45h)及R(x)_RESL：改變速率RESULTSLOWBYTEREGISTER(地址40h、46h)經(jīng)標(biāo)記，二進(jìn)制補(bǔ)數(shù)存儲于兩個(2)連續(xù)寄存器中。如果所存儲的改變速率結(jié)果超過經(jīng)編程限制，那么將設(shè)置適當(dāng)狀態(tài)寄存器位(針對正限制的HI_LIM_STS-上限狀態(tài)寄存器(地址3Ah)，或針對負(fù)限制的LO_LIM_STS-下限狀態(tài)寄存器(地址3Bh))。ALERT接腳可經(jīng)確認(rèn)或遮蔽，如通過ROC_config：改變速率配置REGISTER(地址3Eh)設(shè)置。MASK位將不防止?fàn)顟B(tài)位確認(rèn)，但如果經(jīng)設(shè)置，將防止ALERT接腳確認(rèn)。狀態(tài)寄存器STATUS(地址02H)可經(jīng)組織如下：位7ROCF-此位指示已超過改變速率限制。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)ALERT接腳。1＝ROC高于限制0＝ROC不高于限制位6IHIGH-此位指示內(nèi)部二極管信道超過其經(jīng)編程上限。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)ALERT接腳。1＝所報告溫度高于上限0＝所報告溫度不高于上限位5ILOW-此位指示內(nèi)部二極管信道下降到低于其經(jīng)編程下限。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)ALERT接腳。1＝所報告溫度低于下限0＝所報告溫度不低于下限位4EHIGH-此位指示外部二極管信道超過其經(jīng)編程上限。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)ALERT接腳。1＝所報告溫度高于上限0＝所報告溫度不高于上限位3ELOW-此位指示外部二極管信道下降到低于其經(jīng)編程下限。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)ALERT接腳。1＝所報告溫度低于下限0＝所報告溫度不低于下限位2FAULT-此位指示何時檢測到二極管故障。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)ALERT接腳。1＝二極管的開路或短路0＝不報告故障位1ETHRM-此位指示外部二極管信道超過經(jīng)編程熱限制。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)THERM接腳。此位將保持設(shè)置直到THERM接腳經(jīng)釋放為止，此時位將被自動清除。1＝所報告溫度高于上限0＝所報告溫度不高于上限位0ITHRM-在內(nèi)部二極管信道超過經(jīng)編程熱限制時設(shè)置此位。當(dāng)經(jīng)設(shè)置時，此位將確認(rèn)THERM接腳。此位將保持設(shè)置直到THERM接腳經(jīng)釋放為止，此時位將被自動清除。1＝所報告溫度高于上限0＝所報告溫度不高于上限配置寄存器CONFIG(地址03H及09H)可經(jīng)組織如下：位7MASK_ALL-在ALERT接腳處于中斷模式中時遮蔽ALERT接腳以免確認(rèn)。此位在ALERT接腳處于比較器模式中時不具有效果。通過ALERT_MASK_DEFOTP位(見DYN_TRIM_HIL-動態(tài)修剪寄存器中低字節(jié)寄存器(地址b2h))設(shè)置MASK_ALL位默認(rèn)值。1＝在ALERT接腳處于中斷模式中時ALERT接腳經(jīng)遮蔽且將不針對任何中斷條件確認(rèn)。將正常更新狀態(tài)寄存器。0＝(通過OTP設(shè)置)ALERT接腳不經(jīng)遮蔽。如果適當(dāng)狀態(tài)位中的任一者經(jīng)設(shè)置，那么ALERT接腳將經(jīng)確認(rèn)。位6RUN/STANDBY-控制活動/備用狀態(tài)。1＝裝置處于備用狀態(tài)中且不轉(zhuǎn)換(除非已命令單發(fā))。0＝裝置處于活動狀態(tài)中且對所有信道轉(zhuǎn)換。位5ALERT/THRM-控制ALERT接腳的操作。當(dāng)ALERT接腳處于比較器模式中時，每一信道具有連續(xù)計(jì)數(shù)器OR'ed以確認(rèn)ALERT接腳。在一次測量低于上限減去熱滯后之后取消確認(rèn)ALERT接腳。1＝ALERT接腳作用于比較器模式中，如在第3.16.2節(jié)中描述。在此模式中，MASK_ALL位被忽略。0＝ALERT接腳作用于中斷模式中，如在第3.16.1節(jié)中描述。位4RECD1/2-停用對于DP1/DN1接腳的電阻誤差校正(REC)。1＝針對DP1/DN1接腳停用REC。0＝針對DP2/DN2接腳啟用REC。位3RECD3/4-停用對于外部二極管3及外部二極管4的電阻誤差校正(REC)。1＝針對外部二極管3及外部二極管4停用REC。0＝針對外部二極管3及外部二極管4啟用REC。位2RANGE-配置溫度信道的測量范圍及數(shù)據(jù)格式。1＝溫度測量范圍是-64℃到+191.875℃且數(shù)據(jù)格式是偏移二進(jìn)制。0＝溫度測量范圍是0℃到+127.875℃且數(shù)據(jù)格式是二進(jìn)制。位1DA_DIS-停用所有溫度信道上的動態(tài)平均化特征。1＝停用動態(tài)平均化特征。將使用最大平均化因子1x(等效于11位轉(zhuǎn)換)轉(zhuǎn)換所有溫度信道。對于較高轉(zhuǎn)換速率，此平均化因子將減小。0＝啟用動態(tài)平均化特征。將使用基于轉(zhuǎn)換速率的平均化因子轉(zhuǎn)換所有溫度信道。位0APDD-停用反平行二極管操作。1＝停用反平行二極管模式。將在DP1/DN1及DP2/DN2接腳上測量僅一個外部二極管。0＝啟用反平行二極管模式。將在DP2及DN2接腳上測量兩個外部二極管。除上文描述的功能以外，兩個額外溫度值經(jīng)存儲于寄存器中以用于檢索。在給定樣本周期內(nèi)的最大溫度經(jīng)存儲于更新每一樣本周期的寄存器及存儲“全局值”且僅在讀取時被清除的第二寄存器中。此寄存器的目的是確定獨(dú)立于樣本周期的最大或最小溫度。THERM輸出獨(dú)立于ALERT輸出而經(jīng)確認(rèn)且無法經(jīng)遮蔽。每當(dāng)所測量溫度中的任一者超過用于經(jīng)編程數(shù)目個連續(xù)測量的經(jīng)用戶編程熱限制值時，THERM輸出經(jīng)確認(rèn)。一旦THERM輸出已經(jīng)確認(rèn)，其將保持確認(rèn)直到所有所測量溫度下降到低于熱限制減去熱滯后(也是可編程的)為止。當(dāng)THERM接腳經(jīng)確認(rèn)時，熱狀態(tài)位將同樣經(jīng)設(shè)置。讀取此類位將不清除其直到取消確認(rèn)THERM接腳為止。一旦THERM接腳經(jīng)廢棄，THERM狀態(tài)位將被自動清除。ALERT/THERM2接腳是開漏輸出且需要到VDD的上拉電阻器且具有兩個操作模式：中斷模式及比較器模式。經(jīng)由ALERT/THERM2位(見CONFIG：配置寄存器(地址03h及09h))選擇ALERT/THERM2輸出的模式。當(dāng)經(jīng)配置以在中斷模式中操作時，當(dāng)在任何二極管上檢測到超限測量(＞上限或＜下限)時或當(dāng)檢測到二極管故障時，ALERT/THERM2接腳確認(rèn)為低。ALERT/THERM2接腳將保持確認(rèn)，只要超限條件保持即可。一旦超限條件已經(jīng)移除，ALERT/THERM2接腳將保持確認(rèn)直到適當(dāng)狀態(tài)位被清除為止?？赏ㄟ^設(shè)置MASK_ALL位而遮蔽ALERT/THERM2接腳。一旦ALERT/THERM2接腳已經(jīng)遮蔽，其將經(jīng)取消確認(rèn)且保持取消確認(rèn)直到通過用戶清除MASK_ALL位為止。在ALERT/THERM2接腳經(jīng)遮蔽時發(fā)生的任何中斷條件將正常更新狀態(tài)寄存器。還存在個別信道屏蔽(見DIODEFAULTMASK-二極管故障屏蔽REGISTER(地址1Fh))。ALERT/THERM2接腳用作中斷信號或用作允許I2C從屬將誤差條件傳送到主站的I2C警示信號。一或多個ALERT/THERM2輸出可經(jīng)共同硬布線。當(dāng)ALERT/THERM2接腳經(jīng)配置以在THERM模式中操作時，將確認(rèn)所測量溫度中的任一者是否超過相應(yīng)上限。ALERT/THERM2接腳將保持確認(rèn)直到所有溫度下降到低于對應(yīng)上限減去熱滯后值為止。當(dāng)在THERM模式中確認(rèn)ALERT/THERM2接腳時，對應(yīng)上限狀態(tài)位將經(jīng)設(shè)置。讀取此類位將不清除其直到取消確認(rèn)ALERT/THERM2接腳為止。一旦取消確認(rèn)ALERT/THERM2接腳，狀態(tài)位將被自動清除。MASK_ALL位在此模式中將不阻止ALERT/THERM2接腳；然而，個別信道屏蔽將防止相應(yīng)信道確認(rèn)ALERT/THERM2接腳。如圖3及4中示出的集成式裝置含有控制SYS_SHDN接腳的硬件配置的溫度限制電路。通過SYS_SHDN及ALERT接腳兩者上的上拉電阻器確定臨限溫度。硬件關(guān)閉電路測量外部二極管1信道且將其與硬件熱關(guān)閉限制比較。THERM接腳連續(xù)警示計(jì)數(shù)器(對于SYS-SHDN接腳的默認(rèn)為4)應(yīng)用于此比較(見圖5)。如果溫度滿足或超過用于數(shù)個連續(xù)測量的限制，那么確認(rèn)SYS_SHDN接腳。SYS_SHDN接腳保持確認(rèn)直到溫度下降到低于限制減去10℃為止。所有測量信道(包含外部二極管1信道)還可經(jīng)配置以確認(rèn)SYS_SHDN接腳(可見)。如果信道經(jīng)配置以確認(rèn)SYS_SHDN接腳，那么所測量信道上的溫度必須超過經(jīng)編程熱限制值。此以相同于使用4個連續(xù)轉(zhuǎn)換的默認(rèn)的THERM輸出的方式被處理。如圖3及4中示出的集成式裝置可監(jiān)測多達(dá)三個外部連接的二極管的溫度?；谟脩粼O(shè)置及系統(tǒng)要求使用電阻誤差校正及β補(bǔ)償配置每一外部二極管信道。裝置含有用于所有所測量溫度信道的可編程上限、下限及熱限制。如果所測量溫度變得低于下限或高于上限，那么ALERT接腳可經(jīng)確認(rèn)(基于用戶設(shè)置)。如果所測量溫度滿足或超過熱限制，那么THERM接腳無條件地經(jīng)確認(rèn)，從而提供兩層溫度檢測。如圖3及4中示出的集成式裝置取決于通過OTP選擇的DEVSEL碼而具有從無到4個外部二極管。同樣地，每一裝置僅具有對應(yīng)于已經(jīng)啟用的數(shù)個外部二極管信道而操作的所述寄存器。此應(yīng)用于包含測量、限制、屏蔽及中斷啟用的所有寄存器。裝置含有用于所有溫度信道的上限及下限兩者。如果所測量溫度超過上限，那么設(shè)置對應(yīng)狀態(tài)位且確認(rèn)ALERT接腳。同樣地，如果所測量溫度小于或等于下限，那么設(shè)置對應(yīng)狀態(tài)位且確認(rèn)ALERT接腳。用于限制的數(shù)據(jù)格式必須匹配用于溫度的選定數(shù)據(jù)格式，使得如果使用擴(kuò)展溫度范圍，那么必須在擴(kuò)展數(shù)據(jù)格式中編程限制。具有多個地址的限制寄存器可在任一地址處充分存取。當(dāng)裝置處于備用狀態(tài)中時，更新限制寄存器將不具有效果直到下一轉(zhuǎn)換循環(huán)發(fā)生為止。此可經(jīng)由到單發(fā)寄存器(見ONE_SHOT-單發(fā)溫度轉(zhuǎn)換初始化REGISTER(地址0fh))的寫入或通過清除RUN/STOP位(見CONFIG：配置寄存器(地址03h及09h))來初始化。裝置中的各種限制寄存器基于二極管接腳上呈現(xiàn)的外部條件以及I2C接口中的寄存器位中的改變兩者而互動。上限狀態(tài)寄存器含有在超過溫度信道上限時設(shè)置的狀態(tài)位。如果此類位中的任一者經(jīng)設(shè)置，那么狀態(tài)寄存器中的HIGH狀態(tài)位經(jīng)設(shè)置。從上限狀態(tài)寄存器讀取將清除所有位。從寄存器讀取還將清除狀態(tài)寄存器中的HIGH狀態(tài)位。如果已滿足經(jīng)編程數(shù)目個連續(xù)警示計(jì)數(shù)且此類狀態(tài)位中的任一者經(jīng)設(shè)置，那么將設(shè)置ALERT接腳。狀態(tài)位將保持設(shè)置直到讀取為止，除非ALERT接腳經(jīng)配置為比較器輸出。下限狀態(tài)寄存器含有在溫度信道下降到低于下限時設(shè)置的狀態(tài)位。如果此類位中的任一者經(jīng)設(shè)置，那么狀態(tài)寄存器中的LOW狀態(tài)位經(jīng)設(shè)置。從下限狀態(tài)寄存器讀取將清除所有位。如果已滿足經(jīng)編程數(shù)目個連續(xù)警示計(jì)數(shù)且此類狀態(tài)位中的任一者經(jīng)設(shè)置，那么將設(shè)置ALERT接腳。狀態(tài)位將保持設(shè)置直到讀取為止，除非ALERT接腳經(jīng)配置為比較器輸出。熱限制寄存器用于確定臨界熱事件是否已發(fā)生。如果所測量溫度超過熱限制，那么THERM接腳經(jīng)確認(rèn)。限制設(shè)置必須匹配溫度讀取寄存器的選定數(shù)據(jù)格式。不同于ALERT接腳，THERM接腳無法經(jīng)遮蔽。另外，一旦溫度下降到低于對應(yīng)閾值減去熱滯后，將釋放THERM接腳。與外部二極管串聯(lián)的寄生電阻將限制可從溫度測量裝置獲得的精確度。通過切換二極管電流而跨此電阻發(fā)展的電壓導(dǎo)致待讀取的溫度測量高于真實(shí)溫度。對串聯(lián)電阻的促成者是PCB跟蹤電阻、裸片上(即，處理器上)金屬電阻、溫度晶體管的基極及發(fā)射極中的體電阻。通常，由串聯(lián)電阻導(dǎo)致的誤差是每歐姆+0.7℃。如圖3及4中示出的集成式裝置自動校正多達(dá)100歐姆的串聯(lián)電阻。如圖3及4中示出的集成式裝置經(jīng)設(shè)計(jì)以用于具有理想因子1.008的外部二極管。并非所有外部二極管、處理器或離散部件將具有此準(zhǔn)確值。理想因子的此變化引入必須經(jīng)校正的溫度測量誤差。通常使用可編程偏移寄存器完成此校正。由于理想因子失配引入誤差(其為溫度函數(shù))，所以此校正僅在較小溫度范圍內(nèi)是精確的。為了提供對用戶的最大靈活性，如圖3及4中示出的集成式裝置針對每一外部二極管提供6位寄存器，其中所使用的二極管的理想因子經(jīng)編程以消除跨所有溫度的誤差。當(dāng)監(jiān)測襯底晶體管或CPU二極管且啟用β補(bǔ)償時，不應(yīng)調(diào)整理想因子。β補(bǔ)償自動校正大部分理想誤差。此類寄存器存儲應(yīng)用于外部二極管的理想因子。β補(bǔ)償及電阻誤差校正自動校正大部分二極管理想誤差。對于需BJT晶體管模型的CPU襯底晶體管，理想因子表現(xiàn)稍微不同于連接離散二極管的晶體管。如圖3及4中示出的集成式裝置檢測DP及DN接腳上的開路及跨DP及DN接腳的短路。對于所作出的每一溫度測量，裝置檢查外部二極管信道上的二極管故障。當(dāng)檢測到二極管故障時，ALERT接腳確認(rèn)且溫度數(shù)據(jù)讀取MSB及LSB寄存器中的00h(批注：將不檢查下限)。二極管故障經(jīng)界定為以下項(xiàng)中的一者：DP與DN之間的開路、從VDD到DP的短路或從VDD到DN的短路。如果跨DP及DN發(fā)生短路或從DP到GND發(fā)生短路，那么下限狀態(tài)位經(jīng)設(shè)置且ALERT接腳確認(rèn)(除非經(jīng)遮蔽)。此條件無法與0.000℃(在擴(kuò)展范圍中，-64℃)的溫度測量區(qū)分，從而導(dǎo)致MSB及LSB寄存器中的溫度數(shù)據(jù)00h。如果從DN到GND的短路發(fā)生(其中二極管經(jīng)連接)，那么溫度測量將照常繼續(xù)而無警示。如圖3及4中示出的集成式裝置含有多個連續(xù)警示計(jì)數(shù)器。一組計(jì)數(shù)器應(yīng)用于ALERT接腳且第二組計(jì)數(shù)器應(yīng)用于THERM接腳。每一溫度測量信道具有用于ALERT及THERM接腳中的每一者的分開連續(xù)警示計(jì)數(shù)器。所有計(jì)數(shù)器是用戶可編程的且確定溫度信道必須超限或在對應(yīng)接腳經(jīng)確認(rèn)之前報告二極管故障的連續(xù)測量的數(shù)目。連續(xù)警示寄存器確定在ALERT或THERM接腳經(jīng)確認(rèn)之前必須在連續(xù)測量中多少次檢測超限誤差或二極管故障。另外，連續(xù)警示寄存器控制I2C超時功能性。發(fā)生于連續(xù)測量中的相同溫度信道上的超限條件(即，HIGH、LOW或FAULT)將遞增連續(xù)警示計(jì)數(shù)器。如果連續(xù)讀取中未發(fā)生超限條件或二極管故障，那么還將重設(shè)計(jì)數(shù)器。當(dāng)ALERT接腳經(jīng)配置為中斷時，當(dāng)連續(xù)警示計(jì)數(shù)器達(dá)到其經(jīng)編程值時，以下情況將發(fā)生：用于所述信道的STATUS位及最后誤差條件(即，E1HIGH或E2LOW及/或E2FAULT)將經(jīng)設(shè)置為“1”，ALERT接腳將經(jīng)確認(rèn)，連續(xù)警示計(jì)數(shù)器將經(jīng)清除，且測量將繼續(xù)。當(dāng)ALERT接腳經(jīng)配置為比較器時，連續(xù)警示計(jì)數(shù)器將忽略二極管故障及下限誤差且僅在所測量溫度超過上限時遞增。另外，一旦連續(xù)警示計(jì)數(shù)器達(dá)到經(jīng)編程限制，ALERT接腳將經(jīng)確認(rèn)，但計(jì)數(shù)器將不經(jīng)重設(shè)。其將保持設(shè)置直到溫度下降到低于上限減去熱滯后值為止。未經(jīng)啟用的信道不包含于連續(xù)警示檢查中。信號邏輯鏈?zhǔn)牵合拗?>計(jì)數(shù)器->狀態(tài)->屏蔽->接腳(THERM及ALERT)。例如，如果針對如圖3及4中示出的集成式裝置上的4個連續(xù)警示設(shè)置CALRT[2:0]位，上限設(shè)置在70℃，且無信道經(jīng)遮蔽，那么將在以下四次測量之后確認(rèn)ALERT接腳：a)內(nèi)部二極管讀取71℃且兩個外部二極管讀取69℃。用于INT的連續(xù)警示計(jì)數(shù)器經(jīng)遞增到1。b)內(nèi)部二極管及外部二極管1兩者讀取71℃且外部二極管2讀取68℃。用于INT的連續(xù)警示計(jì)數(shù)器經(jīng)遞增到2且用于EXT1的連續(xù)警示計(jì)數(shù)器經(jīng)設(shè)置為1。c)外部二極管1讀取71℃且內(nèi)部二極管及外部二極管2兩者讀取69℃。用于INT及EXT2的連續(xù)警示計(jì)數(shù)器經(jīng)清除且EXT1經(jīng)遞增到2。d)內(nèi)部二極管讀取71℃且兩個外部二極管讀取71℃。用于INT的連續(xù)警示計(jì)數(shù)器經(jīng)設(shè)置至1，EXT2經(jīng)設(shè)置為1，且EXT1經(jīng)遞增到3。e)內(nèi)部二極管讀取71℃且兩個外部二極管讀取71℃。用于INT的連續(xù)警示計(jì)數(shù)器經(jīng)遞增到2，EXT2經(jīng)設(shè)置至2且EXT1經(jīng)遞增到4。針對EXT1設(shè)置適當(dāng)狀態(tài)位且ALERT接腳經(jīng)確認(rèn)。EXT1計(jì)數(shù)器經(jīng)重設(shè)為0且所有其它計(jì)數(shù)器保持最后值直到下一溫度測量為止。所有溫度信道使用此值來設(shè)置相應(yīng)計(jì)數(shù)器。每當(dāng)任何測量超過對應(yīng)熱限制時，遞增連續(xù)熱計(jì)數(shù)器。如果溫度下降到低于熱限制，那么計(jì)數(shù)器經(jīng)重設(shè)。如果高于熱限制的數(shù)次連續(xù)測量發(fā)生，那么THERM接腳經(jīng)確認(rèn)為低。一旦已確認(rèn)THERM接腳，連續(xù)熱計(jì)數(shù)器將不重設(shè)直到對應(yīng)溫度下降到低于熱限制減去熱滯后值為止。默認(rèn)設(shè)置是4次連續(xù)超限轉(zhuǎn)換。所有溫度信道使用此值來設(shè)置相應(yīng)計(jì)數(shù)器。默認(rèn)設(shè)置是1個連續(xù)超限轉(zhuǎn)換。當(dāng)ALERT接腳處于比較器模式中時，下限及二極管故障將繞過連續(xù)警示計(jì)數(shù)器且設(shè)置適當(dāng)狀態(tài)位但將不確認(rèn)ALERT接腳。當(dāng)值經(jīng)寫入到未經(jīng)界定的此寄存器時，忽略命令且維持最后有效值。為了減少噪聲效應(yīng)及所報告溫度上的溫度峰值，外部二極管1信道使用可編程數(shù)字濾波器。此濾波器可經(jīng)配置為層次1、層次2或停用(默認(rèn))。濾波器配置寄存器控制外部二極管1信道上的數(shù)字濾波器。為了減少復(fù)雜性，數(shù)字濾波器將僅應(yīng)用于外部二極管信道1及2。此外，此僅是當(dāng)不針對給定信道啟用APD時的情況。其將在數(shù)字塊已基于動態(tài)平均化采用適當(dāng)11位之后應(yīng)用。濾波器包含外部二極管信道上的運(yùn)行平均值。層次1濾波器是運(yùn)行平均值4x，而層次2濾波器是運(yùn)行平均值8x。對于緊接充電之后的第一測量，濾波器將填充有第一測量的結(jié)果。此后，濾波器經(jīng)正常操作。將使用存儲于用戶寄存器中的經(jīng)濾波結(jié)果完成任何溫度比較。溫度測量結(jié)果經(jīng)存儲于內(nèi)部及外部溫度寄存器中。此類接著與存儲于上限及下限寄存器中的值比較。外部及內(nèi)部溫度測量兩者經(jīng)存儲為11位格式，其中八個(8)最高有效位存儲于高字節(jié)寄存器中且三個(3)最低有效位存儲于低字節(jié)寄存器的三個(3)MSB位置中。低字節(jié)寄存器的所有其它位經(jīng)設(shè)置為0。如圖3及4中示出的集成式裝置具有兩個可選溫度范圍。默認(rèn)范圍是從0℃到+127℃且溫度經(jīng)表示為能夠以0.125℃為步進(jìn)報告從0℃到+127.875℃的溫度的二進(jìn)制數(shù)。擴(kuò)展范圍是從-64℃到+191℃的擴(kuò)展溫度范圍。數(shù)據(jù)格式是偏移64℃的二進(jìn)制數(shù)。擴(kuò)展范圍用于測量具有已知大偏移的溫度二極管，其中二極管溫度加上偏移將等效于高于+127℃的溫度。如圖3及4中示出的集成式裝置的一些實(shí)施例支持讀取相同組接腳(DP1、DN1)及(DP2、DN2)上的兩個外部二極管。此類二極管經(jīng)連接，如圖7中示出。歸因于此類二極管的反平行連接，兩個二極管將通過VBE電壓(約0.7V)反向偏壓。由于此反向偏壓，僅推薦離散熱二極管(例如2N3904)放置于此類接腳上。如圖3及4中示出的集成式裝置的一些實(shí)施例可經(jīng)配置以測量CPU襯底晶體管、離散2N3904熱二極管或特定處理器二極管。二極管可如圖7中指示般連接。如圖3及4中示出的集成式裝置的一些實(shí)施例可經(jīng)配置以測量CPU襯底晶體管、離散2N3904熱二極管或外部二極管1或外部二極管2信道上的特定處理器二極管。對于如圖3及4中示出的集成式裝置的一些實(shí)施例，外部二極管2及外部二極管3信道經(jīng)配置以測量一對離散反平行二極管(共享于接腳DP2及DN2上)。圖7中示出用于外部二極管信道的所支持配置。圖8示出如圖3及4中示出的集成式裝置的各種可能外殼及接腳布置。當(dāng)前第1頁1 2 3