技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種利用光干涉法測(cè)量光學(xué)平板玻璃剪切模量的方法，具體按照以下步驟實(shí)施：步驟1：通過螺絲施加應(yīng)力于光學(xué)平板玻璃，并通過測(cè)量?jī)x器顯示應(yīng)力傳感器測(cè)量的應(yīng)力，記錄下應(yīng)力的大?。徊襟E2：保持步驟1中的應(yīng)力不變，通過讀數(shù)顯微鏡讀取在該應(yīng)力下牛頓環(huán)干涉圖像中心黑斑的直徑Q，然后計(jì)算出黑斑的半徑r；步驟3：通過螺絲改變應(yīng)力的值，重復(fù)步驟1和步驟2，得到光學(xué)平板玻璃的不同應(yīng)力及對(duì)應(yīng)不同應(yīng)力情況下牛頓環(huán)干涉圖像中心黑斑的直徑Q及半徑r；步驟4：計(jì)算光學(xué)平板玻璃的剪切模量G。本發(fā)明測(cè)量方法簡(jiǎn)單，且測(cè)量周期相比傳統(tǒng)縮短，測(cè)量應(yīng)用范圍擴(kuò)大，沒有大量的材料耗損，測(cè)量性重復(fù)好，且可用于測(cè)量小樣品光學(xué)平板玻璃。

技術(shù)研發(fā)人員：郭長(zhǎng)立;馮小強(qiáng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西安科技大學(xué)
文檔號(hào)碼：201611148049
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.13
技術(shù)公布日：2017.05.10