本發(fā)明屬于光干涉測(cè)量?jī)x器技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀及其測(cè)量方法。
背景技術(shù):
泰曼型干涉儀采用被測(cè)光束與參考光束的分光路設(shè)計(jì),與斐索型共光路干涉儀相比,泰曼型干涉儀的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。目前,泰曼型同步移相干涉儀的主要是采用偏振干涉技術(shù),相比于時(shí)間移相干涉測(cè)試技術(shù),它能夠在同一時(shí)間、不同空間位置獲得多幅移相干涉圖,有效地抑制了振動(dòng)、空氣擾動(dòng)等時(shí)變因素的影響。泰曼型同步移相干涉儀的基本結(jié)構(gòu)是通過前置輔助組件產(chǎn)生兩束偏振態(tài)正交的光,經(jīng)偏振分光棱鏡分別引入到參考臂和測(cè)試臂,在參考臂和測(cè)試臂放置相位延遲片,改變?cè)贩祷睾髤⒖脊夂蜏y(cè)試光的偏振態(tài),經(jīng)偏振分光棱鏡出射的兩束正交偏振光無法形成干涉場(chǎng),需在后續(xù)光路中通過輔助組件,產(chǎn)生多幅偏振移相干涉圖。然而其偏振移相采集模塊的制作相對(duì)困難且成本高,且結(jié)構(gòu)復(fù)雜,從而導(dǎo)致儀器成本高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種精度高、成本低、方便實(shí)用、可小型化的泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀及其測(cè)量方法。
實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的技術(shù)解決方案為:一種泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀,其特征在于,包括:點(diǎn)光源及其分光組件、主干涉儀和分光成像組件,由點(diǎn)光源發(fā)出的球面波經(jīng)分光組件分成四束后進(jìn)入主干涉儀,最后通過分光成像組件在一個(gè)CCD上同時(shí)獲取四幅相移干涉圖,其中:
所述點(diǎn)光源及其分光組件用于產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同但空間位置不同的發(fā)散球面波;
所述主干涉儀為泰曼型干涉儀,使從參考面反射回的參考光和測(cè)試面反射回的測(cè)試光形成干涉場(chǎng);
所述分光成像組件用于將四個(gè)光源分別經(jīng)參考面與測(cè)試面反射產(chǎn)生的干涉場(chǎng)在CCD靶面上分開,并且使得CCD靶面與測(cè)試面共軛。
進(jìn)一步地,所述分光組件包括順次共光軸設(shè)置的第一準(zhǔn)直物鏡、棋盤光柵、第一會(huì)聚物鏡和孔徑光闌,所述孔徑光闌濾出棋盤光柵的(±1,±1)級(jí)四束衍射光,并且濾除其它級(jí)次衍射光,所得的四束衍射光復(fù)振幅相同,并且分別位于正方形的四個(gè)頂點(diǎn),該正方形位于第一會(huì)聚物鏡的焦面,但中心不在主干涉儀的光軸上,該正方形的邊長(zhǎng)d即相鄰發(fā)散球面波的橫向錯(cuò)位距離,d由棋盤光柵與第一會(huì)聚物鏡確定:
d=2f1λ/Λ
其中,f1為第一會(huì)聚物鏡的焦距,λ為入射光波長(zhǎng),Λ為棋盤光柵的光柵周期。
進(jìn)一步地,所述主干涉儀包括共光軸設(shè)置的第二準(zhǔn)直物鏡、分光棱鏡、參考面和測(cè)試面,由點(diǎn)光源發(fā)出的球面波經(jīng)分光組件分成四束后進(jìn)入主干涉儀,進(jìn)入主干涉儀的四束光分別由第二準(zhǔn)直物鏡擴(kuò)束,經(jīng)分光棱鏡后,分別通過參考面和測(cè)試面,其中每束光分別被參考面和測(cè)試面反射形成參考光和測(cè)試光,參考光和測(cè)試光沿原路返回并分別經(jīng)分光棱鏡透射和反射,進(jìn)入分光成像組件。
進(jìn)一步地,所述分光成像組件包括順次共光軸設(shè)置的第二會(huì)聚物鏡、透鏡陣列、成像物鏡、CCD,所述透鏡陣列位于第二會(huì)聚物鏡的焦面;
經(jīng)參考面與測(cè)試面反射回來的四組參考光與測(cè)試光,分別經(jīng)過透鏡陣列中各個(gè)透鏡的物方主點(diǎn),成像物鏡將經(jīng)過透鏡陣列的四組參考光與測(cè)試光準(zhǔn)直成平行光,該平行光在CCD的靶面上形成四個(gè)分開的光斑。
進(jìn)一步地,所述透鏡陣列為2×2負(fù)透鏡陣列,每個(gè)負(fù)透鏡的焦距f2滿足f2=-dF#,其中d為相鄰發(fā)散球面波的橫向錯(cuò)位距離,F(xiàn)#為主干涉儀中第二準(zhǔn)直物鏡的F數(shù)。
進(jìn)一步地,所述成像物鏡的前焦面與透鏡陣列的像方主面重合,成像物鏡的焦距f3滿足f3≤LF#/2,其中L為CCD靶面的寬度。
進(jìn)一步地,所述CCD的靶面與主干涉儀中測(cè)試面共軛,CCD的靶面與成像物鏡像方主面之間的距離l為
一種基于權(quán)利要求1所述泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀的測(cè)量方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1,點(diǎn)光源通過分光組件產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同但空間位置不同的發(fā)散球面波,該四個(gè)發(fā)散球面波分別位于正方形的四個(gè)頂點(diǎn),該正方形的中心不在主干涉儀的光軸上,將被測(cè)件置于主干涉儀中作為測(cè)試面,調(diào)整測(cè)試面使測(cè)試光與參考光的光程,使得CCD上同時(shí)獲取四幅相移干涉圖;
步驟2,令x、y分別為所述正方形中心與主干涉儀光軸之間距離在水平、豎直方向上的投影長(zhǎng)度,且滿足或者調(diào)節(jié)測(cè)試臂與參考臂長(zhǎng)的差值D為或者得到相移量依次遞增π/2的四幅干涉圖,其中f4為主干涉儀中準(zhǔn)直物鏡的焦距,k=2π/λ為波矢,λ為入射光波長(zhǎng);
步驟3,從一幀CCD圖像上提取出四幅干涉圖,通過移相算法對(duì)四幅干涉圖進(jìn)行處理,恢復(fù)出測(cè)試面的面形或波像差。
進(jìn)一步地,步驟1所述CCD上同時(shí)獲取四幅相移干涉圖,忽略常數(shù)相移因子-2Dk,每幅干涉圖的相移量δ(r)滿足:
δ(r)=Dk(r/f4)2
其中,D為參考臂與測(cè)試臂長(zhǎng)的差值,k=2π/λ為波矢,為發(fā)散球面波到主干涉儀光軸之間的錯(cuò)位距離,f4為主干涉儀中準(zhǔn)直物鏡的焦距。
進(jìn)一步地,步驟3所述移相算法為隨機(jī)移相算法或者四步移相算法。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,其顯著優(yōu)點(diǎn)在于:(1)可實(shí)現(xiàn)泰曼同步移相干涉測(cè)量;(2)僅用一個(gè)普通點(diǎn)光源即可實(shí)現(xiàn)移相,成本較低;(3)無需其它偏振元件,結(jié)構(gòu)緊湊;(4)測(cè)試過程簡(jiǎn)單,調(diào)整方便,對(duì)環(huán)境的要求較低,使測(cè)試更容易實(shí)現(xiàn)。
附圖說明
圖1是本發(fā)明泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本發(fā)明泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀用于測(cè)量球面鏡的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是點(diǎn)光源存在橫向偏移導(dǎo)致準(zhǔn)直光產(chǎn)生傾斜的光路示意圖。
圖4是傾斜光入射在干涉光場(chǎng)間引入相移的示意圖。
圖5是四個(gè)點(diǎn)光源與準(zhǔn)直物鏡焦點(diǎn)的相對(duì)位置示意圖。
圖中:1、點(diǎn)光源;2、分光組件;3、第一準(zhǔn)直物鏡;4、棋盤光柵;5、第一會(huì)聚物鏡;6、孔徑光闌;7、第二準(zhǔn)直物鏡;8、分光棱鏡;9、參考面;10、測(cè)試面;11、分光成像組件;12、第二會(huì)聚物鏡;13、透鏡陣列;14、成像物鏡;15、CCD。
具體實(shí)施方式
結(jié)合圖1,本發(fā)明泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀,其特征在于,包括:點(diǎn)光源1及其分光組件2、主干涉儀和分光成像組件11,由點(diǎn)光源1發(fā)出的球面波經(jīng)分光組件2分成四束后進(jìn)入主干涉儀,最后通過分光成像組件11在一個(gè)CCD上同時(shí)獲取四幅相移干涉圖,其中:
(1)所述點(diǎn)光源1及其分光組件2用于產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同但空間位置不同的發(fā)散球面波;
所述分光組件2包括順次共光軸設(shè)置的第一準(zhǔn)直物鏡3、棋盤光柵4、第一會(huì)聚物鏡5和孔徑光闌6,所述孔徑光闌6濾出棋盤光柵4的(±1,±1)級(jí)四束衍射光,并且濾除其它級(jí)次衍射光,所得的四束衍射光復(fù)振幅相同,并且分別位于正方形的四個(gè)頂點(diǎn),該正方形位于第一會(huì)聚物鏡5的焦面,但該正方形的中心不在主干涉儀的光軸上,該正方形的邊長(zhǎng)d即相鄰發(fā)散球面波的橫向錯(cuò)位距離,d由棋盤光柵4與第一會(huì)聚物鏡5確定:
d=2f1λ/Λ
其中,f1為第一會(huì)聚物鏡5的焦距,λ為入射光波長(zhǎng),Λ為棋盤光柵4的光柵周期。
(2)所述主干涉儀為泰曼型干涉儀,使從參考面反射回的參考光和測(cè)試面反射回的測(cè)試光形成干涉場(chǎng);
所述主干涉儀包括共光軸設(shè)置的第二準(zhǔn)直物鏡7、分光棱鏡8、參考面9和測(cè)試面10,由點(diǎn)光源1發(fā)出的球面波經(jīng)分光組件2分成四束后進(jìn)入主干涉儀,進(jìn)入主干涉儀的四束光分別由第二準(zhǔn)直物鏡7擴(kuò)束,經(jīng)分光棱鏡8后,分別通過參考面9和測(cè)試面10,其中每束光分別被參考面9和測(cè)試面10反射形成參考光和測(cè)試光,參考光和測(cè)試光沿原路返回并分別經(jīng)分光棱鏡8透射和反射,進(jìn)入分光成像組件11。
(3)所述分光成像組件11用于將四個(gè)光源分別經(jīng)參考面與測(cè)試面反射產(chǎn)生的干涉場(chǎng)在CCD靶面上分開,并且使得CCD靶面與測(cè)試面共軛。
所述分光成像組件包括順次共光軸設(shè)置的第二會(huì)聚物鏡12、透鏡陣列13、成像物鏡14、CCD15,所述透鏡陣列13位于第二會(huì)聚物鏡12的焦面;經(jīng)參考面與測(cè)試面反射回來的四組參考光與測(cè)試光,分別經(jīng)過透鏡陣列13中各個(gè)透鏡的物方主點(diǎn),成像物鏡14將經(jīng)過透鏡陣列13的四組參考光與測(cè)試光準(zhǔn)直成平行光,該平行光在CCD15的靶面上形成四個(gè)分開的光斑。
所述透鏡陣列13為2×2負(fù)透鏡陣列,每個(gè)負(fù)透鏡的焦距f2滿足f2=-dF#,其中d為相鄰發(fā)散球面波的橫向錯(cuò)位距離,F(xiàn)#為主干涉儀中第二準(zhǔn)直物鏡7的F數(shù)。
所述成像物鏡14的前焦面與透鏡陣列13的像方主面重合,成像物鏡14的焦距f3滿足f3≤LF#/2,其中L為CCD15靶面的寬度。
所述CCD15的靶面與主干涉儀中測(cè)試面10共軛,CCD15的靶面與成像物鏡14像方主面之間的距離l為
本發(fā)明基于泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀的測(cè)量方法,包括以下步驟:
步驟1,點(diǎn)光源通過分光組件產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同但空間位置不同的發(fā)散球面波,該四個(gè)發(fā)散球面波分別位于正方形的四個(gè)頂點(diǎn),該正方形的中心不在主干涉儀的光軸上,將被測(cè)件置于主干涉儀中作為測(cè)試面,調(diào)整測(cè)試面使測(cè)試光與參考光的光程大致相等,使得CCD上同時(shí)獲取四幅相移干涉圖;所述CCD上同時(shí)獲取四幅相移干涉圖,忽略常數(shù)相移因子-2Dk,每幅干涉圖的相移量δ(r)滿足:
δ(r)=Dk(r/f4)2
其中,D為參考臂與測(cè)試臂長(zhǎng)的差值,k=2π/λ為波矢,為發(fā)散球面波到主干涉儀光軸之間的錯(cuò)位距離,f4為主干涉儀中準(zhǔn)直物鏡的焦距。
步驟2,令x、y分別為所述正方形中心與主干涉儀光軸之間距離在水平、豎直方向上的投影長(zhǎng)度,且滿足或者調(diào)節(jié)測(cè)試臂與參考臂長(zhǎng)的差值D為或者得到相移量依次遞增π/2的四幅干涉圖,其中f4為準(zhǔn)直物鏡的焦距,k=2π/λ為波矢,λ為入射光波長(zhǎng);
步驟3,從一幀CCD圖像上提取出四幅干涉圖,通過移相算法對(duì)四幅干涉圖進(jìn)行處理,恢復(fù)出測(cè)試面的面形或波像差;所述移相算法為隨機(jī)移相算法或者四步移相算法。
實(shí)施例1
本發(fā)明泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀光路結(jié)構(gòu)如圖1所示,包括了,
1)點(diǎn)光源1及其分光組件2用于產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同但空間位置不同的發(fā)散球面波。分光組件包括第一準(zhǔn)直物鏡3、棋盤光柵4、第一會(huì)聚物鏡5、孔徑光闌6。點(diǎn)光源1經(jīng)過第一準(zhǔn)直物鏡3與棋盤光柵4后產(chǎn)生多個(gè)衍射級(jí)次,經(jīng)會(huì)聚物鏡5會(huì)聚后,孔徑光闌6濾出棋盤光柵4的(±1,±1)級(jí)四支光,并且濾除其它級(jí)次衍射光。這四個(gè)點(diǎn)光源分別位于正方形的四個(gè)頂點(diǎn),且其所構(gòu)成的正方形的中心不在主干涉儀的光軸上。正方形的邊長(zhǎng)d由棋盤光柵與會(huì)聚物鏡確定。滿足d=2f1λ/Λ,其中f1為第一會(huì)聚物鏡的焦距,λ為入射光波長(zhǎng),Λ為棋盤光柵的光柵周期。
2)主干涉儀,所述主干涉儀為泰曼型干涉儀,使分別從參考面和測(cè)試面反射回的兩束光波形成干涉場(chǎng),所述主干涉儀包括第二準(zhǔn)直物鏡7、分光棱鏡8、參考面9和測(cè)試面10,進(jìn)入主干涉儀的四束光分別由第二準(zhǔn)直物鏡7擴(kuò)束,經(jīng)分光棱鏡8后,分別通過參考面9和測(cè)試面10,其中每束光分別被參考面9和測(cè)試面10反射沿各自原光路返回并分別經(jīng)分光棱鏡8透射和反射,進(jìn)入分光成像組件11。
3)分光成像組件11,用于將四個(gè)光源分別經(jīng)參考面9與測(cè)試面10反射產(chǎn)生的干涉場(chǎng)在CCD15靶面上分開,并且使得CCD15靶面與測(cè)試面10共軛。分光成像組件11包括第二會(huì)聚物鏡12、透鏡陣列13、成像物鏡14、CCD15。經(jīng)參考面9與測(cè)試面10反射回來的四組參考光與測(cè)試光,分別經(jīng)過透鏡陣列13中各個(gè)透鏡的物方主點(diǎn)。透鏡陣列13為2×2負(fù)透鏡陣列,其每一個(gè)透鏡的作用相當(dāng)于場(chǎng)鏡。焦距f2滿足f2≈-dF#。其中F#為第二準(zhǔn)直物鏡7的F數(shù)。成像物鏡14用于將經(jīng)過透鏡陣列13的四組參考光與測(cè)試光準(zhǔn)直成平行光,并且使得在CCD15靶面上的四組光斑是分開的。成像物鏡14的前焦面與透鏡陣列13的像方主面重合。成像物鏡14的焦距滿足f3≤LF#/2,其中L為CCD15靶面的寬度。CCD15的靶面與測(cè)試面10共軛,與成像物鏡14像方主面之間的距離近似為
所述泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀原理如下:
如圖3所示,當(dāng)位于第二準(zhǔn)直物鏡7前焦面的四個(gè)點(diǎn)光源與其焦點(diǎn)存在一個(gè)橫向錯(cuò)位距離r時(shí),經(jīng)過第二準(zhǔn)直物鏡7后的光束與光軸存在一個(gè)角度θ=r/f4,其中f4為第二準(zhǔn)直物鏡7的焦距。從而在被參考面9與測(cè)試面10反射所產(chǎn)生的干涉場(chǎng)中引入一個(gè)常數(shù)相移量。如圖4所示,根據(jù)幾何光學(xué)性質(zhì)其相移量為δ(r)=k(AD-AB-BC)=-2Dcosθ,由于θ很小,在小角度近似可以得到δ(r)=Dk(r/f4)2,這里忽略了一個(gè)常數(shù)相移因子-2Dk,其中D為參考臂與測(cè)試臂長(zhǎng)的差值,k=2π/λ為波矢。
對(duì)于所述的泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀而言,點(diǎn)光源1通過分光組件2產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同的點(diǎn)光源,如圖5所示,以四個(gè)點(diǎn)光源的中心為坐標(biāo)原點(diǎn),第二準(zhǔn)直物鏡7的前焦點(diǎn)的坐標(biāo)為(x,y),不失一般性,我們假設(shè)0<x≤y,此時(shí)每個(gè)點(diǎn)光源對(duì)應(yīng)干涉圖的相移量與其最小相移量之間差值從小到大依次為:0、采用隨機(jī)移相算法重構(gòu)相位。特別的,當(dāng)(x,y)滿足時(shí),每幅干涉圖的相移量與其最小相移量之間差值從小到大依次為0、π/2、π、3π/2,采用四步移相算法重構(gòu)相位。
使用上述泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀測(cè)量的步驟為:
1)打開點(diǎn)光源1并待其穩(wěn)定;
2)按泰曼干涉儀光路放置被測(cè)件,打開計(jì)算機(jī)及干涉圖數(shù)據(jù)處理軟件,調(diào)出實(shí)時(shí)采集到的干涉條紋;
3)調(diào)節(jié)測(cè)試面10與參考面9相對(duì)分光棱鏡的的距離差約為使得四幅干涉圖之間從小到大依次產(chǎn)生約π/2相移量;
4)調(diào)整測(cè)試面10的位置和傾斜狀態(tài),使視場(chǎng)內(nèi)條紋最少;
5)選取四幅干涉圖的中心,在一幀CCD圖像上提取出四幅干涉圖;
6)通過隨機(jī)移相算法或者四步移相算法,對(duì)四幅干涉圖進(jìn)行計(jì)算,恢復(fù)出測(cè)試面面形或波像差。
實(shí)施例2
本發(fā)明泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀用于測(cè)量球面鏡光路結(jié)構(gòu)如圖2所示,包括了,
1)點(diǎn)光源1及其分光組件2用于產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同但空間位置不同的發(fā)散球面波。分光組件包括第一準(zhǔn)直物鏡3、棋盤光柵4、第一會(huì)聚物鏡5、孔徑光闌6。點(diǎn)光源1經(jīng)過第一準(zhǔn)直物鏡3與棋盤光柵4后產(chǎn)生多個(gè)衍射級(jí)次,經(jīng)第一會(huì)聚物鏡5會(huì)聚后,孔徑光闌6濾出棋盤光柵4的(±1,±1)級(jí)四支光,并且濾除其它級(jí)次衍射光。這四個(gè)點(diǎn)光源分別位于正方形的四個(gè)頂點(diǎn),且其所構(gòu)成的正方形的中心不在主干涉儀的光軸上。正方形的邊長(zhǎng)d由棋盤光柵與會(huì)聚物鏡確定。滿足d=2f1λ/Λ,其中f1為第一會(huì)聚物鏡的焦距,λ為入射光波長(zhǎng),Λ為棋盤光柵的光柵周期。
2)主干涉儀,所述主干涉儀為泰曼型干涉儀,使分別從參考面和測(cè)試面反射回的兩束光波形成干涉場(chǎng),所述主干涉儀包括第二準(zhǔn)直物鏡7、分光棱鏡8、參考面9和測(cè)試組件16,測(cè)試組件16包括顯微物鏡17和待測(cè)球面鏡18。進(jìn)入主干涉儀的四束光分別由第二準(zhǔn)直物鏡7擴(kuò)束,經(jīng)分光棱鏡8后,通過參考面9并沿原光路返回的光作為參考光,通過顯微物鏡17會(huì)聚于待測(cè)球面鏡18的球心,經(jīng)球面鏡18后沿原光路返回作為測(cè)試光,參考光和測(cè)試光分別經(jīng)分光棱鏡8透射和反射,進(jìn)入分光成像組件11。
3)分光成像組件11,用于將四個(gè)光源分別經(jīng)參考面9與測(cè)試面10反射產(chǎn)生的干涉場(chǎng)在CCD15靶面上分開,并且使得CCD15靶面與測(cè)試面10共軛。分光成像組件11包括第二會(huì)聚物鏡12、透鏡陣列13、成像物鏡14、CCD15。經(jīng)參考面9與待測(cè)球面17反射回來的四組參考光與測(cè)試光,分別經(jīng)過透鏡陣列13中各個(gè)透鏡的物方主點(diǎn)。透鏡陣列13為2×2負(fù)透鏡陣列,其每一個(gè)透鏡的作用相當(dāng)于場(chǎng)鏡。焦距f2滿足f2≈-dF#。其中F#為第二準(zhǔn)直物鏡7的F數(shù)。成像物鏡14用于將經(jīng)過透鏡陣列13的四組參考光與測(cè)試光準(zhǔn)直成平行光,并且使得在CCD15靶面上的四組光斑是分開的。成像物鏡14的前焦面與透鏡陣列13的像方主面重合。成像物鏡14的焦距滿足f3≤LF#/2,其中L為CCD15靶面的寬度。CCD15的靶面與待測(cè)球面17近似共軛,與成像物鏡14像方主面之間的距離近似為
所述泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀用于測(cè)量球面鏡的原理如下:
如圖3所示,當(dāng)位于第二準(zhǔn)直物鏡7前焦面的四個(gè)點(diǎn)光源與其焦點(diǎn)存在一個(gè)橫向錯(cuò)位距離r時(shí),經(jīng)過第二準(zhǔn)直物鏡7后的光束與光軸存在一個(gè)角度θ=r/f4,其中f4為第二準(zhǔn)直物鏡7的焦距。從而在被參考面9與測(cè)試組件16反射所產(chǎn)生的干涉場(chǎng)中引入一個(gè)常數(shù)相移量。如圖4所示,根據(jù)幾何光學(xué)性質(zhì)其相移量為δ(r)=k(AD-AB-BC)=-2Dcosθ,由于θ很小,在小角度近似可以得到δ(r)=Dk(r/f4)2,這里忽略了一個(gè)常數(shù)相移因子-2Dk,其中D為參考臂與測(cè)試臂長(zhǎng)的差值,k=2π/λ為波矢。
對(duì)于所述的泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀而言,點(diǎn)光源1通過分光組件2產(chǎn)生四個(gè)復(fù)振幅相同的點(diǎn)光源,如圖5所示,以四個(gè)點(diǎn)光源的中心為坐標(biāo)原點(diǎn),第二準(zhǔn)直物鏡7的前焦點(diǎn)的坐標(biāo)為(x,y),不失一般性,我們假設(shè)0<x≤y,此時(shí)每個(gè)點(diǎn)光源對(duì)應(yīng)干涉圖的相移量與其最小相移量之間差值從小到大依次為:0、采用隨機(jī)移相算法重構(gòu)相位。特別的,當(dāng)(x,y)滿足時(shí),每幅干涉圖的相移量與其最小相移量之間差值從小到大依次為0、π/2、π、3π/2,采用四步移相算法重構(gòu)相位。
使用上述泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀測(cè)量的步驟為:
1)打開點(diǎn)光源1并待其穩(wěn)定;
2)按泰曼干涉儀光路放置被測(cè)件,打開計(jì)算機(jī)及干涉圖數(shù)據(jù)處理軟件,調(diào)出實(shí)時(shí)采集到的干涉條紋;
3)調(diào)節(jié)待測(cè)球面18與參考面9相對(duì)分光棱鏡的的距離差約為使得四幅干涉圖之間從小到大依次產(chǎn)生約π/2相移量;
4)調(diào)整待測(cè)球面18的位置和傾斜狀態(tài),使視場(chǎng)內(nèi)條紋最少;
5)選取四幅干涉圖的中心,在一幀CCD圖像上提取出四幅干涉圖;
6)通過隨機(jī)移相算法或者四步移相算法,對(duì)四幅干涉圖進(jìn)行計(jì)算,恢復(fù)出測(cè)試面面形或波像差。
綜上所述,本發(fā)明泰曼型點(diǎn)源陣列異位同步移相干涉儀,利用四個(gè)點(diǎn)光源與光軸的橫向偏移在參考光與測(cè)試光的干涉場(chǎng)中引入相移,通過一幀圖像恢復(fù)相位,實(shí)現(xiàn)了動(dòng)態(tài)測(cè)量。由于沒有偏振元件以及PZT等移相元件的引入,其成本低,結(jié)構(gòu)緊湊,易于實(shí)現(xiàn)小型化。此外,測(cè)試過程簡(jiǎn)單,調(diào)整方便,對(duì)環(huán)境的要求較低,使測(cè)試更容易實(shí)現(xiàn)。