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液晶面板的缺陷檢測裝置的制作方法

文檔序號(hào):11175613閱讀:974來源:國知局
液晶面板的缺陷檢測裝置的制造方法

本發(fā)明涉及機(jī)器視覺液晶外觀檢測領(lǐng)域,更具體地,涉及液晶面板的缺陷檢測裝置。



背景技術(shù):

一塊液晶屏主要包括兩部分:背光源模塊和液晶面板(opencell,oc)。其中,液晶面板只是液晶屏的一個(gè)部件。液晶面板主要包括:液晶層、偏光片和印刷電路板(printedcircuitboard,pcb)等。傳統(tǒng)的液晶面板表面質(zhì)量檢測方法主要是人工檢測的方法。人工檢測不僅工作量大,而且易受檢測人員主觀因素的影響,容易對產(chǎn)品表面缺陷造成漏檢,尤其是對變形較小、畸變不大等缺陷的漏檢,極大降低了產(chǎn)品的表面質(zhì)量,從而不能夠保證檢測的效率與精度。

近年來,迅速發(fā)展的以圖像處理技術(shù)為基礎(chǔ)的機(jī)器視覺技術(shù)恰恰可以解決這一問題。機(jī)器視覺主要是采用計(jì)算機(jī)來模擬人的視覺功能,從待測事物的圖像中提取信息,進(jìn)行處理并加以理解,最終用于實(shí)際檢測、測量和控制。基于機(jī)器視覺技術(shù)的缺陷檢測系統(tǒng)是非接觸檢測,具有較高的準(zhǔn)確度、較寬的光譜響應(yīng)范圍,可進(jìn)行長時(shí)間的穩(wěn)定工作,同時(shí)節(jié)省大量勞動(dòng)力資源,極大地提高工作效率。

針對液晶面板的缺陷檢測,現(xiàn)有技術(shù)提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,包括:預(yù)先定位單元、檢測臺(tái)、運(yùn)送單元、攝像單元、同軸照明單元、斜光照明單元、背照光單元、四個(gè)反射鏡和吸附翻轉(zhuǎn)單元。預(yù)先定位單元上設(shè)置有液晶面板,預(yù)先定位單元和檢測臺(tái)均位于運(yùn)送單元運(yùn)動(dòng)路徑的同側(cè),攝像單元正對著檢測臺(tái),同軸照明單元和四個(gè)反射鏡設(shè)置在照明箱內(nèi),照明箱位于攝像單元與檢測臺(tái)之間,斜光照明單元位于照明箱的斜下方,背照光單元位于檢測臺(tái)的下方,吸附翻轉(zhuǎn)單元設(shè)置在檢測臺(tái)上。

上述這種液晶面板的缺陷檢測裝置,同時(shí)具有同軸照明單元、斜光照明單元和背照光單元,可以在各種照明條件下對液晶面板進(jìn)行照射,不同照明單元可以同時(shí)照射液晶面板的一個(gè)表面,并通過相對于運(yùn)送單元獨(dú)立的吸附翻轉(zhuǎn)單元將位于檢查臺(tái)上的液晶面板翻轉(zhuǎn)180度,以實(shí)現(xiàn)液晶面板正反兩面的檢測。但是,由于完成液晶面板一個(gè)面的檢測后,液晶面板依然在檢測臺(tái)上,吸附翻轉(zhuǎn)單元需要先吸附液晶面板再進(jìn)行旋轉(zhuǎn),在旋轉(zhuǎn)結(jié)束后還要一定時(shí)間使液晶面板處于平穩(wěn)狀態(tài),再將液晶面板放在檢測臺(tái)上進(jìn)行另一個(gè)面的檢測。從完成一個(gè)面的檢測到開始另一個(gè)面的檢測需要花費(fèi)大量時(shí)間,使檢測液晶面板的速度受到限制。同時(shí),在對液晶面板進(jìn)行翻轉(zhuǎn)的過程中可能會(huì)導(dǎo)致液晶面板的脫落,造成損失。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

為克服上述問題或者至少部分地解決上述問題,本發(fā)明提供了液晶面板的缺陷檢測裝置。

本發(fā)明提供的液晶面板的缺陷檢測裝置包括:第一表面檢測單元、第二表面檢測單元、第一液晶面板移動(dòng)單元和第二液晶面板移動(dòng)單元;所述第一表面檢測單元位于所述第一液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的下方,所述第二表面檢測單元位于所述第二液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的上方;所述第一表面檢測單元包括:第一圖像獲取子單元和第一光源子單元,所述第一圖像獲取子單元的中心和所述第一光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且所述第一圖像獲取子單元到所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于所述第一光源子單元到所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離;所述第二表面檢測單元包括:第二圖像獲取子單元和第二光源子單元,所述第二圖像獲取子單元的中心和所述第二光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且所述第二圖像獲取子單元到所述第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于所述第二光源子單元到所述第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。

優(yōu)選地,所述缺陷檢測裝置還包括:第一pcb檢測單元和第二pcb檢測單元;所述第一pcb檢測單元位于所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的下方,所述第二pcb檢測單元位于所述第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的上方;所述第一pcb檢測單元包括:第三圖像獲取子單元和第三光源子單元,所述第三圖像獲取子單元的中心和所述第三光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且所述第三圖像獲取子單元到所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于所述第三光源子單元到所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離;所述第二pcb檢測單元包括:第四圖像獲取子單元和第四光源子單元,所述第四圖像獲取子單元的中心和所述第四光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且所述第四圖像獲取子單元到所述第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于所述第四光源子單元到所述第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。

優(yōu)選地,所述缺陷檢測裝置還包括:第一標(biāo)識(shí)獲取單元、第二標(biāo)識(shí)獲取單元和第三移動(dòng)單元;所述第一標(biāo)識(shí)獲取單元位于所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的下方,所述第二標(biāo)識(shí)獲取單元位于所述第三移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的上方;所述第一標(biāo)識(shí)獲取單元包括:第五圖像獲取子單元和第五光源子單元,所述第五圖像獲取子單元的中心和所述第五光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且所述第五圖像獲取子單元到所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于所述第五光源子單元到所述第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離;所述第二標(biāo)識(shí)獲取單元包括:第六圖像獲取子單元和第六光源子單元,所述第六圖像獲取子單元的中心和所述第六光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且所述第六圖像獲取子單元到所述第三移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于所述第六光源子單元到所述第三移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。

優(yōu)選地,所述第一圖像獲取子單元、第二圖像獲取子單元、第三圖像獲取子單元、第四圖像獲取子單元、第五圖像獲取子單元和/或第六圖像獲取子單元為線陣相機(jī)和與所述線陣相機(jī)配合使用的鏡頭。

優(yōu)選地,缺陷檢測裝置還包括:第四液晶面板移動(dòng)單元;所述第四液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的起始位置為所述第三液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的結(jié)束位置。

優(yōu)選地,所述第一液晶面板移動(dòng)單元、所述第二液晶面板移動(dòng)單元、所述第三液晶面板移動(dòng)單元和所述第四液晶面板移動(dòng)單元分別為第一機(jī)械手、第二機(jī)械手、第三機(jī)械手和第四機(jī)械手;在所述第一機(jī)械手、所述第二機(jī)械手和所述第三機(jī)械手上均設(shè)置有吸盤。

優(yōu)選地,所述缺陷檢測裝置還包括:可上升至預(yù)設(shè)位置的升降單元;所述升降單元運(yùn)動(dòng)路徑的起始位置位于所述第四機(jī)械手運(yùn)動(dòng)路徑的結(jié)束位置。

優(yōu)選地,所述缺陷檢測裝置還包括:傳送皮帶;所述傳送皮帶位于所述第一液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的起始位置。

優(yōu)選地,所述缺陷檢測裝置還包括:控制單元;所述控制單元分別與所述第一表面檢測單元、所述第二表面檢測單元、所述第一液晶面板移動(dòng)單元和所述第二液晶面板移動(dòng)單元連接。

優(yōu)選地,所述缺陷檢測裝置還包括:第一皮帶和第二皮帶;所述第一皮帶位于所述預(yù)設(shè)位置處;所述第二皮帶與所述升降單元連接。

本發(fā)明提供的液晶面板的缺陷檢測裝置,分別通過第一表面檢測單元和第二表面檢測單元對液晶面板正反表面的缺陷進(jìn)行檢測,能夠快速準(zhǔn)確地檢測出液晶面板表面的各種不良缺陷,并可降低液晶面板被損壞的可能性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例1提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖2為本發(fā)明實(shí)施例1提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖3為本發(fā)明實(shí)施例1提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖4為本發(fā)明實(shí)施例2提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖5為本發(fā)明實(shí)施例2提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖6為本發(fā)明實(shí)施例2提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖7為本發(fā)明實(shí)施例3提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖8為本發(fā)明實(shí)施例3提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)圖;

圖9為本發(fā)明實(shí)施例7提供的一種液晶面板的缺陷檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明,但不用來限制本發(fā)明的范圍。

本發(fā)明的實(shí)施例1提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,包括:第一表面檢測單元、第二表面檢測單元、第一液晶面板移動(dòng)單元和第二液晶面板移動(dòng)單元。其中,第一表面檢測單元位于第一液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的下方,第二表面檢測單元位于第二液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的上方。

第一表面檢測單元包括:第一圖像獲取子單元和第一光源子單元,第一圖像獲取子單元的中心和第一光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且第一圖像獲取子單元到第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于第一光源子單元到第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。第二表面檢測單元包括:第二圖像獲取子單元和第二光源子單元,第二圖像獲取子單元的中心和第二光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且第二圖像獲取子單元到第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于第二光源子單元到第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。

具體地,第一表面檢測單元和第二表面檢測單元分別用于檢測液晶面板的反面表面和正面表面,即第一表面檢測單元檢測的是液晶面板的反面表面,第二表面檢測單元檢測的是液晶面板的正面表面。液晶面板的正面是指能夠顯示圖像的一面,相應(yīng)地,液晶面板的反面是指與液晶面板的正面相對的一面。第一圖像獲取子單元為第一線陣相機(jī)和與第一線陣相機(jī)配合使用的鏡頭,第二圖像獲取子單元為第二線陣相機(jī)和與第二線陣相機(jī)配合使用的鏡頭。第一液晶面板移動(dòng)單元為第一機(jī)械手,第二液晶面板移動(dòng)單元為第二機(jī)械手。在第一機(jī)械手和第二機(jī)械手上均設(shè)置有吸盤。

對液晶面板的正反面表面進(jìn)行檢測的順序根據(jù)液晶面板的缺陷檢測裝置的具體結(jié)構(gòu)而定,并不一定是先通過第一表面檢測單元檢測液晶面板的反面表面后再通過第二表面檢測單元檢測液晶面板的正面表面,這里第一表面和第二表面僅起到區(qū)別液晶面板不同表面的作用,并沒有順序上的區(qū)別。

圖1示出了對液晶面板的反面表面進(jìn)行檢測的結(jié)構(gòu),采用的第一線陣相機(jī)11的型號(hào)為la-cm-16k05a,第一線陣相機(jī)11上采用的鏡頭型號(hào)為mk-apo-cpn4.0/60,第一光源子單元12的型號(hào)為lsc423-w。液晶面板3正面朝上由第一機(jī)械手110上的吸盤固定,第一光源子單元12照射在液晶面板3上,由第一線陣相機(jī)11獲取液晶面板3反面表面的圖像,并將得到的圖像傳入測試器,來判斷液晶面板的反面表面是否有缺陷。

圖2和圖3示出了對液晶面板的正面表面進(jìn)行檢測的結(jié)構(gòu),采用的第二線陣相機(jī)21的型號(hào)為px-hm-16k06x,第二線陣相機(jī)21上采用的鏡頭型號(hào)為mk-apo-cpn4.0/60,第二光源子單元22的型號(hào)為lsc423-w。液晶面板3正面朝上由第二機(jī)械手120上的吸盤固定,第二光源子單元22照射在液晶面板3上,由第二線陣相機(jī)21獲取液晶面板正面表面的圖像,并將得到的圖像傳入測試器,來判斷液晶面板的正面表面是否有缺陷。

這里,液晶面板的正反面表面缺陷具體可包括液晶面板的自身缺陷,如:液晶面板表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕、色差或缺損等缺陷,還包括外部因素導(dǎo)致液晶面板顯示質(zhì)量下降的因素,如:落在液晶面板表面的灰塵或細(xì)小顆粒等雜質(zhì)。

本實(shí)施例中,通過第一表面檢測單元和第二表面檢測單元分別檢測液晶面板的反正面表面是否具有缺陷,能夠快速準(zhǔn)確地檢測出液晶面板表面的各種不良缺陷,并可降低液晶面板被損壞的可能性。

本發(fā)明的實(shí)施例2提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,與實(shí)施例1的區(qū)別僅在于,缺陷檢測裝置還包括:第一pcb檢測單元和第二pcb檢測單元。其中,第一pcb檢測單元位于第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的下方,第二pcb檢測單元位于第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的上方。

第一pcb檢測單元包括:第三圖像獲取子單元和第三光源子單元,第三圖像獲取子單元的中心和第三光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且第三圖像獲取子單元到第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于第三光源子單元到第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。第二pcb檢測單元包括:第四圖像獲取子單元和第四光源子單元,第四圖像獲取子單元的中心和第四光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上、且第四圖像獲取子單元到第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于第四光源子單元到第二移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。

具體地,檢測液晶面板不僅需要檢測液晶面板的表面是否具有缺陷,還需要檢測連接在液晶面板一側(cè)的印刷電路板(printedcircuitboard,pcb)是否有缺陷。由于液晶面板連接的pcb也具有兩個(gè)面,為便于說明,將與液晶面板正面對應(yīng)的pcb面記為正面pcb,將于液晶面板反面對應(yīng)的pcb面為反面pcb。第一pcb檢測單元檢測的是液晶面板的反面pcb是否具有缺陷,第二pcb檢測單元檢測的是液晶面板的正面pcb是否具有缺陷。第三圖像獲取子單元為第三線陣相機(jī)和與第三線陣相機(jī)配合使用的鏡頭,第四圖像獲取子單元為第四線陣相機(jī)和與第四線陣相機(jī)配合使用的鏡頭。第一液晶面板移動(dòng)單元為第一機(jī)械手,第二液晶面板移動(dòng)單元為第二機(jī)械手。在第一機(jī)械手和第二機(jī)械手上均設(shè)置有吸盤。

所以本實(shí)施例中主要介紹液晶面板的正面表面檢測、液晶面板的反面表面檢測、液晶面板的正面pcb檢測和液晶面板的反面pcb檢測。其中,液晶面板的正面表面檢測和液晶面板的反面表面檢測在實(shí)施例1中已詳細(xì)說明,在此不再贅述。

圖4示出了對液晶面板的反面pcb進(jìn)行檢測的結(jié)構(gòu),采用的第三線陣相機(jī)31的型號(hào)為la-cm-02k08a,第三線陣相機(jī)31上采用的鏡頭型號(hào)為wwh05-110at,第三光源子單元32的型號(hào)為opt-rif78-w。液晶面板3正面朝上由第一機(jī)械手110上的吸盤固定,第三光源子單元32照射在液晶面板3上,由第三線陣相機(jī)31獲取液晶面板的反面pcb圖像,并將得到的圖像傳入測試器,來判斷液晶面板的反面pcb是否有缺陷。

圖5和圖6示出了對液晶面板的正面pcb進(jìn)行檢測的結(jié)構(gòu),采用的第四線陣相機(jī)41的型號(hào)為la-cm-02k08a,第四線陣相機(jī)41上采用的鏡頭型號(hào)為wwh05-110at,第四光源子單元42的型號(hào)為liu110-w。液晶面板3正面朝上由第二機(jī)械手120上的吸盤固定,第四光源子單元42照射在液晶面板3上,由第四線陣相機(jī)41獲取液晶面板的正面pcb圖像,并將得到的圖像傳入測試器,來判斷液晶面板的正面pcb是否有缺陷。

這里,液晶面板的正反面pcb可能存在的缺陷可包括:金手指劃傷、阻焊脫落、阻焊色差等。

本實(shí)施例中,通過第一pcb檢測單元和第二pcb檢測單元分別對液晶面板的反面pcb或正面pcb是否具有缺陷進(jìn)行檢查,能夠快速準(zhǔn)確地檢測出液晶面板正面或反面pcb的各種不良缺陷。

本發(fā)明的實(shí)施例3提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,與上述實(shí)施例的區(qū)別僅在于,缺陷檢測裝置還包括:第一標(biāo)識(shí)獲取單元、第二標(biāo)識(shí)獲取單元和第三移動(dòng)單元;第一標(biāo)識(shí)獲取單元位于第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的下方,第二標(biāo)識(shí)獲取單元位于第三移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的上方。

第一標(biāo)識(shí)獲取單元包括:第五圖像獲取子單元和第五光源子單元,第五圖像獲取子單元的中心和第五光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上,且第五圖像獲取子單元到第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于第五光源子單元到第一移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。第二標(biāo)識(shí)獲取單元包括:第六圖像獲取子單元和第六光源子單元,第六圖像獲取子單元的中心和第六光源子單元的中心位于豎直方向上的同一條直線上,且第六圖像獲取子單元到第三移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離大于第六光源子單元到第三移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的垂直距離。

具體的,第一標(biāo)識(shí)獲取單元和第二標(biāo)識(shí)獲取單元分別用于獲取液晶面板的反面標(biāo)識(shí)和正面標(biāo)識(shí),即第一標(biāo)識(shí)獲取單元獲取的是液晶面板的反面標(biāo)識(shí),第二標(biāo)識(shí)獲取單元檢測的是液晶面板的正面標(biāo)識(shí)。這里,反面標(biāo)識(shí)是指液晶面板反面的一維碼標(biāo)識(shí),正面標(biāo)識(shí)是指液晶面板正面的一維碼標(biāo)識(shí)。第五圖像獲取子單元為第五線陣相機(jī)和與第五線陣相機(jī)配合使用的鏡頭,第六圖像獲取子單元為第六線陣相機(jī)和與第六線陣相機(jī)配合使用的鏡頭。第一液晶面板移動(dòng)單元為第一機(jī)械手,第三液晶面板移動(dòng)單元為第三機(jī)械手。在第一機(jī)械手和第三機(jī)械手上均設(shè)置有吸盤。

在獲取液晶面板的反面一維碼標(biāo)識(shí)時(shí),第五圖像獲取子單元和第五光源子單元的中心還可以不在豎直方向上的一條直線上,避免第五光源子單元遮擋第五圖像獲取子單元。第五光源子單元具體偏離的角度和位置可根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)定。

第五圖像獲取子單元和第六圖像獲取子單元還可以為面陣相機(jī),與線陣相機(jī)不同的是,面陣相機(jī)主要采用連續(xù)的、面狀掃描光線來實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的檢測。面陣相機(jī)由于掃描方式以矩陣為主,掃描速度高于線陣相機(jī)。因此,在犧牲一些精準(zhǔn)度的情況下利用面陣相機(jī)獲取一維碼標(biāo)識(shí)的圖像,可以大大提高獲取一維碼標(biāo)識(shí)的圖像的速度。

圖7示出了對液晶面板的反面一維碼標(biāo)識(shí)進(jìn)行獲取的結(jié)構(gòu),經(jīng)傳送皮帶10進(jìn)入缺陷檢測裝置的液晶面板3由第一機(jī)械手110上的吸盤固定,采用的第五線陣相機(jī)51的型號(hào)為ev71yc2mcl8005-bao,第五線陣相機(jī)51上采用的鏡頭型號(hào)為fl-yel3528,第五光源子單元52的型號(hào)為jl-lt-450w。第五光源子單元52為線光源,為避免第五光源子單元52阻礙第五線陣相機(jī)51對液晶面板3反面的一維碼標(biāo)識(shí)圖像的獲取,使第五光源子單元52在液晶面板3的斜上方對液晶面板3進(jìn)行照射,由第五線陣相機(jī)51獲取液晶面板反面的一維碼標(biāo)識(shí)圖像,并將得到的圖像傳入測試器,來標(biāo)記液晶面板的反面。

圖8示出了采用面陣相機(jī)對液晶面板的正面一維碼標(biāo)識(shí)進(jìn)行獲取的結(jié)構(gòu),采用的面陣相機(jī)61的型號(hào)為aca2500-20gm,面陣相機(jī)61上采用的鏡頭型號(hào)為m1620-mpw2,第六光源子單元62的型號(hào)為jl-brd2-400x300。液晶面板3正面朝上由第三機(jī)械手130上的吸盤固定,第六光源子單元26照射在液晶面板3上,由面陣相機(jī)61獲取液晶面板正面的一維碼標(biāo)識(shí)圖像,并將得到的圖像傳入測試器,來標(biāo)記液晶面板的反面。

本發(fā)明的實(shí)施例4提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,與上述實(shí)施例的區(qū)別僅在于,缺陷檢測裝置還包括:第四液晶面板移動(dòng)單元;第四液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的起始位置為第三液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的結(jié)束位置。

第四液晶面板移動(dòng)單元具體為第四機(jī)械手,第四機(jī)械手為一段可運(yùn)行的皮帶,用于承載液晶面板,使液晶面板在其上等待測試器的檢測結(jié)果。

本發(fā)明的實(shí)施例5提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,與上述實(shí)施例的區(qū)別僅在于,缺陷檢測裝置還包括可上升至預(yù)設(shè)位置的升降單元;升降單元運(yùn)動(dòng)路徑的起始位置位于第四機(jī)械手運(yùn)動(dòng)路徑的結(jié)束位置。升降單元的起始位置與第二皮帶連接,在升降單元能上升到的預(yù)設(shè)位置處設(shè)置有第一皮帶。

在液晶面板的檢測結(jié)果是有缺陷產(chǎn)品時(shí),升降單元上升至預(yù)設(shè)位置,將液晶面板傳送給第一皮帶;在液晶面板的檢測結(jié)果是合格產(chǎn)品時(shí),升降單元保持起始位置,將液晶面板傳送給第二皮帶。本實(shí)施例中根據(jù)液晶面板是否有缺陷將液晶面板傳送至不同皮帶,以使液晶面板進(jìn)行分類。

本發(fā)明的實(shí)施例6提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,與上述實(shí)施例的區(qū)別僅在于,缺陷檢測裝置還包括:控制單元;控制單元分別與第一表面檢測單元、第二表面檢測單元、第一液晶面板移動(dòng)單元和第二液晶面板移動(dòng)單元連接。還與升降單元、第一pcb檢測單元、第二pcb檢測單元、第三液晶面板移動(dòng)單元和第四液晶面板移動(dòng)單元連接。本發(fā)明的控制裝置采用plc控制裝置進(jìn)行控制。

在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上,缺陷檢測裝置還包括:傳送皮帶;傳送皮帶位于第一液晶面板移動(dòng)單元運(yùn)動(dòng)路徑的起始位置。

如圖9所示,本發(fā)明的實(shí)施例7提供了一種液晶面板的缺陷檢測裝置,液晶面板經(jīng)傳送皮帶10進(jìn)入缺陷檢測裝置。整個(gè)缺陷檢測裝置由支撐單元5支撐。這里,支撐單元5不僅包括底部的支架,還包括用于固定缺陷檢測裝置中其他單元的支架和用于液晶面板移動(dòng)單元的橫桿。整個(gè)缺陷檢測裝置可實(shí)現(xiàn)多個(gè)液晶面板的連續(xù)檢測。

由于檢測液晶面板需要檢測反面表面、反面pcb、正面表面、正面pcb、反面的一維碼標(biāo)識(shí)和正面的一維碼標(biāo)識(shí),因此在缺陷檢測裝置中需要具有六個(gè)檢測位置,分別記為第一檢測位置20、第二檢測位置30、第三檢測位置50、第四檢測位置60、第五檢測位置70和第六檢測位置90。在每個(gè)檢測位置,均有與之對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元。例如,與第一檢測位置20相對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元分別為:第一線陣相機(jī)和第一光源子單元,以檢測第一檢測位置上的液晶面板的反面表面;與第二檢測位置30相對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元分別為:第三線陣相機(jī)和第三光源子單元,以檢測第二檢測位置上的液晶面板的反面pcb;與第三檢測位置50相對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元分別為:第二線陣相機(jī)和第二光源子單元,以檢測第三檢測位置上的液晶面板的正面表面;與第四檢測位置60相對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元分別為:第四線陣相機(jī)和第四光源子單元,以檢測第四檢測位置上的液晶面板的反面pcb;與第五檢測位置70相對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元分別為:第五線陣相機(jī)和第五光源子單元,以獲取第五檢測位置70上的液晶面板反面的一維碼標(biāo)識(shí);與第六檢測位置90相對應(yīng)的線陣相機(jī)和光源子單元分別為:第六線陣相機(jī)和第六光源子單元,以獲取第六檢測位置90上的液晶面板正面的一維碼標(biāo)識(shí)。

第一機(jī)械手110通過其上設(shè)置的吸盤吸取液晶面板,并將其移動(dòng)至第一檢測位置20,檢測液晶面板反面表面。反面表面檢測完成后,第一機(jī)械手110將液晶面板移動(dòng)至第二檢測位置30,檢測液晶面板反面pcb。反面pcb檢測完成后,第一機(jī)械手110將液晶面板移動(dòng)至第一轉(zhuǎn)移位置40,并在第一移動(dòng)位置40處將液晶面板轉(zhuǎn)移至第二機(jī)械手120上。第二機(jī)械手120將液晶面板移動(dòng)至第三檢測位置50,檢測液晶面板正面表面。正面表面檢測完成后,第二機(jī)械手120將液晶面板移動(dòng)至第四檢測位置60,檢測液晶面板正面pcb。

液晶面板正面pcb檢測完成后,第二機(jī)械手120移動(dòng)至第二轉(zhuǎn)移位置80處將液晶面板轉(zhuǎn)移至第三機(jī)械手130,第三機(jī)械手130將液晶面板移動(dòng)至第六檢測位置90,以獲取液晶面正面的一維碼標(biāo)識(shí)。獲取液晶面板正面的一維碼標(biāo)識(shí)后,第三機(jī)械手130將液晶面板轉(zhuǎn)移至第四機(jī)械手140,并在等待位置100等待檢測結(jié)果。最后通過升降單元6對液晶面板進(jìn)行分類。

本實(shí)施例中,缺陷檢測裝置可以依次實(shí)現(xiàn)獲取液晶面板的反面一維碼標(biāo)識(shí)、檢測液晶面板的反面表面、反面pcb、正面表面和正面pcb、獲取液晶面板的正面一維碼標(biāo)識(shí),能夠快速準(zhǔn)確地檢測出液晶面板表面的各種不良缺陷,并實(shí)現(xiàn)液晶面板的分類。

最后,本發(fā)明的方法僅為較佳的實(shí)施方案,并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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