本技術(shù)涉及數(shù)據(jù)處理，具體涉及一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法、裝置、設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、為了確保電源的合規(guī)性，通常需要對(duì)電源進(jìn)行測(cè)試。在生產(chǎn)過程中，會(huì)同時(shí)存在大量的電源同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的情況，目前在生產(chǎn)測(cè)試過程中，通常需要相關(guān)測(cè)試人員每間隔固定時(shí)間采集一次測(cè)試數(shù)據(jù)，再對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總分析。這樣會(huì)導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)的采集和分析的效率降低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法、裝置、設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，可以提高測(cè)試數(shù)據(jù)的采集和分析的效率。

2、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法，所述方法包括：

3、獲取每種電源型號(hào)在生產(chǎn)測(cè)試過程中對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合，將每種電源型號(hào)與對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)；

4、針對(duì)每種電源型號(hào)，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)的類型對(duì)與所述電源型號(hào)關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)集合中的每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到至少兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)子集合；所述測(cè)試數(shù)據(jù)的類型包括：靜態(tài)數(shù)據(jù)類型、動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)類型和連續(xù)數(shù)據(jù)類型中的至少一種；

5、針對(duì)每個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合，根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式，并按照所述目標(biāo)分析方式處理所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中的測(cè)試數(shù)據(jù)，得到子分析結(jié)果；

6、統(tǒng)計(jì)每個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的子分析結(jié)果，確定所述電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果并展示。

7、可選地，所述根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式，包括：

8、分析所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型；

9、若測(cè)試數(shù)據(jù)的類型為所述靜態(tài)數(shù)據(jù)，則根據(jù)所述靜態(tài)數(shù)據(jù)類型和預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型與分析方式的映射關(guān)系，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式為數(shù)值分析；

10、若測(cè)試數(shù)據(jù)的類型為所述動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)類型，則根據(jù)所述動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)類型和預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型與分析方式的映射關(guān)系，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式為穩(wěn)定性分析；

11、若測(cè)試數(shù)據(jù)的類型為所述連續(xù)數(shù)據(jù)類型，則根據(jù)所述連續(xù)數(shù)據(jù)類型和預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型與分析方式的映射關(guān)系，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式為變化趨勢(shì)分析。

12、可選地，所述按照所述目標(biāo)分析方式處理所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中的測(cè)試數(shù)據(jù)，得到子分析結(jié)果，包括：

13、獲取所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中包含的所有序列號(hào)，所述序列號(hào)用于表示一個(gè)所述電源型號(hào)的電源；

14、針對(duì)每個(gè)所述序列號(hào)，基于所述目標(biāo)分析方式，對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)；

15、統(tǒng)計(jì)每個(gè)所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的子分析結(jié)果。

16、可選地，所述基于所述目標(biāo)分析方式，對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)，包括：

17、基于所述目標(biāo)分析方式和所述電源型號(hào)，在預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)庫(kù)中提取對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)分析子數(shù)據(jù)；

18、基于所述目標(biāo)分析方式，對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，得到所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析子數(shù)據(jù)；

19、基于所述分析子數(shù)據(jù)和所述標(biāo)準(zhǔn)分析子數(shù)據(jù)，確定所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)。

20、可選地，所述基于所述分析子數(shù)據(jù)和所述標(biāo)準(zhǔn)分析子數(shù)據(jù)，確定所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)之前，還包括：

21、獲取所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的電源在測(cè)試過程中的測(cè)試設(shè)備誤差和測(cè)試環(huán)境條件；

22、基于所述測(cè)試設(shè)備誤差和所述測(cè)試環(huán)境條件，對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)分析子數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)整，得到目標(biāo)分析子數(shù)據(jù)；

23、所述基于所述分析子數(shù)據(jù)和所述標(biāo)準(zhǔn)分析子數(shù)據(jù)，確定所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)，包括：

24、基于所述分析子數(shù)據(jù)和所述目標(biāo)分析子數(shù)據(jù)，確定所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的分析數(shù)據(jù)。

25、可選地，所述電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果包括不良率和一次性通過率，所述統(tǒng)計(jì)每個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的子分析結(jié)果，確定所述電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果，包括：

26、基于每個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的子分析結(jié)果，統(tǒng)計(jì)良品序列號(hào)的數(shù)量和不良品數(shù)序列號(hào)的數(shù)量；

27、基于所述良品序列號(hào)的數(shù)量和所述不良品數(shù)序列號(hào)的數(shù)量，確定所述電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的所述不良率；

28、獲取并基于每個(gè)所述良品序列號(hào)的測(cè)試記錄，確定重測(cè)良品序列號(hào)的數(shù)量；

29、根據(jù)所述重測(cè)良品序列號(hào)的數(shù)量、所述良品序列號(hào)的數(shù)量和所述不良品數(shù)序列號(hào)的數(shù)量，確定所述電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的所述一次性通過率。

30、可選地，所述方法還包括：

31、響應(yīng)于查詢操作，獲取所述查詢操作對(duì)應(yīng)的電源型號(hào)或序列號(hào)；

32、遍歷所述電源型號(hào)或所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的每種測(cè)試設(shè)備是否存在最新的測(cè)試數(shù)據(jù)；

33、若存在，則基于最新的測(cè)試數(shù)據(jù)和在生產(chǎn)測(cè)試過程中對(duì)應(yīng)的每種測(cè)試設(shè)備發(fā)送的測(cè)試數(shù)據(jù)得到所述電源型號(hào)或所述序列號(hào)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)；

34、將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行展示。

35、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理裝置，包括：

36、獲取單元，用于獲取每種電源型號(hào)在生產(chǎn)測(cè)試過程中對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合，將每種電源型號(hào)與對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)；

37、分類單元，用于針對(duì)每種電源型號(hào)，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)的類型對(duì)與所述電源型號(hào)關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的所述測(cè)試數(shù)據(jù)集合中的每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到至少兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)子集合；所述測(cè)試數(shù)據(jù)的類型包括：靜態(tài)數(shù)據(jù)類型、動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)類型和連續(xù)數(shù)據(jù)類型中的至少一種；

38、第一確定單元，用于針對(duì)每個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合，根據(jù)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型，確定所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式，并按照所述目標(biāo)分析方式處理所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中的測(cè)試數(shù)據(jù)，得到子分析結(jié)果；

39、第二確定單元，用于統(tǒng)計(jì)每個(gè)所述測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的子分析結(jié)果，確定所述電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果并展示。

40、第三方面，本技術(shù)實(shí)施例還提供一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序；處理器從存儲(chǔ)器中加載計(jì)算機(jī)程序，以執(zhí)行本技術(shù)實(shí)施例所提供的任一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法。

41、第四方面，本技術(shù)實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序適于處理器進(jìn)行加載，以執(zhí)行本技術(shù)實(shí)施例所提供的任一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法。

42、第五方面，本技術(shù)實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本技術(shù)實(shí)施例所提供的任一種電源測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法。

43、本技術(shù)實(shí)施例的方案，獲取每種電源型號(hào)在生產(chǎn)測(cè)試過程中對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合，將每種電源型號(hào)與對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合進(jìn)行關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)；針對(duì)每種電源型號(hào)，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)的類型對(duì)與電源型號(hào)關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合中的每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，得到至少兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)子集合；針對(duì)每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)子集合，根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)的類型，確定測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分析方式，并按照目標(biāo)分析方式處理測(cè)試數(shù)據(jù)子集合中的測(cè)試數(shù)據(jù)，得到子分析結(jié)果；統(tǒng)計(jì)每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)子集合對(duì)應(yīng)的子分析結(jié)果，確定電源型號(hào)對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果并展示?？梢宰詣?dòng)獲取生產(chǎn)測(cè)試過程中對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)集合并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)集合進(jìn)行分析得到分析結(jié)果，避免需要相關(guān)測(cè)試人員每間隔固定時(shí)間采集一次測(cè)試數(shù)據(jù)，再對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總分析，提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的采集和分析的效率。