本申請涉及管道缺陷檢測設(shè)備,尤其涉及一種磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭。
背景技術(shù):
1、電位矩陣缺陷檢測技術(shù)是一鐘高精度、高敏感的無損檢測技術(shù),主要依據(jù)被測對象表面微小的電壓變化,對金屬結(jié)構(gòu)的內(nèi)部的缺陷、裂紋、腐蝕以及它們的擴展情況進行高精度的檢測。電位矩陣缺陷檢測技術(shù)可遠位獲取管道高風(fēng)險部位的腐蝕狀態(tài),跟蹤腐蝕萌生和發(fā)展過程,利用腐蝕評估及管道剩余壽命、預(yù)測、掌握管安全狀態(tài)。
2、現(xiàn)有技術(shù)中,常用的電位矩陣缺陷面檢測探頭包括以下兩種:如申請?zhí)枮?02223286993.2,專利名稱為一種用于電位矩陣缺陷面檢測及監(jiān)測的磁吸式探頭中的磁吸式探頭,如申請?zhí)枮?02223294996.0,專利名稱為一種用于電位矩陣缺陷面檢測及監(jiān)測的柔性探頭中的柔性探頭。但是,磁吸式探頭在使用過程中存在如下問題:1)磁吸式探頭只能通過永磁體固定在管道的表面,在使用過程中,如果有較大的外力作用在磁吸式探頭上,則會導(dǎo)致探頭位置偏移;2)該磁吸式探頭的導(dǎo)線是在保護殼側(cè)邊接入的,會使探頭之間的距離過大而導(dǎo)致檢測的精度降低;3)磁吸式探頭只適用于被測物有磁性的條件下,如被測物不具有磁性,如不銹鋼、銅等,則磁吸式探頭無法吸附在被測物的表面,因而無法使用。而上述的柔性探頭需要使用較多的膠黏劑,導(dǎo)致粘黏時間長,如果膠黏劑未干,則會導(dǎo)致探頭的位置偏移。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、為了解決上述技術(shù)問題,本申請?zhí)峁┝艘环N磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,包括外殼體、探針組件、導(dǎo)線以及永磁體;所述外殼體內(nèi)設(shè)置有第一通孔,所述永磁體設(shè)置在朝向待測物一側(cè)的第一通孔中;所述探針組件貫穿所述永磁體設(shè)置在所述第一通孔內(nèi);所述導(dǎo)線與遠離所述永磁體的探針組件一端連接;所述第一通孔內(nèi)填充有電子灌封膠;所述外殼體的底部還開設(shè)有開口朝向待測物的凹槽,所述凹槽內(nèi)填充有膠粘劑。
2、本申請一些實施例中,所述外殼體由耐高溫材料制作而成。
3、本申請一些實施例中,所述探針組件包括針頭、針管以及彈性件;所述針頭卡設(shè)在所述針管的端部;所述彈性件設(shè)置在所述針管內(nèi),其一端與所述針管的頂部抵接,另一端與所述針頭端部抵接。
4、本申請一些實施例中,所述彈性件為彈簧。
5、本申請一些實施例中,還包括內(nèi)殼體,所述內(nèi)殼體設(shè)置在所述外殼體內(nèi),其內(nèi)部設(shè)置有第二通孔,其底部設(shè)置在所述永磁體的頂面上,所述探針組件和所述導(dǎo)線設(shè)置在所述第二通孔內(nèi)。
6、本申請一些實施例中,所述第二通孔內(nèi)填充有電子灌封膠。
7、本申請一些實施例中,所述導(dǎo)線與探針組件之間焊接連接。
8、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型具有以下優(yōu)點和有益效果:本申請的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭包括外殼體、探針組件、導(dǎo)線以及永磁體;外殼體內(nèi)設(shè)置有第一通孔,永磁體設(shè)置在朝向待測物一側(cè)的第一通孔中;探針組件貫穿永磁體設(shè)置在第一通孔內(nèi);導(dǎo)線與遠永磁體的探針組件一端連接;第一通孔內(nèi)填充有電子灌封膠;如此,導(dǎo)線與探針組件之間直接連接,且通過電子灌封膠進一步固定,保證了導(dǎo)線與探針組件之間的穩(wěn)定性,提升了檢測精度,同時可以防止導(dǎo)線從探針組件上脫落;外殼體的底部還開設(shè)有開口朝向待測物的凹槽,凹槽內(nèi)填充有膠粘劑;如此,該探頭不僅可以吸附在有磁性的被測物上,同時,可以通過在凹糟內(nèi)填充膠粘劑進一步固定該探頭,且可以方便的黏附在無磁性的被測物上,擴大了該探頭的使用范圍。
9、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的,并不能限制本文。
1.一種磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,包括外殼體、探針組件、導(dǎo)線以及永磁體;所述外殼體內(nèi)設(shè)置有第一通孔,所述永磁體設(shè)置在朝向待測物一側(cè)的第一通孔中;所述探針組件貫穿所述永磁體設(shè)置在所述第一通孔內(nèi);所述導(dǎo)線與遠離所述永磁體的探針組件一端連接;所述第一通孔內(nèi)填充有電子灌封膠;所述外殼體的底部還開設(shè)有開口朝向待測物的凹槽,所述凹槽內(nèi)填充有膠粘劑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,所述外殼體由耐高溫材料制作而成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,所述探針組件包括針頭、針管以及彈性件;所述針頭卡設(shè)在所述針管的端部;所述彈性件設(shè)置在所述針管內(nèi),其一端與所述針管的頂部抵接,另一端與所述針頭端部抵接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,所述彈性件為彈簧。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,還包括內(nèi)殼體,所述內(nèi)殼體設(shè)置在所述外殼體內(nèi),其內(nèi)部設(shè)置有第二通孔,其底部設(shè)置在所述永磁體的頂面上,所述探針組件和所述導(dǎo)線設(shè)置在所述第二通孔內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,所述第二通孔內(nèi)填充有電子灌封膠。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁吸式電位矩陣缺陷檢測探頭,其特征在于,所述導(dǎo)線與探針組件之間焊接連接。