本申請涉及電子器件檢測領域，尤其涉及一種彈片針及連接測試模組。

背景技術：

1、彈片針常用于安裝在測試插座中與被測物的特殊連接器的接觸端子精準接觸以達到信號穩(wěn)定傳輸。通常應用于攝像頭模組、lcd模組、屏下指紋模組和pcb連接器等電子產品。而電子產品的連接器兩排接觸端子的間距特別小，通常只有零點幾毫米，容易因彈片針彎曲偏移造成短路；每個接觸端子的接觸平面非常窄，只有零點零幾毫米，使得連接器的接觸端子和彈片針的接觸穩(wěn)定性較差，影響被測物檢測的可靠性。

技術實現(xiàn)思路

1、本申請?zhí)峁┮环N彈片針及連接測試模組，彈片針能夠提高和連接器的接觸端子的接觸穩(wěn)定性，進而提高電子器件檢測可靠性。

2、第一方面，本申請?zhí)峁┮环N彈片針，包括：

3、針頭接觸部，設于所述彈片針的第一端且用于和連接器的接觸端子連接，所述針頭接觸部設有連接凹槽，所述連接凹槽包括呈預設角度設置第一斜面和第二斜面；

4、針尾接觸部，設于所述彈片針的第二端；

5、探針主體，連接于所述針頭接觸部和所述針尾接觸部之間，且所述探針主體設有彈性彎曲部，所述彈性彎曲部被配置為沿所述彈片針的第一端至第二端方向彈性伸縮。

6、在一些實施例中，所述連接凹槽的槽底設有抵接平面，所述抵接平面連接所述第一斜面和所述第二斜面，所述抵接平面用于和連接器的接觸端子的接觸平面抵貼。

7、在一些實施例中，所述第一斜面和所述第二斜面的夾角為90°±30°，優(yōu)選地，所述第一斜面和所述第二斜面的夾角為90°±10°。

8、在一些實施例中，所述彈性彎曲部為朝向并排設置的所述彈片針的外側凸設的彎曲結構，優(yōu)選地，所述彎曲結構為蛇形彎曲結構。

9、在一些實施例中，所述針頭接觸部設有避位斜面，優(yōu)選地，所述避位斜面位于并排設置的彈片針的外側。

10、在一些實施例中，所述避位斜面和所述彈片針的第一端至第二端方向的夾角為25°±15°，優(yōu)選地，所述避位斜面和所述彈片針的第一端至第二端方向的夾角為25°±5°。

11、在一些實施例中，所述第一斜面較所述第二斜面遠離并排設置的所述彈片針的內側，所述第一斜面較所述第二斜面朝向所述彈片針的第一端凸出。

12、在一些實施例中，所述彈片針為一體電鑄成型的鎳合金彈片針。

13、在一些實施例中，所述彈性彎曲部設于所述探針主體靠近所述針尾接觸部的一端。

14、第二方面，本申請?zhí)峁┮环N連接測試模組，包括測試插座和設于所述測試插座內的、如上任一項所述的彈片針。

15、本申請實施例提供的上述技術方案與現(xiàn)有技術相比具有如下優(yōu)點：在測試過程中，針頭接觸部用來和電子器件連接器的接觸端子接觸實現(xiàn)電連接，通過在針頭接觸部設置連接凹槽，利用連接凹槽和接觸端子進行對接，借助第一斜面和第二斜面與接觸端子接觸平面兩側的接觸斜面對接，實現(xiàn)接觸端子和接觸端子的面面對接，提高接觸穩(wěn)定性；針尾接觸部則用來連接測試電路板，探針主體的彈性彎曲部能夠將針頭接觸部的壓力進行緩沖并發(fā)生彈性收縮，避免彈片針和接觸端子剛性抵接而發(fā)生變形導致彈片針與連接器接觸不良，且彈性彎曲部能夠提供接觸端子和針頭接觸部的抵緊力，進一步提升彈片針和連接器的接觸端子之間連接的穩(wěn)定性。

技術特征：

1.一種彈片針，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的彈片針，其特征在于，所述連接凹槽的槽底設有抵接平面，所述抵接平面連接所述第一斜面和所述第二斜面，所述抵接平面用于和連接器的接觸端子的接觸平面抵貼。

3.根據(jù)權利要求1所述的彈片針，其特征在于，所述第一斜面和所述第二斜面的夾角為90°±30°。

4.根據(jù)權利要求1所述的彈片針，其特征在于，所述彈性彎曲部為朝向并排設置的所述彈片針的外側凸設的彎曲結構。

5.根據(jù)權利要求1-4任一項所述的彈片針，其特征在于，所述針頭接觸部設有避位斜面。

6.根據(jù)權利要求5所述的彈片針，其特征在于，所述避位斜面和所述彈片針的第一端至第二端方向的夾角為25°±15°。

7.根據(jù)權利要求5所述的彈片針，其特征在于，所述第一斜面較所述第二斜面遠離并排設置的所述彈片針的內側，所述第一斜面較所述第二斜面朝向所述彈片針的第一端凸出。

8.根據(jù)權利要求1所述的彈片針，其特征在于，所述彈片針為一體電鑄成型的鎳合金彈片針。

9.根據(jù)權利要求1所述的彈片針，其特征在于，所述彈性彎曲部設于所述探針主體靠近所述針尾接觸部的一端。

10.一種連接測試模組，其特征在于，包括測試插座和設于所述測試插座內的、如權利要求1-9任一項所述的彈片針。

技術總結
本申請涉及電子器件檢測領域，特別涉及一種彈片針及連接測試模組。彈片針包括針頭接觸部、針尾接觸部、以及連接在針頭接觸部和針尾接觸部之間的探針主體；針頭接觸部位于彈片針的第一端并用來和連接器的接觸端子連接，針頭接觸部設有連接凹槽，連接凹槽包括呈預設角度設置的第一斜面和第二斜面；針尾接觸部設于彈片針的第二端；探針主體還設有彈性彎曲部，彈性彎曲部被配置為能夠沿彈片針的第一端至第二端方向彈性伸縮。本申請?zhí)峁┑膹椘樐軌蛱岣吆瓦B接器的接觸端子的接觸穩(wěn)定性，提高電子器件檢測可靠性。

技術研發(fā)人員：劉鑫銘,王金爽
受保護的技術使用者：東莞高偉光學電子有限公司
技術研發(fā)日：20240711
技術公布日：2025/5/15