本發(fā)明涉及高壓電纜缺陷檢測(cè)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種電纜缺陷檢測(cè)方法、裝置、非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、高壓電纜主絕緣表面檢測(cè)對(duì)于確保電力系統(tǒng)安全穩(wěn)定運(yùn)行具有至關(guān)重要的意義。主絕緣層是電纜的核心組成部分，負(fù)責(zé)在高壓下隔絕電流，防止電流泄露和外部因素導(dǎo)致的損壞。一旦主絕緣表面出現(xiàn)缺陷，如裂紋、氣泡、雜質(zhì)等，不僅可能引發(fā)局部放電，導(dǎo)致電纜損壞，還可能對(duì)整個(gè)電力系統(tǒng)造成嚴(yán)重的安全隱患。現(xiàn)有的針對(duì)高壓電纜主絕緣表面缺陷的檢測(cè)方法主要包括目視檢查、超聲波檢測(cè)、激光射線檢測(cè)等，但以上方法在實(shí)際應(yīng)用中都存在一定問題，尤其是在電纜彎曲的情況下。例如，在目視檢查中，彎曲的電纜可能導(dǎo)致視野受限，使得某些缺陷難以被直接觀察到；超聲波檢測(cè)雖然對(duì)材料內(nèi)部缺陷較為敏感，但在電纜彎曲時(shí)，超聲波的傳播路徑和反射特性會(huì)發(fā)生變化，可能導(dǎo)致缺陷信號(hào)被掩蓋或誤判；激光射線檢測(cè)雖然能夠穿透電纜表面，直接觀察到內(nèi)部缺陷，但同樣會(huì)受到電纜彎曲和應(yīng)力分布的影響，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降和缺陷識(shí)別困難由于電纜的彎曲形態(tài)，主絕緣層可能會(huì)產(chǎn)生形變和應(yīng)力分布不均，從而影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

2、針對(duì)上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電纜缺陷檢測(cè)方法、裝置、非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備，以至少解決因電纜彎曲形態(tài)而導(dǎo)致的無法對(duì)電纜存在的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)的技術(shù)問題。

2、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種電纜缺陷檢測(cè)方法，包括：獲取待測(cè)電纜的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集；對(duì)目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行擬合，得到目標(biāo)圓柱模型，其中，目標(biāo)圓柱模型用于描述沒有出現(xiàn)缺陷的電纜所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)云數(shù)據(jù)集的分布情況；根據(jù)目標(biāo)圓柱模型和預(yù)先設(shè)定的異常條件，篩選出目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的異常點(diǎn)集；根據(jù)異常點(diǎn)集，確定待測(cè)電纜的缺陷位置。

3、可選地，獲取待測(cè)電纜的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集，包括：獲取待測(cè)電纜的原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集；對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行濾波，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集。

4、可選地，對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行濾波，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集，包括：根據(jù)預(yù)先設(shè)定的相鄰數(shù)據(jù)點(diǎn)個(gè)數(shù)，確定原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)的鄰域點(diǎn)集，其中，鄰域點(diǎn)集是指與目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)距離最近的多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的集合；計(jì)算鄰域點(diǎn)集的均值和標(biāo)準(zhǔn)差；根據(jù)鄰域點(diǎn)集的均值和標(biāo)準(zhǔn)差，確定第一范圍；若目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)與鄰域點(diǎn)集中的多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的平均距離位于第一范圍內(nèi)，則目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)無需濾除；若目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)與鄰域點(diǎn)集中的多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的平均距離超過第一范圍，則目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)需被濾除；按照上述對(duì)目標(biāo)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行濾波的方式，對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行濾波，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集。

5、可選地，對(duì)目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行擬合，得到目標(biāo)圓柱模型，包括：在點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中隨機(jī)選取部分?jǐn)?shù)據(jù)點(diǎn)作為初始可信點(diǎn)集；根據(jù)初始可信點(diǎn)集，生成初始圓柱模型；分別計(jì)算目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的多個(gè)剩余數(shù)據(jù)點(diǎn)與初始圓柱模型之間的距離，其中，多個(gè)剩余數(shù)據(jù)點(diǎn)是目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中除初始可信點(diǎn)集以外的其它數(shù)據(jù)點(diǎn)；將與初始圓柱模型之間的距離小于預(yù)定誤差的剩余數(shù)據(jù)點(diǎn)加入初始可信點(diǎn)集中，得到目標(biāo)可信點(diǎn)集；根據(jù)目標(biāo)可信點(diǎn)集，對(duì)初始圓柱模型進(jìn)行更新，得到目標(biāo)圓柱模型。

6、可選地，根據(jù)目標(biāo)圓柱模型和預(yù)先設(shè)定的異常條件，篩選出目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的異常點(diǎn)集，包括：分別計(jì)算目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的全部數(shù)據(jù)點(diǎn)與目標(biāo)圓柱模型的偏離程度；將目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中偏離程度大于預(yù)定偏離閾值的多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)作為異常數(shù)據(jù)點(diǎn)，得到異常點(diǎn)集。

7、可選地，根據(jù)異常點(diǎn)集，確定待測(cè)電纜的缺陷位置，包括：以異常點(diǎn)集為中心，確定預(yù)設(shè)半徑內(nèi)的數(shù)據(jù)點(diǎn)為缺陷結(jié)構(gòu)點(diǎn)云集；采用與缺陷結(jié)構(gòu)點(diǎn)云集形狀相適應(yīng)的三維矩形結(jié)構(gòu)來包圍缺陷點(diǎn)云，對(duì)缺陷結(jié)構(gòu)點(diǎn)云集進(jìn)行計(jì)算，得到待測(cè)電纜的缺陷位置。

8、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種電纜缺陷檢測(cè)裝置，包括：獲取模塊，獲取待測(cè)電纜的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集；擬合模塊，用于對(duì)目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行擬合，得到目標(biāo)圓柱模型，其中，目標(biāo)圓柱模型用于描述沒有出現(xiàn)缺陷的電纜所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)云數(shù)據(jù)集的分布情況；篩選模塊，用于根據(jù)目標(biāo)圓柱模型和預(yù)先設(shè)定的異常條件，篩選出目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的異常點(diǎn)集；確定模塊，用于根據(jù)異常點(diǎn)集，確定待測(cè)電纜的缺陷位置。

9、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有多條指令，指令適于由處理器加載并執(zhí)行任意一項(xiàng)的電纜缺陷檢測(cè)方法。

10、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，提供了一種電子設(shè)備，包括：一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序，其中，當(dāng)一個(gè)或多個(gè)程序被一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，使得一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)任意一項(xiàng)的電纜缺陷檢測(cè)方法。

11、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的再一方面，還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述中任意一項(xiàng)電纜缺陷檢測(cè)方法。

12、在本發(fā)明實(shí)施例中，通過獲取待測(cè)電纜的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集；對(duì)目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行擬合，得到目標(biāo)圓柱模型，其中，目標(biāo)圓柱模型用于描述沒有出現(xiàn)缺陷的電纜所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)云數(shù)據(jù)集的分布情況；根據(jù)目標(biāo)圓柱模型和預(yù)先設(shè)定的異常條件，篩選出目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的異常點(diǎn)集；根據(jù)異常點(diǎn)集，確定待測(cè)電纜的缺陷位置，解決了因電纜彎曲形態(tài)而導(dǎo)致的無法對(duì)電纜存在的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)的技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了提高對(duì)電纜缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性的技術(shù)效果。

技術(shù)特征：

1.一種電纜缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待測(cè)電纜的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行濾波，得到所述目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行擬合，得到目標(biāo)圓柱模型，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)圓柱模型和預(yù)先設(shè)定的異常條件，篩選出所述目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的異常點(diǎn)集，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述異常點(diǎn)集，確定所述待測(cè)電纜的缺陷位置，包括：

7.一種電纜缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

8.一種非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有多條指令，所述指令適于由處理器加載并執(zhí)行權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的電纜缺陷檢測(cè)方法。

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：一個(gè)或多個(gè)處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序，其中，當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的電纜缺陷檢測(cè)方法。

10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)指令，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)指令被處理器執(zhí)行權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的電纜缺陷檢測(cè)方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電纜缺陷檢測(cè)方法、裝置、非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。其中，該方法包括：獲取待測(cè)電纜的目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集；對(duì)目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集進(jìn)行擬合，得到目標(biāo)圓柱模型，其中，目標(biāo)圓柱模型用于描述沒有出現(xiàn)缺陷的電纜所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)云數(shù)據(jù)集的分布情況；根據(jù)目標(biāo)圓柱模型和預(yù)先設(shè)定的異常條件，篩選出目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)集中的異常點(diǎn)集；根據(jù)異常點(diǎn)集，確定待測(cè)電纜的缺陷位置。本發(fā)明解決了因電纜彎曲形態(tài)而導(dǎo)致的無法對(duì)電纜存在的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)的技術(shù)問題。

技術(shù)研發(fā)人員：張成,王金雙,李寧,李上國(guó),吳建旺,熊益多,熊俊,李佩哲,張誼
受保護(hù)的技術(shù)使用者：國(guó)網(wǎng)北京市電力公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15