本申請涉及機(jī)器視覺，尤其涉及缺陷檢測方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、缺陷檢測在許多領(lǐng)域如機(jī)器視覺等領(lǐng)域內(nèi)應(yīng)用廣泛；缺陷檢測的對象也各式各樣，比如焊縫、膠條等這類柔性的、沒有固定形狀的檢測對象。

2、目前在實(shí)際應(yīng)用中，通常是人工為每一個缺陷檢測的對象定制對應(yīng)的缺陷檢測方案。但是，上述這種人工方式會導(dǎo)致較高的時間和人工成本，從而降低缺陷檢測的效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請?zhí)峁┝巳毕輽z測方法、裝置及電子設(shè)備，以提高缺陷檢測的效率。

2、本申請實(shí)施例提供一種缺陷檢測方法，該方法包括：

3、獲取與被測圖像區(qū)域的檢測路徑所匹配的檢測路徑曲線；

4、利用所述檢測路徑曲線，獲取處于所述檢測路徑曲線上的至少兩個像素點(diǎn)；

5、針對每一像素點(diǎn)，基于所述被測圖像區(qū)域中該像素點(diǎn)的法向量的方向，對所述被測圖像區(qū)域進(jìn)行輪廓截取處理以得到該像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域；

6、基于各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測。

7、本申請實(shí)施例還提供一種缺陷檢測裝置，該裝置包括：

8、第一獲取模塊，用于獲取與被測圖像區(qū)域的檢測路徑所匹配的檢測路徑曲線；

9、第二獲取模塊，用于利用所述檢測路徑曲線，獲取處于所述檢測路徑曲線上的至少兩個像素點(diǎn)；

10、截取模塊，用于針對每一像素點(diǎn)，基于所述被測圖像區(qū)域中該像素點(diǎn)的法向量的方向，對所述被測圖像區(qū)域進(jìn)行輪廓截取處理以得到該像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域；

11、檢測模塊，用于基于各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測。

12、本申請實(shí)施例還提供一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括：

13、處理器；以及

14、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，在該計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有計(jì)算機(jī)程序指令，計(jì)算機(jī)程序指令在被處理器運(yùn)行時使得處理器執(zhí)行如上方法的步驟。

15、本申請實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，該該計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)上存儲有計(jì)算機(jī)程序指令，該計(jì)算機(jī)程序指令在被處理器運(yùn)行時使得處理器執(zhí)行如上方法中的步驟。

16、由以上技術(shù)方案可以看出，本申請實(shí)施例中，先利用所獲取的與被測圖像區(qū)域的檢測路徑所匹配的檢測路徑曲線，得到處于該檢測路徑曲線上的至少兩個像素點(diǎn)，之后，基于所得到的每一像素點(diǎn)的法向量的方向，通過輪廓截取從被測圖像區(qū)域中得到每一像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域也即待檢測的感興趣區(qū)域，并利用各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，以實(shí)現(xiàn)被測圖像區(qū)域的自動缺陷檢測，這樣能夠避免由于人工定制缺陷檢測方案而導(dǎo)致較高的時間和人工成本，有效提高了缺陷檢測的效率。

技術(shù)特征：

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取與被測圖像區(qū)域的檢測路徑所匹配的檢測路徑曲線包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在對所述被測圖像區(qū)域進(jìn)行輪廓截取處理以得到該像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域之后，且在基于各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測之前，該方法進(jìn)一步包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述從各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域中分別選擇特征點(diǎn)包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述被測圖像區(qū)域中該像素點(diǎn)的法向量的方向，對所述被測圖像區(qū)域進(jìn)行輪廓截取處理以得到該像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述檢測路徑曲線，獲取處于所述檢測路徑曲線上的至少兩個像素點(diǎn)包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測包括：

8.一種缺陷檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第一獲取模塊，具體用于：通過外部輸入的曲線繪制參數(shù)繪制與所述被測圖像區(qū)域的檢測路徑所匹配的檢測路徑曲線；和/或，

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，該電子設(shè)備包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請實(shí)施例提供缺陷檢測方法、裝置及電子設(shè)備。本申請實(shí)施例中，先利用所獲取的與被測圖像區(qū)域的檢測路徑所匹配的檢測路徑曲線，得到處于該檢測路徑曲線上的至少兩個像素點(diǎn)，之后，基于所得到的每一像素點(diǎn)的法向量的方向，通過輪廓截取從被測圖像區(qū)域中得到每一像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域也即待檢測的感興趣區(qū)域，并利用各像素點(diǎn)對應(yīng)的輪廓區(qū)域進(jìn)行缺陷檢測，以實(shí)現(xiàn)被測圖像區(qū)域的自動缺陷檢測，這樣能夠避免由于人工定制缺陷檢測方案而導(dǎo)致較高的時間和人工成本，有效提高了缺陷檢測的效率。

技術(shù)研發(fā)人員：陳璐瑤,龍學(xué)雄,張?zhí)煲?br/>受保護(hù)的技術(shù)使用者：杭州海康機(jī)器人股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/5/15