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一種應(yīng)用于晶硅太陽能電池的熱氧化工藝的制作方法

文檔序號(hào):11102444閱讀:1497來源:國知局

本發(fā)明涉及太陽能電池技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種應(yīng)用于晶硅太陽能電池的熱氧化工藝。



背景技術(shù):

傳統(tǒng)的晶硅電池制造工藝流程為:制絨→磷擴(kuò)散→刻蝕→PECVD鍍膜→印刷燒結(jié),該方法由于磷擴(kuò)散限制,硅片表面參雜的N型區(qū)域,大量P原子出于非激活狀態(tài)(導(dǎo)致晶格變形缺陷),且表面晶格懸掛鍵多,容易吸附雜質(zhì)離子,產(chǎn)生缺陷能級(jí)及雜質(zhì)能級(jí),對(duì)電池片的開路電壓及短路電流造成負(fù)面影響。為解決這一問題,有人提出來熱氧化工藝,其工藝流程為:制絨→磷擴(kuò)散→刻蝕→熱氧化→PECVD鍍膜→印刷燒結(jié)。該方法通過在高溫下,通入一定量的氧氣,在硅片表面制作一層薄薄的二氧化硅層,可以有效鈍化硅片表面晶格的懸掛鍵,同時(shí)高溫對(duì)非激活態(tài)的P原子有激活作用,即利用熱氧化的方法,硅片表層的晶格缺陷及懸掛鍵可以得到良好的修復(fù)。但是該熱氧化方法會(huì)引起表面摻雜溶度降低且雜質(zhì)分布離散,限制晶硅電池轉(zhuǎn)化效率進(jìn)一步提升。

因此,開發(fā)一種新的熱氧化方法在解決傳統(tǒng)P擴(kuò)散工藝表層晶格缺陷多、懸掛鍵多的問題同時(shí),又不會(huì)在熱氧化后產(chǎn)生新的問題即硅片表層摻雜溶度降低且雜質(zhì)分布離散,顯得尤為重要。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明是為了解決現(xiàn)有技術(shù)的晶硅太陽能電池?zé)嵫趸に囁嬖诘臅?huì)引起表面摻雜溶度降低且雜質(zhì)分布離散,限制晶硅電池轉(zhuǎn)化效率進(jìn)一步提升的問題,提供了一種應(yīng)用于晶硅太陽能電池的熱氧化工藝,本發(fā)明步驟簡(jiǎn)單,可操作性強(qiáng),能有效解決電池表層晶格缺陷、懸掛鍵多,硅片表層摻雜溶度降低且雜質(zhì)分布離散,限制晶硅電池轉(zhuǎn)化效率提升的問題,具有較大的應(yīng)用推廣價(jià)值。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:

本發(fā)明的一種應(yīng)用于晶硅太陽能電池的熱氧化工藝,包括以下步驟:

(1)將擴(kuò)散、刻蝕、清洗后的硅片插入石英舟中后送入低壓擴(kuò)散爐中,升溫至650~800℃,通入氮?dú)獠⒖刂茽t管內(nèi)氣體壓力為50~150mBar。

(2)通入氧氣、小氮、氮?dú)猓刂茽t內(nèi)溫度650~800℃,通入時(shí)間50~200s,爐管內(nèi)氣體壓力50~150mBar,小氮中磷源POCl3摩爾百分比濃度控制在2.5~3%。氮?dú)庾鳛橄♂寶怏w,小氮為攜帶磷源(POCl3)的載氣。

(3)降溫出爐,測(cè)試方阻,控制方阻85~95Ω/□。

作為優(yōu)選,步驟(1)中,氮?dú)馔ㄈ肓繛?~10SLM。

作為優(yōu)選,步驟(2)中,氧氣通入量為500~1000sccm,小氮通入量為50~200sccm,氮?dú)馔ㄈ肓繛?00~1000sccm。

作為優(yōu)選,步驟(3)中,降溫至600~700℃,時(shí)間500~600s。

因此,本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明對(duì)熱源氧化步驟進(jìn)行了改進(jìn)優(yōu)化,尤其是在熱氧化時(shí)通入少量的POCl3,通過磷源的再次注入擴(kuò)散,不僅可以修復(fù)晶格缺陷、鈍化表面懸掛鍵,還可以完美解決常規(guī)熱氧化方法硅片表面參雜濃度過低的問題,增加硅片表面參雜量,有利于降低電池片銀硅接觸電阻及橫向傳導(dǎo)電阻,從而使電池片串聯(lián)電阻降低,提升轉(zhuǎn)化效率。

具體實(shí)施方式

下面通過具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的描述。

實(shí)施例1

(1)將擴(kuò)散、刻蝕、清洗后的硅片插入石英舟中后送入低壓擴(kuò)散爐中,升溫至650℃,通入氮?dú)獠⒖刂茽t管內(nèi)氣體壓力為50mBar,氮?dú)馔ㄈ肓繛?SLM;

(2)通入氧氣、小氮、氮?dú)?,控制爐內(nèi)溫度650℃,通入時(shí)間50s,爐管內(nèi)氣體壓力50mBar,小氮中磷源POCl3摩爾百分比濃度控制在2.5%,其中氧氣通入量為500sccm,小氮通入量為50sccm,氮?dú)馔ㄈ肓繛?00sccm;

(3)降溫至600℃,,時(shí)間500s,出爐,測(cè)試方阻,控制方阻85Ω/□。

實(shí)施例2

(1)將擴(kuò)散、刻蝕、清洗后的硅片插入石英舟中后送入低壓擴(kuò)散爐中,升溫至700℃,通入氮?dú)獠⒖刂茽t管內(nèi)氣體壓力為100mBar,氮?dú)馔ㄈ肓繛?SLM;

(2)通入氧氣、小氮、氮?dú)?,控制爐內(nèi)溫度700℃,通入時(shí)間100s,爐管內(nèi)氣體壓力100mBar,小氮中磷源POCl3摩爾百分比濃度控制在2.7%,其中氧氣通入量為700sccm,小氮通入量為150sccm,氮?dú)馔ㄈ肓繛?00sccm;

(3)降溫至650℃,,時(shí)間550s,出爐,測(cè)試方阻,控制方阻90Ω/□。

實(shí)施例3

(1)將擴(kuò)散、刻蝕、清洗后的硅片插入石英舟中后送入低壓擴(kuò)散爐中,升溫至800℃,通入氮?dú)獠⒖刂茽t管內(nèi)氣體壓力為150mBar,氮?dú)馔ㄈ肓繛?0SLM;

(2)通入氧氣、小氮、氮?dú)猓刂茽t內(nèi)溫度800℃,通入時(shí)間200s,爐管內(nèi)氣體壓力150mBar,小氮中磷源POCl3摩爾百分比濃度控制在3%,其中氧氣通入量為500~1000sccm,小氮通入量為50~200sccm,氮?dú)馔ㄈ肓繛?000sccm;

(3)降溫至700℃,,時(shí)間600s,出爐,測(cè)試方阻,控制方阻95Ω/□。

本發(fā)明對(duì)熱源氧化步驟進(jìn)行了改進(jìn)優(yōu)化,尤其是在熱氧化時(shí)通入少量的POCl3,通過磷源的再次注入擴(kuò)散,不僅可以修復(fù)晶格缺陷、鈍化表面懸掛鍵,還可以完美解決常規(guī)熱氧化方法硅片表面參雜濃度過低的問題,增加硅片表面參雜量,有利于降低電池片銀硅接觸電阻及橫向傳導(dǎo)電阻,從而使電池片串聯(lián)電阻降低,提升轉(zhuǎn)化效率,具有較大的應(yīng)用推廣價(jià)值。

以上所述的實(shí)施例只是本發(fā)明的一種較佳的方案,并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制,在不超出權(quán)利要求所記載的技術(shù)方案的前提下還有其它的變體及改型。

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