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一種GaN器件原位生長石墨烯掩埋電極結構及制備方法與流程

文檔序號:11252592閱讀:1591來源:國知局

本發(fā)明屬于半導體器件技術領域,具體涉及一種gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構及制備方法。



背景技術:

作為第三代半導體的杰出代表,氮化鎵(gan)的室溫禁帶寬度為3.45ev,遠大于si和gaas的禁帶寬度,使得其電場擊穿強度比之大了一個數(shù)量級,非常適合制作高耐壓大功率器件。除了很大的禁帶寬度這一優(yōu)勢外,gan還具備很高的電子飽和速度及熱導率,使它十分適合于微波/毫米波大功率應用的場合。gan電力電子開關器件,algan/gan異質結高電子遷移率晶體管hemt及ganmmic單片微波集成電路(monolithicmicrowaveintegratedcircuits,mmic)在高溫器件及大功率微波器件方面已顯示出了得天獨厚的優(yōu)勢,追求器件高頻率、高壓、高功率吸引了眾多的研究。近年來,制作更高頻率高壓大功率高可靠性能的algan/ganhemt及mmic成為關注的又一研究熱點。民用商業(yè)以及消費等領域,特別是對于即將在2020年實現(xiàn)商用的5g技術而言,gan功放管及mmic必將占據(jù)重要地位。但就目前而言,由于器件襯底材料,器件設計和工藝等問題,ganhemt及mmic的高溫可靠性和高成本在一定程度上嚴重阻礙了其發(fā)展和普及。ganhemt功率器件一直沒有能夠突破其高溫可靠性問題,散熱問題制約著ganhemt功率器件的性能,如功率密度以及效率等。特別是對于大功率ganhemt器件,自熱效應會導致熱量在器件有源區(qū)中心迅速積聚,引起器件性能惡化失效。以si作為襯底的ganhemt器件因為成本較低而備受關注,但是因為si的熱導率很低,導致gan-on-sihemt器件自熱效應更加嚴重,束縛了其功率特性和應用。sic材料具有良好的熱導率,以sic為襯底的ganhemt器件自熱效應減輕,但在大功率應用下的高溫可靠性仍然是嚴重的挑戰(zhàn)。同時,sic襯底片十分昂貴,一片四英寸sic襯底片的售價可高達一千美金以上,這不利于gan功率管及mmic在民用商業(yè)以及消費等領域的應用發(fā)展。

為了提高器件高溫可靠性,減小器件熱阻,大功率gan器件往往采用背面減薄,背面通孔結構和附加各種高熱導率導熱熱沉。背面通孔結構在2005年由masahirohikita等人提出,稱之為svg(source-viagrounding),其具體結構可查看文獻m.hikita,m.yanagihara,k.nakazawa,etal.algan/ganpowerhfetonsiliconsubstratewithsource-viagrounding(svg)structure[j].ieeetransctionsonelectrondevices,2005,52(9),pp.1963-1968。該結構通過器件旁邊打孔,用金屬將源極與襯底或背面電極相連。svg結構可以提高器件耐壓,降低器件熱阻,使柵極和溝道區(qū)的熱量能通過svg金屬通孔快速沉降到器件背面基板。但是,背面減薄(往往需要將幾百微米的襯底片從背面研磨減薄到幾十微米)和深通孔的刻蝕,以及使用鍍金工藝填充通孔,一方面工藝復雜成本高,造成gan功率管和mmic成本高昂;另外,背面減薄和幾十微米深通孔的刻蝕容易造成器件的損傷,使良率和器件可靠性降低。通孔中填充的金在器件溫升劇烈時,由于金的膨脹系數(shù)與gan及襯底材料的差異也容易導致器件受到損傷,可靠性降低。

對于高熱導率熱沉,目前導熱材料在各種工業(yè)領域中均有廣泛的應用,但由于熱導率的限制,導熱散熱效果并不理想,限制了器件或者系統(tǒng)的設計。尤其是在電子產(chǎn)業(yè)中,電子電路設計的集成化、小型化趨勢越來越明顯,高性能導熱散熱材料的要求也越來越高,需求也越來越大。但是傳統(tǒng)的導熱散熱材料多是以金屬或者石墨為基礎材料進行制造,目前已經(jīng)不能滿足電子產(chǎn)業(yè)對于導熱散熱的需求。

石墨烯材料導熱系數(shù)可高達5300w/m·k,其常溫下其電子遷移率超過15000cm2/v·s,遠高于一般的襯底材料和金屬,為目前世界上已知的熱導率最高的材料,十分適用于對熱導率要求苛刻的領域。石墨烯和aln間晶格失配度為4.5%,以aln作為緩沖成核層,可以在石墨烯上通過mocvd等工藝生長出質量很好的gan薄膜。

近年來,采用石墨烯及其復合材料作為器件電極材料的研究很多,也取得了一定的效果。目前采用的方法大都是先制備出石墨烯或氧化石墨烯,再采用一定方法轉移至gan外延片,在轉移過程中容易導致石墨烯的破損與雜質的引入;同時,石墨烯與gan之間依靠范德華力結合,容易在后續(xù)的工藝中出現(xiàn)分離或脫落的現(xiàn)象,從而影響器件的性能;除此之外,與現(xiàn)有gan基器件外延與芯片設備與工藝不兼容,不具有良好的產(chǎn)業(yè)推廣性。



技術實現(xiàn)要素:

針對現(xiàn)有技術中存在的問題,本發(fā)明的目的在于提供一種gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構,其有效解決了現(xiàn)有技術中存在的問題;本發(fā)明的另一目的在于提供一種gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構的制備方法。

為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用以下技術方案:

一種gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構,所述電極結構包括襯底和依次向上生長的aln成核層、gan緩沖層和器件外延構造層;其中,所述襯底和所述aln成核層之間從下至上還依次生成有aln隔離層、金屬催化層和石墨烯掩埋散熱層;所述石墨烯掩埋散熱層與源極通過金屬連接,與背板和熱沉通過金屬連接。

進一步,所述襯底由si、sic或者藍寶石中的一種材料制成。

一種制備gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構的方法,所述方法包括如下步驟:

1)放置襯底,在襯底片上生長一層aln隔離層;

2)在所述aln隔離層上通過ald工藝淀積生長一層金屬催化層,然后直接在所述金屬催化層上通過cvd工藝生長一層石墨烯掩埋散熱層;

3)在所述石墨烯掩埋散熱層上依次淀積生長aln成核層,gan緩沖層和器件外延構造層;

4)再進行gan器件的常規(guī)制作工藝;

5)器件正面刻孔到石墨烯掩埋層下的金屬催化層;用金屬將正面所需引出的電極與石墨烯掩埋散熱層相連,并與金屬催化層固定連接,使石墨烯掩埋散熱層和電極相互結合形成復合掩埋電極;

6)整個器件有源區(qū)邊緣刻蝕露出石墨烯掩埋散熱層,并用金屬與器件背面相連,并將連接用金屬燒結到背板和熱沉上。

進一步,所述石墨烯掩埋散熱層的厚度為1-20層石墨烯單層。

進一步,所述金屬催化層的材質為au、cu、pt、ni或ti。

進一步,所述aln成核層的厚度為1-100nm。

進一步,步驟5)和步驟6)中連接用金屬由au、ag、cr、pt、ni、ti、rh和zn中的任意一種或者多種金屬的合金材料制成。

進一步,步驟6)中用錫金焊膏或納米銀焊膏將連接用金屬燒結到背板和熱沉上。

本發(fā)明具有以下有益技術效果:

本發(fā)明的新型器件結構避免了背面深孔刻蝕的復雜工藝,可以實現(xiàn)正面直接源接地,同時利用石墨烯優(yōu)越的熱導率迅速將器件有源區(qū)產(chǎn)生的熱量導走,可以有助于實現(xiàn)大功率gan器件,增長器件的高溫可靠性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明增強型gan基高電子遷移率晶體管材料結構的結構示意圖。

具體實施方式

下面,參考附圖,對本發(fā)明進行更全面的說明,附圖中示出了本發(fā)明的示例性實施例。然而,本發(fā)明可以體現(xiàn)為多種不同形式,并不應理解為局限于這里敘述的示例性實施例。而是,提供這些實施例,從而使本發(fā)明全面和完整,并將本發(fā)明的范圍完全地傳達給本領域的普通技術人員。

如圖1所示,本發(fā)明提供了一種gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構,該電極結構包括襯底3和依次向上生長的aln成核層7、gan緩沖層和器件外延構造層8;其中,襯底3和aln成核層7之間從下至上還依次生成有aln隔離層4、金屬催化層5和石墨烯掩埋散熱層6;石墨烯掩埋散熱層6與源極通過金屬連接,與背板和熱沉1通過金屬連接;圖中標號2表示外圍金屬au。

襯底3由si、sic或者藍寶石中的一種材料制成。gan器件由半導體材料gan外延片或單晶片制成。

本發(fā)明還提供了一種制備gan器件原位生長石墨烯掩埋電極結構的方法,該方法包括如下步驟:

1)放置襯底3,在襯底3片上生長一層aln隔離層4;襯底3由si、sic或者藍寶石中的一種材料制成;

2)在aln隔離層4上通過ald工藝淀積生長一層金屬催化層5,金屬催化層5可以選用au、cu、pt、ni、ti等,然后直接在金屬催化層5上通過cvd工藝生長一層石墨烯掩埋散熱層6;石墨烯掩埋散熱層6的厚度為1-20層石墨烯單層;金屬催化層上cvd生長石墨烯的工藝已經(jīng)十分常見,此處不做詳述;

3)在石墨烯掩埋散熱層6上依次淀積生長aln成核層7,gan緩沖層和器件外延構造層8;

4)再進行gan器件的常規(guī)制作工藝;

5)器件正面刻孔到石墨烯掩埋層下的金屬催化層;用金屬將正面所需引出的電極9(最常用的是引出需要接地的電極)與石墨烯掩埋散熱層6相連,通過刻蝕出的石墨烯薄膜層貫穿的孔道,使電極9穿過石墨烯掩埋散熱層6的孔道并與金屬催化層5固定連接,形成石墨烯掩埋散熱層6的焊盤,使石墨烯掩埋散熱層6固定結合在金屬催化層5和襯底3上,使石墨烯掩埋散熱層6和電極9相互結合形成復合掩埋電極;

6)整個器件有源區(qū)邊緣刻蝕露出石墨烯掩埋散熱層,并用金屬與器件背面相連,并將連接用金屬燒結到背板和熱沉上。

其中,aln成核層的厚度為1-100nm。步驟5)和步驟6)中連接用金屬由au、ag、cr、pt、ni、ti、rh和zn中的任意一種或者多種金屬的合金材料制成。步驟6)中用錫金焊膏或納米銀焊膏將連接用金屬燒結到背板和熱沉上。

上面所述只是為了說明本發(fā)明,應該理解為本發(fā)明并不局限于以上實施例,符合本發(fā)明思想的各種變通形式均在本發(fā)明的保護范圍之內。

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