專利名稱:一種放電回路以及一種放電回路保護(hù)方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及電路技術(shù),特別涉及一種放電回路以及一種放電回路保護(hù)方法。
背景技術(shù):
現(xiàn)有技術(shù)中,為避免在電源對電池進(jìn)行充電時,電源通過放電回路對電池造成直通,從而形成從電源到電池方向的灌電流,通常會在放電回路中設(shè)置一個金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET, Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)。圖1為現(xiàn)有放電回路的示意圖。以N型MOSFET(N-MOSFET)為例,如圖1所示,當(dāng)電源通過充電回路對電池進(jìn)行充電時,控制MOSFET關(guān)閉,利用其內(nèi)部的二極管的單向?qū)ㄐ?,防止形成從電源到電池方向的灌電流。但是,上述方式在?shí)際應(yīng)用中會存在一定的問題如果在充電過程中,電源的電壓一直高于電池的電壓,則MOSFET將會起到很好的保護(hù)作用;但是,對于電池的最高電壓高于電源的電壓的情況,如電源先經(jīng)過升壓后再對電池進(jìn)行充電,那么當(dāng)電池的電壓達(dá)到最大時,則會大于電源的電壓,從而使得MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,即電池對電源造成直通,由于電池和電源之間存在電壓差,而且電池內(nèi)阻較小,因此將形成從電池到電源方向的較大灌電流,從而對電池和電源均造成一定的損害。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供了一種放電回路以及一種放電回路保護(hù)方法,能夠避免形成從電池到電源方向以及從電源到電池方向的灌電流。為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的一種放電回路,包括M組金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管MOSFET,M為正整數(shù);其中,每組中包括兩個互相連接且互為反向的M0SFET,其中一個MOSFET進(jìn)一步與電源相連,另一個MOSFET進(jìn)一步與電池相連;當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓大于所述電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電源到所述電池方向的灌電流;當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓小于所述電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電池到所述電源方向的灌電流。一種放電回路保護(hù)方法,包括在電源和電池的放電回路中設(shè)置M組金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管MOSFET,M為正整數(shù);其中,每組中包括兩個M0SFET,將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中一個MOSFET進(jìn)一步與所述電源相連,將另一個MOSFET進(jìn)一步與所述電池相連;
當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓大于所述電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電源到所述電池方向的灌電流;當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓小于所述電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電池到所述電源方向的灌電流??梢?,采用本發(fā)明所述方案,在放電回路中設(shè)置M組M0SFET,每組中包括兩個互相連接且互為反向的MOSFET,這樣,當(dāng)充電過程中電源的電壓大于電池的電壓時,可利用其中的一個MOSFET來阻止形成從電源到電池方向的灌電流,當(dāng)電池的電壓大于電源的電壓時,可利用另一個MOSFET來阻止形成從電池到電源方向的灌電流。
圖1為現(xiàn)有放電回路的示意圖。圖2為本發(fā)明當(dāng)每組中的兩個MOSFET均為N-MOSFET時的放電回路示意圖。圖3為本發(fā)明當(dāng)M的取值為2時的放電回路示意圖。
具體實(shí)施例方式為克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,本發(fā)明中提出一種改進(jìn)后的放電回路,其中包括M組MOSFET,M為正整數(shù),具體取值可根據(jù)實(shí)際需要而定;其中,每組中包括兩個互相連接且互為反向的MOSFET,其中一個MOSFET進(jìn)一步與電源相連,另一個MOSFET進(jìn)一步與電池相連。當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓大于電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,從而阻止形成從電源到電池方向的灌電流;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓小于電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,從而阻止形成從電池到電源方向的灌電流。在實(shí)際應(yīng)用中,每組中的兩個MOSFET可均為N-M0SFET,也可均為P型MOSFET(P-MOSFET)。圖2為本發(fā)明當(dāng)每組中的兩個MOSFET均為N-MOSFET時的放電回路示意圖。為簡化附圖,假設(shè)M的取值為1,并為了便于表述,將兩個MOSFET分別稱為M0SFET1和MOSFET 2。如圖2所示,MOSFET I的源極⑶與電源相連,MOSFET I的漏極(D)與MOSFET 2的漏極相連,MOSFET I的柵極(G)與MOSFET 2的柵極相連;M0SFET2的源極與電池相連,MOSFET 2的漏極與MOSFET I的漏極相連,MOSFET 2的柵極與MOSFET I的柵極相連。當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電時,MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為低電平,MOSFETI和MOSFET 2均關(guān)閉。當(dāng)電池進(jìn)行放電時,MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為高電平,MOSFET I和MOSFET2均打開,所述高電平通常需要高于電池的最大電壓。MOSFET I和MOSFET 2的柵極作為電路開合的控制端,受控于同一控制信號,可通過控制信號控制MOSFET I和MOSFET 2的柵極為高電平或低電平。MOSFET I和MOSFET 2內(nèi)部的二極管分別為Dl和D2,當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓大于電池的電壓時,Dl導(dǎo)通,D2未導(dǎo)通,從而阻止形成從電源到電池方向的灌電流;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓小于電池的電壓時,D2導(dǎo)通,Dl未導(dǎo)通,從而阻止形成從電池到電源方向的灌電流。如果將圖2中的N-MOSFET替換為P-M0SFET,那么,連接關(guān)系可如下所示MOSFET I的漏極與電源相連,MOSFET I的源極與MOSFET 2的源極相連,MOSFET I的柵極與MOSFET 2的柵極相連;MOSFET 2的漏極與電池相連,M0SFET2的源極與MOSFET I的源極相連,MOSFET 2的柵極與MOSFET I的柵極相連;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電時,MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為高電平,MOSFETI和MOSFET 2均關(guān)閉。當(dāng)電池進(jìn)行放電時,MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為低電平,MOSFET I和MOSFET 2均打開。在實(shí)際應(yīng)用中,某些情況下,如當(dāng)電池對應(yīng)的被供電設(shè)備需要較大的電流時,M的取值可設(shè)置為大于1,以N-MOSFET為例,圖3為本發(fā)明當(dāng)M的取值為2時的放電回路示意圖。假設(shè)每個N-MOSFET允許通過的最大電流為10A,而被供電設(shè)備需要的電流為20A,那么則可利用兩組N-MOSFET來并行傳輸所需的20A電流。另外,需要說明的是,在實(shí)際應(yīng)用中,放電回路中除了包括上述圖2和圖3中所述的組成部分外,通常還會進(jìn)一步包括一些其它組成部分,由于與本發(fā)明所述方案無直接關(guān)系,故不作介紹?;谏鲜鼋榻B,本發(fā)明同時公開了一種放電回路保護(hù)方法,包括在電源和電池的放電回路中設(shè)置M組MOSFET,M為正整數(shù);其中,每組中包括兩個M0SFET,將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中一個MOSFET進(jìn)一步與電源相連,將另一個MOSFET進(jìn)一步與電池相連;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓大于電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從電源到電池方向的灌電流;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓小于電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從電池到電源方向的灌電流。其中,每組中的兩個MOSFET均為N型M0SFET,每組中的兩個MOSFET分別為MOSFET I和MOSFET 2 ;將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中一個MOSFET進(jìn)一步與電源相連,將另一個MOSFET進(jìn)一步與電池相連包括將MOSFET I的源極與電源相連,將MOSFET I的漏極與MOSFET 2的漏極相連,將MOSFET I的柵極與MOSFET 2的柵極相連;將MOSFET 2的源極與電池相連,將MOSFET 2的漏極與MOSFET I的漏極相連,將MOSFET 2的柵極與MOSFET I的柵極相連;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電時,控制MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為低電平,MOSFETI和MOSFET 2均關(guān)閉;另外,當(dāng)電池進(jìn)行放電時,控制MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為高電平,MOSFETI和MOSFET 2均打開?;蛘撸拷M中的兩個MOSFET均為P型M0SFET,每組中的兩個MOSFET分別為MOSFET I和MOSFET 2 ;將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中一個MOSFET進(jìn)一步與電源相連,將另一個MOSFET進(jìn)一步與電池相連包括將MOSFET I的漏極與電源相連,將MOSFET I的源極與MOSFET 2的源極相連,將MOSFET I的柵極與MOSFET 2的柵極相連;將MOSFET 2的漏極與電池相連,將MOSFET 2的源極與MOSFET I的源極相連,將MOSFET 2的柵極與MOSFET I的柵極相連;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電時,控制MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為高電平,MOSFETI和MOSFET 2均關(guān)閉;另外,當(dāng)電池進(jìn)行放電時,控制MOSFET I和MOSFET 2的柵極均為低電平,MOSFETI和MOSFET 2均打開。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種放電回路,其特征在于,包括 M組金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管MOSFET,M為正整數(shù); 其中,每組中包括兩個互相連接且互為反向的MOSFET,其中ー個MOSFET進(jìn)ー步與電源相連,另ー個MOSFET進(jìn)ー步與電池相連; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓大于所述電池的電壓時,每組中的ー個MOSFET內(nèi)部的ニ極管導(dǎo)通,另ー個MOSFET內(nèi)部的ニ極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電源到所述電池方向的灌電流; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓小于所述電池的電壓時,每組中的ー個MOSFET內(nèi)部的ニ極管導(dǎo)通,另ー個MOSFET內(nèi)部的ニ極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電池到所述電源方向的灌電流。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放電回路,其特征在干, 每組中的兩個MOSFET均為N型MOSFET,每組中的兩個MOSFET分別為MOSFET I和MOSFET 2 ; 所述MOSFET I的源極與所述電源相連,所述MOSFET I的漏極與所述M0SFET2的漏極相連,所述MOSFET I的柵極與所述MOSFET 2的柵極相連; 所述M0SFET2的源極與所述電池相連,所述MOSFET 2的漏極與所述M0SFET1的漏極相連,所述MOSFET 2的柵極與所述MOSFET I的柵極相連; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電時,所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為低電平,所述MOSFET I和所述MOSFET 2均關(guān)閉。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放電回路,其中特征在干, 當(dāng)所述電池進(jìn)行放電時,所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為高電平,所述MOSFET I和所述MOSFET 2均打開。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放電回路,其特征在干, 每組中的兩個MOSFET均為P型MOSFET,每組中的兩個MOSFET分別為MOSFET I和MOSFET 2 ; 所述MOSFET I的漏極與所述電源相連,所述MOSFET I的源極與所述M0SFET2的源極相連,所述MOSFET I的柵極與所述MOSFET 2的柵極相連; 所述MOSFET 2的漏極與所述電池相連,所述MOSFET 2的源極與所述M0SFET1的源極相連,所述MOSFET 2的柵極與所述MOSFET I的柵極相連; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電時,所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為高電平,所述MOSFET I和所述MOSFET 2均關(guān)閉。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的放電回路,其特征在干, 當(dāng)所述電池進(jìn)行放電時,所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為低電平,所述MOSFET I和所述M0SFET2均打開。
6.一種放電回路保護(hù)方法,其特征在于,包括 在電源和電池的放電回路中設(shè)置M組金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管MOSFET,M為正整數(shù); 其中,每組中包括兩個M0SFET,將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中ー個MOSFET進(jìn)ー步與所述電源相連,將另ー個MOSFET進(jìn)ー步與所述電池相連;當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓大于所述電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電源到所述電池方向的灌電流; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電,且所述電源的電壓小于所述電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從所述電池到所述電源方向的灌電流。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于, 每組中的兩個MOSFET均為N型MOSFET,每組中的兩個MOSFET分別為MOSFET I和MOSFET 2 ; 所述將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中一個MOSFET進(jìn)一步與所述電源相連,將另一個MOSFET進(jìn)一步與所述電池相連包括 將所述MOSFET I的源極與所述電源相連,將所述MOSFET I的漏極與所述MOSFET 2的漏極相連,將所述MOSFET I的柵極與所述MOSFET 2的柵極相連; 將所述MOSFET 2的源極與所述電池相連,將所述MOSFET 2的漏極與所述MOSFET I的漏極相連,將所述MOSFET 2的柵極與所述MOSFET I的柵極相連; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電時,控制所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為低電平,所述MOSFET I和所述M0SFET2均關(guān)閉。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,該方法進(jìn)一步包括 當(dāng)所述電池進(jìn)行放電時,控制所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為高電平,所述MOSFET I和所述MOSFET 2均打開。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于, 每組中的兩個MOSFET均為P型MOSFET,每組中的兩個MOSFET分別為MOSFET I和MOSFET 2 ; 所述將兩個MOSFET互相連接并設(shè)置成互為反向,并將其中一個MOSFET進(jìn)一步與所述電源相連,將另一個MOSFET進(jìn)一步與所述電池相連包括 將所述MOSFET I的漏極與所述電源相連,將所述MOSFET I的源極與所述MOSFET 2的源極相連,將所述MOSFET I的柵極與所述MOSFET 2的柵極相連; 將所述MOSFET 2的漏極與所述電池相連,將所述MOSFET 2的源極與所述MOSFET I的源極相連,將所述MOSFET 2的柵極與所述MOSFET I的柵極相連; 當(dāng)所述電源對所述電池進(jìn)行充電時,控制所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為高電平,所述MOSFET I和所述MOSFET 2均關(guān)閉。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,該方法進(jìn)一步包括 當(dāng)所述電池進(jìn)行放電時,控制所述MOSFET I和所述MOSFET 2的柵極均為低電平,所述MOSFET I和所述MOSFET 2均打開。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種放電回路,包括M組MOSFET;每組中包括兩個互相連接且互為反向的MOSFET,其中一個MOSFET進(jìn)一步與電源相連,另一個MOSFET進(jìn)一步與電池相連;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓大于電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從電源到電池方向的灌電流;當(dāng)電源對電池進(jìn)行充電,且電源的電壓小于電池的電壓時,每組中的一個MOSFET內(nèi)部的二極管導(dǎo)通,另一個MOSFET內(nèi)部的二極管未導(dǎo)通,阻止形成從電池到電源方向的灌電流。本發(fā)明同時公開了一種放電回路保護(hù)方法。應(yīng)用本發(fā)明所述方案,能夠避免形成從電池到電源方向以及從電源到電池方向的灌電流。
文檔編號H02J7/00GK103051020SQ20121053330
公開日2013年4月17日 申請日期2012年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月12日
發(fā)明者劉偉 申請人:創(chuàng)新科存儲技術(shù)(深圳)有限公司, 創(chuàng)新科軟件技術(shù)(深圳)有限公司