本發(fā)明涉及微電子技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種鎖相環(huán)中的單粒子輻射加固的電荷泵電路。
背景技術(shù):
隨著現(xiàn)代航天應(yīng)用技術(shù)的發(fā)展與武器功能的多樣化,系統(tǒng)內(nèi)部的處理器計(jì)算量增大,隨之越來越多的集成電路芯片將工作在輻射環(huán)境中。對(duì)于在輻射環(huán)境下工作的集成電路芯片,主要考慮單粒子效應(yīng)和總劑量效應(yīng)兩種。隨著集成電路工藝發(fā)展,總劑量效應(yīng)對(duì)集成電路芯片的影響在減弱,相反單粒子效應(yīng)對(duì)集成電路芯片的影響越來越大。相對(duì)于數(shù)字集成電路,模擬集成電路及數(shù)模混合集成電路對(duì)單粒子效應(yīng)更敏感,在先進(jìn)集成電路工藝中日趨嚴(yán)峻且加固設(shè)計(jì)更加困難。因此,模擬集成電路及數(shù)模混合集成電路的單粒子輻射加固研究已成研究重點(diǎn)及難點(diǎn)。
鎖相環(huán)電路作為產(chǎn)生時(shí)鐘基準(zhǔn)的重要部件,已廣泛應(yīng)用于商用和航空航天領(lǐng)域的集成電路芯片中,其通用結(jié)構(gòu)如圖1所示。工作原理為:鑒頻鑒相器檢測輸入?yún)⒖夹盘?hào)Vref與分頻器分頻后的反饋信號(hào)Vfb的相位或頻率,并根據(jù)相位差或頻率差產(chǎn)生電荷泵充放電控制信號(hào)和電荷泵在和的控制下對(duì)低通濾波器進(jìn)行充電或放電,從而改變低通濾波器的輸出電壓(即電荷泵的輸出端電壓Vctrl),也就是調(diào)整壓控振蕩器的控制電壓Vctrl,進(jìn)而不斷地調(diào)整壓控振蕩器的輸出頻率以減小輸入?yún)⒖夹盘?hào)Vref與反饋信號(hào)Vfb之間的相位差,這個(gè)反饋過程不斷的重復(fù)直到最終使輸入?yún)⒖夹盘?hào)與反饋信號(hào)的相位對(duì)齊,即鎖相環(huán)鎖定。
電荷泵對(duì)整個(gè)鎖相環(huán)的性能起決定作用,圖2為基本差分型電荷泵。當(dāng)PMOS管M6和NMOS管M4導(dǎo)通時(shí),PMOS管M5和NMOS管M3關(guān)斷,結(jié)點(diǎn)C與結(jié)點(diǎn)Y電壓相等;當(dāng)PMOS管M6和NMOS管M4關(guān)斷時(shí),PMOS管M5和NMOS管M3導(dǎo)通,結(jié)點(diǎn)C與結(jié)點(diǎn)Y電壓相等,這樣結(jié)點(diǎn)C在NMOS管M4以及PMOS管M6導(dǎo)通與關(guān)斷時(shí)沒有電壓變化,即電荷泵輸出端Vctrl-old在NMOS管M4以及PMOS管M6導(dǎo)通與關(guān)斷時(shí)沒有電壓變化,從而避免了電荷共享效應(yīng)。但是,電荷泵在單粒子瞬態(tài)效應(yīng)中會(huì)產(chǎn)生大量的電荷對(duì)低通濾波器中的電容進(jìn)行充放電,導(dǎo)致壓控振蕩器的控制電壓嚴(yán)重偏離鎖定值,超出最大或最小控制電壓,從而導(dǎo)致鎖相環(huán)的輸出時(shí)鐘長時(shí)間處于混亂狀態(tài),嚴(yán)重影響到電子系統(tǒng)的正常工作。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明旨在解決以上現(xiàn)有技術(shù)的問題。提出了一種有效地改善鎖相環(huán)電路整體輸出抖動(dòng)特性,從而提高鎖相環(huán)的抗單粒子輻射能力的鎖相環(huán)中的單粒子輻射加固電荷泵電路。本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種鎖相環(huán)中的單粒子輻射加固電荷泵電路,包括基本電荷泵電路,其還包括輻射加固電路以及偏置電路,所述基本電荷泵電路的信號(hào)輸出端電連接所述輻射加固電路的信號(hào)輸入端,所述輻射加固電路的信號(hào)輸出端電連接所述基本電荷泵電路的單粒子輻射敏感結(jié)點(diǎn)端,所述偏置電路的輸出端電連接所述輻射加固電路的電壓輸入端;所述輻射加固電路在于,當(dāng)基本電荷泵電路(1)中結(jié)點(diǎn)A、結(jié)點(diǎn)B、結(jié)點(diǎn)C、結(jié)點(diǎn)D或結(jié)點(diǎn)E受到高能單粒子轟擊產(chǎn)生單粒子瞬態(tài)脈沖電流時(shí),輻射加固電路中對(duì)應(yīng)的輻射補(bǔ)償電流管(結(jié)點(diǎn)A對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC1、結(jié)點(diǎn)B對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC2、結(jié)點(diǎn)C對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC3及MC8、結(jié)點(diǎn)D對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC7、結(jié)點(diǎn)E對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC6)工作并產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償對(duì)應(yīng)結(jié)點(diǎn)A、結(jié)點(diǎn)B、結(jié)點(diǎn)C、結(jié)點(diǎn)D、結(jié)點(diǎn)E的單粒子瞬態(tài)脈沖電流;所述偏置電路用于為所述輻射加固電路提供偏置,使得所述輻射加固電路中的輻射補(bǔ)償電流管(即PMOS管MC1、PMOS管MC2、PMOS管MC3、NMOS管MC6、NMOS管MC7以及NMOS管MC8)在基本電荷泵電路的相應(yīng)結(jié)點(diǎn)(結(jié)點(diǎn)A對(duì)應(yīng)PMOS管MC1、結(jié)點(diǎn)B對(duì)應(yīng)PMOS管MC2、結(jié)點(diǎn)C對(duì)應(yīng)PMOS管MC3及NMOS管MC8、結(jié)點(diǎn)D對(duì)應(yīng)NMOS管MC7、結(jié)點(diǎn)E對(duì)應(yīng)NMOS管MC6)未受到單粒子瞬態(tài)轟擊時(shí)不工作。
進(jìn)一步的,所述基本電荷泵電路包括:NMOS管M1、NMOS管M2、NMOS管M3、NMOS管M4、誤差放大器A1、PMOS管M5、PMOS管M6、PMOS管M7以及PMOS管M8,其中,在所述基本電荷泵電路中PMOS管M8的源極與外部電源VDD相連,PMOS管M8的柵極與PMOS管M14的柵極以及外部偏置Vbp1相連,PMOS管M8的漏極與PMOS管M7的源極以及PMOS管MC1的源極相連,PMOS管M7的柵極與PMOS管M13的柵極以及外部偏置Vbp2相連,PMOS管M7的漏極分別與PMOS管M5的源極、PMOS管M6的源極以及PMOS管MC2的源極相連,PMOS管M5的柵極與輸入端相連,PMOS管M5的漏極分別與誤差放大器A1的輸出端、誤差放大器A1的反向輸入端以及NMOS管M3的漏極相連,NMOS管M3的柵極與輸入端相連,PMOS管M6的柵極與輸入端UP相連,PMOS管M6的漏極分別與誤差放大器A1的同向輸入端、NMOS管M4的漏極、NMOS管MC8的源極、PMOS管MC3的源極以及電阻R1的一端相連,NMOS管M4的柵極與輸入端DN相連,NMOS管M4的源極與NMOS管M3的源極、NMOS管MC7的源極以及NMOS管M2的漏極相連,NMOS管M2的柵極與NMOS管M10的柵極以及外部偏置Vbn2相連,NMOS管M2的源極與NMOS管MC6的源極以及NMOS管M1的漏極相連,NMOS管M1的柵極與NMOS管M9的柵極以及外部偏置Vbn1相連,NMOS管M1的源極與外部地線GND相連。
進(jìn)一步的,所述輻射加固電路包括:PMOS管MC1、PMOS管MC2、PMOS管MC3、NMOS管MC4、NMOS管MC5、NMOS管MC6、NMOS管MC7、NMOS管MC8、PMOS管MC9、PMOS管MC10、電阻R1以及誤差放大器A2,在所述輻射加固電路中PMOS管MC1的漏極分別與PMOS管MC2的漏極、PMOS管MC3的漏極、NMOS管MC4的漏極、NMOS管MC4的柵極以及NMOS管MC5的柵極相連,NMOS管MC4的源極與NMOS管MC5的源極以及外部地線GND相連,PMOS管MC9的源極與PMOS管MC10的源極以及外部電源VDD相連,PMOS管MC9的漏極與電阻R1的另一端、誤差放大器A2的同向輸入端、輸出端Vctrl以及NMOS管MC5的漏極相連,PMOS管MC10的柵極與PMOS管MC9的柵極、PMOS管MC10的漏極、NMOS管MC8的漏極、NMOS管MC7的漏極以及NMOS管MC6的漏極相連,NMOS管MC8的柵極分別與PMOS管MC3的柵極、誤差放大器A2的反向輸入端、誤差放大器A2的輸出端、PMOS管M12的漏極以及NMOS管M11的漏極相連。
進(jìn)一步的,所述偏置電路包括:NMOS管M9、NMOS管M10、NMOS管M11、PMOS
管M12、PMOS管M13以及PMOS管M14;
在所述偏置電路中PMOS管M14的源極與NMOS管M11的柵極以及外部電源VDD相連,PMOS管M14的漏極與PMOS管MC1的柵極以及PMOS管M13的源極相連,PMOS管M13的漏極與PMOS管MC2的柵極以及PMOS管M12的源極相連,PMOS管M12的柵極與NMOS管M9的源極以及外部地線GND相連,NMOS管M11的源極與NMOS管MC7的柵極以及NMOS管M10的漏極相連,NMOS管M10的源極與NMOS管MC6的柵極以及NMOS管M9的漏極相連。
進(jìn)一步的,所述基本電荷泵電路中PMOS管M5與PMOS管M6具有相同的寬長比,NMOS管M3與NMOS管M4具有相同的寬長比,誤差放大器A1強(qiáng)制PMOS管M5的漏極電壓與PMOS管M6的漏極電壓相等;
進(jìn)一步的,所述輻射加固電路中PMOS管MC9與PMOS管MC10構(gòu)成電流鏡,NMOS管MC4與NMOS管MC5構(gòu)成電流鏡,誤差放大器A2強(qiáng)制所述基本電荷泵電路中結(jié)點(diǎn)C電壓VC與所述偏置電路中結(jié)點(diǎn)H電壓VH相等,即VC=VH。
進(jìn)一步的,當(dāng)基本電荷泵電路未受到高能單粒子轟擊時(shí),所述輻射加固電路中PMOS管MC1的柵源電壓VGS_C1、PMOS管MC2的柵源電壓VGS_C2、PMOS管MC3的柵源電壓VGS_C3、NMOS管MC6的柵源電壓VGS_C6、NMOS管MC7的柵源電壓VGS_C7及NMOS管MC8的柵源電壓VGS_C8均為0,即為:
VGS_C1=VGS_C2=VGS_C3=VGS_C6=VGS_C7=VGS_C8=0
當(dāng)基本電荷泵電路未受到單粒子轟擊時(shí),所述輻射加固電路中輻射補(bǔ)償電流管均不工作,即PMOS管MC1、PMOS管MC2、PMOS管MC3、NMOS管MC6、NMOS管MC7及NMOS管MC8均不工作。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)及有益效果如下:
本發(fā)明通過設(shè)置PMOS管M14與PMOS管M8、PMOS管M13與PMOS管M7、NMOS管M10與NMOS管M2、NMOS管M9與NMOS管M1分別具有相同的寬長比,并通過合理選擇PMOS管M12與NMOS管M11的寬長比,使得當(dāng)基本電荷泵電路的結(jié)點(diǎn)未受到高能單粒子轟擊時(shí)偏置電路中的結(jié)點(diǎn)F電壓VF與結(jié)點(diǎn)A電壓VA相等、結(jié)點(diǎn)G電壓VG與結(jié)點(diǎn)B電壓VB相等、結(jié)點(diǎn)H電壓VH與結(jié)點(diǎn)C電壓VC電壓相等、結(jié)點(diǎn)I電壓VI與結(jié)點(diǎn)D電壓VD相等、結(jié)點(diǎn)J電壓VJ與結(jié)點(diǎn)E電壓VE相等,從而使得當(dāng)基本電荷泵電路的結(jié)點(diǎn)未受到高能單粒子轟擊時(shí)輻射加固電路中的輻射補(bǔ)償電流PMOS管MC1、輻射補(bǔ)償電流PMOS管MC2、輻射補(bǔ)償電流PMOS管MC3、輻射補(bǔ)償電流NMOS管MC8、輻射補(bǔ)償電流NMOS管MC7、輻射補(bǔ)償電流NMOS管MC6均不工作,且偏置電路中的結(jié)點(diǎn)F電壓VF、結(jié)點(diǎn)G電壓VG、結(jié)點(diǎn)I電壓VI、結(jié)點(diǎn)J電壓VJ分別為輻射加固電路中PMOS管MC1的柵極、PMOS管MC2的柵極、NMOS管MC7的柵極、NMOS管MC6的柵極提供偏置電壓,偏置電路中結(jié)點(diǎn)H電壓VH為輻射加固電路中PMOS管MC3的柵極及NMOS管MC8的柵極提供偏置;
當(dāng)基本電荷泵電路中結(jié)點(diǎn)A、結(jié)點(diǎn)B或結(jié)點(diǎn)C處PMOS管漏極受到高能單粒子轟擊時(shí)將產(chǎn)生注入結(jié)點(diǎn)的單粒子瞬態(tài)電流從而使得結(jié)點(diǎn)電壓升高,同理基本電荷泵電路中結(jié)點(diǎn)C、結(jié)點(diǎn)D或結(jié)點(diǎn)E處NMOS管漏極受到高能單粒子轟擊時(shí)將產(chǎn)生流出結(jié)點(diǎn)的單粒子瞬態(tài)電流從而使得該結(jié)點(diǎn)電壓降低,同時(shí)所述輻射加固電路中電阻R1具有較大阻值使得此時(shí)誤差放大器A2的同向輸入端電壓仍保持基本電荷電路相應(yīng)結(jié)點(diǎn)未受到高能單粒子轟擊時(shí)的電壓,結(jié)點(diǎn)F、結(jié)點(diǎn)G、結(jié)點(diǎn)H、結(jié)點(diǎn)I及結(jié)點(diǎn)J也仍保持基本電荷電路相應(yīng)結(jié)點(diǎn)未受到高能單粒子轟擊時(shí)的電壓,從而使得輻射加固電路中與基本電荷電路受到高能單粒子轟擊的結(jié)點(diǎn)相連的輻射補(bǔ)償電流管(結(jié)點(diǎn)A對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC1、結(jié)點(diǎn)B對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC2、結(jié)點(diǎn)C對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC3及MC8、結(jié)點(diǎn)D對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC7、結(jié)點(diǎn)E對(duì)應(yīng)輻射補(bǔ)償電流管MC6)柵源電壓絕對(duì)值|VGS|快速增加,輻射補(bǔ)償電流管快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償結(jié)點(diǎn)受到高能單粒子轟擊所產(chǎn)生的單粒子瞬態(tài)電流,抑制結(jié)點(diǎn)電壓變化,提高電荷泵抗單粒子輻射能力,從而有效地改善鎖相環(huán)電路整體輸出抖動(dòng)特性,提高鎖相環(huán)的抗單粒子輻射能力。
附圖說明
圖1是基本鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為傳統(tǒng)差動(dòng)電荷泵電路圖;
圖3為本發(fā)明提供優(yōu)選實(shí)施例的單粒子輻射加固電荷泵電路圖;
圖4為本發(fā)明單粒子輻射加固電荷泵及傳統(tǒng)差動(dòng)電荷泵電路分別構(gòu)成鎖相環(huán)在節(jié)點(diǎn)C受到單粒子轟擊時(shí)輸出端Vctrl電壓仿真圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、詳細(xì)地描述。所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
本申請(qǐng)實(shí)施例通過提供一種鎖相環(huán)中的單粒子輻射加固電荷泵電路,在傳統(tǒng)差動(dòng)基本電荷泵基礎(chǔ)上增加輻射加固電路以及偏置電路,當(dāng)基本電荷泵電路受到高能單粒子轟擊時(shí)輻射加固電路能為基本電荷泵電路快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償單粒子瞬態(tài)脈沖電流,有效地改善鎖相環(huán)電路整體輸出抖動(dòng)特性,從而提高鎖相環(huán)的抗單粒子輻射能力。
為了更好的理解上述技術(shù)方案,下面將結(jié)合說明書附圖以及具體的實(shí)施方式,對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)的說明。
實(shí)施例
一種鎖相環(huán)中的單粒子輻射加固電荷泵電路,如圖3所示,包括基本電荷泵電路1、輻射加固電路2以及偏置電路3,其中,所述基本電荷泵電路1的信號(hào)輸出端接所述輻射加固電路2的信號(hào)輸入端,所述輻射加固電路2的信號(hào)輸出端接所述基本電荷泵電路1的單粒子輻射敏感結(jié)點(diǎn)端,所述偏置電路3的輸出端接所述輻射加固電路2的電壓輸入端,所述偏置電路3為所述輻射加固電路2提供偏置,確保所述輻射加固電路2中的輻射補(bǔ)償電流管在基本電荷泵電路1的相應(yīng)結(jié)點(diǎn)未受到高能單粒子轟擊時(shí)不工作,同時(shí)確保所述輻射加固電路2在基本電荷泵電路1的相應(yīng)結(jié)點(diǎn)受到高能單粒子轟擊時(shí)快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償單粒子瞬態(tài)脈沖電流,可有效地改善鎖相環(huán)電路整體輸出抖動(dòng)特性,從而提高其抗單粒子輻射的能力。
作為一種優(yōu)選的技術(shù)方案,如圖3所示,所述基本電荷泵電路1包括:NMOS管M1、NMOS管M2、NMOS管M3、NMOS管M4、誤差放大器A1、PMOS管M5、PMOS管M6、PMOS管M7以及PMOS管M8,所述輻射加固電路2包括:PMOS管MC1、PMOS管MC2、PMOS管MC3、NMOS管MC4、NMOS管MC5、NMOS管MC6、NMOS管MC7、NMOS管MC8、PMOS管MC9、PMOS管MC10、電阻R1以及誤差放大器A2,所述偏置電路3包括:NMOS管M9、NMOS管M10、NMOS管M11、PMOS管M12、PMOS管M13以及PMOS管M14;
其中,在所述基本電荷泵電路1中PMOS管M8的源極與外部電源VDD相連,PMOS管M8的柵極與PMOS管M14的柵極以及外部偏置Vbp1相連,PMOS管M8的漏極與PMOS管M7的源極以及PMOS管MC1的源極相連,PMOS管M7的柵極與PMOS管M13的柵極以及外部偏置Vbp2相連,PMOS管M7的漏極與PMOS管M5的源極、PMOS管M6的源極以及PMOS管MC2的源極相連,PMOS管M5的柵極與輸入端相連,PMOS管M5的漏極與誤差放大器A1的輸出端、誤差放大器A1的反向輸入端以及NMOS管M3的漏極相連,NMOS管M3的柵極與輸入端相連,PMOS管M6的柵極與輸入端UP相連,PMOS管M6的漏極與誤差放大器A1的同向輸入端、NMOS管M4的漏極、NMOS管MC8的源極、PMOS管MC3的源極以及電阻R1的一端相連,NMOS管M4的柵極與輸入端DN相連,NMOS管M4的源極與NMOS管M3的源極、NMOS管MC7的源極以及NMOS管M2的漏極相連,NMOS管M2的柵極與NMOS管M10的柵極以及外部偏置Vbn2相連,NMOS管M2的源極與NMOS管MC6的源極以及NMOS管M1的漏極相連,NMOS管M1的柵極與NMOS管M9的柵極以及外部偏置Vbn1相連,NMOS管M1的源極與外部地線GND相連;
在所述輻射補(bǔ)償電路2中PMOS管MC1的漏極與PMOS管MC2的漏極、PMOS管MC3的漏極、NMOS管MC4的漏極、NMOS管MC4的柵極以及NMOS管MC5的柵極相連,NMOS管MC4的源極與NMOS管MC5的源極以及外部地線GND相連,PMOS管MC9的源極與PMOS管MC10的源極以及外部電源VDD相連,PMOS管MC9的漏極與電阻R1的另一端、誤差放大器A2的同向輸入端、輸出端Vctrl以及NMOS管MC5的漏極相連,PMOS管MC10的柵極與PMOS管MC9的柵極、PMOS管MC10的漏極、NMOS管MC8的漏極、NMOS管MC7的漏極以及NMOS管MC6的漏極相連,NMOS管MC8的柵極與PMOS管MC3的柵極、誤差放大器A2的反向輸入端、誤差放大器A2的輸出端、PMOS管M12的漏極以及NMOS管M11的漏極相連;
在所述偏置電路3中PMOS管M14的源極與NMOS管M11的柵極以及外部電源VDD相連,PMOS管M14的漏極與PMOS管MC1的柵極以及PMOS管M13的源極相連,PMOS管M13的漏極與PMOS管MC2的柵極以及PMOS管M12的源極相連,PMOS管M12的柵極與NMOS管M9的源極以及外部地線GND相連,NMOS管M11的源極與NMOS管MC7的柵極以及NMOS管M10的漏極相連,NMOS管M10的源極與NMOS管MC6的柵極以及NMOS管M9的漏極相連。
所述基本差動(dòng)電荷泵1中的誤差放大器A1以及所述輻射加固電路2中的誤差放大器A2是現(xiàn)有技術(shù)。
進(jìn)一步地,所述基本電荷泵電路中PMOS管M5與PMOS管M6具有相同的寬長比,NMOS管M3與NMOS管M4具有相同的寬長比,誤差放大器A1強(qiáng)制PMOS管M5的漏極電壓與PMOS管M6的漏極電壓相等;
所述輻射加固電路中PMOS管MC9與PMOS管MC10構(gòu)成電流鏡,NMOS管MC4與NMOS管MC5構(gòu)成電流鏡,誤差放大器A2強(qiáng)制所述基本電荷泵電路中結(jié)點(diǎn)C電壓VC與所述偏置電路中結(jié)點(diǎn)H電壓VH相等,即VC=VH;
所述偏置電路中PMOS管M14與所述基本電荷泵電路中PMOS管M8具有相同的寬長比,所述偏置電路中PMOS管M13與所述基本電荷泵電路中PMOS管M7具有相同的寬長比,所述偏置電路中NMOS管M10與所述基本電荷泵電路中NMOS管M2具有相同的寬長比,所述偏置電路中NMOS管M9與所述基本電荷泵電路中NMOS管M1具有相同的寬長比,通過合理選擇所述偏置電路中PMOS管M12與NMOS管M11的寬長比,則當(dāng)基本電荷泵電路未受到高能單粒子轟擊時(shí),所述偏置電路中結(jié)點(diǎn)F電壓VF、結(jié)點(diǎn)G電壓VG、結(jié)點(diǎn)H電壓VH、結(jié)點(diǎn)I電壓VI、結(jié)點(diǎn)J電壓VJ分別與所述基本電荷泵電路中結(jié)點(diǎn)A電壓VA、結(jié)點(diǎn)B電壓VB、結(jié)點(diǎn)C電壓VC、結(jié)點(diǎn)D電壓VD、結(jié)點(diǎn)E電壓VE相等,即VA=VF,VB=VG,VC=VH,VD=VI及VE=VJ。
進(jìn)一步,當(dāng)基本電荷泵電路未受到高能單粒子轟擊時(shí),所述輻射加固電路中PMOS管MC1的柵源電壓VGS_C1、PMOS管MC2的柵源電壓VGS_C2、PMOS管MC3的柵源電壓VGS_C3、NMOS管MC6的柵源電壓VGS_C6、NMOS管MC7的柵源電壓VGS_C7及NMOS管MC8的柵源電壓VGS_C8均為0,即為:
VGS_C1=VGS_C2=VGS_C3=VGS_C6=VGS_C7=VGS_C8=0
當(dāng)基本電荷泵電路未受到單粒子轟擊時(shí),所述輻射加固電路中輻射補(bǔ)償電流管均不工作,即PMOS管MC1、PMOS管MC2、PMOS管MC3、NMOS管MC6、NMOS管MC7及NMOS管MC8均不工作。
進(jìn)一步地,當(dāng)高能單粒子轟擊所述基本電荷泵電路中對(duì)單粒子輻射敏感結(jié)點(diǎn)處相應(yīng)MOS管漏極時(shí)將產(chǎn)生單粒子瞬態(tài)電流,從而導(dǎo)致該結(jié)點(diǎn)電壓升高或降低,此時(shí)所述輻射加固電路中與被高能單粒子轟擊結(jié)點(diǎn)相連的輻射補(bǔ)償電流管快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流從而抑制單粒子瞬態(tài)電流對(duì)后續(xù)低通濾波器電路中電容的影響,也抵消了單粒子瞬態(tài)電流對(duì)后續(xù)壓控振蕩器的控制電壓的擾動(dòng),并驅(qū)使鎖相環(huán)快速回到鎖定狀態(tài);
此處以所述基本電荷泵電路中結(jié)點(diǎn)C處MOS管的漏極被高能單粒子轟擊為例:
當(dāng)高能單粒子轟擊所述基本電荷泵電路中PMOS管M6的漏極時(shí),將產(chǎn)生單粒子瞬態(tài)電流注入到結(jié)點(diǎn)C,NMOS管M4的溝道電流不變,則結(jié)點(diǎn)C電壓VC升高,同時(shí)所述輻射加固電路中電阻R1具有較大阻值使得此時(shí)誤差放大器A2的同向輸入端電壓仍保持結(jié)點(diǎn)C未受到高能單粒子轟擊時(shí)的電壓,因而所述輻射加固電路中輻射補(bǔ)償電流管MC3的柵極電壓保持不變,輻射補(bǔ)償電流管MC3的柵源電壓絕對(duì)值|VGS_C3|快速增加,輻射補(bǔ)償電流管MC3快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償結(jié)點(diǎn)C受到高能單粒子轟擊所產(chǎn)生的單粒子瞬態(tài)電流,抑制結(jié)點(diǎn)C電壓變化,從而提高電荷泵抗單粒子輻射能力;
當(dāng)高能單粒子轟擊所述基本電荷泵中NMOS管M4的漏極時(shí),將產(chǎn)生單粒子瞬態(tài)電流使得結(jié)點(diǎn)C電壓VC降低,所述輻射加固電路中電阻R1具有較大阻值使得此時(shí)誤差放大器A2的同向輸入端電壓仍保持結(jié)點(diǎn)C未受到高能單粒子轟擊時(shí)的電壓,輻射補(bǔ)償電流管MC8的柵極電壓保持不變,輻射補(bǔ)償電流管MC8的柵源電壓VGS_C8快速增加,輻射補(bǔ)償電流管MC8快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償結(jié)點(diǎn)C受到高能單粒子轟擊所產(chǎn)生的單粒子瞬態(tài)電流,從而抑制結(jié)點(diǎn)C電壓變化,提高電荷泵抗單粒子瞬態(tài)能力。
進(jìn)一步地,高能單粒子轟擊所述基本電荷泵中PMOS管M7漏極及PMOS管M8漏極的工作原理與上述高能單粒子轟擊所述基本電荷泵中PMOS管M6漏極的工作原理相同,高能單粒子轟擊所述基本電荷泵中NMOS管M1漏極及NMOS管M2漏極的工作原理與上述高能單粒子轟擊所述基本電荷泵中NMOS管M4漏極的工作原理相同,此處就不贅述。
圖4為工作頻率為1GHz時(shí)采用2所示傳統(tǒng)差動(dòng)電荷泵電路及圖3所示本發(fā)明的單粒子輻射加固電荷泵電路分別構(gòu)成的鎖相環(huán)在電荷泵輸出結(jié)點(diǎn)C受到相同能量的高能單粒子轟擊時(shí),電荷泵輸出端Vctrl的電壓Vctrl瞬態(tài)響應(yīng)仿真曲線。仿真結(jié)果表明,采用圖2所示的傳統(tǒng)差動(dòng)電荷泵電路構(gòu)成的鎖相環(huán)在電荷泵輸出結(jié)點(diǎn)C受到高能單粒子轟擊時(shí)電荷泵電路輸出端Vctrl的最大擾動(dòng)量為110.8mV,而采用圖3所示的本發(fā)明的單粒子輻射加固電荷泵電路構(gòu)成的鎖相環(huán)在電荷泵電路結(jié)點(diǎn)C受到高能單粒子轟擊時(shí)電荷泵電路輸出端Vctrl的最大擾動(dòng)量僅為6.8mV。本發(fā)明的單粒子輻射加固電荷泵電路有效地降低了單粒子效應(yīng)的敏感性,從而提升了鎖相環(huán)的抗輻射能力。
本申請(qǐng)的上述實(shí)施例中,通過提供一種鎖相環(huán)中的單粒子輻射加固電荷泵電路,包括基本電荷泵電路、輻射加固電路以及偏置電路,其中,所述基本電荷泵電路的信號(hào)輸出端接所述輻射加固電路的信號(hào)輸入端,所述輻射加固電路的信號(hào)輸出端接所述基本電荷泵電路的單粒子輻射敏感結(jié)點(diǎn)端,所述偏置電路的輸出端接所述輻射加固電路的電壓輸入端;所述偏置電路為所述輻射加固電路提供偏置,確保所述輻射加固電路中輻射補(bǔ)償電流管在基本電荷泵電路的相應(yīng)結(jié)點(diǎn)未受到高能單粒子轟擊時(shí)不工作,同時(shí)確保所述輻射加固電路在基本電荷泵電路的相應(yīng)結(jié)點(diǎn)受到高能單粒子轟擊時(shí)快速產(chǎn)生補(bǔ)償電流以補(bǔ)償單粒子瞬態(tài)脈沖電流,可有效地改善鎖相環(huán)電路整體輸出抖動(dòng)特性,從而提高其抗單粒子輻射的能力。
以上這些實(shí)施例應(yīng)理解為僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。在閱讀了本發(fā)明的記載的內(nèi)容之后,技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明作各種改動(dòng)或修改,這些等效變化和修飾同樣落入本發(fā)明權(quán)利要求所限定的范圍。