專利名稱：一種交織型四通道adc的校正方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種交織型四通道ADC的校正方法及裝置，屬于信號(hào)采集技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
高速數(shù)據(jù)采集目前被廣泛應(yīng)用于雷達(dá)、超寬帶衛(wèi)星通信等領(lǐng)域，因此對(duì)ADC的采集速度以及性能指標(biāo)提出了更高的要求。目前比較常用的一種高速ADC芯片的內(nèi)部由四片獨(dú)立的IObit ADC內(nèi)核組成，通過標(biāo)準(zhǔn)的SPI接口可以將采集模式配置成四通道、雙通道以及單通道模式。在四通道采樣模式下，內(nèi)部的4片ADC完全獨(dú)立，各自完成1.25Gsps速率的采樣；在雙通道采樣模式下，在正反相時(shí)鐘的上升沿進(jìn)行交叉采樣，將兩片ADC內(nèi)核組合完成2. 5Gsps速率的采樣；在單通道采樣模式下，正反相時(shí)鐘通過相位延遲進(jìn)行交叉采樣，將四 片ADC內(nèi)核組合完成5Gsps速率的采樣。但是在單通道5Gsps采樣率情況下，內(nèi)部四片ADC內(nèi)核各自完成采樣后，它們之間的偏置(OFFSET)、增益(GAIN)以及相位(PHASE)存在差異，數(shù)據(jù)重組后將會(huì)惡化信號(hào)的性能指標(biāo)(信噪比SNR、有效位數(shù)ENOB等)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決現(xiàn)有的由多個(gè)ADC內(nèi)核組成的高速ADC芯片在單通道采樣模式下內(nèi)部四片ADC內(nèi)核各自的采樣數(shù)據(jù)因偏置、增益以及相位存在差異，導(dǎo)致數(shù)據(jù)重組后會(huì)惡化信號(hào)的性能指標(biāo)的問題，進(jìn)而提供了一種交織型四通道ADC的校正方法及裝置。為此，本發(fā)明提供了如下的技術(shù)方案一種交織型四通道ADC的校正方法，包括將四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的偏置都調(diào)整到數(shù)字域512 ；將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的增益都調(diào)整到-IdBFS ；將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)之間的相位差分別調(diào)整到Π /2、Π和3 Π /2。一種交織型四通道ADC的校正裝置，包括偏置調(diào)整模塊，用于將四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的偏置都調(diào)整到數(shù)字域512 ；增益調(diào)整模塊，用于將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的增益都調(diào)整到-IdBFS ；相位調(diào)整模塊，用于將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)之間的相位差分別調(diào)整到Π /2、Π和 3 Π /2。本發(fā)明通過按順序調(diào)整四片ADC內(nèi)核的偏置、增益和相位差，實(shí)現(xiàn)對(duì)交織型四通道ADC的校正，從而避免四路數(shù)據(jù)重組后惡化信號(hào)的性能指標(biāo)。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I 是本發(fā)明的具體實(shí)施方式
提供的交織型四通道ADC的校正方法的流程示意圖；圖2是本發(fā)明的具體實(shí)施方式
提供的交織型四通道ADC的校正裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本具體實(shí)施方式
提供的是一種交織型四通道ADC的校正方法，如圖I所示，包括步驟11，通過標(biāo)準(zhǔn)SPI接口，完成采樣模式的配置。具體的，單通道5Gsps采樣率模式有以下幾種
權(quán)利要求
1.一種交織型四通道ADC的校正方法，其特征在于，包括 將四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的偏置都調(diào)整到數(shù)字域512 ； 將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的增益都調(diào)整到-IdBFS ； 將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)之間的相位差分別調(diào)整到Π /2、Π和3 Π /2。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的交織型四通道ADC的校正方法，其特征在于，在將四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的偏置調(diào)整之前包括 通過標(biāo)準(zhǔn)SPI接口，完成采樣模式的配置。
3.一種交織型四通道ADC的校正裝置，其特征在于，包括 偏置調(diào)整模塊，用于將四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的偏置都調(diào)整到數(shù)字域512 ； 增益調(diào)整模塊，用于將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的增益都調(diào)整到-IdBFS ； 相位調(diào)整模塊，用于將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)之間的相位差分別調(diào)整到Π /2、Π 和 3 Π /2。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的交織型四通道ADC的校正裝置，其特征在于，該裝置還包括 參數(shù)配置模塊，用于通過標(biāo)準(zhǔn)SPI接口，完成采樣模式的配置。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種交織型四通道ADC的校正方法及裝置，相應(yīng)的方法包括將四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的偏置都調(diào)整到數(shù)字域512；將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)的增益都調(diào)整到-1dBFS；將所述四片ADC內(nèi)核采集的數(shù)據(jù)之間的相位差分別調(diào)整到∏/2、∏和3∏/2。本發(fā)明通過按順序調(diào)整四片ADC內(nèi)核的偏置、增益和相位差，實(shí)現(xiàn)對(duì)交織型四通道ADC的校正，從而避免四路數(shù)據(jù)重組后惡化信號(hào)的性能指標(biāo)。
文檔編號(hào)H03M1/10GK102904572SQ201210361589
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月21日
發(fā)明者韓連印, 金宏志, 房東旭 申請(qǐng)人:北京華力創(chuàng)通科技股份有限公司