技術(shù)編號(hào)：41950800
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬探測(cè)器，涉及一種雙層平板探測(cè)器，特別是涉及一種雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的x射線(xiàn)成像方法。背景技術(shù)、雙層平板探測(cè)器是一種先進(jìn)的x射線(xiàn)成像設(shè)備，因其能夠一次性獲取多能級(jí)圖像而在醫(yī)療影像和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用，其核心原理是利用兩層探測(cè)器的疊層結(jié)構(gòu)分離不同能量的x射線(xiàn)信號(hào)、上層探測(cè)器：吸收低能x射線(xiàn)并生成低能圖像，捕獲物體細(xì)節(jié)和軟組織信息。下層探測(cè)器接收穿透上層后的剩余高能x射線(xiàn)，生成高能圖像，用于識(shí)別高密度結(jié)構(gòu)或較厚物體。這種結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢(shì)在于一次曝光即可獲得低能和高能兩種圖像，不僅提...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。