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雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的X射線成像方法與流程

文檔序號(hào):41950800發(fā)布日期:2025-05-16 14:10閱讀:4來源:國(guó)知局
雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的X射線成像方法與流程

本發(fā)明屬探測(cè)器,涉及一種雙層平板探測(cè)器,特別是涉及一種雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的x射線成像方法。


背景技術(shù):

1、雙層平板探測(cè)器是一種先進(jìn)的x射線成像設(shè)備,因其能夠一次性獲取多能級(jí)圖像而在醫(yī)療影像和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,其核心原理是利用兩層探測(cè)器的疊層結(jié)構(gòu)分離不同能量的x射線信號(hào)、上層探測(cè)器:吸收低能x射線并生成低能圖像,捕獲物體細(xì)節(jié)和軟組織信息。下層探測(cè)器接收穿透上層后的剩余高能x射線,生成高能圖像,用于識(shí)別高密度結(jié)構(gòu)或較厚物體。這種結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢(shì)在于一次曝光即可獲得低能和高能兩種圖像,不僅提高了檢查效率,還避免了傳統(tǒng)多次成像中由于設(shè)備或患者移動(dòng)而產(chǎn)生的運(yùn)動(dòng)偽影。這種特性使雙層平板探測(cè)器在醫(yī)療領(lǐng)域(例如胸部影像、骨密度分析)和工業(yè)檢測(cè)(例如焊縫無損檢測(cè)、材料分辨)中表現(xiàn)出巨大的應(yīng)用價(jià)值。

2、然而,現(xiàn)有技術(shù)中的雙層平板探測(cè)器仍存在明顯的性能缺陷:其一,高能圖像信噪比低。上層非晶硅探測(cè)器對(duì)x射線的吸收較為高效,尤其是對(duì)低能x射線,這種高效吸收使得穿透到下層的x射線數(shù)量大幅減少,導(dǎo)致下層探測(cè)器接收到的x射線信號(hào)較弱和信號(hào)被探測(cè)器內(nèi)部電子噪聲所掩蓋,從而導(dǎo)致高能圖像的量子轉(zhuǎn)換效率(dqe)低,信噪比(snr)差。其二,分辨率下降。由于下層非晶硅探測(cè)器的噪聲較高且接收信號(hào)較弱,圖像細(xì)節(jié)容易模糊,難以精確分辨高密度物質(zhì),在醫(yī)療影像中,這可能導(dǎo)致病灶區(qū)域顯示不清,影響診斷準(zhǔn)確性。其三,圖像殘影增加。為了彌補(bǔ)下層探測(cè)器信噪比的不足,一種方式是通過增大閃爍體厚度來提高信號(hào)強(qiáng)度,然而閃爍體厚度的增加會(huì)導(dǎo)致光信號(hào)在材料內(nèi)的散射路徑變長(zhǎng)和造成像素之間的光干擾,因此圖像產(chǎn)生明顯的殘影,尤其是在快速切換成像時(shí)會(huì)影響整體圖像質(zhì)量。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的x射線成像方法,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中雙層平板探測(cè)器獲取的圖像性能低的技術(shù)問題。

2、第一方面,本發(fā)明提供一種雙層平板探測(cè)器,包括上層探測(cè)器單元、下層探測(cè)器單元、以及所述上層探測(cè)器單元和下層探測(cè)器單元之間的濾過層;

3、所述上層探測(cè)器單元,被配置為接收x射線,并基于吸收的x射線生成第一圖像電信號(hào)和將未吸收的x射線作為剩余射線通過所述濾過層傳輸至所述下層探測(cè)器單元;

4、所述下層探測(cè)器單元,被配置為接收所述剩余射線以生成第二圖像電信號(hào);

5、其中,在相同預(yù)設(shè)劑量下,所述下層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型的信噪比大于所述上層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型的信噪比;所述預(yù)設(shè)劑量低于劑量閾值。

6、于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述上層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型為非晶硅探測(cè)器,所述下層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型為互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體探測(cè)器。

7、于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述非晶硅探測(cè)器包括第一閃爍體和薄膜晶體管;

8、所述第一閃爍體用于接收x射線以獲取吸收的x射線,并將所述吸收的x射線轉(zhuǎn)換成可見光以作為第一光信號(hào);

9、所述薄膜晶體管,用于將所述第一光信號(hào)轉(zhuǎn)換為第一圖像電信號(hào)并傳輸至外圍電路。

10、于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體探測(cè)器包括第二閃爍體和互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體光敏元件;

11、所述第二閃爍體用于將接收到的剩余射線轉(zhuǎn)換成可見光以作為第二光信號(hào);

12、所述互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體光敏元件用于將所述第二光信號(hào)轉(zhuǎn)換為第二圖像電信號(hào)并傳輸至外圍電路。

13、于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述上層探測(cè)器單元和所述下層探測(cè)器單元之間還設(shè)置有濾過層。

14、于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述濾過層的材料為金屬。

15、于本發(fā)明的一實(shí)施例中,所述濾過層的材料為空氣。

16、第二方面,本發(fā)明提供一種基于雙層平板探測(cè)器的x射線成像方法,包括:

17、利用上層探測(cè)器單元接收x射線,并基于吸收的x射線生成第一圖像電信號(hào)和將未吸收的x射線作為剩余射線通過濾過層傳輸至下層探測(cè)器單元;

18、利用所述下層探測(cè)器單元接收所述剩余射線以生成第二圖像電信號(hào);

19、其中,所述上層探測(cè)器單元和所述下層探測(cè)器單元之間設(shè)置有濾過層;在相同預(yù)設(shè)劑量下,所述下層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型的信噪比大于所述上層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型的信噪比;所述預(yù)設(shè)劑量低于劑量閾值。

20、如上所述,本發(fā)明所述的雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的x射線成像方法,具有以下有益效果:

21、本發(fā)明通過將兩種不同信噪比的探測(cè)器單元進(jìn)行結(jié)合,以相對(duì)高信噪比的探測(cè)器單元作為下層探測(cè)器單元,以相對(duì)低信噪比的探測(cè)器單元作為上層探測(cè)器單元,利用上下兩層探測(cè)器單元分別捕捉不同能量的x射線,獲取低能圖像對(duì)應(yīng)的第一圖像電信號(hào)和高能圖像對(duì)應(yīng)的第二圖像電信號(hào),有效解決了高能圖像信噪比差的問題,使高能圖像性能得到提升,更好的滿足臨床要求。此外,本發(fā)明于兩個(gè)探測(cè)器單元之間還設(shè)置有濾過層以對(duì)剩余x射線進(jìn)行過濾,能夠進(jìn)一步地提高高能圖像的圖像性能。



技術(shù)特征:

1.一種雙層平板探測(cè)器,包括上層探測(cè)器單元、下層探測(cè)器單元、以及所述上層探測(cè)器單元和下層探測(cè)器單元之間的濾過層;

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙層平板探測(cè)器,其特征在于,

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雙層平板探測(cè)器,其特征在于,

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雙層平板探測(cè)器,其特征在于,

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙層平板探測(cè)器,其特征在于,

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙層平板探測(cè)器,其特征在于,

7.一種基于雙層平板探測(cè)器的x射線成像方法,包括:


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種雙層平板探測(cè)器及基于雙層平板探測(cè)器的X射線成像方法,其中雙層平板探測(cè)器,包括上層探測(cè)器單元和下層探測(cè)器單元;所述上層探測(cè)器單元,被配置為接收X射線,并基于吸收的X射線生成第一圖像電信號(hào)和將未吸收的X射線作為剩余射線傳輸至所述下層探測(cè)器單元;所述下層探測(cè)器單元,被配置為接收所述剩余射線以生成第二圖像電信號(hào);其中,在相同預(yù)設(shè)劑量下,所述下層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型的信噪比大于所述上層探測(cè)器單元所使用的探測(cè)器類型的信噪比;所述預(yù)設(shè)劑量低于劑量閾值。本發(fā)明有效解決了高能圖像信噪比差的問題,使高能圖像性能得到提升。

技術(shù)研發(fā)人員:石丹,董佳賓,黃翌敏
受保護(hù)的技術(shù)使用者:奕瑞電子科技集團(tuán)股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/5/15
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