技術(shù)編號：41957500
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于數(shù)?；旌霞呻娐吩O(shè)計領(lǐng)域，具體涉及一種應(yīng)用于高速時域交織adc的比較器的雙模失調(diào)校準電路。背景技術(shù)、時域交織adc(tiadc)采用多個子通道adc對同一輸入信號并行采樣量化，各個子通道adc分別完成由模擬信號到數(shù)字信號的轉(zhuǎn)換，并將結(jié)果交替輸出。可以使整體adc在保持單通道轉(zhuǎn)換精度的同時，成倍的提高adc的轉(zhuǎn)換速率。但是在我們實際的生產(chǎn)應(yīng)用中，由于芯片制造過程中的工藝、芯片工作過程中的溫度和電壓等環(huán)境條件，以及版圖設(shè)計中的各子通道不完全對稱和匹配等諸多因素的影響。各個子通道adc并不...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。