技術(shù)編號(hào)：41958804
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明實(shí)施例涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，尤其涉及一種測試電路、測試方法以及芯片。背景技術(shù)、靜電是一種客觀存在的自然現(xiàn)象，產(chǎn)生的方式有多種，如接觸、摩擦、電器間感應(yīng)等。靜電具有長時(shí)間積聚、高電壓、低電量、小電流和作用時(shí)間短的特點(diǎn)。、對(duì)于電子產(chǎn)品而言，靜電放電(electrostatic?discharge，esd)是影響集成電路可靠性的一個(gè)主要因素。esd是一種電荷的快速中和過程。由于靜電電壓很高會(huì)給集成電路帶來破壞性的后果，造成集成電路的失效。因此，為了保護(hù)集成電路免遭esd的損害，esd保護(hù)器件也...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。