1.一種帶有指示標(biāo)記的方向性DBS電極，其特征在于，包括：在DBS電極的圓柱體上設(shè)置醫(yī)學(xué)影像中可見的標(biāo)記，使得通過醫(yī)學(xué)影像中呈現(xiàn)的標(biāo)記位置來獲得DBS電極的旋轉(zhuǎn)位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述電極，其特征在于，所述標(biāo)記為由兩段X射線影像可見的金屬帶狀標(biāo)記組成，兩條帶狀標(biāo)記位于圓柱體側(cè)面上且平行于中心軸，兩條帶狀標(biāo)記弧長(zhǎng)均在π/2到π之間，并且兩條帶狀標(biāo)記至少一部分所對(duì)應(yīng)的中心軸的弧長(zhǎng)角度相互重疊，以使得對(duì)應(yīng)中心軸的總弧長(zhǎng)角度為π。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述電極，其特征在于，所述標(biāo)記為由兩個(gè)X射線影像可見的金屬點(diǎn)狀標(biāo)記組成，且兩個(gè)點(diǎn)狀標(biāo)記的位置為圓柱體側(cè)面上不同高度，且兩個(gè)點(diǎn)狀標(biāo)記之間相對(duì)于中心軸所對(duì)應(yīng)的弧度為不等于0和π的任意角度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述電極，其特征在于，所述不等于0和π的任意角度以π/4到3π/4為優(yōu)選范圍。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述電極，其特征在于，所述不同高度以兩個(gè)點(diǎn)狀標(biāo)記之間的高度差大于等于二分之一的電極整體高度為優(yōu)選范圍。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述電極，其特征在于，所述標(biāo)記還包括第三個(gè)X射線影像可見的金屬點(diǎn)狀標(biāo)記，該標(biāo)記的位置為圓柱體側(cè)面上不同于其他兩個(gè)金屬點(diǎn)狀標(biāo)記的高度，且與任意一個(gè)點(diǎn)狀標(biāo)記之間相對(duì)于中心軸所對(duì)應(yīng)的弧度為π。
7.根據(jù)權(quán)利要求3或4或5或6所述電極，其特征在于，所述金屬點(diǎn)狀標(biāo)記可用金屬條狀標(biāo)記或金屬矩形裝標(biāo)記代替。
8.一種基于權(quán)利要求2所述電極的定位方法，其特征在于，包括：
按照一定的旋轉(zhuǎn)步長(zhǎng)旋轉(zhuǎn)電極，每旋轉(zhuǎn)一次拍攝下醫(yī)學(xué)影像，并對(duì)影像中的兩條帶狀標(biāo)記的長(zhǎng)度和位置進(jìn)行記錄后成表；在手術(shù)中拍攝醫(yī)學(xué)影像并測(cè)量，根據(jù)之前記錄的表中數(shù)據(jù)查表，即可確定電極旋轉(zhuǎn)角度。
9.一種基于權(quán)利要求3或4或5或6所述電極的定位方法，其特征在于，包括：
以兩個(gè)點(diǎn)狀標(biāo)記中的任意一個(gè)作為角度標(biāo)記，另一個(gè)作為方向標(biāo)記，以角度標(biāo)記所在的軸截面為初始面，X射線垂直于基準(zhǔn)面，則在醫(yī)學(xué)影像中，角度標(biāo)記垂直于中心軸的最短距離等于Rcosθ，R為電極半徑，θ為當(dāng)前角度標(biāo)記所在的軸截面與初始面的夾角，通過判斷醫(yī)學(xué)影像中方向標(biāo)記相對(duì)于角度標(biāo)記的位置即可判斷出電極的旋轉(zhuǎn)方向。
10.一種基于權(quán)利要求6所述電極的定位方法，其特征在于，
以兩個(gè)點(diǎn)狀標(biāo)記中的任意一個(gè)作為角度標(biāo)記，另一個(gè)作為方向標(biāo)記，以角度標(biāo)記所在的軸截面為初始面，X射線垂直于基準(zhǔn)面，則在醫(yī)學(xué)影像中，角度標(biāo)記垂直于中心軸的最短距離等于Rcosθ，R為電極半徑，θ為當(dāng)前角度標(biāo)記所在的軸截面與初始面的夾角，通過判斷醫(yī)學(xué)影像中方向標(biāo)記相對(duì)于角度標(biāo)記的位置即可判斷出電極的旋轉(zhuǎn)方向；
第三個(gè)X射線影像可見的金屬點(diǎn)狀標(biāo)記作為校驗(yàn)標(biāo)記，則在醫(yī)學(xué)影像中校驗(yàn)標(biāo)記垂直于中心軸的最短距離等于Rcosθ，R為電極半徑，θ為相對(duì)于以角度標(biāo)記所在的軸截面即校驗(yàn)標(biāo)記所在的軸截面所旋轉(zhuǎn)的角度，起到便于計(jì)算、校驗(yàn)、圖像識(shí)別的作用。