本實(shí)用新型涉及動(dòng)物行為監(jiān)測(cè)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置。
背景技術(shù):
反芻是指反芻動(dòng)物進(jìn)食經(jīng)過(guò)一段時(shí)間以后,將半消化的食物返回嘴里再次咀嚼。反芻動(dòng)物的反芻與其身體健康息息相關(guān),若反芻動(dòng)物的反芻活動(dòng)出現(xiàn)異常,我們就可以斷定該動(dòng)物的健康出現(xiàn)了問(wèn)題。然而,現(xiàn)有的監(jiān)測(cè)動(dòng)物反芻的裝置的結(jié)構(gòu)都比較復(fù)雜。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型的目的在于提供一種動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置,所述裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,且能夠判斷反芻動(dòng)物是否處于反芻狀態(tài)。
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置,所述裝置用于套設(shè)在所述動(dòng)物的嘴根部,其包括:處理器以及可拉伸電阻鏈,所述可拉伸電阻鏈?zhǔn)孜蚕噙B構(gòu)成封閉環(huán),所述處理器與所述可拉伸電阻鏈電連接;所述可拉伸電阻鏈包括多個(gè)依次連接的可拉伸單元,每個(gè)所述可拉伸單元包括:第一磁鐵、第二磁鐵、擋環(huán)、電阻以及導(dǎo)電套筒;所述電阻設(shè)置在所述導(dǎo)電套筒上,所述導(dǎo)電套筒兩端開設(shè)開口,所述導(dǎo)電套筒的一端通過(guò)所述開口套設(shè)在所述第一磁鐵上,另一端通過(guò)所述開口套設(shè)在所述第二磁鐵上,所述第一磁鐵以及所述第二磁鐵的兩端分別套設(shè)擋環(huán),所述擋環(huán)的尺寸大于所述開口的尺寸,所述第一磁鐵遠(yuǎn)離所述第二磁鐵的擋環(huán)設(shè)置在所述導(dǎo)電套筒外,所述第二磁鐵遠(yuǎn)離所述第一磁鐵的擋環(huán)設(shè)置在所述導(dǎo)電套筒外。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,且能夠判斷反芻動(dòng)物是否處于反芻狀態(tài)。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述導(dǎo)電套筒的橫截面呈圓環(huán)狀,所述電阻呈圓環(huán)狀,所述電阻沿與所述導(dǎo)電套筒徑向垂直的方向鑲嵌在所述導(dǎo)電套筒內(nèi)。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置還包括姿態(tài)傳感器,所述姿態(tài)傳感器與所述處理器電連接,所述姿態(tài)傳感器用于采集表征所述動(dòng)物頭部姿態(tài)的姿態(tài)數(shù)據(jù)。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置還包括氣囊,所述氣囊由彈性材料制成,所述氣囊的一端與所述可拉伸電阻鏈的一端連接,所述氣囊的另一端與所述可拉伸電阻鏈的另一端連接,所述氣囊與所述可拉伸電阻鏈構(gòu)成封閉環(huán),所述氣囊上設(shè)有泄氣孔,所述泄氣孔用于在所述氣囊的一端和另一端受到拉力時(shí)釋放所述氣囊內(nèi)的氣體。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述氣囊上設(shè)有連接部件,所述氣囊的一端通過(guò)所述連接部件與所述可拉伸電阻鏈的一端連接,所述氣囊的另一端通過(guò)連接部件與所述可拉伸電阻鏈的另一端連接。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置還包括與所述處理器電連接的無(wú)線通信發(fā)送模塊,所述無(wú)線通信發(fā)送模塊用于,把表征所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)的結(jié)果發(fā)送給數(shù)據(jù)接收終端,以便通過(guò)數(shù)據(jù)接收終端查看所述動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置所采集的數(shù)據(jù)。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述無(wú)線通信發(fā)送模塊為藍(lán)牙通信模塊。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述無(wú)線通信發(fā)送模塊為WiFi通信模塊。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述姿態(tài)傳感器為六軸傳感器。
在本實(shí)用新型較佳的實(shí)施例中,所述第一磁鐵以及所述第二磁鐵的長(zhǎng)度為5mm。
本實(shí)用新型實(shí)施例的有益效果是:本實(shí)用新型實(shí)施例提供的動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置,所述裝置包括可拉伸電阻鏈以及與所述可拉伸電阻鏈電連接的處理器,該裝置的可拉伸電阻鏈隨著所述動(dòng)物的嘴根部的張合而拉伸產(chǎn)生表征所述動(dòng)物嘴根部張合程度的電阻變化量數(shù)據(jù),當(dāng)所述處理器接收到所述電阻變化量數(shù)據(jù)時(shí),基于所述電阻變化量數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述可拉伸電阻鏈中的電阻的接入個(gè)數(shù),將所述電阻接入個(gè)數(shù)值與預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值進(jìn)行比對(duì),每當(dāng)所述電阻接入個(gè)數(shù)值大于或等于所述預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值時(shí),獲取當(dāng)前的時(shí)間值,基于至少兩個(gè)連續(xù)的所述時(shí)間值,計(jì)算得到咀嚼周期,將所述咀嚼周期與預(yù)設(shè)參考周期進(jìn)行對(duì)比,若所述咀嚼周期大于所述預(yù)設(shè)參考周期判斷所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,且能夠判斷反芻動(dòng)物是否處于反芻狀態(tài)。
本實(shí)用新型的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書闡述,并且,部分地從說(shuō)明書中變得顯而易見(jiàn),或者通過(guò)實(shí)施本實(shí)用新型實(shí)施例了解。本實(shí)用新型的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過(guò)在所寫的說(shuō)明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。
附圖說(shuō)明
為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,應(yīng)當(dāng)理解,以下附圖僅示出了本實(shí)用新型的某些實(shí)施例,因此不應(yīng)被看作是對(duì)范圍的限定,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置的動(dòng)物佩戴示意圖;
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的可拉伸單元的剖視圖;
圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的導(dǎo)電套筒的爆炸圖;
圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的可拉伸單元的拉伸示意圖;
圖6為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的處理器的電路結(jié)構(gòu)示意圖;
圖7為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的姿態(tài)傳感器在動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置的位置關(guān)系圖;
圖8為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的無(wú)線通信模塊在動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置的位置關(guān)系圖;
圖9為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的氣囊在動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置的位置關(guān)系圖;
圖10為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的氣囊的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:
動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100;
可拉伸電阻鏈110;可拉伸單元111;第一磁鐵112;第二磁鐵113;擋環(huán)114;電阻115;導(dǎo)電套筒116;
處理器120;姿態(tài)傳感器130;無(wú)線通信發(fā)送模塊140;
氣囊150;連接部件151;泄氣孔152。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本實(shí)用新型實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來(lái)布置和設(shè)計(jì)。
因此,以下對(duì)在附圖中提供的本實(shí)用新型的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本實(shí)用新型的范圍,而是僅僅表示本實(shí)用新型的選定實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號(hào)和字母在下面的附圖中表示類似項(xiàng),因此,一旦某一項(xiàng)在一個(gè)附圖中被定義,則在隨后的附圖中不需要對(duì)其進(jìn)行進(jìn)一步定義和解釋。
在本實(shí)用新型的描述中,需要說(shuō)明的是,術(shù)語(yǔ)“上”、“下”、“水平”、“內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,或者是該實(shí)用新型產(chǎn)品使用時(shí)慣常擺放的方位或位置關(guān)系,僅是為了便于描述本實(shí)用新型和簡(jiǎn)化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作,因此不能理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。此外,術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等僅用于區(qū)分描述,而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性。
此外,術(shù)語(yǔ)“水平”、“豎直”、“懸垂”等術(shù)語(yǔ)并不表示要求部件絕對(duì)水平或懸垂,而是可以稍微傾斜。如“水平”僅僅是指其方向相對(duì)“豎直”而言更加水平,并不是表示該結(jié)構(gòu)一定要完全水平,而是可以稍微傾斜。
在本實(shí)用新型的描述中,還需要說(shuō)明的是,除非另有明確的規(guī)定和限定,術(shù)語(yǔ)“設(shè)置”、“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解,例如,可以是固定連接,也可以是可拆卸連接,或一體地連接;可以是機(jī)械連接,也可以是電連接;可以是直接相連,也可以通過(guò)中間媒介間接相連,可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本實(shí)用新型中的具體含義。
請(qǐng)參照?qǐng)D1,本實(shí)施例提供一種動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100,該動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100用于套設(shè)在所述動(dòng)物的嘴根部,其包括可拉伸電阻鏈110以及處理器120,可拉伸電阻鏈110與處理器120電連接。
請(qǐng)參看圖2,可拉伸電阻鏈110呈鏈條狀,且首尾相連構(gòu)成封閉環(huán)套設(shè)在所述動(dòng)物的嘴根部。其中,可拉伸電阻鏈110包括多個(gè)依次連接的可拉伸單元111。
請(qǐng)參看圖3,每個(gè)可拉伸單元111包括:第一磁鐵112、第二磁鐵113、擋環(huán)114、電阻115以及導(dǎo)電套筒116。電阻115設(shè)置在導(dǎo)電套筒116上,導(dǎo)電套筒116兩端開設(shè)開口,所述導(dǎo)電套筒116的一端通過(guò)開口套設(shè)在第一磁鐵112上,另一端通過(guò)開口套設(shè)在第二磁鐵113上。
第一磁鐵112以及第二磁鐵113的兩端分別套設(shè)擋環(huán)114。擋環(huán)114可以由非磁性材料制成,且擋環(huán)114的尺寸大于所述開口的尺寸。第一磁鐵112上遠(yuǎn)離第二磁鐵113的擋環(huán)114設(shè)置在導(dǎo)電套筒116外,第二磁鐵113上遠(yuǎn)離第一磁鐵112的擋環(huán)114也設(shè)置在導(dǎo)電套筒116外,從而防止第一磁鐵112以及第二磁鐵113在外力拉動(dòng)過(guò)程中脫離導(dǎo)電套筒116。
導(dǎo)電套筒116由導(dǎo)電材料制成,從而實(shí)現(xiàn)導(dǎo)電功能。一般而言,常見(jiàn)的導(dǎo)電材料有金屬、半導(dǎo)體等。于本實(shí)施例中,優(yōu)選導(dǎo)電套筒116由金屬材料制成。請(qǐng)參看圖4,作為一種實(shí)施方式,導(dǎo)電套筒116可以呈圓柱體狀,其橫截面呈圓環(huán)狀,電阻115也呈圓環(huán)狀,電阻115沿與導(dǎo)電套筒116徑向垂直的方向鑲嵌在導(dǎo)電套筒116內(nèi)。
設(shè)第一磁鐵112和第二磁鐵113的長(zhǎng)度都為L(zhǎng)0,作為一種實(shí)施方式,L0可以是5mm,電阻115的電阻值為R1。在理想狀態(tài)下,第一磁鐵112和第二磁鐵113的電阻值為0歐姆,但實(shí)際情況下,第一磁鐵112和第二磁鐵113存在電阻值R0,取R1遠(yuǎn)大于R0。
可拉伸單元111在未受到外界拉力時(shí),第一磁鐵112與第二磁鐵113可以通過(guò)相互之間的吸引力吸附在一起而緊密接觸。此時(shí)由于R1遠(yuǎn)大于R0,R1被短路,可拉伸單元111的電阻接入值為2R0。
請(qǐng)參看圖5,當(dāng)可拉伸單元111受到如圖中箭頭所示的外界拉力時(shí),第一磁鐵112與第二磁鐵113之間被拉伸開,此時(shí),電阻115被導(dǎo)通,可拉伸單元111的電阻接入值為R1(由于R1遠(yuǎn)大于R0,因此R0的阻值忽略不計(jì))。
當(dāng)把由若干個(gè)可拉伸單元111形成的可拉伸電阻鏈110套入動(dòng)物的嘴巴根部時(shí),動(dòng)物咀嚼過(guò)程中會(huì)對(duì)可拉伸電阻鏈110產(chǎn)生拉伸,拉伸過(guò)程使得第一磁鐵112與第二磁鐵113之間脫節(jié),因?yàn)閾醐h(huán)114有限位的功能,第一磁鐵112與第二磁鐵113之間不會(huì)脫離導(dǎo)電套筒116。
因此,只需要知道可拉伸電阻鏈110的電阻值為N個(gè)R1,即可知道可拉伸電阻鏈110的長(zhǎng)度變化為N*L0,即可以用可拉伸電阻鏈110中電阻115的接入個(gè)數(shù)表征動(dòng)物嘴根部張合程度。N越大,表示動(dòng)物的嘴部張開程度越大。
相應(yīng)地,可拉伸電阻鏈110中的電阻值不同,接入處理器120中的電壓值也不同。當(dāng)處理器120接收到所述電阻變化量數(shù)據(jù)時(shí),可以基于所述電阻變化量數(shù)據(jù)計(jì)算得到可拉伸電阻鏈110中的電阻115的接入個(gè)數(shù)。處理器120可以包括單片機(jī)和放大器,請(qǐng)參看圖6,Vi為單片機(jī)控制的DAC的模擬輸出端,VO為單片機(jī)控制的ADC的模擬輸入端。為保障測(cè)量過(guò)程中的準(zhǔn)確性,Vcc為限制電壓量,圖中,R表示一個(gè)電阻115,RL為實(shí)際測(cè)量過(guò)程中可拉伸電阻鏈110的總接入電阻。初始過(guò)程中令Vi=Vcc/(N+1),其中N為可拉伸電阻鏈110中電阻115的總個(gè)數(shù),測(cè)量獲得Vo;如果Vo<=VCC;n=VCC/Vo;n取整數(shù)部分;下次測(cè)量前令Vi=n*VCC/(N+1);如果Vo>VCC;n=Vo/VCC;n=n(整數(shù)部分)+1;下次測(cè)量前令Vi=VCC/n*(N+1);電阻個(gè)數(shù)為Nr=(Vo/Vi)-1。由此即可得到可拉伸電阻鏈110中的電阻接入個(gè)數(shù)值。
動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)可拉伸電阻鏈110中的電阻接入個(gè)數(shù)值,單片機(jī)將所述電阻接入個(gè)數(shù)值與預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值進(jìn)行比對(duì)。每當(dāng)所述電阻接入個(gè)數(shù)值大于或等于所述預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值時(shí),獲取當(dāng)前的時(shí)間值。至少兩次比對(duì)產(chǎn)生多個(gè)時(shí)間值后,單片機(jī)基于兩個(gè)連續(xù)產(chǎn)生的時(shí)間值,計(jì)算得到咀嚼周期,將所述咀嚼周期與預(yù)設(shè)參考周期進(jìn)行對(duì)比,若所述咀嚼周期大于所述預(yù)設(shè)參考周期判斷所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)。其中,預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值可以通過(guò)統(tǒng)計(jì)學(xué)規(guī)律得到,用于表征所述動(dòng)物的嘴部的張開程度達(dá)到最大程度時(shí),可拉伸電阻鏈110中的電阻接入個(gè)數(shù)值。當(dāng)電阻接入個(gè)數(shù)值超過(guò)預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值時(shí),記錄此時(shí)的時(shí)刻t0,同理,記錄下一個(gè)電阻接入個(gè)數(shù)值超過(guò)預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值時(shí)的時(shí)刻t1,則所述動(dòng)物的咀嚼周期T=t1-t0,t0和t1即為兩個(gè)連續(xù)產(chǎn)生的時(shí)間值。
牛只等動(dòng)物在咀嚼過(guò)程中,進(jìn)食的時(shí)候咀嚼速度快,反芻時(shí)咀嚼速度慢,因此在單片機(jī)內(nèi)預(yù)先設(shè)定一個(gè)參考周期為T0,T0也可以通過(guò)統(tǒng)計(jì)學(xué)規(guī)律得到。當(dāng)T大于T0時(shí),即判斷所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)。
為了使得動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100的監(jiān)測(cè)精度更加準(zhǔn)確,避免誤判的情況發(fā)生,作為一種實(shí)施方式,請(qǐng)參看圖7,動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100還包括姿態(tài)傳感器130,姿態(tài)傳感器130與處理器120電連接,其中,姿態(tài)傳感器130可以是六軸傳感器。動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100套設(shè)在動(dòng)物嘴根部時(shí),可以使得姿態(tài)傳感器130設(shè)置在所述動(dòng)物的牛額骨上,用于采集表征動(dòng)物頭部姿態(tài)的姿態(tài)數(shù)據(jù)。動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100可以結(jié)合咀嚼周期與姿態(tài)數(shù)據(jù)來(lái)判斷動(dòng)物的反芻情況。
處理器120接收所述姿態(tài)數(shù)據(jù),把所述姿態(tài)數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)參考值進(jìn)行比對(duì),若所述咀嚼周期大于所述預(yù)設(shè)參考周期,且所述姿態(tài)數(shù)據(jù)表征所述動(dòng)物頭部處于第一姿態(tài)時(shí),判斷所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)。其中,預(yù)設(shè)參考值可以是一個(gè)范圍,如以水平斜向下40度到55度為例,表示動(dòng)物的頭部處于水平狀態(tài),當(dāng)傾斜角度為所56度到90度時(shí),表示動(dòng)物處于第一姿態(tài),即動(dòng)物的頭部處于朝向地面的姿態(tài)。
為了使得動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100能夠?qū)崟r(shí)地把動(dòng)物的反芻情況反饋給工作人員,請(qǐng)參看圖8,作為一種實(shí)施方式,動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100還包括與處理器120電連接的無(wú)線通信發(fā)送模塊140。無(wú)線通信發(fā)送模塊140用于把表征動(dòng)物處于反芻狀態(tài)的結(jié)果發(fā)送給可以與無(wú)線通信發(fā)送模塊140進(jìn)行數(shù)據(jù)通信的數(shù)據(jù)接收終端,以便工作人員可以通過(guò)數(shù)據(jù)接收終端查看動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100所采集的數(shù)據(jù)。
進(jìn)一步的,所述無(wú)線通信發(fā)送模塊140可以為藍(lán)牙通信模塊,也可以為WiFi通信模塊。
由于動(dòng)物在不斷的生長(zhǎng),因此動(dòng)物的嘴根部的尺寸也會(huì)隨著自身的生長(zhǎng)而增大。由于生長(zhǎng)的速度是一個(gè)很緩慢的過(guò)程,短時(shí)間不會(huì)對(duì)反芻監(jiān)測(cè)裝置100的監(jiān)測(cè)過(guò)程產(chǎn)生影響,但是就長(zhǎng)遠(yuǎn)過(guò)程而言,嘴根部尺寸的增大會(huì)對(duì)可拉伸電阻鏈110產(chǎn)生拉伸力,對(duì)反芻監(jiān)測(cè)裝置100的監(jiān)測(cè)過(guò)程產(chǎn)生影響。因此,請(qǐng)參看圖9,作為一種實(shí)施方式,動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100還包括由彈性材料制成的氣囊150。氣囊150的一端與可拉伸電阻鏈110的一端連接,氣囊150的另一端與可拉伸電阻鏈110的另一端連接,即氣囊150與可拉伸電阻鏈110共同構(gòu)成封閉環(huán)。
請(qǐng)參看圖10,氣囊150上設(shè)有連接部件151,連接部件151可以是設(shè)置在氣囊150上的環(huán)狀圈,用于與可拉伸電阻鏈110連接構(gòu)成封閉環(huán)。氣囊150上還設(shè)置有泄氣孔152,當(dāng)在氣囊150中充入氣體后,泄氣孔152在氣囊150受到圖中箭頭方向所示的拉力時(shí),加快釋放氣囊150內(nèi)的氣體,使得氣囊150的體積變小,進(jìn)而使得氣囊150在受到拉力的兩端之間的距離增大,從而實(shí)現(xiàn)了適應(yīng)動(dòng)物生長(zhǎng)的目的。
動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100的工作原理是:動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100包括可拉伸電阻鏈110以及與可拉伸電阻鏈110電連接的處理器120,可拉伸電阻鏈110隨著所述動(dòng)物的嘴根部的張合而拉伸產(chǎn)生表征所述動(dòng)物嘴根部張合程度的電阻變化量數(shù)據(jù),當(dāng)所述處理器120接收到所述電阻變化量數(shù)據(jù)時(shí),基于所述電阻變化量數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述可拉伸電阻鏈110中的電阻的接入個(gè)數(shù),將所述電阻接入個(gè)數(shù)值與預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值進(jìn)行比對(duì),每當(dāng)所述電阻接入個(gè)數(shù)值大于或等于所述預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值時(shí),獲取當(dāng)前的時(shí)間值,基于至少兩個(gè)連續(xù)的所述時(shí)間值,計(jì)算得到咀嚼周期,將所述咀嚼周期與預(yù)設(shè)參考周期進(jìn)行對(duì)比,若所述咀嚼周期大于所述預(yù)設(shè)參考周期判斷所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,且能夠判斷反芻動(dòng)物是否處于反芻狀態(tài)。
綜上所述,本實(shí)用新型實(shí)施例提供的動(dòng)物反芻監(jiān)測(cè)裝置100,所述裝置包括可拉伸電阻鏈110以及與所述可拉伸電阻鏈電連接的處理器120,可拉伸電阻鏈110隨著所述動(dòng)物的嘴根部的張合而拉伸產(chǎn)生表征所述動(dòng)物嘴根部張合程度的電阻變化量數(shù)據(jù),當(dāng)處理器120接收到所述電阻變化量數(shù)據(jù)時(shí),基于所述電阻變化量數(shù)據(jù)計(jì)算得到所述可拉伸電阻鏈110中的電阻的接入個(gè)數(shù),將所述電阻接入個(gè)數(shù)值與預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值進(jìn)行比對(duì),每當(dāng)所述電阻接入個(gè)數(shù)值大于或等于所述預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)值時(shí),獲取當(dāng)前的時(shí)間值,基于至少兩個(gè)連續(xù)的所述時(shí)間值,計(jì)算得到咀嚼周期,將所述咀嚼周期與預(yù)設(shè)參考周期進(jìn)行對(duì)比,若所述咀嚼周期大于所述預(yù)設(shè)參考周期判斷所述動(dòng)物處于反芻狀態(tài)。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,且能夠判斷反芻動(dòng)物是否處于反芻狀態(tài)。
以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例而已,并不用于限制本實(shí)用新型,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō),本實(shí)用新型可以有各種更改和變化。凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。