本發(fā)明涉及液晶顯示器領(lǐng)域，尤其涉及一種針對規(guī)則mura的修復處理方法、補償裝置及液晶顯示器。

背景技術(shù)：

液晶顯示器(lcd)等平面顯示裝置因具有高畫質(zhì)、省電、機身薄及應用范圍廣等優(yōu)點，而被廣泛的應用于手機、電視、個人數(shù)字助理、數(shù)字相機、筆記本電腦、臺式計算機等各種消費性電子產(chǎn)品，成為顯示裝置中的主流。

如圖1a所示，其為現(xiàn)有亮暗不均補償裝置的結(jié)構(gòu)框圖。為了解決lcd制程/器件上的瑕疵而產(chǎn)生的亮暗不均(mura)，現(xiàn)有亮暗不均補償方法是將灰階補償數(shù)據(jù)存儲在與面板(panel)搭配的閃存(flash)11中，然后時序控制芯片(tconic)12讀取閃存中存儲的mura補償數(shù)據(jù)，灰階數(shù)據(jù)輸入時序控制芯片12，de-mura(亮暗不均補償)模塊13根據(jù)mura補償數(shù)據(jù)和灰階數(shù)據(jù)進行運算來調(diào)整灰階值，然后時序控制芯片12輸出mura補償后的灰階數(shù)據(jù)，改變像素的亮度來達到亮暗不均修補效果。如圖1b所示，其為面板原始亮暗不均與亮暗不均補償數(shù)據(jù)的示意圖。閃存中存儲的為亮暗不均位置的反向灰階補償值，即de-mura補償數(shù)據(jù)：比面板中心位置偏亮的區(qū)域，補償值為負數(shù)，降低灰階值，變暗；比面板中心位置偏暗的區(qū)域，補償值為正數(shù)，提高灰階值，變亮。

參見圖2，其為現(xiàn)有技術(shù)中亮暗不均補償數(shù)據(jù)計算方法示意圖?，F(xiàn)有技術(shù)中，閃存中存儲固定間隔區(qū)域各頂點像素位置的亮暗不均補償數(shù)據(jù)參考值(如圖2所示為8*8的固定間隔設置)a，b，c，d，其余像素的亮暗不均補償數(shù)據(jù)e，f，g由8*8間隔區(qū)域四個頂點像素的亮暗不均補償數(shù)據(jù)a，b，c，d進行線性插值計算得到。

如圖3所示，其為現(xiàn)有技術(shù)中對8*8和16*16的固定間隔設置采用線性插值計算亮暗不均補償數(shù)據(jù)的效果示意圖?？梢?，采用線性插值計算亮暗不均補償數(shù)據(jù)時，8*8的固定間隔設置的線性補償效果要好于16*16的固定間隔設置，與理想的mura補償數(shù)據(jù)更接近。現(xiàn)有技術(shù)的缺陷在于，由于面板的分辨率越來越高，即像素越來越多，閃存中存儲的亮暗不均補償參考數(shù)據(jù)也會越來越多，需要增加閃存的存儲容量；若擴大固定間隔區(qū)域的設置(例如16*16，32*32等)，參照圖2所示的補償數(shù)據(jù)計算方法，設16*16或32*32固定間隔區(qū)域各頂點像素位置的亮暗不均補償數(shù)據(jù)參考值a，b，c，d，其余像素的亮暗不均補償數(shù)據(jù)e，f，g可由16*16或32*32間隔區(qū)域四個頂點像素的亮暗不均補償數(shù)據(jù)a，b，c，d進行線性插值計算得到。

對于16*16間隔區(qū)域：

e＝[(16－y)*a+y*c]/16；

f＝[(16－y)*b+y*d]/16；

g＝[(16－x)*e+x*f]/16。

對于32*32間隔區(qū)域：

e＝[(32－y)*a+y*c]/32；

f＝[(32－y)*b+y*d]/32；

g＝[(32－x)*e+x*f]/32。

則固定間隔區(qū)域內(nèi)各像素的線性插值計算數(shù)值又會不準確(亮暗不均在設定的固定間隔區(qū)域內(nèi)非線性變化)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于針對可以用曲面公式近似表達的規(guī)則mura，提出一種修復處理方法，減少閃存容量的使用。

本發(fā)明的又一目的在于針對可以用曲面公式近似表達的規(guī)則mura，提出一種補償裝置，減少閃存容量的使用。

本發(fā)明的再一目的在于針對可以用曲面公式近似表達的規(guī)則mura，提出一種液晶顯示器，減少閃存容量的使用。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種針對規(guī)則mura的修復處理方法，包括：

步驟10、通過相機拍攝面板整個顯示區(qū)域的亮暗度差異，計算出每個像素點所需的mura補償數(shù)據(jù)；

步驟20、根據(jù)每個像素點所需的mura補償數(shù)據(jù)在三維上的分布圖形，計算出最佳匹配的mura曲面表達公式并將其存儲在閃存中；

步驟30、在該閃存中存儲一些固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)；

步驟40、進行mura修復處理時，時序控制芯片讀取該閃存中的mura補償數(shù)據(jù)及mura曲面表達公式，再根據(jù)輸入的灰階數(shù)據(jù)的像素位置計算出對應的mura補償數(shù)據(jù)，然后輸出mura補償后的灰階數(shù)據(jù)。

其中，所述在三維上的分布圖形為在以像素點平面坐標為x軸、y軸，以mura補償數(shù)據(jù)大小為z軸的三維坐標系內(nèi)呈現(xiàn)的三維分布。

其中，所述規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布能夠由簡單的曲面公式近似表達。

其中，所述規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布包括近似為弧面的三維分布。

其中，所述規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布包括近似為波浪狀的三維分布。

本發(fā)明還提供了一種針對規(guī)則mura的補償裝置，包括閃存和時序控制芯片；該閃存存儲mura曲面表達公式和一些固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)；進行mura修復處理時，該時序控制芯片讀取該閃存中的mura補償數(shù)據(jù)及mura曲面表達公式，再根據(jù)輸入的灰階數(shù)據(jù)的像素位置計算出對應的mura補償數(shù)據(jù)，然后輸出mura補償后的灰階數(shù)據(jù)。

其中，所述規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布能夠由簡單的曲面公式近似表達。

其中，所述規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布包括近似為弧面的三維分布。

其中，所述規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布包括近似為波浪狀的三維分布。

本發(fā)明還提供了一種液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括上述的針對規(guī)則mura的補償裝置。

綜上，本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法、補償裝置及液晶顯示器針對可以用曲面公式近似表達的規(guī)則mura，通過其分布曲線和極少量的固定像素位置的mura補償數(shù)據(jù)來計算完成所有像素位置的mura補償數(shù)據(jù)，減少閃存容量的使用；閃存只需存儲極少量的mura補償數(shù)據(jù)及mura曲面分布表示公式，即可得到較好的面板整面mura修補效果。

附圖說明

下面結(jié)合附圖，通過對本發(fā)明的具體實施方式詳細描述，將使本發(fā)明的技術(shù)方案及其他有益效果顯而易見。

附圖中，

圖1a為現(xiàn)有亮暗不均補償裝置的結(jié)構(gòu)框圖；

圖1b為面板原始亮暗不均與亮暗不均補償數(shù)據(jù)的示意圖；

圖2為現(xiàn)有技術(shù)中亮暗不均補償數(shù)據(jù)計算方法示意圖；

圖3為現(xiàn)有技術(shù)中對8*8和16*16的固定間隔設置采用線性插值計算亮暗不均補償數(shù)據(jù)的效果示意圖；

圖4為本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法的原理示意圖；

圖5為本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法一較佳實施例的示意圖；

圖6為本發(fā)明針對規(guī)則mura的補償裝置一較佳實施例的結(jié)構(gòu)框圖；

圖7為本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法的流程圖。

具體實施方式

參見圖4，其為本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法的原理示意圖。mura在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上呈現(xiàn)一個三維分布(可以采用像素點坐標及補償灰階數(shù)值大小作為三維的坐標)，對于規(guī)則mura，也就是當mura的三維分布具有規(guī)則性，可以由一個比較簡單的曲面公式近似表達時，如弧面(四周均勻偏亮或偏暗)、波浪狀(等間隔的亮、暗交替變化)等，則可以將少量固定像素位置的mura補償值和曲面表達公式存儲在閃存中，大大降低了存儲mura補償數(shù)據(jù)參考值所需的閃存容量。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，通過曲面的表達公式以及根據(jù)曲面表達公式預先選定的一些固定位置的mura補償數(shù)據(jù)，即可以得出其他位置的mura補償數(shù)據(jù)，相較于現(xiàn)有技術(shù)中固定間隔設置采用線性插值計算亮暗不均補償數(shù)據(jù)時所需存儲的大量參考數(shù)據(jù)，本發(fā)明需要存儲的固定位置的mura補償數(shù)據(jù)是少量的。

參見圖7，其為本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法的流程圖。該方法主要包括：

步驟10、通過相機拍攝面板整個顯示區(qū)域的亮暗度差異，計算出每個像素點所需的mura補償數(shù)據(jù)；利用mura修補設備的相機在拍攝到面板整個顯示區(qū)域的亮暗度差異后，計算出每個像素點所需補償?shù)幕译A；步驟20、根據(jù)每個像素點所需的mura補償數(shù)據(jù)在三維上的分布圖形，計算出最佳匹配的mura曲面表達公式并將其存儲在閃存中；根據(jù)步驟10中計算得出的這些灰階補償數(shù)據(jù)在三維(x、y為像素點坐標，z為補償灰階數(shù)值大小)上的分布圖形，計算出最佳匹配的曲面表達公式；

步驟30、在該閃存中存儲一些固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)；

步驟40、進行mura修復處理時，時序控制芯片讀取該閃存中的mura補償數(shù)據(jù)及mura曲面表達公式，再根據(jù)輸入的灰階數(shù)據(jù)的像素位置計算出對應的mura補償數(shù)據(jù)，然后輸出mura補償后的灰階數(shù)據(jù)。時序控制芯片從閃存中讀取固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)以及mura曲面表達公式后，將輸入的灰階數(shù)據(jù)的像素位置和固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)作為參數(shù)代入mura曲面表達公式，經(jīng)過非線性計算得到非固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)。

參見圖5，其為本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法一較佳實施例的示意圖。通過mura修補設備的相機在拍攝到面板整個顯示區(qū)域的亮暗度差異后，計算出每個像素點所需補償?shù)幕译A數(shù)據(jù)，然后根據(jù)這些灰階補償數(shù)據(jù)在三維(x、y為像素點坐標，z為補償灰階數(shù)值大小)上的分布圖形，計算出最佳匹配的曲面mura形態(tài)的表達公式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以綜合考慮欲達到的補償精度及表達公式的復雜程度來選取最佳匹配的表達公式，將此表達公式存儲在閃存51中，閃存51中再存儲少量固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)，時序控制芯片讀取到閃存51中的補償數(shù)據(jù)及表達公式后，再根據(jù)輸入數(shù)據(jù)的像素位置計算出對應的mura補償數(shù)據(jù)，完成mura修補。

參見圖6，其為本發(fā)明針對規(guī)則mura的補償裝置一較佳實施例的結(jié)構(gòu)框圖。本發(fā)明針對規(guī)則mura的補償裝置主要包括閃存61和時序控制芯片62；該閃存61存儲mura曲面表達公式和一些固定位置像素的mura補償數(shù)據(jù)；進行mura修復處理時，該時序控制芯片62的de-mura模塊63讀取該閃存61中的mura補償數(shù)據(jù)及mura曲面表達公式，再根據(jù)輸入的灰階數(shù)據(jù)的像素位置通過非線性計算而不是線性插值計算來計算出對應的mura補償數(shù)據(jù)，然后輸出mura補償后的灰階數(shù)據(jù)。規(guī)則mura指其mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布能夠由簡單的曲面公式近似表達。規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布可以包括近似為弧面的三維分布。規(guī)則mura的mura補償數(shù)據(jù)在面板區(qū)域內(nèi)和亮暗度上所呈現(xiàn)的三維分布還可以包括近似為波浪狀的三維分布。

通過應用上述針對規(guī)則mura的補償裝置，本發(fā)明還提供了相應的液晶顯示裝置。

綜上，本發(fā)明針對規(guī)則mura的修復處理方法、補償裝置及液晶顯示器針對可以用曲面公式近似表達的規(guī)則mura，通過其分布曲線和極少量的固定像素位置的mura補償數(shù)據(jù)來計算完成所有像素位置的mura補償數(shù)據(jù)，減少閃存容量的使用；閃存只需存儲極少量的mura補償數(shù)據(jù)及mura曲面分布表示公式，即可得到較好的面板整面mura修補效果。

以上所述，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應的改變和變形，而所有這些改變和變形都應屬于本發(fā)明后附的權(quán)利要求的保護范圍。