本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體而言涉及一種液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

LCD(Liquid Crystal Display,液晶顯示器)由于其輕薄化和低功耗等優(yōu)點(diǎn)，是目前市場(chǎng)中的主流顯示裝置，而在產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中，為了提高產(chǎn)品良率，就需要對(duì)液晶顯示面板設(shè)置測(cè)試(成盒測(cè)試或液晶面板測(cè)試)結(jié)構(gòu)或測(cè)試電路，以在成盒制程后進(jìn)行Cell測(cè)試。

在當(dāng)前的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)中，如圖1所示，位于液晶顯示面板的走線區(qū)域(Outer Lead Bonding，OLB,又稱外引線焊接區(qū)域)的測(cè)試結(jié)構(gòu)包括測(cè)試墊11、焊盤12以及短路棒(shorting bar)13。設(shè)置于左右兩側(cè)的測(cè)試墊11接收灰階電壓，并通過(guò)短路棒13、走線14將灰階電壓傳輸給焊盤12，最終輸出給液晶顯示面板。但當(dāng)采用GOA(Gate Driver on Array,陣列基板行驅(qū)動(dòng))技術(shù)時(shí)，液晶顯示面板會(huì)在走線區(qū)域增加很多用以傳輸GOA信號(hào)的走線，這些走線通過(guò)短路棒13連接至測(cè)試墊11，結(jié)合圖2所示，這就需要大幅度增加短路棒13的寬度，因此會(huì)增大走線區(qū)域，顯然不利于液晶顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供一種液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法，能夠有利于液晶顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

本發(fā)明一實(shí)施例的液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)，位于液晶顯示面板的走線區(qū)域，且包括焊盤以及與焊盤連接并沿平行于液晶顯示面板的柵極線方向依次設(shè)置的第一組短路棒、第二組短路棒和第三組短路棒，第一組短路棒、第二組短路棒和第三組短路棒之間獨(dú)立間隔設(shè)置，第一組短路棒和第三組短路棒分別通過(guò)與各自連接的焊盤向液晶顯示面板施加GOA信號(hào)，第二組短路棒通過(guò)與其連接的焊盤向液晶顯示面板施加灰階信號(hào)。

其中，所述測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括多組測(cè)試墊，與第二組短路棒連接的焊盤包括多組子焊盤，多組測(cè)試墊與多組子焊盤交錯(cuò)設(shè)置，分別鄰近第一組短路棒和第三組短路棒的兩組子焊盤均通過(guò)與各自連接的一組測(cè)試墊接收灰階信號(hào)，其余各組子焊盤通過(guò)位于各自兩側(cè)的兩組測(cè)試墊接收灰階信號(hào)。

其中，第一組短路棒和第三組短路棒分別通過(guò)第一走線與對(duì)應(yīng)的子焊盤和測(cè)試墊連接，第二組短路棒通過(guò)第二走線與對(duì)應(yīng)的子焊盤和測(cè)試墊連接，第一走線的阻抗等于第二走線的阻抗的一半。

其中，第一組短路棒和第三組短路棒與焊盤或第二組短路棒同層設(shè)置。

其中，第一組短路棒和第三組短路棒中的一者與液晶顯示面板的奇數(shù)行掃描線連接，另一者與液晶顯示面板的偶數(shù)行掃描線連接。

本發(fā)明一實(shí)施例的液晶顯示面板的測(cè)試方法，應(yīng)用于位于液晶顯示面板的走線區(qū)域的測(cè)試結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試結(jié)構(gòu)包括焊盤以及與焊盤連接并沿平行于液晶顯示面板的柵極線方向依次設(shè)置的第一組短路棒、第二組短路棒和第三組短路棒，第一組短路棒、第二組短路棒和第三組短路棒之間獨(dú)立間隔設(shè)置，所述測(cè)試方法包括：第一組短路棒和第三組短路棒分別通過(guò)與各自連接的焊盤向液晶顯示面板施加GOA信號(hào)；第二組短路棒通過(guò)與其連接的焊盤向液晶顯示面板施加灰階信號(hào)。

其中，所述測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括多組測(cè)試墊，與第二組短路棒連接的焊盤包括多組子焊盤，多組測(cè)試墊與多組子焊盤交錯(cuò)設(shè)置，所述第二組短路棒通過(guò)與其連接的焊盤向液晶顯示面板施加灰階信號(hào)的步驟，包括：分別鄰近第一組短路棒和第三組短路棒的兩組子焊盤均通過(guò)與各自連接的一組測(cè)試墊接收灰階信號(hào)，其余各組子焊盤通過(guò)位于各自兩側(cè)的兩組測(cè)試墊接收灰階信號(hào)。

其中，第一組短路棒和第三組短路棒分別通過(guò)第一走線與對(duì)應(yīng)的子焊盤和測(cè)試墊連接，第二組短路棒通過(guò)第二走線與對(duì)應(yīng)的子焊盤和測(cè)試墊連接，第一走線的阻抗等于第二走線的阻抗的一半。

其中，第一組短路棒和第三組短路棒與焊盤或第二組短路棒同層設(shè)置。

其中，第一組短路棒和第三組短路棒中的一者與液晶顯示面板的奇數(shù)行掃描線連接，另一者與液晶顯示面板的偶數(shù)行掃描線連接。

有益效果：本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試結(jié)構(gòu)包括獨(dú)立間隔設(shè)置的三組短路棒，通過(guò)兩側(cè)的兩組短路棒向液晶顯示面板施加GOA信號(hào)，中間一組短路棒向液晶顯示面板施加灰階信號(hào)，相當(dāng)于將現(xiàn)有的短路棒分為三段，因此不會(huì)增大短路棒的寬度，不會(huì)增大走線區(qū)域，有利于液晶顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

附圖說(shuō)明

圖1是現(xiàn)有的液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是現(xiàn)有的GOA液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明的液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是具有圖3所示測(cè)試結(jié)構(gòu)的液晶顯示面板的結(jié)構(gòu)俯視圖；

圖5是本發(fā)明的液晶顯示面板的測(cè)試方法一實(shí)施例的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明所提供的各個(gè)示例性的實(shí)施例的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。在不沖突的情況下，下述各個(gè)實(shí)施例以及實(shí)施例中的特征可以相互組合。并且，本發(fā)明全文所采用的方向性術(shù)語(yǔ)，例如“左”、“右”等措辭，均是為了更好的描述各個(gè)實(shí)施例，并非用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

請(qǐng)參閱圖3和圖4，為本發(fā)明一實(shí)施例的液晶顯示面板的測(cè)試結(jié)構(gòu)。該測(cè)試結(jié)構(gòu)位于液晶顯示面板30的走線區(qū)域，且包括多組測(cè)試墊31、焊盤32及第一組短路棒33、第二組短路棒34和第三組短路棒35。

多組測(cè)試墊31用于從IC(Integrated Circuit,集成電路)接收GOA信號(hào)和灰階信號(hào)，并將GOA信號(hào)傳輸給第一組短路棒33和第三組短路棒35、將灰階信號(hào)傳輸給第二組短路棒34。以圖4所示為例，測(cè)試結(jié)構(gòu)包括13組測(cè)試墊S₁～S₁₃，每一組包括多個(gè)測(cè)試墊31，這13組測(cè)試墊S₁～S₁₃沿平行于液晶顯示面板30的柵極線方向(圖中水平方向)依次設(shè)置，第一組測(cè)試墊S₁和最后一組測(cè)試墊S₁₃分別位于液晶顯示面板30的左右兩側(cè)。

焊盤32包括多組子焊盤，以圖4所示的12組子焊盤X₁～X₁₂為例，這12組子焊盤X₁～X₁₂沿平行于液晶顯示面板30的柵極線方向依次設(shè)置，第一組子焊盤X₁和最后一組子焊盤X₁₂分別位于液晶顯示面板30的左右兩側(cè)。其中，各組子焊盤的多個(gè)焊條與液晶顯示面板30的數(shù)據(jù)線連接，以向數(shù)據(jù)線提供灰階信號(hào)。另外，在第一組子焊盤X₁的左側(cè)還設(shè)置有一組子焊盤X₀₁，在最后一組子焊盤X₁₂的右側(cè)還設(shè)置有一組子焊盤X₀₂，子焊盤X₀₁的多個(gè)焊條與液晶顯示面板30的奇數(shù)行柵極線連接，子焊盤X₀₂的多個(gè)焊條與液晶顯示面板30的偶數(shù)行柵極線連接。

與現(xiàn)有技術(shù)不同的是，本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試結(jié)構(gòu)包括獨(dú)立間隔設(shè)置的三組短路棒33、34、35。其中，第一組短路棒33和第三組短路棒35可以與焊盤32或者第二組短路棒34同層設(shè)置，所謂同層設(shè)置即為形成在同一層結(jié)構(gòu)上。第一組短路棒33和第三組短路棒35分別通過(guò)與各自連接的焊盤32向液晶顯示面板30施加GOA信號(hào)，第二組短路棒34通過(guò)與其連接的焊盤32向液晶顯示面板30施加灰階信號(hào)。具體地，結(jié)合圖4所示，第一組短路棒33通過(guò)第一走線36與子焊盤X₀₁和測(cè)試墊S₁連接，第三組短路棒35通過(guò)第一走線36與子焊盤X₀₂和測(cè)試墊S₁₃連接，第二組短路棒34通過(guò)第二走線37與各組子焊盤X₁～X₁₂和其余各組測(cè)試墊S₂～S₁₂之間連接。

結(jié)合圖1和圖3所示，本實(shí)施例相當(dāng)于保持圖1所示短路棒13的寬度不變，而僅僅將短路棒13分割為三組33、34、35，左右兩側(cè)的兩組短路棒33、35向液晶顯示面板30施加GOA信號(hào)，中間一組短路棒34向液晶顯示面板30施加灰階信號(hào)，無(wú)需如圖2所示增大短路棒13的寬度，因此不會(huì)增大走線區(qū)域，有利于液晶顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

本發(fā)明實(shí)施例與現(xiàn)有技術(shù)的不同之處還有：用于接收灰階信號(hào)的測(cè)試墊31的位置。在本實(shí)施例中，多組測(cè)試墊31與多組子焊盤交錯(cuò)設(shè)置。參閱圖4所示，13組測(cè)試墊S₁～S₁₃與12組子焊盤X₁～X₁₂交錯(cuò)設(shè)置。

在驅(qū)動(dòng)液晶顯示面板30時(shí)，子焊盤X₀₁通過(guò)與其連接的一組測(cè)試墊S₁接收GOA信號(hào)，子焊盤X₀₂通過(guò)與其連接的一組測(cè)試墊S₁₃接收GOA信號(hào)，鄰近第一組短路棒33的一組子焊盤X₁通過(guò)與其連接的一組測(cè)試墊S₂接收灰階信號(hào)，鄰近第三組短路棒35的一組子焊盤X₁₂通過(guò)與其連接的一組測(cè)試墊S₁₂接收灰階信號(hào)，其余各組子焊盤X₂～X₁₁通過(guò)位于各自兩側(cè)的兩組測(cè)試墊接收灰階信號(hào)，例如，子焊盤X₂通過(guò)位于其兩側(cè)的兩組測(cè)試墊S₂、S₃接收灰階信號(hào)，子焊盤X₁₁通過(guò)位于其兩側(cè)的兩組測(cè)試墊S₁₁、S₁₂接收灰階信號(hào)。

另外，第一走線36的阻抗等于第二走線37的阻抗的一半，使得接入子焊盤X₀₁、X₀₂的信號(hào)的延遲程度與接入其余子焊盤X₁～X₁₂的信號(hào)的延遲程度一致，從而避免測(cè)試時(shí)第一組短路棒33和第三組短路棒35的驅(qū)動(dòng)區(qū)域與第二組短路棒33的驅(qū)動(dòng)區(qū)域的顯示亮度不同，即避免產(chǎn)生分屏現(xiàn)象。

本發(fā)明還提供如圖5所示一實(shí)施例的液晶顯示面板的測(cè)試方法。如圖5所示，所述測(cè)試方法可以包括步驟S51和S52。

S51：第一組短路棒和第三組短路棒分別通過(guò)與各自連接的焊盤向液晶顯示面板施加GOA信號(hào)。

S52：第二組短路棒通過(guò)與其連接的焊盤向液晶顯示面板施加灰階信號(hào)。

所述測(cè)試方法應(yīng)用于上述液晶顯示面板30的測(cè)試結(jié)構(gòu)，因此該測(cè)試方法亦具有相同的有益效果，此處不再贅述。

應(yīng)理解，以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書(shū)及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，例如各實(shí)施例之間技術(shù)特征的相互結(jié)合，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。