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LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備的制作方法

文檔序號(hào):41949899發(fā)布日期:2025-05-16 14:08閱讀:7來(lái)源:國(guó)知局
LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備的制作方法

本發(fā)明涉及缺陷檢測(cè),尤其涉及一種led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備。


背景技術(shù):

1、傳統(tǒng)的led支架檢測(cè)多為人工用放大鏡檢測(cè),若發(fā)現(xiàn)led支架在注塑后缺陷顆粒還需要人工進(jìn)行剔除。如此人工檢測(cè)不但效率底,而且人眼容易疲勞,誤檢和漏檢率較高,且led支架缺陷顆粒及其微小,長(zhǎng)期進(jìn)行人工檢測(cè),會(huì)人眼受到損傷;同時(shí),人工剔除的方法費(fèi)時(shí)費(fèi)力,不利于led支架的生產(chǎn)制造。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提供的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,能夠?qū)α蠋нM(jìn)行缺陷檢測(cè),并對(duì)缺陷顆粒進(jìn)行剔除,方便快捷,節(jié)省人力。

2、本發(fā)明提供一種led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,包括:機(jī)柜、限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置,所述限位軌道用于限定料帶在所述led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備的傳送方向,所述機(jī)柜用于支撐所述限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置;

3、所述缺陷檢測(cè)裝置包括:相機(jī)鏡頭和計(jì)算模塊,所述相機(jī)鏡頭位于所述限位軌道的上方,所述相機(jī)鏡頭的拍攝方向朝向料帶,以獲取料帶的圖像,所述計(jì)算模塊與所述相機(jī)鏡頭通信連接,所述計(jì)算模塊用于根據(jù)通過(guò)相機(jī)鏡頭獲取到的圖像判斷料帶是否存在缺陷顆粒;

4、所述缺陷剔除裝置包括:剔除模組和用于驅(qū)動(dòng)所述剔除模組移動(dòng)的剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu);

5、所述限位軌道包括:進(jìn)料口和出料口,所述料帶通過(guò)進(jìn)料口進(jìn)入所述限位軌道并通過(guò)出料口離開(kāi)所述限位軌道,所述剔除模組位于所述出料口遠(yuǎn)離所述進(jìn)料口的一側(cè);

6、在所述計(jì)算模塊確定料帶存在缺陷顆粒,且缺陷顆粒移動(dòng)至所述缺陷剔除裝置的情況下,所述計(jì)算模塊控制剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)通過(guò)移動(dòng)所述剔除模組,以使所述剔除模組將料帶上的缺陷顆粒進(jìn)行剔除;

7、所述上料機(jī)構(gòu)包括:主動(dòng)滾輪、從動(dòng)滾輪、用于支撐所述主動(dòng)滾輪和所述從動(dòng)滾輪的上料支架,以及用于帶動(dòng)所述主動(dòng)滾輪和所述從動(dòng)滾輪轉(zhuǎn)動(dòng)的上料驅(qū)動(dòng)組件;

8、所述上料支架與所述機(jī)柜固定連接,所述主動(dòng)滾輪和所述從動(dòng)滾輪的正上方均設(shè)置有惰性滾輪,所述惰性滾輪與所述上料支架可拆卸轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述惰性滾輪的轉(zhuǎn)軸與所述從動(dòng)滾輪的轉(zhuǎn)軸平行,所述從動(dòng)滾輪的轉(zhuǎn)軸與所述主動(dòng)滾輪的轉(zhuǎn)軸平行,所述惰性滾輪用于通過(guò)所述主動(dòng)滾輪和所述從動(dòng)滾輪下壓所述料帶。

9、可選地,所述主動(dòng)滾輪、所述從動(dòng)滾輪和所述惰性滾輪的周側(cè)均固定設(shè)置有具有彈性的緩沖環(huán)。

10、可選地,所述上料支架包括:底板、第一側(cè)板和第二側(cè)板;

11、所述第一側(cè)板和所述第二側(cè)板相對(duì)設(shè)置在所述底板的上方并與所述底板固定連接,所述底板與所述機(jī)柜固定連接;

12、所述主動(dòng)滾輪、所述從動(dòng)滾輪和所述惰性滾輪均位于所述第一側(cè)板和所述第二側(cè)板之間,并與所述第一側(cè)板和所述第二側(cè)板轉(zhuǎn)動(dòng)連接。

13、可選地,所述第一側(cè)板和所述第二側(cè)板頂部均開(kāi)設(shè)有條形孔;

14、所述惰性滾輪的轉(zhuǎn)軸通過(guò)所述條形孔分別與所述第一側(cè)板和所述第二側(cè)板可拆卸固定連接,所述惰性滾輪的輪體與所述惰性滾輪的轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接。

15、可選地,所述缺陷檢測(cè)裝置還包括:用于驅(qū)動(dòng)所述相機(jī)鏡頭移動(dòng)的取像驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu);

16、所述取像驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括:與相機(jī)鏡頭固定連接的取像支座、用于帶動(dòng)所述取像支座上下移動(dòng)的升降驅(qū)動(dòng)組件、取像滑軌、與所述取像滑軌滑移連接的取像滑塊;

17、所述升降驅(qū)動(dòng)組件與所述機(jī)柜固定連接,所述取像滑軌固定設(shè)置于所述升降驅(qū)動(dòng)組件的一側(cè),所述取像滑塊與所述相機(jī)鏡頭固定連接,所述取像滑塊相對(duì)所述取像滑軌的移動(dòng)方向與所述升降驅(qū)動(dòng)組件帶動(dòng)所述取像支座移動(dòng)的方向相同。

18、可選地,所述缺陷檢測(cè)裝置還包括:光源、第一支架、第二支架和固定設(shè)置于所述機(jī)柜內(nèi)的第三支架;

19、所述光源位于所述限位軌道的上方,所述光源與所述第一支架固定連接,所述第一支架沿左右方向與所述第二支架滑移連接,所述第二支架沿上下方向與是第三支架滑移連接。

20、可選地,所述led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備還包括:壓緊機(jī)構(gòu);

21、所述壓緊機(jī)構(gòu)包括:壓緊滾輪、與所述壓緊滾輪轉(zhuǎn)動(dòng)連接的升降支架、用于帶動(dòng)所述升降支架沿上下方向移動(dòng)的壓緊驅(qū)動(dòng)件、位于所述限位軌道下方的支撐板,以及用于支撐所述壓緊驅(qū)動(dòng)件的壓緊支架;

22、所述支撐板水平放置,所述壓緊滾輪位于所述限位軌道的正上方,且所述壓緊滾輪的轉(zhuǎn)軸水平放置并與所述壓緊滾輪下方的料帶的傳送方向垂直。

23、可選地,所述壓緊滾輪的周側(cè)固定設(shè)置有具有彈性的緩沖圈。

24、可選地,所述壓緊機(jī)構(gòu)位于所述進(jìn)料口的上方,所述缺陷檢測(cè)裝置位于所述壓緊機(jī)構(gòu)和所述缺陷剔除裝置之間,所述上料機(jī)構(gòu)位于所述缺陷剔除裝置遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的一側(cè)。

25、可選地,所述壓緊機(jī)構(gòu)遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的一側(cè)和所述上料機(jī)構(gòu)遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的一側(cè)均固定設(shè)置有緩沖軌道,所述緩沖軌道向遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的方向且向下彎曲。

26、本發(fā)明實(shí)施例提供的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其中,缺陷檢測(cè)裝置能夠獲得料帶的圖像,并將料帶的圖像傳送至計(jì)算模塊,在所述計(jì)算模塊確定料帶存在缺陷顆粒,且缺陷顆粒移動(dòng)至所述缺陷剔除裝置的情況下,計(jì)算模塊能夠控制剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)通過(guò)移動(dòng)所述剔除模組,將料帶上的缺陷顆粒進(jìn)行剔除,方便快捷,節(jié)省人力。



技術(shù)特征:

1.一種led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,包括:機(jī)柜、限位軌道、上料機(jī)構(gòu)、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置,所述限位軌道用于限定料帶在所述led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備的傳送方向,所述機(jī)柜用于支撐所述限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置;

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述主動(dòng)滾輪、所述從動(dòng)滾輪和所述惰性滾輪的周側(cè)均固定設(shè)置有具有彈性的緩沖環(huán)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述上料支架包括:底板、第一側(cè)板和第二側(cè)板;

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述第一側(cè)板和所述第二側(cè)板頂部均開(kāi)設(shè)有條形孔;

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述缺陷檢測(cè)裝置還包括:用于驅(qū)動(dòng)所述相機(jī)鏡頭移動(dòng)的取像驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu);

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述缺陷檢測(cè)裝置還包括:光源、第一支架、第二支架和固定設(shè)置于所述機(jī)柜內(nèi)的第三支架;

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備還包括:壓緊機(jī)構(gòu);

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述壓緊滾輪的周側(cè)固定設(shè)置有具有彈性的緩沖圈。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述壓緊機(jī)構(gòu)位于所述進(jìn)料口的上方,所述缺陷檢測(cè)裝置位于所述壓緊機(jī)構(gòu)和所述缺陷剔除裝置之間,所述上料機(jī)構(gòu)位于所述缺陷剔除裝置遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的一側(cè)。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的led支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備,其特征在于,所述壓緊機(jī)構(gòu)遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的一側(cè)和所述上料機(jī)構(gòu)遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的一側(cè)均固定設(shè)置有緩沖軌道,所述緩沖軌道向遠(yuǎn)離所述缺陷檢測(cè)裝置的方向且向下彎曲。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備。LED支架缺陷檢測(cè)及剔除設(shè)備包括:機(jī)柜、限位軌道、缺陷檢測(cè)裝置和缺陷剔除裝置,缺陷檢測(cè)裝置包括:相機(jī)鏡頭和計(jì)算模塊,相機(jī)鏡頭位于限位軌道的上方,相機(jī)鏡頭的拍攝方向朝向料帶,以獲取料帶的圖像,計(jì)算模塊與相機(jī)鏡頭通信連接,計(jì)算模塊用于判斷料帶是否存在缺陷顆粒;缺陷剔除裝置包括:剔除模組和剔除驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu);限位軌道包括:進(jìn)料口和出料口,料帶通過(guò)進(jìn)料口進(jìn)入限位軌道并通過(guò)出料口離開(kāi)限位軌道,剔除模組位于出料口遠(yuǎn)離進(jìn)料口的一側(cè)。本發(fā)明能夠?qū)α蠋нM(jìn)行缺陷檢測(cè),并對(duì)缺陷顆粒進(jìn)行剔除,方便快捷,節(jié)省人力。

技術(shù)研發(fā)人員:薛春花,鐘建平,林淼,張春平,陳志列
受保護(hù)的技術(shù)使用者:研祥智能科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/5/15
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