專利名稱：用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于光譜儀的光路結(jié)構(gòu),特別涉及一種用于測量輕元素的 光路結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
在用于測量輕元素的小型臺(tái)式x熒光光譜儀中，試樣產(chǎn)生的X熒光在 光路中的強(qiáng)度損失和由于試樣散射的初級(jí)x射線造成的背景譜線干擾，是影響測量精度的主要原因。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是:提供一種用于測量輕元素的光路 結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是-一種用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，其特征在于在樣品盒下方連接測 量支架，測量支架側(cè)下方有正對(duì)樣品盒內(nèi)待測試樣臺(tái)的X射線出口，測 量支架正下方有次級(jí)濾光片支架，次級(jí)濾光片支架下是正比計(jì)數(shù)管的鈹窗o正比計(jì)數(shù)管連接前置放大器。 正比計(jì)數(shù)管外有金屬屏蔽盒。 正比計(jì)數(shù)管連接正比計(jì)數(shù)管電源。本實(shí)用新型效果是可以準(zhǔn)確地測量輕元素光譜。 其特點(diǎn)探測器(正比計(jì)數(shù)管)完全屏蔽。加入次級(jí)濾光片。


圖1是用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖圖紙標(biāo)記說明l正比計(jì)數(shù)管，2金屬屏蔽盒，3次級(jí)濾光片支架，4 測量支架5 X射線出口， 6樣品盒，7待測試樣，8前置放大器，9正比 計(jì)數(shù)管電源，IO鈹窗。
具體實(shí)施方式
用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，在樣品盒下方連接測量支架，測量支架側(cè)下方有正對(duì)樣品盒內(nèi)待測試樣臺(tái)的X射線出口 ，測量支架正下方有次級(jí)光片支架，次級(jí)光片支架下是鈹窗，鈹窗下是正比計(jì)數(shù)管。正比計(jì)數(shù)管 連接前置放大器。正比計(jì)數(shù)管外有金屬屏蔽盒。正比計(jì)數(shù)管連接正比計(jì) 數(shù)管電源。實(shí)例:小型臺(tái)式能量色散X熒光光譜儀用于測量輕元素的一種光路結(jié) 構(gòu)本設(shè)計(jì)釆取幾種措施來解決上述問題。首先，正比計(jì)數(shù)管l被安裝在 平均厚度大于5毫米的金屬屏蔽盒2內(nèi)，前置放大器8和正比計(jì)數(shù)管的電 源9也被安裝在用一屏蔽盒內(nèi)，以提高信噪比。其次，減小待測試樣7 和正比計(jì)數(shù)管窗10之間的距離，并在鈹窗10前的X射線熒光光路中增加 了一個(gè)次級(jí)濾光片，安裝在次級(jí)濾光片支架3上，以減小X射線熒光強(qiáng)度 在光路中的損失和增強(qiáng)X射線熒光光譜的相對(duì)強(qiáng)度。初級(jí)X射線照射到待 測試樣7，激發(fā)X射線熒光。它經(jīng)過試樣7和計(jì)數(shù)管窗10之間的空間時(shí)， 能量較低的的X射線熒光光量子將受到空氣分子較明顯的散射和吸收，使 其強(qiáng)度損失。由于本設(shè)計(jì)中7—10之間的距離較小，所以減小了 X射線熒 光的損失。在正比計(jì)數(shù)管窗前的光路中增加了次級(jí)濾光片，使得X射線熒 光和被試樣敝射的初級(jí)X射線在進(jìn)入正比計(jì)數(shù)管前，先要穿過它。對(duì)于不 同的待測元素，選擇適當(dāng)?shù)牟牧虾瓦m當(dāng)厚度的濾光片，則輕元素的X射線 熒光穿過次級(jí)濾光片后損失很小，而與其能量相近的散射X射線被濾光片 強(qiáng)烈吸收。最終使得X射線熒光光譜在其背景上相對(duì)得到增強(qiáng)，對(duì)輕元素含量的測量精度有較大提高。本光路已經(jīng)成功應(yīng)用于測量油品中硫含量的小型能量色散X射線熒光光譜儀中。
權(quán)利要求1、一種用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，其特征在于在樣品盒下方連接測量支架，測量支架側(cè)下方有正對(duì)樣品盒內(nèi)待測試樣臺(tái)的X射線出口，測量支架正下方有次級(jí)濾光片支架，次級(jí)濾光片支架下是正比計(jì)數(shù)管的鈹窗。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，其特征在于正比 計(jì)數(shù)管連接前置放大器。
3、 根據(jù)權(quán)利，求l所述的用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，其特征在于正比 計(jì)數(shù)管外有金屬屏蔽盒。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，其特征在于正比 計(jì)數(shù)管連接正比計(jì)數(shù)管電源。
專利摘要一種用于測量輕元素的光路結(jié)構(gòu)，在樣品盒下方連接測量支架，測量支架側(cè)下方有正對(duì)樣品盒內(nèi)待測試樣臺(tái)的X射線出口，測量支架正下方有次級(jí)濾光片支架，次級(jí)濾光片支架下是正比計(jì)數(shù)管的鈹窗。正比計(jì)數(shù)管連接前置放大器。正比計(jì)數(shù)管外有金屬屏蔽盒。正比計(jì)數(shù)管連接正比計(jì)數(shù)管電源本實(shí)用新型特點(diǎn)是探測器(正比計(jì)數(shù)管)完全屏蔽。加入次級(jí)濾光片?？梢暂^大提高測量輕元素的精度。
文檔編號(hào)G01N23/223GK201047831SQ20072009648
公開日2008年4月16日 申請(qǐng)日期2007年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月22日
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